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对多通道功率驱动照明和OLED寿命测量进行了优化。
M6000 PLUS OLED寿命测试系统是用来测试OLED材料在高、低温之间承受持续电源或环境变化的能力，从而了解在指定时间内降解引起的化学变化或物理损伤。适用于OLED器件，Panel,模组；寿命测试结果可作为改进和提高OLED材料质量的参考或依据。
-相对寿命测试
-相对I-V-L试验
-老化测试
-多电流/光电流范围
-方序列运算
-利用温/湿控制腔室进行加速测试
主要客户：
高校/研究所：香港大学，清华大学，吉林大学，南京大学，大连理工大学，南京邮电大学，聊城大学，华中科技大学，上海交通大学，合肥工业大学...... 中科院理化所，中科院长春应化所，中科院苏州纳米所......
企业客户：三星，LG，Merck，Apple，Toray, Idemitsu Kosan,Tosoh,Novaled, Cynora,Microoled, Applied Materials, Dow，Dupont，UDC..... 京东方，天马微电子，华星光电，维信诺，柔宇科技，咸阳彩虹......
保修期: 1年
是否可延长保修期: 是
现场技术咨询: 有
免费培训: 1次，根据需要可再协商
免费仪器保养: 根据需要可协商
保内维修承诺: 24小时响应
报修承诺: 24小时响应
OLED I-V-L测试系统
型号：M6100 面议
OLED 光电&寿命综合测试系统
型号：M7000 面议
OLED TOF测试系统
型号：T3000 面议
TFT参数测试系统
型号：T5000 面议有机电致发光器件(OLED)已经得到了广泛的应用。 而且很有希望成为下一代的候选者(全彩色显示器和固态照明应用).
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