仪器种类: 台式/桌面型
电子枪种类: 六硼化铈
产地类别: 进口
二次电子图象分辨率: 8nm
放大倍数: 200,000x
加速电压: 4.8-20.5kV
背散射电子图像分辨率: 8nm
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飞纳台式扫描电镜大样品室卓越版----Phenom XL G2
Phenom XL (电镜腔室 100mm x 100mm)具有飞纳电镜系列以下优点:
超高分辨
—— 8 nm,独家采用长寿命 1500 小时、高亮度的 CeB6 灯丝
快速成像
—— 抽真空时间小于 20 秒
简易操作
—— 光学 + 低倍电子导航定位,结合全自动马达样品台移动观测位置
直接观测绝缘体
—— 低真空设计,实现不喷金看绝缘体,且不影响灯丝寿命
高度自动化
—— 自动聚焦,自动调节对比度亮度,拍照简单快速
放置环境无特殊要求
—— 无需独立实验室,无需超净间
防震设计
—— 紧凑的一体化设计,可不用防震台摆放在高层
远程联网检测
—— 第一时间通过远程联网诊断,售后无忧
同时,Phenom XL G2 做出了如下改进,使其在拥有台式扫描电镜操作简单等特点的前提下,具备大型落地式电镜的高分辨率、多功能和拓展性强等优势:
1、Phenom XL G2 成为台式扫描电镜中腔室最大的,电镜腔室由原来的 32mm 扩容为 100mm x 100mm,一次可容纳至多 36 个 1/2 英寸样品台,测样效率进一步提高。自动马达样品台的移动范围为 X = 50mm,Y = 50mm(可选配X=100 mm,Y=100 mm)
Phenom XL 的样品台
2、Phenom XL 提供高、中、低三级真空,可以选配二次电子探测器
3、背散射电子探头性能依然优异,背散射电子信号强度跟样品成分衬度有关,可以和能谱良好结合起来
背散射 1000X
(背散射电子数量与元素的原子序数成正比,元素的原子序数越高,背散射电子数量越多,该元素在图像中的表现越亮)
样品未喷金,采用背散射电子成像,更高倍数下清晰看到多种成分衬度,沿着箭头方向从内到外可以看到 4 种不同的成分衬度,且分界线非常明显。代表这 4 个位置元素含量各不相同,并且沿着箭头方向,重元素占比越来越低。
4、低电压下成像优势明显,低电压模式下,可以减少对样品的损伤,穿透,能观察到样品表面更真实的形貌
二次电子 5kV, 5000X
二次电子 5kV, 5000X
二次电子 5kV, 10000X
二次电子 5kV, 15000X
5、可拓展拉伸台,压力台,大角度倾斜台,高低温样品台等功能性选件
● 全自动显微平台Phenom XL G2 + 拉伸台
拉伸台是飞纳台式扫描电镜Phenom XL G2一项重大拓展。拉伸台是一种动态观察和分析材料微观变形形貌及断裂机制的手段,在材料科学前沿研究中发挥了重要作用。扫描电镜原位拉伸台的最大特点是,在进行应力—应变力学定量测试的同时, 利用扫描电镜的强大的景深、高空间分辨和分析功能,在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究。拉伸台可以为很多材料做拉伸测试,如金属材料(研究韧断过程、应力诱发相变及塑性变形),高分子材料,陶瓷材料等。飞纳台式扫描电镜的原位拉伸台能实现 2N to 1000N 的拉力区间,拉伸速度可实现 0.1mm/min 到 15mm/min,满足几乎所有领域样品的原位拉伸观测。
飞纳台式扫描电镜 Phenom XL 拉伸台
6、Phenom XL 可选配所有的拓展功能软件选件,如 3D 粗糙度重建系统,纤维统计分析测量系统,孔径统计分析测量系统等
用户单位 | 采购时间 |
---|---|
郑州机械研究所 | 2015-12-22 |
郑州大学 | 2015-09-12 |
上海交通大学 | 2015-11-24 |
深圳清华大学研究院 | 2015-11-02 |
中国科学院新疆理化技术研究所 | 2015-07-02 |
广州市二轻工业科学技术研究所 | 2015-11-17 |
上海振华重工(集团)股份有限公司 | 2015-09-07 |
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 1年2个名额
免费仪器保养: 无
保内维修承诺: 质保期内,除自然灾害和人为因素损坏外,全部免费维修
报修承诺: 货物出现故障后,供货方8小时给出初步反馈。
Phenom台式扫描电子显微镜标准版Pure
型号:Phenom pure 面议Phenom Particle Metric 颗粒测试
型号:ProX 面议Phenom 飞纳金属金相领域扫描电子显微镜
型号:Phenom ProX_1 面议Phenom 飞纳生物领域扫描电子显微镜
型号:Phenom Pro_2 面议陶瓷材料通常以无机非金属粉末为原料进行制备,粉体的化学成分、物相组成决定了制得陶瓷材料的基本性能,而粉体粒度级配、显微形貌则决定了其加工性能的好坏。粒径和比表面积是生产过程中描述粉体性能的重要表征指标,但粉体粒径跟比表面积之间的对应关系比较复杂,受其形状因子和粒径分布的影响较大。借助扫描电子显微镜(SEM),可以方便地对粉体原料的微观形貌进行分析,以描述其粒径和比表面积之间的关系,并且,利用飞纳电镜颗粒统计分析测量系统(ParticleMetric)还可以直接对粉体一次粒径进行统计,得到更真实的粒径分布。除此之外,配有能谱仪(EDS)的扫描电镜(SEM)还可以对粉体的成分进行分析,得到其化学组分信息。
MLCC 外部或内部如果存在开裂、孔洞、分层等微观缺陷,会直接影响到 MLCC 产品的电性能、可靠性,给产品质量带来严重的隐患。在失效分析的过程中,微观层面的分析必不可少。值得一提的是,飞纳电镜优异的低真空技术非常适合陶瓷材料,可以实现不喷金直接观察。与此同时,我们的 Technoorg Linda 离子研磨仪可以进行不同角度的剖面切削以及表面的抛光和清洁处理,能够得到真实的样品形貌,是 MLCC 失效分析的有力设备。
过滤是收集或者分离分散于气体或液体中固体颗粒的物理过程,在过滤过程中,固体粒子沉积在其表面或内部的有渗透性的材料,称为过滤介质。不同的过滤介质过滤实施方式不同,所应用领域和环境也各有差异。飞纳电镜提供完善的滤材表面形貌、孔径、表面成分检测方案,可以帮助相关人员更好地进行产品的研发和管控。
在这项研究工作中,作者使用飞纳电镜的拉伸台,对制备的柔性材料自旋阀转换器进行动态 压缩弯曲,并使用飞纳大仓室扫描电镜 Phenom XL 对材料自旋阀的形貌进行表征。
Phenom扫描电镜Phenom XL G2的工作原理介绍
扫描电镜Phenom XL G2的使用方法?
PhenomPhenom XL G2多少钱一台?
扫描电镜Phenom XL G2可以检测什么?
扫描电镜Phenom XL G2使用的注意事项?
PhenomPhenom XL G2的说明书有吗?
Phenom扫描电镜Phenom XL G2的操作规程有吗?
Phenom扫描电镜Phenom XL G2报价含票含运吗?
PhenomPhenom XL G2有现货吗?
日本电子 JEOL 钨灯丝扫描电子显微镜 JSM-IT210
Apreo 2超高分辨场发射扫描电镜
国仪量子场发射扫描电镜SEM5000Pro
TESCAN MIRA 场发射扫描电镜
屹东光学(Yidon Technologies)场发射扫描电子显微镜YF-1801
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