测试设备

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测试设备相关的厂商

  • 400-825-5570
    拉贝姆测试设备有限公司是一家著名的高科技仪器、设备供应商,一直致力于为国内各行业广大用户提供高品质测试设备以及高质量全方位服务。公司与多家世界著名的欧美仪器设备制造商建立了长期战略合作伙伴关系,并成为其在中国大陆和香港地区的独家代理,能够确保新老客户都能始终如一地得到专业、全面、周到的服务。 公司代理品牌包括Mesdan、Tinius olsen、Ineltec、Concept、威科工业等。公司一直专注于材料表征性能测试,能够为用户提供全方位的产品支持和服务。主要产品包括动静态力学测试设备,纺织测试设备,阻燃测试设备、环境模拟试验箱、流变测试仪器以及聚合物测试仪器等。 依托于优越的产品质量、良好的合作关系、专业的服务队伍以及稳固的业内基础,拉贝姆公司已从初期单纯的设备供应商,发展为现今可提供全方位解决方案的集成商。通过个性化的售前产品咨询,高效率售后安装、维护和维修,专业级技术支持及应用支持,拉贝姆公司正赢得越来越多制造商和客户的双重信赖。 如果您想了解更多产品和服务,欢迎浏览我们的网站或直接与我们联系。
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  • 西安安泰测试设备有限公司测试仪器维修中心成立于2008年,专业从事各种测试测量仪器及测试系统的维修与技术支持,具备对国内外高端仪器进行芯片级维修的技术能力.具备美国泰克公司售后服务授权,提供全系列示波器(TBS1000,DPO/TDS/TBS/TPS/MSO2000,DPO/MDO/TDS/MSO3000/B/C,DPO/MSO/MDO4000/B/C,DPO/MSO5000/B,DPO/MSO7000/A/B/C,DPO/MSO70000/B)和福禄克热像仪/校准仪器,吉时利仪器的维修服务,涵盖是德科技(原安捷伦,惠普),罗德与施瓦茨及安利等数十种进口与国产品牌各种类型测试与测量仪器的维修.
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  • 华测试验设备(苏州)有限公司,始创于2003年,总部位于长三角中心城市苏州市工业园区,是一家集研发、生产、销售、服务为一体的科技型企业。自2003年开始进入中国环试行业以来,我们在行业内较先通过了ISO9001以及CE认证。至此,我们已经拥有完善的产品线:高低温试验箱、恒温恒湿试验箱、高温烘箱、三箱冷热冲击试验箱、两箱高低温冲击试验箱、快速温度变化试验箱、复合盐雾箱试验箱、氙灯/紫外老化试验箱、大型步入式非标实验室、砂尘试验箱、淋雨试验箱、三综合试验机、低气压高低温试验箱等全系环境试验设备。我们拥有汽车、电工电子、第三方实验室、光伏、锂电、通讯、半导体...等行业的整套解决方案。我们已经服务超过10000家优质用户,用户行业遍及汽车、电子、第三方实验室、医疗、食品、机械、半导体、光伏、航空、军工...等众多行业。岁月流逝,沉淀了华测试验设备的品牌底蕴,茁壮了华测试验设备的技术能力。未来,华测试验设备仍将以处子之心,竭之所能,协助用户快速改善产品可靠度性能,树立企业优质品牌!
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测试设备相关的仪器

  • 核心业务为半导体功率器件测试设备的研制生产,公司产品主要有:MOSFET参数测试设备:静态参数测试(包括IGSS / BVR / VDS(Sat) / IDSS / VGSTH / VF / RDS(on));动态参数(开通关断/反向恢复/短路/安全工作区)测试(包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等);雪崩能力测试,老化及可靠性测试(HTRB / HTGB)。IGBT参数测试设备:静态参数测试(包括IGE / VGE(th) / VCEsat / VF / ICE / VCE);动态参数(开通关断/反向恢复/短路/安全工作区)测试(包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等);老化及可靠性测试(HTRB / HTGB)。二极管及可控硅/晶闸管(SCR)参数测试设备:静态参数测试(包括IGT/VGT / IH / VTM / VD/ID / VR/IR / dv/dt / IL );动态参数测试(Turn_on&off / Qrr_FRD);浪涌参数测试ITSM;di/dt测试;老化及可靠性测试(高温阻断);热阻参数测试Rth。产品以高度集成化、智能化、高速高精度、超宽测试范围等竞争优势,将广泛应用于IDM厂商、器件设计、制造、封装厂商及高校研究所等。
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  • 核心业务为半导体功率器件测试设备的研制生产,公司产品主要有:MOSFET参数测试设备:静态参数测试(包括IGSS / BVR / VDS(Sat) / IDSS / VGSTH / VF / RDS(on));动态参数(开通关断/反向恢复/短路/安全工作区)测试(包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等);雪崩能力测试,老化及可靠性测试(HTRB / HTGB)。IGBT参数测试设备:静态参数测试(包括IGE / VGE(th) / VCEsat / VF / ICE / VCE);动态参数(开通关断/反向恢复/短路/安全工作区)测试(包括Turn_on&off / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等);老化及可靠性测试(HTRB / HTGB)。二极管及可控硅/晶闸管(SCR)参数测试设备:静态参数测试(包括IGT/VGT / IH / VTM / VD/ID / VR/IR / dv/dt / IL );动态参数测试(Turn_on&off / Qrr_FRD);浪涌参数测试ITSM;di/dt测试;老化及可靠性测试(高温阻断);热阻参数测试Rth。产品以高度集成化、智能化、高速高精度、超宽测试范围等竞争优势,将广泛应用于IDM厂商、器件设计、制造、封装厂商及高校研究所等。
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  • 电子设备高低温测试设备适用于工业产品高、低温的可靠性试验。对电子元器件、电器零部件、汽车配件、通讯器材、LED照明灯具、光电、油墨油漆、涂料颜料、染料、化工、UV油墨、胶印油墨、丝印油墨、电子电工、光通讯、汽车摩托、高等院校、科研单位等相关产品的零部件及材料在高、低温(交变)循环变化的情况下,检验其各项性能指标。 产品具有较宽的温度控制范围,高低温试验箱其性能指标均达到国家标准GB10592-89高低温试验箱技术条件,适用于按GB2423.1、GB2423.2《电工电子产品环境试验 试验A:低温试验方法,试验B:高温试验方法》对产品进行低温、高温试验及恒定温热试验。高低温试验箱产品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL标准。 温度控制:1.可实现温度定值控制和程序控制;2.全程数据记录仪(可选功能)可以实现试验过程的全程记录和追溯;3.每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性;4.USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要;5.采用国际流行的制冷控制模式,可以0%~99.99%自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%;6.制冷及电控关键配件均采用国际知名品牌产品,使设备的整体质量得到了提升和保证;电子设备高低温测试设备产品特点:高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;工作室材料为SUS304不锈钢- 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到最小;表面喷塑处理 – 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;多种可选功能(测试孔、记录仪、净水系统等)保证了用户多种功能和测试的需要;大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能满足标准:GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件GB/T 10586 -2006 湿热试验箱技术条件GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验Db:交变湿热(12h + 12h循环)GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法
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测试设备相关的资讯

  • 可穿戴电子设备老化测试指南|Q-SUN氙灯老化测试
    可穿戴电子设备老化测试指南新兴消费电子领域市场规模不断扩大,以VR,智能手表,蓝牙耳机,健身追踪器,助听器,心脏起搏器等为代表的可穿戴电子设备发展迅猛。大多数的可穿戴电子设备都要经过质量和性能测试,包括老化测试,腐蚀测试,机械物理测试,电池测试,可用性测试,安全测试等等。大部分可穿戴电子设备生产商面临以下3个问题:我的可穿戴电子设备每个部件应该使用哪种合适的材料?我的可穿戴电子设备的使用寿命符合预期吗?我的可穿戴电子设备性能符合预期吗?可穿戴设备由不同的材料制成,如彩色热塑性塑料或橡胶材料、密封剂和接头、显示器、照相机和保护膜等。这些材料都对紫外线辐射、可见光,温度和湿度敏感。此外,随着佩戴者的行程轨迹,可穿戴电子设备有时使用在户外,有时使用在室内,但世界范围内的气候因地理位置不同,温度,湿度,太阳光辐照度等方面有很大的差异。翁开尔公司代理的美国Q-LAB研发生产了Q-SUN氙灯老化箱适用于可穿戴电子设备的老化测试。通过使用Q-SUN氙灯老化箱对可穿戴电子设备进行耐候性老化测试,用户可以了解可穿戴电子设备每个部件应该使用哪种正确的材料,以及使用寿命和外观是否达到预期等。可穿戴电子设备产品老化主要影响因素太阳光可穿戴电子设备产品主要的压力因素是太阳光,温度和水。太阳光辐射和产品温度是导致聚合物材料降解的两个主要因素,紫外光是材料光降解的关键因素,可见光的关键部分通常仅限于波长范围在380nm-420nm的富含能量的紫光和蓝光,这两种颜色会完整吸收可见光谱的各自部分,导致可穿戴电子设备褪色。热户外暴晒的产品温度很大程度受到颜色的影响,黑色产品表面在户外可以达到65℃,在车内甚至可以达到100℃以上。白色产品表面则温度相对低。此外,可穿戴电子设备也会受到通过其运行能量和佩戴者的体温而受到影响,反应速度随着温度的升高而增加,这对聚合物的光降解也产生了影响。水可穿戴电子设备的聚合物材料在吸水时会膨胀,当水蒸发时,会发生收缩,这个过程会导致机械应力,一般情况下,水的影响只有在水渗入几个小时以上才是重要的。当聚合物吸收水,玻璃转化温度会明显下降,氧气扩散率增加,光氧化和水解反应发生,聚合物基体降解,最终导致物理强度损失。可穿戴电子设备耐候性老化测试解决方案-Q-SUN氙灯老化箱Q-SUN氙灯老化试验箱可用于可穿戴电子设备耐候性测试,提供与产品在室内、户外环境条件下所接触的相同的老化因素。采用氙弧灯光源模拟全光谱太阳光,并通过不同的滤光片适当过滤,得到特定的光谱。通过水喷淋、冷凝和湿度等模拟潮湿环境。可穿戴电子设备的耐候性测试涉及材料的长期降解测试,大部分材料的降解受环境影响。加速老化测试主要检测太阳光,温度和水对可穿戴电子设备的影响,以反映它们的使用寿命。目前市场上没有针对可穿戴电子设备的具体测试标准,传统的材料,如聚合物和涂层,可以使用现有的ISO、ASTM和其他标准进行测试,但针对某些类型的产品可以根据客户的要求进行测试裁剪,以反映老化情况。举例:模拟可穿戴电子设备户外老化测试参考标准:ISO4892-2(塑料.实验室光源暴露方法.第2部分:氙弧灯)ISO 4892-2:2013指定了样品暴露在氙灯光照环境下,模拟户外综合老化效果(包括温度、湿度/潮湿环境下)的测试方法,以再现产品在实际使用过程中暴露在光照环境或者经过窗玻璃过滤的光照环境产生的老化效果。具体设置Q-SUN氙灯试验箱符合DIN EN ISO 4892-2:2013翁开尔40年专业资深代理美国Q-LAB系列产品,欢迎致电咨询。
  • 日本半导体测试设备大厂爱德万测试收购两家荷兰公司,夯实高端测试能力
    近日消息,日本芯片测试设备(ATE)大厂Advantest(爱德万测试)将全资收购总部位于荷兰兹沃勒的Salland Engineering以及其旗下的子公司Applicos,但收购金额暂未披露。资料显示,Salland Engineering是一家国际领先的测试技术与工程公司,专门提供解决方案和服务,帮助半导体制造商提高测试效率和质量。Salland Engineering自1992年成立以来一直致力于此,已通过ISO 9001:2015认证,总部位于荷兰兹沃勒,业务遍布全球。据了解,Salland Engineering主要设计并制造高品质仪器,供客户升级其自动测试设备(ATE)和/或测试与测量装置的性能或通道密度。这些仪器可为客户提供了一种经济有效的方式来延长其ATE投资的吞吐量和使用寿命。同时,Salland Engineering还提供广泛的工程服务,包括测试程序开发和转换、测试程序优化、负载板开发和故障分析。除了开发能力外,该公司还拥有内部测试和分析设备,可提供从样品和工艺鉴定到欧洲中型批量生产测试的芯片测试,还提供从原型设计、制造到高级测量解决方案维修服务的供应链服务。Applicos自1993年以来一直致力于设计和制造高性能的混合信号测试解决方案,制造用于混合信号测试的标准仪器。这些仪器可以独立使用,也可以与其他测试系统结合使用,适用于实验室详细分析和生产环境。该公司还提供多种任意波形发生器、数字化仪模块和特殊(模拟)功能模块可供选择。Salland Engineering也发表声明表示,Salland Engineering和Applicos将加入领先的半导体测试设备供应商Advantest Corporation,成为Advantest Europe GmbH的独立全资子公司。Salland Engineering称,“此次收购将Salland在测试仪器和服务方面的专业知识与爱德万测试全面的半导体测试设备相结合,有助于我们更好地满足全球客户群的需求。我们作为爱德万测试集团的独立子公司进行整合,增强了我们的工程能力,扩大了我们的业务范围,并使我们能够在这个充满活力的全球市场中保持竞争力,同时确保为我们的忠实客户群提供不间断的服务。”这次收购不仅扩展了爱德万测试在全球半导体测试市场的业务范围,也可能增强其在高端测试技术领域的竞争力。通过整合Salland Engineering和Applicos的技术和服务,爱德万测试能够为客户提供更加全面和高效的解决方案,从而进一步巩固其市场地位。
  • 半导体测试设备:超长“待机”服务半导体全行业
    相对于半导体技术迅猛发展,制程工艺不断缩小的迭代周期,与半导体产业一路相伴的测试设备产业似乎“缓慢”得多。在全球半导体测试设备龙头爱德万测试(ADVANTEST)的官网上,其分别推出于1999年、2003年的两款测试设备V93000测试系统和T2000测试系统至今依然有出货记录。根据爱德万测试的官方数据,V93000机型在2017年创下累计出货5000台的记录,在2019年仍有单笔订单超过30台的情况。同样地,另一家测试机龙头泰瑞达的一款推出于2001年的数模混合测试平台至今也仍在该公司的官网销售。作为半导体行业唯一贯穿设计、制造、封装、应用全过程的重要部分,半导体测试设备对于产品良率和品质的提升至关重要。根据美国的半导体行业调查公司VLSI Research发布的按销售额排名的2019年全球前十大半导体设备厂商中,测试设备商占据两个席位,分别是日本的爱德万公司(第6)、美国的泰瑞达公司(第8)。2019年爱德万、泰瑞达销售额(包括服务收入)分别为24.7亿美元、15.5亿美元。随着芯片工艺不断升级,一颗芯片上承载的功能越来越多,对测试的需求也不断增长。而一台20年前上市的半导体测试ATE设备至今依然可以有良好的销售业绩,这种超长“待机”的背后,是哪些核心技术能力的支撑?在摩尔定律快速迭代的技术路线之下,测试设备如何以“以缓慢应对迅疾”,为半导体产业的推进保驾护航?超长“待机”背后看似“缓慢”其实一直在变化。“现在半导体测试机台,都是一个平台的概念。尽管V93000系列现在依然在出货,但是它早已不是20多年前的那台机器了。”爱德万测试(中国)管理有限公司(下称“爱德万测试”)新概念业务VP夏克金博士对集微网指出,以V93000系列为例,其实经历了Single Density、Pin Scale、Smart Scale、EXA Scale四代升级。T2000系列也是一样的,推出了各种针对不同应用的板卡模块。对于动辄百万乃至千万元量级的半导体测试设备,使用期限作为投入成本中考虑的重要因素之一,10到20年几乎是最基本的参考标准。但测试设备的技术进步从未停止,它是跟摩尔定律同步的,这就要在产品平台更新与兼容性两者之间实现最优平衡。这些机型之所以能够维持如此好的销售成绩,是因为ATE设备仅需更换测试模块和板卡就可应对更多种类的测试需求以及提升其测试性能,而不需要更换机器。对于半导体测试设备来说,核心的技术能力在于功能集成、精度与速度,以及可延展性。“在一台测试机的设计之初就要考虑得特别长远。”夏克金说,这其中,需要设计研发人员有非常前瞻的技术眼光以及平台化思维,“你不能说,4G时代的测试机台,到了5G时代,技术更新升级了,就完全不能使用,要全部换新的。”测试的价值体现最主要在上市时间(Time-to-Market)和成品率提升(Yield Improvement)两个方面。半导体检测设备的核心功能是用来检测晶圆制造和芯片成品的质量,辅助降本、提高良率和增强客户的订单获取能力。检测设备自身不会改变晶圆或芯片的质地,但是经过优化的测试方法,可以在具有高测试覆盖率的前提下,控制成本并降低在最终客户那里的DPPM(Defective Parts Per Million),减少退货率。一台测试设备对于半导体制造厂商来讲是重资产投入,其使用周期少说也要长达10至20年,在这样的超长“待机”背后,更考验的是半导体测试设备厂商的工程支持能力。而越是高端的测试设备,工程支持能力越为关键。“你同样用一台测试机验证IC设计,工程能力强的服务团队可能1个月就能帮你找到所有的bug,就可以快速进入量产上市阶段。”夏克金指出。芯片融合时代:测试也要“上天入云”过去简单的电子技术就可以满足的需求,如今可能需要人工智能、机器学习、无人驾驶、医疗仪器、基础设施扩建等多元覆盖实现。终端应用领域对于半导体技术的要求亦呈指数增长。因此,半导体元器件必须具备极高的可靠性,半导体测试设备对于供应链的价值也由此变得更加重要。对应迅速更新迭代的智能世界,先进制程升级要求半导体检测技术快速迭代,因而对于ATE机台来说,平台通用化、模块化、灵活性高、可升级是未来技术发展的大趋势。系统级测试(SLT,system level test)、大数据分析、ATPG编程自动化等,都是测试领域应对未来半导体市场发展面临的挑战,这需要测试设备厂商有超前的技术眼光,随时跟进市场需求。在此前十年,爱德万先后并购了Asia Electronics, Inc.、Credence Systems GmbH、Verigy以及W2BI.COM,进一步完善了公司除存储以外的业务布局,包括SoC、无线、汽车等综合领域。当前芯片已经进入融合的时代 (Age of Convergence),这对于测试设备提出更多要求。和以往单一驱动力不同,现在的半导体产业有着众多的驱动力,从无人驾驶到虚拟现实,从人工智能到云计算,从5G到IoT,从传感器到SIP,众多驱动力共同推动半导体测试技术不断前行。爱德万扩展的脚步从未停止。今年(2020年)7月,爱德万测试发布了TE-Cloud(Test Engineering Cloud)云平台服务,整合各个合作伙伴测试资源,可以为客户提供完整的测试程序开发环境,以及全方位测试外包服务。9月,爱德万又与半导体软件市场数据分析解决方案PDF Solutions建立合作,拓展AI在测试领域的应用。使用AI和机器学习技术的PDF公司,通过软件平台进行的大数据分析,对于提高精细工艺关键点的良率,确保设备质量以及降低检测和测量成本至关重要。更重要的是,随着半导体制造、测试和装配的独立分工,PDF公司的Exensio平台和连接数据基础的Data Exchange Network(DEX),通过连接半导体供应链,将半导体工程师与半导体测试设备连接起来,为设计和制造提供重要的参考,有助于降低检测成本,提高性能和良率。而通过将PDF公司的Exensio平台和DEX,与高性能检测设备相结合,爱德万可以为客户提供在产业链上任何点位的连接、测试、测量和分析,有助于进一步提高客户的良率和降低检测成本。近年来,集成电路测试需求的热点围绕IOT、5G、AI以及高性能计算(HPC),尤其是射频应用开发增长极快。在这个趋势下,测试设备开始要在整个产业链“上下左右”都多走一步。具体来说,要与IC设计层面结合更多,在产品层面则是更多需要向系统级测试(SLT)发展,往上走则是要接入云端、AI、大数据。夏克金表示,目前爱德万测试的业务已不止专注于后道,而是涵盖了全面的半导体产业链及SSD、手机、平板等系统测试产业,除了传统的SoC和存储测试机台之外,还包括了服务、支持、咨询、SSD测试以及分选机台、纳米电子束扫描电镜等机电业务。中国市场测试需求不断增长根据SEMI统计,目前全球半导体检测类设备市场规模超800亿元,其中前道量测设备市场规模约406亿元,后道测试设备约399亿元。从全球市场格局来看,当前半导体检测设备呈现寡头垄断格局。其中前道检测设备领域,科磊、应用材料、日立合计占比76%。在后道高端测试设备市场,以2011年爱德万收购惠睿捷(VERIGY)为标志,形成了以爱德万、泰瑞达为中心的双寡头格局。目前以爱德万、泰瑞达为代表的后道测试设备厂商形成了SOC测试、存储器测试、模拟信号测试、数模混合信号测试等全面的产品系列,同时对5G、AI、物联网等新兴趋势进行了积极开发布局,代表着行业最前沿的水平。而伴随着中国兴建半导体厂的规划逐渐落地,以及国际半导体公司在中国的不断投入,中国开始引入越来越多的半导体测试设备。同时,在大方向上,随着终端市场需求增加,对于存储的需求格外旺盛,此外包括电源、模拟、逻辑产品的部分品类需求也呈爆发态势,极大地促进了行业对半导体测试设备的需求。夏克金说,多年以前,国内的芯片设计水平和技术指标比较低,与国际甚至可能有一两代的差距。但是现在来看,这种差距总体上越来越小,在某些领域甚至都有可能实现反超。根据国金证券的测算,科磊、爱德万、泰瑞达三家合计中国大陆地区销售收入规模为150亿元。国金证券预估上述三家公司在中国大陆地区的市占率超过70%,由此推测出中国大陆每年对半导体检测设备的需求量在 200亿元以上。机构分析指出,尽管测试设备市场头部效应明显,在芯片制造、封测所涉及到的上千道加工工序中,包括晶圆检测在内的多个细分领域仍存在新玩家入局的机会。目前国内半导体测试设备与国际水平仍有很大差距,但近年来已有一些国内企业崭露头角,并在一些层面打破国外测试机厂商的垄断,未来具备良好成长空间。国内半导体测试设备领先企业包括华峰测控、长川科技、武汉精鸿等,在模拟、存储测试机以及SoC测试机领域,都在积极布局,并取得了一定的突破。

测试设备相关的方案

测试设备相关的资料

测试设备相关的论坛

  • 反射率的测试设备

    1、光学薄膜测试反射率,比较好的仪器设备有哪些?2、有没有集透过率、反射率、折射率测试的仪器设备,推荐一下3、全积分球法测试反射率是不是比半积分球测试比较准确?谢谢!

  • 关于设备校准和测试点确认

    我们刚刚对环境箱进行了校准,温度偏差约-1℃左右,符合测试标准和校准规范的允差要求;请问我们在测试的时候,是否需要将这个1℃的误差修正到设备上,确保设备实际值与标准对应?例:设备显示温度85℃,校准结果83.6℃;我们测试的时候是否需要将设备的显示温度调整至86.4℃,确保箱体内的温度为85℃?测试标准中对设备的温度要求为±2℃。

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  • 测试设备 6.5618.000
    测试设备,用于检查774卡氏炉的温度订货号: 6.5618.000测试设备,用于检查774卡氏炉的温度(仅用于计量认证)。
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    环境试验箱专用测试湿布1、皓天恒温恒湿试验箱相对湿度的读数是根据温湿度之差,严格来说还与当地当时的大气压力、风速有关。湿球温度示值与纱布吸入的水量、表面蒸发的情况有关。这些都直接与纱布质量有密切关系。2、有关规范规定,湿球纱布必须是亚麻织成的专用“湿球纱布”,否则难以保证湿球温度计示值的正确性,也就是湿度的正确。3、 皓天恒温恒湿试验箱湿球纱布的安放也有明确的规定:纱布长度100mm,紧密缠绕传感器探头,探头离湿度水杯25-30mm,纱布浸入水杯。这样才能保证湿度的正确性。环境试验箱专用测试湿布皓天设备品牌试验箱专用测试布环境试验箱专用测试湿布 7*8CM自制的恒温恒湿机专用湿布尺寸为:长*宽:7*8CM环境试验箱专用测试湿布高低温交变湿热试验箱测试湿布 测试湿度专用纱布 湿布试验箱厂 皓天设备对恒温恒湿机选用的湿布非常重视,先别小看一个小小配件,它在试验过程中起到极其重要的作用。为什么恒温恒湿试验箱会出现湿度显示100%的情况?理由很简单:一般都是由于使用者湿球纱布放置错误所引起的,或者是纱布不符合规范,在此声明:恒温恒湿试验箱所用的湿球纱布并不是任何纱布都能代替使用,它有一定要求。一般情况下,我们都建议客户用进品的湿球纱布进行测试试验,这样测试结果比较精准些,公司自制的湿布可以用来替换使用。测试精度也是比较接近进口品牌的标准,相当于一个是原装,一个是备用。
  • Nalgene DS0405 起泡点测试设备,铸铝
    Nalgene DS0405 起泡点测试设备,铸铝?无需从过滤装置上拆除滤膜即可测试规格为50、75 和90 mm 的Nalgene MF75 过滤装置滤膜的起泡点测试起泡点有助于确保产品的完整性。可测试所有直径为50、75 和90 mm 的Nalgene MF75 0.2μm和0.45 μm - 次性过滤装置以及150 ml 到1L 的瓶顶过滤器。适用于内径为1/4 h(6 mm) 的胶管。若使用大小为75 和90 mm 的装置,还包括接头和O 形环。用户必须提供一个压力源和校准计。订货信息:Nalgene DS0405 起泡点测试设备,铸铝目录编号 DS0405-0050每箱数量1
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