产地类别: 进口
测量原理: 电容式
测量范围: 二维表面轮廓测量
精度: +1
探针尖半径: 50nm~25um
探针作用力: 15
扫描长度: 55mm 2英寸
台阶高度重复性: <5
垂直方向分辨率: 1Å
测量样品最大尺寸: 50mm
看了台阶仪的用户又看了
德国布鲁克DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以到5Å。台阶仪这项性能的到了过去四十年Dektak技术,更加巩固了其行业。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二管的研发以及材料科学领域。
台阶仪DektakXT能实现:
1、 使用温度条件:10-30℃;
2、无可匹敌的性能,台阶高度重现性低于4埃
3、Single-arch设计提供扫描稳定性
4、的“智能电子器件”设立了新低噪音基准
5、新硬件配置使数据采集时间缩短
6、64-bit,Vision64同步数据处理软件,使数据分析速度高了10倍
7、频率,操作简易
8、直观的Vision64用户界面,操作简易
9、针尖自动校准系统
10、布鲁克(Bruker)以实惠的配置实现高的性能
11、单传感器设计,提供单一平面上低作用和宽扫描范围
建立在40多年的探针轮廓技术的知识和经验薄膜测试仪,在基于微处理器的轮廓仪,和300mm自动轮廓仪DektakXT继承了以往的。新的DektakXT是single-arch设计的探针轮廓仪,内置真彩高清光学摄像机,及安装64-bit并行处理架构已获得测量及操作效率的探针轮廓仪
当需要台阶高度、表面粗糙度、测量时,人们就会借助Dektak。引进DektakXT,Bruker能让您进一步获得表面测量
数据采集和分析速度
直接驱动扫描平台,Dektak XT减少了扫描间的时间,而没有影响分辨率和背景噪声。这一改进大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描(就探针轮廓仪而言,通常是耗时的)的扫描速度。在行业的质量和重现性前提下,DektakXT可以将数据采集处理的速度。另外,DektakXT采用Bruker64-bit数据采集分析同步操作软件Vision64,它可以大范围3D形貌图的高数据量处理速度,并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描是的数据分析。Vision64还具有行业内的直观用户界面,简化了实验操作设置,自动完成多扫描模式,让重复和常规的实验操作变得更快速简洁。
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 免费培训
免费仪器保养: 仪器保养
保内维修承诺: 维修
报修承诺: 维修
光学轮廓仪系统ContourGT-I
型号:ContourGT-I 面议布鲁克Bruker 原子力显微镜探针 AFM探针
型号:AFM probe 面议Bruker布鲁克台阶仪Dektak XTL
型号:Dektak XTL 70万 - 100万德国布鲁克Bruker 探针式表面轮廓仪台阶仪 DektakXT 纳米级表面测量
型号:Dektak XT 40万 - 50万Bruker Dektak-XT接触式表面轮廓仪(台阶仪)作为Dektak系列第十代产品,经过50多年的更新升级及技术创新,目前已成为使用广泛的接触式表面检测设备,有着众多的用户群体并得到好评。
Dektak XT 是使用single-arch 设计的探针轮廓仪, single-arch 设计及智能电子器件,大大改善了设备稳定性,进一步提高防震性能。Dektak XT在测量台阶高度重复性方面具有优异的表现,台阶高度重复性可低于4A。
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