反射分析仪

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反射分析仪相关的厂商

  • 深圳市禾苗分析仪器有限公司是以市场为导向的专业研发、生产、销售科学分析仪器的高科技企业。公司以“安全、环保、诚信、尊重、协作”为核心理念,凝聚中国近几十年分析仪器先进技术,大胆改革创新,着力打造国内领先、国际一流的分析仪器企业。 公司拥有以美籍华人Frank Huang教授为核心的强大的技术研发团队,博士学位以上人员超过10%%,硕士研究生以上人员超过30%%。汇集了核物理学、分析化学、应用数学、软件开发、机械设计、光学、电子电路、自动化等学科的一流人才。公司正进一步加强研发队伍建设,不断引进仪器行业高科技人才,打造国际一流的研发团队,为公司的进一步发展提供坚实的技术基础。 公司目前产品主要有X射线荧光光谱仪、RoHS仪器、镀层测厚仪、合金分析仪、无卤检测仪、液相色谱仪和气相色谱仪。产品广泛应用于无机元素分析(Na-U)、环境分析(RoHS检测、玩具检测)、有机和生物化学、食品分析、医药卫生研究、法医学、工业分析和临床检验实验室等领域。 公司不但为客户提供一流的产品,更为客户提供一流的技术服务。禾苗公司技术服务体系完善,目前在华南、华东、华北、西南等地都设有技术服务中心,辐射全国各个省市地区,售后服务及时到位。公司可以根据客户需求量身定做各种检测方案,为客户解决分析问题的同时,最大限度地为客户节省成本、创造价值。 禾苗象征绿色,绿色寓意环保,环保孕育未来。禾苗公司正一步一步茁壮成长,走向丰收的季节!
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  • 400-860-5168转2376
    2004年9月17日,耶拿分析仪器(上海)公司正式成立,公司主要有分析仪器和生命科学两大核心业务,广泛服务于科研、环保、医药、食品、卫生、农业、石化和生命科学等行业,并为客户提供仪器安装和维护维修、方法应用、技术开发、技术咨询等整体解决方案。 分析仪器业务主要研究、开发、设计和生产制造各类分析仪器,包括原子吸收光谱仪,电感耦合等离子体发射光谱仪,电感耦合等离子体质谱仪,紫外可见分光光度计,总有机碳分析仪,元素分析仪,总有机卤素分析仪,拉曼光谱仪等。 生命科学仪器业务主要研究、开发、设计和生产制造涵盖从样品制备、核酸提取纯化、核酸检测、PCR和定量PCR、电泳、凝胶成像系统、各类实验室常规设备,以及多种自动化液体处理工作站分子生物学高效全套解决方案。
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  • 400-860-5168转0195
    天津天河分析仪器有限公司 成立于1987年,系天津滨海新区专业从事药检分析仪器和测试仪器开发的高新技术企业。公司前身系解放军464医院医疗仪器研制中心。公司由药学、医疗电子及机械工程专家组成,是我国最早研发药检领域分析仪器的厂家。拥有发明**、实用新型**、软件著作权等多项自主知识产权。现为中国颗粒学会会员及常任理事单位。公司通过ISO9000质量管理体系认证。公司自成立以来,先后研制成功我国第一台电阻法注射液微粒分析仪和光阻法注射液微粒分析仪。1988年开发的电阻法多通道ZWF-4型注射液微粒分析仪,填补国内一项技术空白,获军队、国家科技进步奖和发明**。1998年推出的ZWF-J6激光注射液微粒分析仪,是国内唯一经国家药典委员会推荐的光阻法微粒分析仪。不同型号的微粒分析仪多次为《中国药典》换版提供实物依据和实验复核数据,先后获得国家药典委员会推荐和监制。 GWF系列光阻法微粒分析仪 可满足2010年版《中国药典》对不溶性微粒的检查,满足GB8368对一次性使用医疗器具、药包材以及其他领域不溶性微粒的检测。其性能指标达到或接近国际同类仪器水平,具有性价比高和售后服务等优势。2001年自主开发的 SMC 30系列渗透压摩尔浓度测定仪 以全新的设计理念和技术优势获得多项**,并于2004年获国家创新基金扶持。产品采用固态冷却池制冷为国内首创。产品推出后其所有方法即被《中国药典》(2005年版)收载为渗透压摩尔浓度测定法,并为 《中国药典》(2010年版)换版复核时提供实物依据和实验数据,是唯一经国家药典委员会推荐的渗透压仪。SMC 30系列渗透压摩尔浓度测定仪,主要应用于制药、药物分析和临床用药的渗透压摩尔浓度测定;也广泛用于生物、植物、环保、卫生制品、食品饮料等领域的水溶液渗透压摩尔浓度测定及科学研究。自主品牌 YKJ系列油液颗粒计数器 专门用于油液中污染粒子等级的检测。满足液压油、润滑油、电厂抗燃油、绝缘油和透平油等油液及有机液体、聚合物溶液等液体中的固体颗粒污染度的检测。仪器符合所有相应的国军标及国际标准。由于设计理念新,操作简便,性能稳定,可与国外同类仪器相媲美。ZZJ-05A粘着力自动检测仪 是一种用于贴膏剂(巴布膏剂)类药品和胶粘剂、胶带及各种粘剂型的检测装置。其设计技术及其检测方法在实际应用领域里具有独创与新颖性,填补了国内外在这一领域里的空白,并为国内外首创产品。
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反射分析仪相关的仪器

  • 仪器简介:ZF-3紫外透射反射分析仪简介: 使用说明: (一)、分析观察样品 将电泳好的凝胶样品或薄层、纸层样品放在仪器中央,开启&ldquo 反射紫外灯&rdquo 电源,调节反射紫外灯架高度与角度,使样品发出的萤光最清晰明亮。通常反射紫外离样品越近,则萤光越强。 (二)、拍摄样品照片 (1)打开&ldquo 照明&rdquo 白炽灯,利用白炽灯照明,调节照相高度及相机镜头使样品成像清晰。在相机前装上近摄接圈与PCR滤色镜。然后关闭&ldquo 照明&rdquo 白炽灯。 (2)开启透射紫外灯电源,进行拍摄,应根据不同的样品确定不同的曝光时间,以清晰满意的底片。 (三)注意:如使用时不用暗箱,必须在暗室内操作。 我公司生产的紫外分析仪系列产品: ZF1-I多功能紫外分析仪 ZF1-Ⅱ型紫外分析仪 ZF-1紫外透射反射分析仪 ZF-2紫外透射反射分析仪 ZF-3紫外透射反射分析仪 ZF-5 型手提式紫外分析仪(手提式紫外分析仪) ZF-6型三用紫外分析仪(台灯式ZF-1三用紫外分析仪) ZF-7型暗箱式三用紫外分析仪(暗箱式三用紫外分析仪) ZF-8型暗箱式四用紫外分析仪(暗箱式四用紫外分析仪) ZFD型紫外透射分析仪 UV-A型手提暗箱式紫外分析仪技术参数:ZF-3紫外透射反射分析仪的技术参数: 1、电源:AC220V± 10%50HZ 2、功率透射:48W 64W 反射24W 照明40W 3、紫外滤色片尺寸透射:ZF-3 200× 150mm 反射200× 80mm主要特点:ZF-3紫外透射反射分析仪的主要特点: ZF系列紫外射反射分析仪(配暗箱)是最新研制成功的新一代分析仪器。 本产品具有灵敏度高、使用方便、特别采用302NM波长对样品的破坏作用更小,是紫外分析仪的更新换代产品,它可适用于DNA、RNA电泳凝胶样品的观察,可检测蛋白质,核甘酸等,在制药工业中检查激素生物碱、维生素等能产生萤光的药品质量,对薄层分析,各种同功酶,纸层分析进行观察分析和摄影,并可作为PCR技术的专用仪器。 ZF-3型紫外透射反射分析仪装有一组透射紫外光源和二组反射紫外光源,分别供观察、分析和摄影用。 紫外透射分四组,供用户选择:一组254nm;二组302nm;三组365nm;四组白炽灯;紫外反射有二组;一组254nm;二组365nm。
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  • 仪器简介:ZF-2紫外透射反射分析仪简介: 使用说明: (一)、分析观察样品 将电泳好的凝胶样品或薄层、纸层样品放在仪器中央,开启&ldquo 反射紫外灯&rdquo 电源,调节反射紫外灯架高度与角度,使样品发出的萤光最清晰明亮。通常反射紫外离样品越近,则萤光越强。 (二)、拍摄样品照片 (1)打开&ldquo 照明&rdquo 白炽灯,利用白炽灯照明,调节照相高度及相机镜头使样品成像清晰。在相机前装上近摄接圈与PCR滤色镜。然后关闭&ldquo 照明&rdquo 白炽灯。 (2)开启透射紫外灯电源,进行拍摄,应根据不同的样品确定不同的曝光时间,以清晰满意的底片。 (三)注意:如使用时不用暗箱,必须在暗室内操作。 我公司生产的紫外分析仪系列产品: ZF1-I多功能紫外分析仪 ZF1-Ⅱ型紫外分析仪 ZF-1紫外透射反射分析仪 ZF-2紫外透射反射分析仪 ZF-3紫外透射反射分析仪 ZF-5 型手提式紫外分析仪(手提式紫外分析仪) ZF-6型三用紫外分析仪(台灯式ZF-1三用紫外分析仪) ZF-7型暗箱式三用紫外分析仪(暗箱式三用紫外分析仪) ZF-8型暗箱式四用紫外分析仪(暗箱式四用紫外分析仪) ZFD型紫外透射分析仪 UV-A型手提暗箱式紫外分析仪技术参数:ZF-2紫外透射反射分析仪的技术参数: 1、电源:AC220V± 10%50HZ 2、功率透射:64W 照明40W 3、紫外滤色片尺寸透射:200× 150mm 4、外型尺寸 350× 260× 360 5、波长:302nm不锈钢面板,(配暗箱,附数码相机机架装置端口)。 主要特点:ZF-2紫外透射反射分析仪的主要特点: ZF系列紫外射反射分析仪(配暗箱)是最新研制成功的新一代分析仪器。 本产品具有灵敏度高、使用方便、特别采用302NM波长对样品的破坏作用更小,是紫外分析仪的更新换代产品,它可适用于DNA、RNA电泳凝胶样品的观察,可检测蛋白质,核甘酸等,在制药工业中检查激素生物碱、维生素等能产生萤光的药品质量,对薄层分析,各种同功酶,纸层分析进行观察分析和摄影,并可作为PCR技术的专用仪器。 本仪器装有一组透射紫外光源供观察、分析和摄影用。并专门设计了一只暗箱,用户不需要暗室,即可对样品进行观察分析,暗箱上备有专门的相机安装装置,暗箱观察室上装有防紫外线玻璃,它滤去95%以上的紫外线。
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  • 一,OBR 6225/6235 背光反射计 1546.7nm (测试长度20-500m)OBR 6200 系列是一款便携式、坚固耐用的超高分辨率反射仪,具有后向散射级灵敏度坚固耐用的电池供电集成系统,具有直观的触摸屏用户界面,非常适合现场维护应用。利用光学频域反射计(OFDR)技术,以亚毫米空间分辨率、高精度和高动态范围测量分布式回波损耗(RL)和插入损耗(IL)。OBR 6225 针对航空航天、海军、运输和工业应用中的短光纤网络进行了优化,而 OBR 6235 则非常适合数据中心环境。OBR 6235将测量长度范围扩展到500米,是数据中心互连精密测试的理想选择,用于中短光纤链路和组件的精确测试。OBR 6225/6235 背光反射计 1546.7nm (测试长度20-500m),OBR 6225/6235 背光反射计 1546.7nm (测试长度20-500m)产品特点完全便携且坚固耐用的OBR跟踪并分析回波损耗(RL)和插入损耗(IL)与长度的关系高精度测量长度和延迟空间采样分辨率低至80μm可提供IP65和MIL-STD认证产品应用&bull 现场光纤组件故障排除&bull 准确定位IL站点、高RL连接、光纤中断等。&bull 维护航空电子、航空航天、海军和工业网络&bull 验证数据中心互连的光纤长度&bull 光纤传感系统故障排除通用参数型号对比-OBR6225OBR6235通道数1 或 21采样分辨率(2 点) 0,080 毫米(@20 m 长)0.20毫米(@200 m 长)Max. 装置长度100 m、200 m 可选。500米中心波长1546.7nmRL 动态范围70dBOBR 6200系列以高分辨率绘制反射与长度的关系图,自动检测超过用户定义阈值的RL反射事件和IL位点OBR 6225参数表参数规格测量 光端口数量OBR 6225-11 portOBR 6225-22 ports测量长度模式20 m50 m100 m200 m1采样分辨率(两点)20.080 mm0.10 mm0.20 mm0.40 mm延迟/延迟测量精度5 ps10 ps20 ps40 ps波长扫描范围10 nm8 nm4 nm2 nm中心波长1546.7 nm测量时间10 s回波损耗测量RL动态范围370 dB总范围40 to -129 dB灵敏度4-129 dB分辨率 5± 0.1 dB精确5± 0.5 dB插入损耗测量IL动态范围,反射模式615 dB分辨率7± 0.1 dB精确7± 0.2 dBGeneral光输出功率4 mW电池3 h runtime 2 h charge time触摸屏显示器10.1”, 1280 x 800 resolution数据I/O端口USB-C, RJ45 Ethernet光学连接器OBR 6225-1FC/APC (SC/APC or FC/APC adapter patch cord)OBR 6225-2Sealed duplex FC/APC (FC/APC adapter patch cord)重量10.1 lb (4.6 kg)尺寸13.4 x 8.7 x 2.8 in (34 x 22 x 7 cm)环境军事认证(OBR 6225-2)MIL-STD-810G入口保护(OBR 6225-2)IP65电磁兼容性(OBR 6225-2)MIL-STD-461G工作温度-20 to 35 °C (0 to 35 °C charging)储存温度-20 to 60 °C工作高度0 to 2500 m (0 to 3000 m storage)CertificationsOBR 6225备注1.具有加长选项2.SMF-28中两个采样点之间的距离。3.最强反射大于-60dB和本底噪声之间的范围。4.Max. 长度的一半处的噪声基底回波损耗。5.以1cm的积分宽度测量。6.反向散射到达噪声基底之前的双向损耗和IL测量不再可能。7.分别以10 cm、12.5 cm、25 cm和50 cm的积分宽度对20 m、50 m、100 m和200 m模式进行测量。OBR 6235参数表参数规格测量光端口数量1 port测量长度模式100 m200 m500 m采样分辨率(两点)10.20 mm0.40 mm1.0 mm飞行时间延迟精度2± 0.1%波长扫描范围4 nm2 nm0.8 nm中心波长1546.7 nm测量时间10 s回波损耗测量RL动态范围370 dB总范围40 to -129 dB灵敏度4-129 dB分辨率5± 0.1 dB精确5± 0.5 dB插入损耗测量IL动态范围,反射模式615 dB分辨率7± 0.1 dB精确7± 0.2 dBGeneral光输出功率4 mW电池运行时间3 h电池充电时间2 h触摸屏显示器10.1”, 1280 x 800 resolution数据I/O端口USB-C, RJ45 Ethernet光学连接器FC/APC重量10.1 lb (4.6 kg)箱子尺寸13.4 x 8.7 x 2.8 in (34 x 22 x 7 cm)环境工作温度-20 to 35 °C (0 to 35 °C charging)储存温度-20 to 60 °CCertificationsOBR 6235备注1.SMF-28中两个采样点之间的距离。2.保证了维安内部NIST可追踪的HCN气体电池的准确性。3.最强反射大于-60dB和本底噪声之间的范围。4.Max. 长度的一半处的噪声基底回波损耗。5.以1cm的积分宽度测量。6.反向散射到达噪声基底之前的双向损耗和IL测量不再可能。7.分别在100米、200米和500米模式下,以25厘米、50厘米和125厘米的积分宽度进行测量。二,光矢量分析仪 Luna OVA 5000/5100 (C、O和L波段 损耗、色散和偏振测量仪)Luna OVA 5000是用于现代光网络设备的损耗、色散和偏振测量的快、准确、经济的工具。它是单连接、全参数表征光纤组件的理想设备,从耦合器到特种光纤,以及介于两者之间的一切(光纤布拉格光栅、阵列波导光栅、自由空间滤波器、可调谐器件、放大器等),所有这些只需要可调谐激光器的一次扫描.Luna Innovations正在推出OVA 5100产品,包括用于C和L波段的OVA 5100型号,以及用于O波段操作的OVA 5113。OVA 5100是具有同等功能和性能的OVA 5000系统的直接替代品。除了提供更便携的外形外,OVA 5100还代表了Luna对质量的承诺,并持续提供光学矢量分析仪(OVA)的不一样功能。光矢量分析仪 Luna OVA 5000/5100 (C、O和L波段 损耗、色散和偏振测量仪),光矢量分析仪 Luna OVA 5000/5100 (C、O和L波段 损耗、色散和偏振测量仪)产品特点&bull 对长度不超过150 m的设备进行单次测量、全参数分析&bull 在不到3秒的时间内对无源器件进行quan面表征&bull 完全偏振响应&bull 单次扫描,同时测量完整的参数范围--插入损耗(IL)--偏振相关损耗--偏振模色散(PMD)和二阶PMD--色散(CD)--组延迟(GD)--光时域响应--Jones矩阵元素--光学相位响应&bull 高分辨率C和L波段(OVA 5000)或O波段(OVA 5013)能力&bull 实时测量&bull 用户友好界面产品应用&bull 分析平面光电路和硅光子器件&bull 表征光纤组件&bull 测量频谱响应和时延响应&bull 通过完整的传递函数改进设备模拟和模型通用参数型号OVA 5100OVA 5100 (C & L band) OVA 5113 (O band)OVA 5000OVA 5000 (C & L band) OVA 5013 (O band)图片 机箱尺寸36.6 x 34.5 x 16.5 cm(14.4 x 13.6 x 6.5 in)47 x 42 x 21 cm(18.6 x 16.5 x 8.1 in)重量11.4 kg (25 lb)16.2 kg (35.8 lb)功能和规格等效的功能、软件、性能规范和配置。产品状态建议新购买维护模式 OVA 5100–OVA 5000的新外壳和名称Luna OVA 5100本质上是一款OVA 5000,封装尺寸较小,并进行了一些内部更新,以提高其可制造性和长期可支持性。在功能上,OVA 5100/5113系统是OVA 5000/5013的替代品,具有同等的功能、规格、功能和软件。OVA 5000/5013的所有选项均适用于OVA 5100/5113,零件号不变。重要可能影响系统与客户应用程序集成的变化将是系统的物理尺寸和重量的减少。维护OVA 5000和OVA 5013OVA 5000和OVA 5013型号已进入维护模式,这意味着Luna将继续全力支持和服务这些系统,并遵守产品保修。通过1次扫描,OVA 5000可以同时测量光子器件和子系统的完整传递函数。此屏幕显示IL和组延迟与波长的关系。参数快速模式 1平均模式 2单位OVA 50001525 - 1610nmOVA 50131270 - 1340nm波长:分辨率1.61.6pm精度3±1.5±1.5pm重复精度±0.1±0.1pm光学相位误差:30 m mod±0.05±0.0075radians损耗特性:动态范围6080dB纹波4±0.05±0.01dB分辨率±0.05±0.002dB插损精度±0.1±0.05dB回损精度±0.2±0.1dB色散:精度±10±5Ps/nm群延迟:量程(Range) 366ns精度±0.2±0.1ps损耗范围44560dBPMD:量程566ns精度(一阶)±0.03 (100pm steps)±0.15 (30pm steps)±0.08ps精度(二阶)±10±2ps损耗范围44050dBPDL:消光比4050dB精度±0.05±0.03dB测量速度:激光扫描速度7070nm/s全参数测量速度63030ms/nm全规格扫描速度71255s实时刷新率1NAHzMax. 测试长度:透射150150meters反射7575meters物理:重量16.2411.4 (5100新款)kg操作功率100W1级激光器10mW规格(W*D*H)470 X 420 X 21366 x 345 x 165 (5100新款)mm1.快速模式:无平均校准扫描,4次平均测量扫描,30 pm分辨率带宽,8 m设备长度(使用NIST认证的人工制品验证精度,IL除外)。高动态范围选项已启用。2.平均模式:4次平均校准扫描,64次平均测量扫描,30 pm分辨率带宽,8 m设备长度(使用NIST认证的人工制品验证精度,IL除外)。高动态范围选项已启用。3.由NIST内部可追踪的HCN气室保持精度。IL、GD和PMD在“平均模式”下的4.80、60和50 dB动态范围已安装并启用“高动态范围”选项。5.指出可以捕获的总设备脉冲响应持续时间。6.根据每次扫描的组合激光扫描和分析时间计算的速率。7.在快速模式(Fast Mode):40 nm范围和平均模式(Average Mode):2.5 nm范围内进行全规格测量(见注释4)。不包括校准时间。单次扫描中的完整特征OVA 5000quan面分析集成光子器件和子系统的光学特性,提供quan面的表征一次扫描和一次连接。OVA 5000使用干涉测量法直接测量线性传递函数(Jones矩阵),并同时测量其在每个波长下的四个复数元素。根据该数据,所有标准线性参数测量,包括IL、RL、GD、CD、PMD和PDL,都可以以z高的动态范围和可用的精度进行提取。其结果是实现了极其快速、高分辨率和精确的器件表征,是硅光子学和其他集成光子学器件的理想选择。高分辨率“零死区”反射计OVA 5000还可以作为具有光学频域反射计(OFDR)选项的高分辨率反射计进行操作。具有OFDR选项的OVA 5000可提供20μm采样分辨率、“零死区”和高灵敏度(95 dB)的反射计测量。使用此选项,您可以轻松“向内看”微型光子器件,并在波导内通常发生的规模上区分反射事件和杂质。完全偏振分析通过可选的偏振分析软件插件,OVA 5000可以测量、计算和显示光学组件对模拟输入偏振态的响应,从而消除了偏振对准的繁琐和困难任务。该软件显示插入损耗、群延迟和对用户定义的输入极化状态的脉冲响应。易于使用的滑块允许用户将模拟输入偏振调整到任何所需状态。anlaysis软件还绘制了偏振主态(PSP)的Min. 和Max. 插入损耗、群延迟和色散,以及偏振平均量(IL、GD、CD等),PMD、PDL、Jones矩阵元素和时域信息。使用单一仪器进行quan面表征OVA 5000是业界重要一款通过单次连接和单次高速测量扫描测量光学组件完整光谱和时间延迟响应的仪器。OVA 5000简化了测试设置,缩短了测试时间通过将多个光学仪器和组件的功能集成到单个仪器中。用单个OVA 5000替换所有这些仪器。型号说明型号 Description IncludesOVA 5000光学矢量分析仪,1525 nm-1610 nm用于C和L波段的OVA 5000主机、OVA软件、仪器控制器(工作站级笔记本电脑或台式电脑)和配件套件。OVA 5013光学矢量分析仪,1270 nm-1340 nm用于O波段的OVA 5000主机、OVA软件、仪器控制器(工作站级笔记本电脑或台式电脑)和配件套件。OPT02003桌面分析软件提供OVA 5000所有分析和数据可视化的软件,仅使用保存的OVA测量数据文件。OPT02004OFDR选项用于执行高分辨率反射测量的光学频域反射计(OFDR)软件。OPT02005极化分析软件分析对模拟输入极化状态的响应。OPT02006扩展的动态范围启用增强的动态范围(请参阅性能表)。 OPT02007自定义软件开发工具包带有允许自定义GUI开发的DLL的SDK工具包。三,OBR 4600背光反射计 O、C和L波段 (2000m测量长度 10um空间分辨率 适用实验室)光学后向散射反射仪(Optical Backscatter Reflectometer) Luna OBR 4600是Luna屡获殊荣的光学后向反射仪TM产品线的一部分。OBR 4600专为组件和短期网络测试和故障排除而设计,可实现具有反向散射水平灵敏度的超高分辨率反射计。OBR 4600具有低至10微米的采样分辨率、零死区、极低的噪声基底,以及扩展范围和分布式温度和应变传感的选项,提供了行业优秀的反射计技术,使您能够所未有地“看到”您的组件和系统内部。OBR 4600背光反射计 O、C和L波段 (2000m测量长度 10um空间分辨率 适用实验室),OBR 4600背光反射计 O、C和L波段 (2000m测量长度 10um空间分辨率 适用实验室)产品特点&bull “Zero Dead Zone零死区”反射计&bull 以10μm采样分辨率测量30 m&bull 80 dB动态范围&bull 后向散射级灵敏度(-130 dB)&bull 高速扫描(1 m段,z高3 Hz)&bull 增程提供2公里无死区的续航里程&bull 测量IL、RL、分布损耗、距离、极化状态、相位导数和群延迟&bull 高分辨率C和L波段(OBR 4600)或O波段(OBR-4613)能力产品应用方便地定位及诊断光纤的弯折、熔接、连接头及断裂等各类故障定位各点的插损,对小型化组件所未有的可见性轻松定位、识别和排除宏观弯曲、拼接、连接器和断裂,深入期间内部,评估每个接口的RL和IL,将IL点定位在网络或组件中的每个点上——消除削减(assembly – eliminate cutbacks)7秒内以10微米的分辨率完成30米的测量以3Hz的频率连续测量1米的范围可测试并定位2千米的光纤网络故障光纤组件的自动检验器件或模块内温度及应力的监测光纤或无源器件的故障定位光纤温度传感、光纤应力传感通用参数型号对比参数OBR 5T-50OBR 4200OBR 4600系列波长范围1546.69nm1542±2nm(OBR 4613) 1270-1340nm(OBR 4600) 1525-1610nm灵敏度 dB-125-125-130空间分辨率 mm0.021.50.01插损动态范围 dB101618回损动态范围 dB655070相位测量功能无无有传感功能无无有Max. 测量长度 m8.5(可延长到16)5002000测试时长 s0.084(8.5m)3.8(10m)6(30m)点扫描模式点扫描模式允许扫描被测设备的任何1米或2米区域,从而缩短测量时间和更小的数据文件。下表中的速率用于以100nm/s的激光调谐速度进行的测量。点扫描测量速率Mode-30 m mode70 m modeExtended Range (2000 m)扫描的子区域-1 or 2 m1 or 2 m80 m波长范围3.2 nm--0.15 Hz5 nm3.7 Hz2.9 Hz-20 nm1.8 Hz1.2 Hz-80 nm0.5 Hz--z佳采样分辨率10 μm20 μm0.25 mm示例应用硅光子器件构建在硅光子平台上,代表了一种高水平的功能,可小型化为极高的封装密度。OBR 4600的高空间分辨率和高灵敏度提供了以非常高的细节水平查看设备内部的能力。例如,UCSB的光电子研究小组在硅平台上制造了一条一米长的螺旋延迟线。OBR 4600用于测量光子集成电路(PIC)内部的分布损耗,该电路的尺寸仅为1cm2。波导的水平部分在螺旋上的扫描如左下图所示。波导交叉点间隔仅50微米,清晰可见。1米的螺旋波导显示在扫描波导中,与下面的螺旋环交叉。右图清楚地显示了一米螺旋上的分布损耗,包括水平波导交叉处的散射。OBR 4600背光反射计参数表参数规格指标单位Max. 测量长度:标准模式30或70meters长量程模式2000meters空间分辨率(两点间)1:10um(30米内)um20um(70米内)mm1mm(2000米内)mm死区:等于两点间的空间分辨率波长范围2:1270-1340 或 1525-1610nm波长分辨率(Max. )0.02pm精度3±1.5pm回损:动态范围470dB总范围0~-125dB灵敏度-130dB分辨率± 0.05dB回损精度± 0.1dB插损:动态范围518dB分辨率± 0.05dB插损精度± 0.10dB群延时:精度1.0ps分布式传感6:空间分辨率±1.0cm温度精度7±0.1℃应力精度7±1.0μstrain测量时间8:标准模式快速扫描11定点模式115nm扫描时间31.60.3s时间与扫描波长速度2.1s+0.14s/nm1.3s+0.06s/nm0.15s+0.02s/nm长量程(2km)扫描时间20s所有参数适用于单模光纤。对于多模光纤,参数仅为名义值1. 在整个长度内。2. 名义范围。3. 精度由内置的、NIST可追溯的HCN气室来保证。4. 对于2千米的选项,回损动态范围是60dB。5. 这个插损动态范围是在标准的单模光纤散射水平(~-100dB/mm)低于背景噪声(~-118dB/mm)前的单程损耗。分布式传感分布式传感作为一种选择,允许您使用OBR 4600通过分析标准现成光纤固有的瑞利散射来检测和监测连续应变和温度,用户指出的空间分辨率低至0.32毫米。或者,Luna ODiSI平台针对传感应用进行了优化,并提供易于使用的,可重复和稳健的传感器测量解决方案。具有分布式传感选项的OBR 4600在需要额外灵活性和定制的专业或研究应用中te别有用。型号说明Catalog #DescriptionIncludesOBR 4600光学后向散射反射计,1525 nm-1610 nmOBR 4600主机,适用于C和L波段和标准长度模式(30米和70米),仪器控制器(工作站级笔记本电脑)和配件套件。OBR 4613光学后向散射反射计,1270 nm-1340 nm用于O波段和标准长度模式(30米和70米)的OBR 4600主机、仪器控制器(工作站级笔记本电脑)和配件套件。OPT060092000m测量扩展型号可选择扫描长度不超过2km、样本间距为1mm的设备。OPT06004桌面分析软件仅使用保存的OBR测量数据文件,提供OBR 4600的所有分析和数据可视化的软件。OPT06008自定义软件开发工具包带有允许自定义GUI开发的DLL的SDK工具包。四,OBR 5T-50 背光反射计 1546.69nm (8.5m或16m测量长度 适用生产线)光学后向散射反射仪TM OBR 5T-50是一款快速、简单易用、低成本的精密反射仪,可测量无源光学组件和模块(包括PLC、光缆、连接器、开关、耦合器等)的插入损耗(IL)和回波损耗(RL)分布。该仪器利用扫频干涉测量法测量作为距离函数的后向散射光,灵敏度为-125 dB,采样分辨率为20微米。OBR 5T-50通过使用单个仪器测量RL、IL和长度,降低了成本和复杂性,同时提高了测试吞吐量。OBR 5T-50 背光反射计 1546.69nm (8.5m或16m测量长度 适用生产线),OBR 5T-50 背光反射计 1546.69nm (8.5m或16m测量长度 适用生产线)产品特点业界优秀的测量速度、范围、精度和分辨率组合&bull 12 Hz采集速率&bull 8.5米测量范围&bull 0.0034%的飞行时间延迟精度&bull 20微米采样分辨率包括简化的用户界面和软件开发工具包(SDK)&bull 通过定制界面优化吞吐量自动定位反射事件并生成RL、IL和事件位置产品应用&bull 故障定位-自动RL、IL和长度测量&bull 亚皮秒分辨率的倾斜测量&bull 精密光缆和连接器&bull PLC和波导设备&bull 耦合器、开关和分束器&bull 实时光学对准通用参数型号对比参数OBR 5T-50OBR 4200OBR 4600系列波长范围1546.69nm1542±2nm(OBR 4613) 1270-1340nm(OBR 4600) 1525-1610nm灵敏度 dB-125-125-130空间分辨率 mm0.021.50.01插损动态范围 dB101618回损动态范围 dB655070相位测量功能无无有传感功能无无有Max. 测量长度 m8.5(可延长到16)5002000测试时长 s0.084(8.5m)3.8(10m)6(30m)OBR 5T-50参数表参数单次扫描10次扫描单位长度:Max. 测量长度8.5meters空间分辨率 120um长度测量精度 2±0.034%死区:Dead zone20um波长:波长范围40nm波长精度 21.5pm中心波长1546.69nm回损:动态范围6065dB回损量程-14~-120-14~-125dB灵敏度-120-125dB分辨率± 1.0± 1.0dB回损精度± 1.0dB插损:动态范围1015dB分辨率± 0.5dB插损精度± 0.5dB扫描速度:12HzMax. 光功率:8mW其他:光纤接头FC/APC重量7.85kg规格(W*D*H)360 x 320 x 170mmMax. 功耗50W1.SMF-28中沿长度轴的两个采样点之间的距离。2.通过NIST内部可追溯的HCN气室保证准确度。3.最强反射大于-30 dB和本底噪声之间的范围。4.Max. 长度的一半处的噪声基底回波损耗。5.以1cm的积分宽度测量。6.反向散射到达噪声基底之前的双向损耗和IL测量不再可能。7.以10cm的集成宽度测量。基于MEMS的光开关的回波损耗与长度测量。前两个反射相距5.0毫米。该测量是以20微米的采样分辨率记录的。业界优秀的测量速度、范围、精度和分辨率组合五,OBR 4200 便携式背光反射计 1542±2nm (最大测量500m 用于外场施工)Luna OBR 4200是业界一款具有反向散射灵敏度( backscatter-level sensitivity)的便携式超高分辨率反射计,旨在测试短网络。在一个小型、坚固、易于运输的平台中,OBR 4200能够“查看”500米外光纤组件或网络中的任何事件,无死区,分辨率为毫米。OBR 4200在便携式平台中具有业界优秀的灵敏度和分辨率,是光纤网络制造、现场检查和故障排除的最终工具。Luna OBR 4200为光纤模块和短期网络的制造商和安装商提供了所未有的现场便携式诊断功能。1OBR 4200 便携式背光反射计 1542±2nm (最大测量500m 用于外场施工),OBR 4200 便携式背光反射计 1542±2nm (最大测量500m 用于外场施工)产品特点<3毫米空间分辨率500米测试长度内无死区-120dB的灵敏度0.1dB的插损分辨率OBR4200为光纤模块及短程网络的制造商和安装者提供了前未有的现场诊能力。产品应用光纤或无源器件的故障定位及检验光纤网络故障的现场诊断及排查光纤组件、连接器和短程网络的品质检验方便地定位及诊断光纤的弯曲、熔接、连接头及断裂等各类故障定位各点的插损,可节省大量故障排查时间光纤组件的多点位回损检验或光纤带缆的同步检验可用户自定义的用于光纤组件合格检验的图形界面软件开发工具(GUI SDK)光纤组件的自动检验器件或模块内温度及应力的监测通用参数型号对比参数OBR 5T-50OBR 4200OBR 4600系列波长范围1546.69nm1542±2nm(OBR 4613) 1270-1340nm(OBR 4600) 1525-1610nm灵敏度 dB-125-125-130空间分辨率 mm0.021.50.01插损动态范围 dB101618回损动态范围 dB655070相位测量功能无无有传感功能无无有Max. 测量长度 m8.5(可延长到16)5002000测试时长 s0.084(8.5m)3.8(10m)6(30m)OBR 4200参数表参数规格指标单位Max. 测量长度:0~500meters空间分辨率:低分辨率高分辨率事件分辨率(Event resolution)1<50<3Mm采样分辨率250.3mm中心波长3:1542±2nm回损:动态范围450dB总范围-10~-120dB灵敏度-120dB分辨率5± 0.2dB回损精度5± 0.4dB插损:动态范围616dB分辨率5± 0.1dB插损精度5± 0.2dB扫描速度:低分辨率高分辨率每次扫描前有2.6秒间隔时间0.010.12s/m光学输出:接口类型FC/APC输出功率10W输出条件标准单模光纤,可通过模式调节器来获得多模输出环境:工作温度0~40℃储存温度-20~60℃电源7电池续航时间5hr电池充电时间5hr规格重量规格8.5(L) x 10.7(W) x 3.85(H)in重量9.8lbs所有参数适用于单模光纤。多模光纤的测量需要通过模式调节器来获得。1. 50米长的SMF-28e光纤中14.5dB的FWHM峰宽,峰宽随着距离和模态分散的增加而增加。2. 轴向上两个采样点之间的距离。3. 扫描了以此为中心的3纳米宽的波长范围。4. 比最强反射大-30dB和背景噪声之间的范围。5. 2米整合宽度下的测量。6. 在散射达到背景噪声前的可允许的双程损耗和插损的测量将不再可能。7. 便携计算机的电池续航能力及充电时间,请参看便携计算机的数据手册。损耗测试上图:具有弯曲损耗和拼接损耗的光纤线束的OBR 4200测量下图:连接前7厘米处易于区分的弯曲损耗公司简介筱晓(上海)光子技术有限公司是一家被上海市评为高新技术企业和拥有上海市专精特新企业称号的专业光学服务公司,业务涵盖设备代理以及项目合作研发,公司位于大虹桥商务板块,拥有接近2000m² 的办公区域,建有500平先进的AOL(Advanced Optical Labs)光学实验室,为国内外客户提供专业技术支持服务。公司主要经营光学元件、激光光学测试设备、以及光学系统集成业务。依托专业、强大的技术支持,以及良好的商务支持团队,筱晓的业务范围正在逐年增长。目前业务覆盖国内外各著名高校、顶级科研机构及相关领域等诸多企事业单位。筱晓拥有一支核心的管理团队以及专业的研发实验室,奠定了我们在设备的拓展应用及自主研发领域坚实的基础。主要经营激光器/光源半导体激光器(DFB激光器、SLD激光器、量子级联激光器、FP激光器、VCSEL激光器)气体激光器(HENE激光器、氩离子激光器、氦镉激光器)光纤激光器(连续激光器、超短脉冲激光器)光学元件光纤光栅滤波器、光纤放大器、光学晶体、光纤隔离器/环形器、脉冲驱动板、光纤耦合器、气体吸收池、光纤准直器、光接收组件、激光控制驱动器等各种无源器件激光分析设备高精度光谱分析仪、自相关仪、偏振分析仪,激光波长计、红外相机、光束质量分析仪、红外观察镜等光纤处理设备光纤拉锥机、裸光纤研磨机 。
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反射分析仪相关的资讯

  • 光伏材料的角度分辨反射/透射分析
    光学镀膜材料在太阳能行业应用广泛:由化学气相沉降法生成的氧化锌涂层,自然形成金字塔形表面质地,在薄膜太阳能电池领域被用于散射太阳光。将不同折射系数的高分子材料排列组成的全息滤光镜,将太阳光在空间上分成不同颜色的色带(棱镜一样),将不同响应波长的光伏电池调到每个波长的焦距处,从而形成一种新型的多结太阳能电池。位于硅太阳能电池前部的纳米圆柱形硅涂层起米氏散射的作用,因此增加了在更宽入射角范围和偏振情况下的光被太阳能电池的吸收。曲面型光电模块的渲染和原理图。3M可见镜膜能够使模块在可见光区表现为镜像,而在近红外光区变为黑色。对于所有的光学涂层——特别是那些非垂直角度接收阳光或者阳光入射的涂层,表征波长、角度和偏振测定的反射和入射就尤为关键。PerkinElmer公司的自动化反射/透射附件ARTA,可以测定任何入射角度、检测角度、S和P偏振光在250-2500nm的范围内的谱图,从而告诉我们:所有的入射光都去哪儿啦?装备了ARTA的LAMBDA紫外/可见/近红外分光光度计样品3M可见光镜膜:吸收紫外光,反射可见光,透过红外光。仪器PerkinElmer公司的LAMBDA 1050+紫外/可见/近红外分光光度计。150mm积分球,Spectralon涂层积分球包含硅和InGaAs检测器,检测样品200-2500nm的范围内的总透射谱和总反射谱。装备了150mm积分球的LAMBDA紫外/可见/近红外分光光度计ARTA,配备PMT和InGaAs检测器的积分球(60mm),能在水平面上围绕样品旋转340°,进行角度分辨测量。3M薄膜固定在ARTA样品支架上的照片实验结果用150mm积分球附件测量的3M薄膜的总反射和总透射谱图。薄膜在750nm附近具有预期的突变,在此处有将近100%的可见光反射率和约90%的红外光透射率。3M薄膜对于s(左图)和p(右图)偏振光的角度分辨反射谱图。对于所有的偏振情况,直至50˚的范围内反射到透射的转变都很急剧,但是有轻微的蓝移。对于入射角在约50˚以上的情况,s偏振光的转换终止,并且薄膜开始失去对光谱的分光功能。这种情况的一个明显后果就是在冬天或者纬度高于30˚的区域的夏季月份,曲面型光电镜片的工作效率都很低。更多详情,请扫描二维码下载完整应用报告。
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    合适的食品质量检测方法十分重要,科学家利用众多方法来测试不同的污染物。最近一种红外衰减全反射(IR-ATR)仪器在食品检测领域流行起来,它可以在几乎不需要样品制备的情况下获取倏逝场吸收,同时促进对任何聚集状态中的分析物的无损分析。食品安全控制概念 | 图片来源:© Alexander Raths - stock.adobe.com最近发表在《应用光谱学》杂志上的一项研究介绍了一种便携式的红外衰减全反射(IR-ATR)食品分析设备,可用于分析食品行业中有重要意义的物质。该系统的核心是了解脂质中脂肪酸(FAs)的组成;由于正常的脂质成分是表征鱼类等食品的质量的特征指标,但易受环境因素如水质、捕捞季节和温度的影响,因此跟踪脂肪酸是理解脂质的真实特征以及它们如何影响食物质量的关键。该系统还使用了霉菌毒素和有机溶剂作为代表进行了测试。霉菌毒素是与真菌污染相关的有害次生代谢物,它们的存在可能对人体和家畜的健康产生有害影响,因此检测它们对于食品安全至关重要。至于有机溶剂,食品行业主要将其用于从食品基质中提取成分,但由于传统方法性能优越,导致绿色提取方法不太受欢迎。这两种物质对于食品加工都是必不可少的,这也解释了为什么除了脂肪酸之外,IR-ATR 系统还主要针对它们进行测试。用傅立叶变换红外光谱仪(FT-IR)对便携式IR-ATR设备与传统实验室IR-ATR设备进行了对比测试,以展示前者系统的潜在优势。使用了三种类型的模型系统,每种系统内都含有不同的样品:溶解在水中的N,N-二甲基甲酰胺((CH3)2NCH)(DMF)、溶解于乙醇中的硬脂酸(C17H35CO2H)以及溶解于甲醇中的DON(C15H20O6)。这些分析物作为典型的化合物类别,在中红外(MIR)光谱图中具有特征波段。通过两种系统的比较证实了的两者的多个因素,包括霉菌毒素的检测、FAs的分析以及有机溶剂的定量。值得注意的是,便携型系统的分析性能与标准型系统分析能力一致。然而,在该系统投入大规模使用之前仍需要进一步的工作要做。科学家在研究中指出:“未来研究旨在分析更复杂的系统,包括真正的鱼类样品和各种含有真菌污染物/霉菌毒素的谷类作物提取物,并采用先进的数据分析方法来开发无需标记的快速筛查方法。”

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  • 采用LAMBDA 950/1050 紫外/可见/近红外分光光度计与自动反射/透射分析仪(ARTA)附件的光学薄膜的全谱角分辨反射和透射
    我们通过配有自动反射/透射分析仪附件的LAMBDA 950分光光度计评估了3M® 可见镜膜在新型曲面光伏模块领域的潜在应用。在应用过程中,3M® 薄膜必须将可见光反射至模块焦点(在焦点处,可见光将被吸收,如用于驱动加热电机的的热吸收器),并同时将近红外光传送至底层的硅太阳能电池(在硅太阳能电池内,红外光将被直接转化成电能)。通过自动反射/透射分析仪进行的角分辨反射和透射测量显示:当入射角小于等于50° 时,3M® 自支撑薄膜是s-偏振光和p-偏振光的有效光学薄膜。当薄膜与所述模块曲面玻璃胶合时,为了保持薄膜效能,应将薄膜紧密贴合于玻璃之上(不得起皱)。利用带探测器的狭窄光阑自动反射/透射分析仪进行的测量能够表明所评估的胶合程序在多大程度上能产生预期结果。我们目前正在利用自动反射/透射分析仪生产的光谱预估在焦点采用热接收器的曲面模块的发电站的年度发电量,评估过程考虑到了太阳日常运动和年度运动,以及模块上入射角的相关变化。我们也在寻求能够反射可见光和红外线的光学滤光器(同时还可以透射近红外线),并使用积分球和自动反射/透射分析仪研究光学滤光器的性能。
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    物体的反射光一般分为三种形式,即镜面反射光、漫反射光和逆反射光。逆反射光也被称作回归反射光。人们研究发现,在一些涂料中植入玻璃微珠,并按照一定的规律排列,就能起到逆反射的效果,由这种反射原理生产的各种复合材料就统称为逆反射材料。由于这类材料具有的逆反射效果,人们最先将其制作成各种标志、标线,应用于高速公路的安全设施中,随后又用它逐步取代了原公路油漆型的标志标线。

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  • 【转帖】便携全反射X射线荧光分析仪

    转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿(TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术,它突出的优点是检出限低(pg、ng/mL 级以下)、用样量少(Μl、ng级)、准确高度(可用内标法)、简便、快速,而且要进行无损分析,成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段,在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看,与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较,TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内,能谱仪(XRF)和波谱仪(WXRF)在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面,都明显比TXRF差。在表面分析领域内,尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中,TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理:TXRF利用全反射技术,会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级,从而大大提高了能量分辨率和灵敏率,避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应,大大缩减了定量分析的工作量和工作时间,同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限(MDL)可由公式计算: (2)这里, 是木底计数率,t为测量计数时间,M为被测量元素质量,l代表被测量元素产生的特征峰净计数率,S=I/M就是系统灵敏度,由公式可以看出,提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处,因而MDL很低。

反射分析仪相关的耗材

  • 显微岩相分析仪配件
    显微岩相分析仪配件特别为岩相学和地球化学分析而设计,非常适合岩相学分析检测,特别是煤炭质量分析检测,显微岩相分析仪配件在全球的石化,地球化学和岩相学实验室广泛使用。显微岩相分析仪配件应用煤续排列 - 使用反射光方法, 观察其镜质体和丝质体含沥青煤的特性 — 利用落射荧光技术进行分析油母岩的分析 — 以透射光和落射紫外荧光方法百分比含量测定 — 用显微图像设备对样品进行相成分,得知其成分比例无定形材料的评估 — 显微镜下观察其古生物样品,研究其藻类和其植物部分煤岩组份族组成的判断 — 分析含沥青的煤和无烟煤显微岩相分析仪配件介绍在研究和分析煤的起源,形成和使用领域过程中,岩相分析被公认为 是非常重要的。在分析和测试单一煤样品过程中, 我们很容易得知煤的等级,煤岩组分,微石类型组成和矿物分布的重要信息。但对于一个混合煤的样品进行分析和测试, 则离不开对样品进行反射率分析和测试此一有力的方法,此一分析方法不仅可以得到煤样的化学性质,还可以区分不同混合类型的壳质组,丝质组和微惰性煤各部分 所占的比例。国际煤岩相学委员会(ICCP)已制定了相关的命名法和分析方法。在ISO/DIN标准第7404项中,比较了显微分光光度计测试和分析后得到的数据和标准样品的数据, 确认此分析方法的准确性。另一方面, 可同时结合热变指数(TAI)或孢色值(SPI)的测试方法, 可补充其它方面的实验数据。依据DIN/ISO标准进行数据采集处理的分析模式, 使用直方图表达被测量组分的含量和其它组分的相对含量。显微岩相分析仪对煤炭质量分析图样
  • 显微毛发分析仪配件
    显微毛发分析仪配件能够快速获取毛发和纤维的光谱数据,为司法鉴定和物证分析以及纤维材料研发提供有力帮助。显微毛发分析仪配件特点能够测量到毛发和纤维丝的透射光谱和明场和暗场反射光谱,在250-980nm 范围给出任意毛发位置的光谱,可以有效区分毛发的光谱,从而快速有效进行物证分析。
  • 波前分析仪系统配件
    波前分析仪系统配件受机械噪声和振动的影响小,可以分析宽范围内的波长,也可以测量连续波,飞秒级的脉冲辐射,是实时测量的。可以用来测量波长、光束强度同时估算光束质量。该传感器(分析仪)可以轻易地置入自适应光学系统中使用!波前分析仪测量结果显示:桌面: PV, RMS. 以泽尼克表示的波前像差系数最高是36和赛德尔像差(倾斜、离焦、像散、彗差、球面)。 激光束表征参数。 图形窗口: Hartmannogram图像。 各种相位和光束强度(灰度或调色板)的3D,2D图形分布图,合成的条纹和梯度映射图根据获得的数据改变。 光束的点扩展函数表示聚焦中的光强分布。 不同类型的光束孔径(圆形,椭圆,矩形,多边形)。 对齐选项。 报告以多种格式储存,可以打印图像。 软件具有用户友好型图形界面,界面上有菜单,热键和帮助项。波前分析仪应用: 科学研究中心,教育和研究实验室。 生产激光系统和激光机床的工业企业或商务公司。 制造业,使用激光辐射为工具用在不同技术领域,特别是必须要精确控制光束的应用 研究光学测试设备的制造业。 医疗和诊断中心。 范例,该照片显示了11WFS是如何置入自适应光学系统(AOS)。AOS是为了校正波前像差。入射光束从第一平面反射,然后从可变形反射镜发射,穿过分离器。一部分光束到达11WFS和另一部分穿过输出孔。 波前分析仪配件: 光学接口:调整系统,让光束准直可达100 mm。 固定支架上是中性密度滤光器(30%,1%,0.1%,直径25mm,光学质量是λ/ 10)。 平面参考波前源(准直器,一个波长的光纤耦合激光器,固定支架)。 STANDA公司的线路板和机械工具。波前分析仪规格 波长范围, mm 400...1100 传感器的孔径(布局), mm 1/3"(1/2") - 4.5x2.8 (6.4x4.8) 相机分辨率 744х480 pixels(1 / 3“相机的基础版本) 微透镜阵列参数, (间距,mm-焦距,mm)0.15 - 6(基础版本) 微透镜数 30x18 (42x32) 帧速率 60 Hz 波前精度 波长/ 10 波前动态倾斜范围 波长*50 尺寸 55 x 55 x 70 mm
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