纤维细量仪

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纤维细量仪相关的厂商

  • 三丰精密量仪(上海)有限公司(简称“上海三丰”)是日本排名前列的精密测量仪器生产商MITUTOYO在上海的销售子公司。日本MITUTOYO拥有80多年的历史,从小型测量工具到大型测量仪器,共5500多种产品,是世界上为数不多的全方位生产精密测量仪器的企业。在全世界共47家子公司: 日本9家, 美洲11家, 欧洲15家, 亚洲12家。上海三丰于2001年注册在上海外高桥保税区企业,总部设于上海,在全国有12家分公司及事务所,负责MITUTOYO产品在中国华东、华北及中部地区的销售。华南地区由合资公司负责销售。销售产品有:三座标测量仪、画像测量仪、测量投影仪、工具及测量显微镜、硬度计、卡尺、千分尺等。
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 武汉国量仪器有限公司专业做拉力机、强力仪、透气仪、万能材料试验机。本公司与华中科技大学、武汉大学、中国地质大学等多家院所合作,公司生产的:橡胶塑料检测仪器,金属板材检测仪器,电线电缆检测仪器,金属管材棒材检测仪器,皮革拉链检测仪器,无纺布检测仪器,土工材料综合试验机,纺织品检测仪器,土工建材检测仪器,纱线纤维检测仪器等专用试验机系列。是实验室对产品进行分析和检测的必备仪器。 公司地处“光谷”科技新区,西邻众多大学院所,北倚磨山楚城及风景优美的东湖风景区。是集科研、开发、生产和销售为一体的高新技术企业。.多年以来,国量仪器牢固树立“诚信立本、质量立业、服务立誉”的经营理念,坚持市场、研发、资本、人才、管理和文化相结合的发展模式,以市场为导向,以行业发展和企业需求为出发点,借鉴ERP标准成本管理体系和全面质量管理体系,向管理要效率,向成本要效益。 公司依托“光谷”科技优势,广聚行业精英,汇集了一批优秀的研发、资本运营和现代化企业管理的人才。倡导科研兴业,集中优势资源,打造企业核心竞争力,推动产品向系列化、数字化方向发展。目前,产品齐全,结构合理,智能控制,性能稳定,遍及企业、质检、商检、科研院校,并远销海外。   科技引领高度,专注成就梦想,合作赢得空间,国量仪器愿与海内外朋友携手合作,互惠互利,共同发展,竭诚为广大客户提供高性价比的产品和服务。
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纤维细量仪相关的仪器

  • 针对高需求用户范围广泛的的测试仪主要特点全景成像模式:将所有传感器进行同步,轻松快速地分析涂层结合力和耐划伤性能安东帕持有美国专利 8261600 和欧洲专利 2065695。全景模式是划痕仪软件最重要的特征。划痕后,您可以选择用选配的自动同步的传感器:声发射、位移、载荷和摩擦力传感器来记录全景。当采用全景成像模式记录时,可以随时重新分析划痕。粘弹性材料表征使用前扫描和多次后扫描测量专利模式 (US 6520004)在划痕之前、过程中和之后,位移传感器 (Dz) 一直记录样品的表面的轮廓。因此,它可以在划痕过程中和划痕之后评估针尖的划入深度。根据时间进行多次后扫描让您可以获得随时间变化聚合物的粘弹性恢复。即使在曲面和粗糙表面也可进行测试由于采用了独特的力传感器控制技术,微米划痕系统可检测载荷偏差,并且通过主动力反馈系统来修正该偏差。微米划痕系统即使在粗糙表面和曲面上也可获得可靠的测量。多种划痕测试功能具有多个测试模式渐近的、恒定的或插入的载荷多次磨损测试可使用单次或多次可以快速轻松地更换夹具上的划痕针尖可使用不同类型的划痕针尖:球形、锥形、维氏、努氏、刀具等高质量光学成像系统带“自动跟踪聚焦”集成显微镜包括配置高质量物镜的转塔和 USB 照相机。“跟踪聚焦”功能可以将进行多个划痕的 Z 样品台自动聚焦到正确位置。技术指标划痕深度精细量程最大量程最大位移 [μm]1001000位移分辨率 [nm]0.050.5本底噪音 [rms] [nm]*1.5法向载荷精细量程最大量程最大载荷 [N]1030载荷分辨率 [mN]0.010.03本底噪音 [rms] [μN]*100摩擦力精细量程最大量程最大摩擦力 [N]1030摩擦力分辨率 [mN]0.010.03*理想实验室条件下规定的本底噪音值,并使用减震台。
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  • T0022高蓬松度无纺织纤维厚度测量仪,此仪器用于测量高蓬松度无纺织纤维厚度并以数字显示读数。测试方法:在一定压力下,可动平行面板在垂直方向上的直线运动距离即为测定的厚度。厚度是无纺布的一个基本物理性质。在某些工业应用中,厚度需要控制在一个限度内。 应用:高蓬松度无纺织纤维、纺织品、无纺布 产品特点:压板: 300mm x 300mm量程::200mm可*到:0.01mm基座: 400mm x 400mm数字显示负荷精度: 0.1mm样品大小: 300mm x 300mm样品质量不*过: 288g垂直高度可调 参考标准:ASTM D5736-95 (2001) 电气连接:220/240 VAC @ 50 HZ or 110 VAC @ 60 HZ (可根据客户需求定制) 外形尺寸: H: 500mm W: 450mm D: 450mm重量: 40kg
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  • 显微镜双目平行差测量仪具体按GB/T19863-2005(体视显微镜试验方法)中4.5操作,注:完成GB/T19863-2005操作需按照该标准另配十字分化板,10倍十字分化目镜等1.用途及主要特点显微镜双目平行差测量仪主要用于检测双目显微镜左右光学系统出射光束方向偏差。2.主要技术指标1左右光轴不平行,当左右光轴夹角微调鼓轮处于中间零位时,夹角为12°2左分划板:十字分划板3右分划板:十字刻度分划板,格值3′4左右光轴夹角微调鼓轮调整范围:12°±4°鼓轮格值:1′5分划倾斜测微鼓轮测量范围:±4°鼓轮格值:1′6物镜焦距:f′=120mm7物镜有效口径:d=φ30mm8目镜焦距:f′=20mm
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纤维细量仪相关的资讯

  • 原位力学测量仪与拉曼光谱、金相显微镜实现联用
    p  近日,科技部高技术研究发展中心组织专家组对吉林大学牵头承担的863计划“跨尺度原位力学测试新技术与仪器装备的开发制造”进行了技术验收。专家组认为该课题突破了微纳量级测量的多项关键技术,研发出系列测量仪器,实现了预期目标,一致同意通过验收。/pp  随着新材料、航空航天和高端制造业等产业集群的发展,对材料服役性能测试与保障能力的要求不断提高,学术界和工业界对材料微观力学性能测试技术与仪器开发的需求迅速增长。对此,在863计划支持下吉林大学等单位开展了跨尺度原位力学测试新技术与仪器装备的开发研制工作。经过3年攻关,课题组攻克了原位力学测试仪器装备的设计、制造与标定等关键技术,突破了原位测试仪器精度校准的技术瓶颈,使加载力分辨率达10mN、加载位移分辨率优于100nm,多项指标取得突破,与传统的材料力学性能测试技术相比,本课题研制的仪器能与扫描电子显微镜、Raman光谱仪和金相显微镜等多种材料性能表征技术相兼容,实现了对材料力学参数、微观力学行为、变形损伤机制与微观组织演化多参量原位精准测试。课题组已初步掌握了微测量仪器工程化产业化关键技术,并形成了专利成果转化的良性机制,所研发的压痕/刻划、拉伸/压缩、剪切、弯曲、扭转和拉伸-扭转复合等6类17种仪器及其配套分析处理软件,填补了我国相关领域仪器的空白。该课题成果已在包括北京大学、浙江大学、北京工业大学以及济南铸锻所等国内20多家大学和研究单位得到示范应用和推广。/pp  该课题的验收表明我国已经掌握了具有自主知识产权的材料微观力学性能测试仪器及其批量制造的核心关键技术,实现了我国自主知识产权原位测试仪器的突破,提升了我国自主研制仪器的技术水平,推进了传统试验机行业转型升级,丰富了现有材料力学性能测试理论、技术与标准体系,在人才培养、学科建设和产学研合作等方面发挥了重要作用,扩大了我国在力学性能测试领域的国际影响力。/p
  • 360万!武汉大学高分辨显微CT表型测量仪采购项目
    项目编号:ZB0104-202212-ZCHW0927项目名称:武汉大学高分辨显微CT表型测量仪采购项目预算金额:360.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):360.0000000 万元(人民币)采购需求:序号货物名称主要规格数量(套)最高限价(万元)是否接受进口备注1高分辨显微CT表型测量仪最大功率:≥39W1360是合同履行期限:交货期:进口设备:收到买方信用证并办理完免税后260天;国产设备:合同签订后260天;质保期:验收合格后至少1年。本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 光学计量仪器:解读精密测量的利器
    光学计量仪器作为现代科学和工业领域中不可或缺的工具,通过利用光学原理进行精确测量,在各个领域发挥着重要作用。本文将介绍光学计量仪器的定义、原理以及其在科学研究和工业应用中的重要性。  第一部分:光学计量仪器的定义和分类  定义:光学计量仪器是基于光学原理设计和制造的精密测量设备,用于测量长度、角度、形状等物理量。  分类:光学计量仪器可以根据其功能和应用领域进行分类,包括测微计、激光干涉仪、投影仪、扫描电子显微镜等。每种仪器都有其特定的测量原理和适用范围。  第二部分:光学计量仪器的原理和工作方式  光学原理:光学计量仪器利用光的传播和反射、折射等特性进行测量。例如,激光干涉仪利用激光光束的干涉现象测量长度和形状,投影仪通过光学系统投影图像进行测量等。  工作方式:光学计量仪器通常利用光源、探测器、光学透镜和其他相关组件构成测量系统。通过精确的光学路径设计和信号处理,可以实现高精度的测量结果。  第三部分:光学计量仪器在科学研究中的应用  物理学研究:光学计量仪器在物理学领域中广泛应用,例如用于测量材料的光学性质、表面形貌和精细结构等,为理论研究提供重要数据。  生物医学研究:在生物医学研究中,光学计量仪器可用于测量细胞、组织和生物标本的大小、形状和表面特征,为疾病诊断和治疗提供依据。  材料科学研究:光学计量仪器在材料科学领域中用于测量材料的机械性能、光学性能和电子性能,为新材料的开发和应用提供支持。  第四部分:光学计量仪器在工业应用中的重要性  制造业:光学计量仪器在制造业中广泛应用,例如测量零部件的尺寸和形状,确保产品的精度和质量。  航空航天:光学计量仪器可用于航空航天领域中对飞行器、航天器以及相关部件进行精确测量,确保飞行安全和性能。  汽车工业:在汽车制造中,光学计量仪器可用于测量汽车外观、内饰和关键零部件的尺寸和形状,确保产品符合设计要求。  光学计量仪器作为精密测量的利器,在科学研究和工业应用中发挥着不可或缺的作用。通过利用光学原理和精确的测量系统,这些仪器能够提供高精度、可靠的测量结果,满足各行各业对于精密测量的需求。  随着科技的不断进步,光学计量仪器也在不断创新和发展。新的技术和方法被引入,以提高测量精度、扩大测量范围和增加测量功能。同时,仪器的便携性和自动化程度也得到了提升,使得使用更加方便和高效。  然而,光学计量仪器的应用并不仅限于科学研究和工业领域。在日常生活中,我们也可以发现它们的身影。例如,眼镜店使用计量仪器来准确测量眼镜度数;珠宝商使用显微镜和投影仪来评估珠宝的品质和工艺。  总之,光学计量仪器在现代社会中扮演着重要的角色,推动着科学技术的发展和产业的进步。通过持续的创新和应用,光学计量仪器将继续为我们提供精密测量的利器,助力于各个领域的科研、生产和品质控制,推动着社会的发展和进步。

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  • 常用光学计量仪器分类

    [font=宋体]在实际应用中,尽管光学计量仪器多种多样,但它们的光学原理却[color=blue]都基于四种基本原[/color][/font][font=宋体][color=blue]理[/color][/font][font=宋体],它们是:[color=blue]望远光学原理、显微光学原理、投影光学原理、干涉光学原理。[/color][/font][font=宋体]基于应用不同的光学原理,光学计量仪器可分为[color=blue]:自准直类光学计量仪器、显微镜类光学计量仪器、投影类光学计量仪器、光干涉类光学计量仪器四大类。[/color][/font][font=宋体]望远系统主要性能是视角放大率,在观察时用来扩大眼睛对远处物体的视角,用以观察物体。在测量时常被用来产生平行光以进行各种用途的测量,应用此原理的光学计量仪器有:自准直光管、测角仪、立[/font]([font=宋体]卧[/font])[font=宋体]式光学计等。[/font][font=宋体]显微系统的主要性能是较高的放大率。它与放大镜相比,有较高的放大率和分辨本领。可清楚地观察和分辨微小物体和物体的细小部位。应用此原理的光学计量仪器有:工具显微镜、光学分度头、测长仪、测长机、双管显微镜等;[/font][font=宋体]投影系统的主要性能:是较高的、准确的横向放大率。[/font][font=宋体]被测量的形状复杂、细小的物体或物体表面缺陷等经强投射光或强反射光照射,再经投影物镜放大成像在影屏上后进行测量。应用此原理的光学计量仪器有:大、中、小型投影仪、专用的公差带投影仪等。[/font][font=宋体]光干涉系统主要性能是有很高的检测精度。它是以光波波长作:“尺子”,实现了对表面粗糙度、长度微小变化等几何量的高精度测量。应用此原理的光学计量仪器有平面平晶等厚干涉仪、接触式干涉仪、干涉显微镜等。[/font]

  • 新型电化学测量仪器——电化学扫描探针显微镜(EC-SPM)

    新型电化学测量仪器——电化学扫描探针显微镜(EC-SPM) 材料2106 李昊哲新型电化学测量仪器——电化学扫描探针显微镜(EC-SPM)是一种具有创新性的技术,它在电化学领域的研究和应用中起到了重要的作用。EC-SPM采用了先进的技术和方法,可以对电化学反应进行精确的测量和分析,为科学家们提供了更为准确和可靠的数据。EC-SPM的创新之处在于其结合了扫描探针显微镜(SPM)和电化学技术,实现了对电化学反应的原位观察和测量。传统的电化学测量仪器往往只能提供宏观的电化学数据,而EC-SPM通过在电极表面放置微小的探针,可以实现对电化学反应的纳米级别的测量。这种纳米级别的测量能够更加准确地了解电化学反应的动态变化,提供了更为详细和全面的信息。EC-SPM在前处理合计数方面也进行了改进和优化。传统的电化学测量仪器在前处理过程中往往需要复杂的操作和多个步骤,容易出现误差和不确定性。而EC-SPM通过引入自动化和智能化的前处理系统,可以实现对样品的快速处理和准确计数。这不仅提高了测量的效率,还减少了人为因素对结果的影响,提高了测量的精确度和可靠性。我有幸在实验室使用了电化学扫描探针显微镜(EC-SPM),并且对其性能和使用体验有了一些真实的心得体会。我认为EC-SPM的性能非常出色。它采用了先进的扫描探针显微镜技术,可以实现纳米级的高分辨率测量。在我的实验中,我使用EC-SPM对一种新型材料进行了表面形貌和电化学性质的同时测量,结果非常令人满意。EC-SPM能够清晰地显示出样品的表面形貌,并且能够通过电流-电压曲线来研究材料的电化学行为。这对于我研究材料的结构与性能之间的关系非常有帮助,其次,EC-SPM的操作非常简便。它采用了直观的用户界面,使得操作人员能够快速上手。在我使用的过程中,我只需要按照仪器的操作指南进行操作,就能够轻松地完成测量。而且,EC-SPM还具有自动化的功能,能够实现自动扫描和测量,省去了繁琐的手动调整步骤,提高了实验效率。最后,EC-SPM的数据处理和分析功能也非常强大。它可以对测量得到的数据进行实时处理和分析,并且能够生成高质量的图像和曲线。在我的实验中,我使用EC-SPM获得了一系列的电流-电压曲线,并且通过对这些曲线进行分析,我能够得到材料的电化学性质,比如电荷转移速率和电化学反应动力学参数。这对于我研究材料的电化学性能非常有帮助。EC-SPM在电化学领域的研究和应用中取得了重要的成果。例如,在电池研究中,EC-SPM可以帮助科学家们更好地了解电池中的界面反应和电化学性能,从而提高电池的效率和稳定性。在催化剂研究中,EC-SPM可以实时观察催化剂表面的电化学反应,揭示催化剂的活性和稳定性等关键性质。此外,EC-SPM还可以应用于材料科学、生物医学等领域,实现对材料表面性质和生物分子相互作用的研究。EC-SPM作为一种新型电化学测量仪器,具有创新性的技术和方法。它通过纳米级别的测量,实现了对电化学反应的精确观察和分析。在前处理合计数方面的改进,使得测量结果更加准确和可靠。研究成果在电化学领域的应用广泛,为科学家们的研究和实践提供了重要的支持。它的高分辨率测量能力、简便的操作和强大的数据处理功能使得我能够更好地研究材料的电化学性质。我相信,随着电化学扫描探针显微镜技术的不断发展,EC-SPM将会在材料科学、电化学等领域发挥更加重要的作用。

纤维细量仪相关的耗材

  • 显微薄膜测量仪配件
    显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统,可以结合显微镜测量薄膜的吸收率,透过率,反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量,测量点处的薄膜厚度,薄膜光学常量(n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是:光栅光谱仪(200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜(可选)。其中目镜适配器包含镜头,可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果(20X物镜)薄膜厚度测试仪配件软件这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制,光谱测量和薄膜测量功能的软件,具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率,透过率,反射率和荧光光谱,并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置,所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数,如signal integration也能测量出来。对于反射率测量,该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度(《10nm到100微米), 光学常量(n & k)。薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚: 10nm-150微米;波长范围:200-1100nm精度:0.5%分辨率:0.02nm光源:使用显微镜光源光斑大小:由显微镜物镜决定计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:120x120x120mm重量:1.2kg薄膜厚度测试仪配件应用测量薄膜吸收率,透过率测量化学薄膜和生物薄膜测量光电子薄膜结构测量半导体制造聚合物测量在线测量光学镀膜测量
  • 美国维赛 YSI 63 便携式酸碱度/电导率测量仪
    YSI 手提式酸度测量仪(60型、63型)是特别为野外测量而设计的专业酸度测量仪器,它克服了一般酸度计电极在野外应用的缺点。美国维赛 YSI 63 便携式酸碱度/电导率测量仪简介● 使用特殊电缆屏蔽设计,突破传统酸度计电缆长度的限制,测量水深范围达30米● 电极接头全封闭防水,整个探头可插入水中测量● 探头加固保护,可抵抗轻度的碰撞● 可更换式电极,经济、便于现场维护美国维赛 YSI 63 便携式酸碱度/电导率测量仪介绍美国维赛 YSI 63 便携式酸碱度/电导率测量仪针对野外测量而设计的特点完全按照人体工学设计,不论手持、阅读、操作还是携带等细节上均考虑到野外测试的特殊需要特大液晶显示屏,另有背景加光功能,在昏暗的环境下仍能清晰读数探头使用不锈钢制造,电极端外加塑料保护套,确保坚固耐用;另外金属的重量让探头更易于沉入水中所有电缆接头均装有应力舒缓器,减少接线处的物料疲劳,有效延长电缆的使用寿命内置探头存贮室,方便携带并保存探头的正常工作状态,亦可作溶解氧的校准室全按键式操作,一切运作均由微处理器操控自动功能检查,确保开机时系统均正常工作内置非散失性记录器,可储存50组数据,读数不会因断电而丢失耐固野外探头一体酸度/电导/温度探头酸度测量复合式玻璃电极,自动温度补偿全水密BNC电极接头电极可于野外自行更换酸度探头保修期一年电导测量使用四纯镍电极,性能稳定,极少需要维护全自动电导量程选择:快速调整有效量程,以达到最高的准确度美国维赛 YSI 63 便携式酸碱度/电导率测量仪 系统规格美国维赛 YSI 63 便携式酸碱度/电导率测量仪参数技术指标参 数测量范围分辨率准确度*酸 度0至140.01±0.1(校准温度10℃内)*±0.2(校准温度20℃内)*电 导0-499.9μS/cm0-4999μS/cm0-49.99mS/cm0-400.0mS/cm0.1μS/cm1μS/cm0.01mS/cm0.1mS/cm量程之±5%*量程之±5%*量程之±5%*量程之±5%*盐 度0至80ppt0.1ppt±2%或±0.1ppt *温 度-5℃至+75℃0.1℃±0.1℃(±1 lsd)** 仪器规格包括仪表和探头的总误差,仪器本身的酸度准确度为±0.02仪器规格酸度校准1点、2点或3点校准选择,自动缓冲液识别电缆长度3米、7.5米、15米和30米酸度电极复合式玻璃电极温度补偿全自动电导参考温度15℃至25℃(可调)电导温度补偿因子0至4%(可调)量程选择自动或手动电导量程选择电 源6节5号碱性电池,操作寿命约100小时;附低电量显示防水等级超越IP65标准尺 寸24.1厘米(长)× 8.9厘米(宽)× 5.6厘米(厚)重 量0.77公斤(3米电缆)选购指南仪 器63-1063-2563-5063-100酸度、电导、盐度、温度测量仪,3米电缆酸度、电导、盐度、温度测量仪,7.5米电缆酸度、电导、盐度、温度测量仪,15米电缆酸度、电导、盐度、温度测量仪,15米电缆配 件13113350505520酸度更换电极携带箱,硬体塑料便携箱(能容纳7.5米电缆)校准标准液3167-13168-13168-13821-13822-13823-15580-1电导标准液,1毫西门子/厘米(475毫升)电导标准液,10毫西门子/厘米(475毫升)电导标准液,50毫西门子/厘米(475毫升)pH 4 缓冲液(475毫升)pH 7 缓冲液(475毫升)pH 10 缓冲液(475毫升)酸度、电导、ORP多参数检查液(475毫升)
  • 显微分光膜厚测量仪
    产品特点:?优异的性价比,低价格却可达到相近于高端膜厚计的测量再现性。?中文化操作介面,入门简易、沟通无障碍。?提供完整测量教学、技术支援、点检校正等售后服务。?采用标准样品验证膜厚精度与再现性,确保追溯体制的完整。?显微镜聚焦下的微距口径测量。产品规格: 测量规格膜厚范围200nm~20μm波长范围400nm~780nm膜厚精度±1nm以内重复更现性(2σ)0.5nm以内选配品样品台尺寸200mm×200mm以内可容制化测量口径(10倍物镜时)Φ20μm、Φ40μm、Φ60μm电脑设备需支援至少三个USB以上之笔记型或桌上型电脑作业系统WindowsXP/7(32bit)测量物镜5倍、10倍、20倍软件功能膜质解析N:折射率、k:吸光系数膜厚测量法FFT法、波峰-波谷法、曲线近似法(Fitting)应用范围: 半导体晶圆膜、FPD薄膜材料、树脂膜、光阻膜、氧化膜、包装膜、光学镀膜、抗反射膜、透明或半透明膜层应用范例:Si基板上99.4nm的SiO2膜Si基板上1018.2nm的SiO2膜
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