Prisma EX多功能环境真空钨灯丝分析扫描电子显微镜
Prisma EX多功能环境真空钨灯丝分析扫描电子显微镜

¥200万 - 250万

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Prisma & Prisma EX

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美洲

核心参数

电子枪种类: 钨灯丝

产地类别: 进口

二次电子图象分辨率: 3.0nm/4.0nm/10.0nm@30kv(SE)/30kv(BSE)/3kv(SE)低真空模式)

放大倍数: 电子放大6x-1000000x

加速电压: 200V-30KV

背散射电子图像分辨率: 3.0nm/4.0nm/8.0nm@30kv(SE)/30kv(BSE)/3kv(SE)(高真空模式)

Prisma & Prisma EX多功能环境真空钨灯丝分析扫描电子显微镜
Prisma & Prisma EX多功能环境真空钨灯丝分析扫描电子显微镜
产品规格

凭借过去 60 年的技术创新历史和业内领导地位, FEI 成为了透射电子显微镜 (TEM)、 扫描电子显微镜 (SEM)、整合了 SEM 与聚焦离子束 (FIB) 的 DualBeam™ 仪器和 用于精密高速切割与加工的专用聚焦离子束仪器的性能标准。 FEI 成像系统在三维 表征、分析和修改/原型设计领域实现了亚埃(埃:十分之一纳米)级分辨率。

性能与优点

 

Prisma & Prisma EX多功能环境真空钨灯丝分析扫描电子显微镜

  • 一款真正多用途实验室用性能全面、易操作的SEM钨灯丝扫描电子显微镜

  • 具有独有的ESEM™环境真空模式

  • 高真空、低真空和ESEM™环境真空三种真空模式,适合分析最广泛的样品,样品范围包括导电材料、不导电材料、脱气、未镀膜或其他不适用真空的样品。

  • 一系列集成的实时分析软件来完成动态的实验检测分析。

  • 低真空和ESEM环境真空能够满足非导电材料和含税样品的检测分析

  • 原位功能使即使是绝缘的或高温的样品也能获得可靠的分析结果。

  • 支持扫描前的预设置,具有导航和SmartScanTM功能的相机提高了工作效率、数据质量和满足更高要求的使用要求。

  • -165°C to 1400°C温度范围下的原位分析

  • 加速电压: 200 V - 30 kV

  • 电子放大倍数: 6x – 1,000,000x (可同时采集和显示四幅图像)

  • 探测器:高真空模式Everhart-Thomley二次电子探测器(E-T SED);低真空SE探测器(LVD);ESEM环境真空模式气体二次电子探测器(GESD);样品室红外CCD相机

  • 真空系统:1个250L/s涡轮分子泵,1个旋转机械泵;专利的“穿过透镜”的压差真空系统;排气时间≤3.5min到高真空,≤4.5min到ESEM真空/低真空;可选CryoCleaner冷阱;可选升级到无油滚动/干式PVPs

  • 样品室:

o 内径 340 mm

o 分析工作距离 10 mm

o 12个附件接口

o EDS采集角: 35°

  • 分辨率:

高真空模式

  • 3.0 nm @ 30 kV (SE)

  • 4.0 nm @ 30 kV (BSE)*

  • 8.0 nm @ 3 kV (SE)

高真空下减速模式

  • 7.0 nm @ 3 kV

低真空模式

  • 3.0 nm @ 30 kV (SE)

  • 4.0 nm @ 30 kV (BSE)

  • 10 nm @ 3 kV (SE)

  • ESEM环境真空

    • 3.0 nm @ 30 kV (SE)

 


售后服务承诺

保修期: 根据设备的实际质保期为准

是否可延长保修期:

现场技术咨询:

免费培训: 会通过电话、视频、现场等各个渠道培训,直到客户熟练为止

免费仪器保养: 根据合同来

保内维修承诺: 随时电话我们,或者QQ跟我们客服沟通。

报修承诺: 有任何的问题021-80109380随时电话我们,会有专业的人员处理直到解决为止

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布鲁克电子显微纳米分析仪器部
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