泽攸科技几何量精密测量仪器台阶仪JS2000B
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泽攸科技

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JS2000B

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中国大陆

  • 白金
  • 第2年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
400-801-6576
核心参数

产地类别: 国产

测量原理: 电感式

测量范围: 10nm-80μm

探针尖半径: 2μm,1μm

探针作用力: 0.5-50mg

扫描长度: 55mm

台阶高度重复性: <0.5nm

垂直方向分辨率: 0.05nm满量程

测量样品最大尺寸: 150mm

泽攸科技台阶仪JS2000B

产品介绍


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泽攸科技全自动台阶仪JS2000B,拥有高精度、高分解能力,搭配一体花岗岩结构,能提供稳定可靠的重复性测量。JS2000B提供两个彩色摄像头对样品和针尖同时成像,可无畸变的观察样品区,方便定位特征区域,同时探针扫描时可实时观察扫描区域。


  • 刻蚀、沉积和薄膜等厚度测量

  • 薄膜多晶硅等粗糙度、翘曲度等材料表面参数测量

  • 各式薄膜等应力测量

  • 3D扫描成像

  • 计划任务和多点扫描

  • 批量测试晶圆,批量处理数据等




应用领域

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产品组成

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突破三大核心技术

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产品特色

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关键技术指标

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售后服务承诺

产品货期: 30天

整机质保期: 1年

培训服务: 安装调试现场免费培训

安装调试时间: 到货后3天内

电话支持响应时间: 1小时内

维修响应时间: 2天内

是否支持上门巡检:

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泽攸科技几何量精密测量仪器台阶仪JS2000B信息由安徽泽攸科技有限公司为您提供,如您想了解更多关于泽攸科技几何量精密测量仪器台阶仪JS2000B报价、型号、参数等信息,泽攸科技客服电话:400-801-6576,欢迎来电或留言咨询。
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