产地类别： 进口
可测试最低样品元素含量： 低至数个质量百分比
可测试元素X射线吸收能量范围： 200-1200eV / 1-6nm
XAFS采谱速度： 数分钟
看了X射线吸收精细结构(XAFS)的用户又看了
产品简介
首台一体化桌面NEXAFS系统
不在需要申请和等待同步辐射机时
用于地质、生物、材料研究的化学态分析
同步辐射级的光谱质量
proXAS是一台实验室级别NEXAFS测量的系统。 现在可以在科研人员自己的实验室进行获得快速，准确的元素指纹分析。 它结合了高度可靠的激光驱动等离子体XUV光源和定制的具有1900极高分辨能力的光谱仪。200-1200eV的能量范围允许分析C，N，O，Ca，Ti等元素边。
主要参数
光源 | 无碎片的激光驱动 XUV 光源 |
能量范围 | 200-1200eV / 1-6nm |
重复频率 | 25Hz |
光源功率稳定性 | ±1.5% |
光谱仪 | 像差校正平场光谱仪 |
分辨率 | 1500 |
样品安装 | 多样品转轮 |
占地面积 | 1.5m x 1.0m |
软件套件 | 集成系统控制，各种光谱校准和分析功能 |
主要应用
l 表面科学
l 地球化学中的化学状态分析
l 电子结构与氧化态分析
测量结果
 |  |
| 左图是用桌面系统测试200nm聚酰亚胺薄膜的碳K边NEXAFS光谱（60发脉冲平均值）。右图为桌面系统测试结果与同步辐射测试结果的对比。 (data courtesy of Dr. K. Mann, IFNANO) | |
其他 2021-10-20
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保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 不限人次交货时现场培训
免费仪器保养: 质保期内免费保养
保内维修承诺: 质量保证期内提供保修（人为破坏因素、遇不可抗力或使用不当除外）
报修承诺: 24小时内做出响应，提出解决方案，如有必要，48小时内上门
proXAS是一台实验室级别NEXAFS测量的系统。 现在可以在科研人员自己的实验室进行获得快速，准确的元素指纹分析。 它结合了高度可靠的激光驱动等离子体XUV光源和定制的具有1900极高分辨能力的光谱仪。200-1200eV的能量范围允许分析C，N，O，Ca，Ti等元素边。
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