产地类别： 进口
可测试最低样品元素含量： 低至数个质量百分比
可测试元素X射线吸收能量范围： 5-12keV
XAFS采谱速度： 数分钟
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产品简介
hiXAS提供了完整的基于实验室拓展X射线精细结构吸收谱(EXAFS)和X射线近边结构吸收谱（XANES）的解决方案。在较小的占地面积内，它集成了X射线光管光源、高分辨光谱仪、光子技术像素化X射线探测器，以及用于仪器控制和数据的分析的控制软件。
由于hiXAS的光谱质量于同步辐射测量的结果相当，使得冗长的同步辐射测量机时申请和等待变得不再有必要。
X射线光管光源和光谱仪可以覆盖的能量范围为5-12KeV，因此包括了3d过度金属的K吸收边。专门优化的HAPG Von Hamos光谱仪结构可以获得极高信噪比的光谱。因此，可分析的样品浓度可以低至数个质量百分比。同时光谱仪在覆盖的吸收边范围内，保持很高效率和恒定的高分辨率（E/ΔE = 4000）。我们还可以根据您的各种应用需要，提供定制化的hiXAS系统。
hiXAS可用于EXAFS和XANES测量的元素范围。HiXAS可以在几分钟的时间内测量出分析物浓度仅为几个重量百分比的稀释样品。
主要参数
核心元件 | X射线光管光源 von Hamos HAPG 光谱仪 光子计数，像素化X射线探测器 | |
能量范围 | 5-12keV | |
样品浓度 | 低至 数个质量百分比 | |
样品安装 | 多样品转轮 | |
占地尺寸 | 2.0m x 1.0m | |
软件套件 | 集成系统控制，各种光谱校准和分析功能 | |
EXAFS 模式 | XANES 模式 | |
光谱分辨能力 | 1800* | 4000* |
（*整个能量范围内不变） | ||
能量带宽 | 1000eV | 300eV |
采集时间 | 3分** | 8分钟** |
（**归一化分析物浓度） | ||
主要应用
化学形态分析和浓度比
复合物研究
催化剂分析
短程有序和键长确定
测量结果
 |  |
| Cu箔样品X射线吸收测量，采集时间:3分钟含样品，1.5分钟不含样品 C. Schlesiger et al, Recent progress in the performance of HAPG based laboratory EXAFS and XANES spectrometers, J. Anal. At. Spectrom. 35, 2298 (2020) | |
其他 2021-10-20
其他 2021-10-20
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其他 2021-10-20
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 不限人次交货时现场培训
免费仪器保养: 质保期内免费保养
保内维修承诺: 质量保证期内提供保修（人为破坏因素、遇不可抗力或使用不当除外）
报修承诺: 24小时内做出响应，提出解决方案，如有必要，48小时内上门
HiXAS提供了完整的基于实验室拓展X射线精细结构吸收谱(EXAFS)和X射线近边结构吸收谱（XANES）的解决方案。在较小的占地面积内，它集成了X射线光管光源、高分辨光谱仪、光子技术像素化X射线探测器，以及用于仪器控制和数据的分析的控制软件。
综合评分：8.7分
HP SpectroscopyX射线吸收精细结构(XAFS)hiXAS 的工作原理介绍
X射线吸收精细结构(XAFS)hiXAS 的使用方法?
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该仪器可用于测量各种不同类型的样品，如晶体、液态和气态材料等，非常适合在多个领域中使用。