荧光粉量子产率测量系统

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    天津东方科捷科技有限公司 Orient KOJI instrument Co., Ltd.,基于高素质的专家研发及实践团队,为专业化的需求,研制特殊满足用户科研及测试要求的光谱仪部件和外设,使您的科研更便捷,更加准确;提供光谱测量、时间分辨、量子效率和共焦显微相关需求的方案;HORIBA Scientific 所属JY 荧光光谱仪的区域总代理商;Fluorolog-3; FluoroMax-4;Aqualog;DeltaFlex;荧光寿命部件及光源;美国ISS 公司的激光共焦荧光成像系统,激光共焦技术的领跑者;Alba 和 Q2满足您模块化的需要;适于单光子和多光子激发荧光的强度成像、寿命成像FLIM和FCS,FLIM-FRET、单分子荧光寿命成像;ALBA-STED满足您超分辨成像的需要。日本大塚电子公司的紫外可见近红外量子效率测试系统,满足粉末、薄膜、液体的300-1600nm发光定量测试需要,同时具备耦合激光器的PLQY测试能力,特别适合单态氧发光效率测量、上转换发光效率测量。极限测试可到0.01%;显微荧光寿命(TCSPC)测量系统,μFRaL 显微荧光拉曼测试系统,可以在共焦显微平台上为您提供荧光光谱、荧光寿命、拉曼光谱及超低波数拉曼光谱的采集;可以提供快速光谱成像。采用开放式显微镜,满足4k低温、高压、高温部件耦合的需要。TAP-02 300℃高温荧光(热猝灭及热稳定性)测量附件。是公司自我开发的第一件产品,产品满足40-300℃超稳定及快速变温的测试需要,使用方便简洁。已经在SCI检索论文中广泛出现。其他产品包括:荧光光谱仪用微量粉末夹具,积分球漫反射测量配置粉末盒;HJY荧光内置PLQY绝对量子产率附件,荧光光谱仪用光纤远程测量及微区测量附件;提供固体表面电位测试系统和粒度分析;x射线荧光光谱仪 HORIBA 公司的阴极射线发光系统--CL系统时间分辨的电致发光光谱测试系统已经开放成功!同时提供:仪器维护及部件更换服务;欢迎咨询和讨论最适合您的技术方案。
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  • 国仪量子的核心技术是以量子精密测量为代表的先进测量技术,为全球范围内企业、政府、研究机构提供以增强型量子传感器为代表的核心关键器件、用于分析测试的科学仪器装备、赋能行业应用的核心技术解决方案等优质的产品和服务。国仪量子(合肥)技术有限公司,源于中国科学技术大学。国仪量子是国内第一家以量子精密测量为核心技术的国家高新技术企业,主要从事量子精密测量、量子计算和高端科学仪器等技术和相关产品的研制、生产与销售。实验室在高端科学仪器、关键核心器件的研制领域深耕十余年,多项技术、研究成果突破国际封锁和禁运,并获得 ”中国科学十大进展“” 国家自然科学二等奖“”中国分析测试协会科学技术奖特等奖“等诸多奖项。公司传承实验室的创新基因与探索精神,为全世界的科技工作者提供探知微观世界的一把尺子,获得”2021年安徽省科学技术奖一等奖“”朱良漪分析仪器创新奖“”安徽省新型研发机构“”安徽省量子精密测量创新中心“”安徽省专精特新冠军企业“等奖项。公司面向量子科技、材料科学、化学化工、生物医学、工业领域、科学教育、能源勘探等领域,致力于帮助客户更高效地推动技术的发展,探索并创造人类的未来。
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  • 东莞睿思迈机电科技有限公司是一家致力于电子制造业的科技企业,拥有专业的销售,服务,管理及研发团队。主营纳米银粉/COB/行星式真空脱泡机、硅胶脱泡机、LED荧光粉/LED灯丝胶/导电银胶/绝缘胶/LED大功率集成真空脱泡机、LED荧光粉胶水脱泡机、铝电池材料/自转公转/实验室用/LED真空搅拌脱泡装置,半导体搅拌脱泡机,SMT吸嘴清洗机等产品专业研发、生产加工的公司,拥有完整、科学的质量管理体系。东莞睿思迈机电科技有限公司的诚信、实力和产品质量获得业界的认可。  睿思迈:秉持以完善、专业的技术、及时有效的服务於电子业界的广大客户。“关注细节,追求卓越”的精神,睿思迈将进一步完善服务体系,提升服务质量,为客户创造更多价值!公司产品和服务获得众多客户的好评,被诺基亚、飞利浦、富士康、华硕、伟创力、新美亚、松下、佳能等知名企业所认可和大量使用,幷远销新加坡、马来西亚、欧洲和美国。  睿思迈宗旨:  质量为本  诚信为旨  致力创新  至诚服务
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荧光粉量子产率测量系统相关的仪器

  • 荧光粉量子产率测量系统北京卓立汉光仪器有限公司研发生产的Chameleon-QY荧光粉量子产率测量系统 采用460nm的蓝光LED作为激发光,荧光样品放置在积分球内部,由积分球来收集荧光,送入摄谱仪进行荧光分析。Chameleon-QY荧光粉量子产率测量系统采用我公司研制的SGM100摄谱仪。SGM100摄谱仪采用交叉水平光路。由入射狭缝进入的复合光线经准直物镜反射后成为平行光束照射到平面衍射光栅上,经光栅色散后的光线由聚焦物镜聚焦于线阵CCD处,在线阵CCD处形成光谱面。内部设置了光线吸收阱,可有效抑制产生的杂散光。光栅摄谱仪外壳由一整块铝材精加工而成,有效防止温度形变或是震动所致的光谱漂移。SGM100摄谱仪针对电磁干扰(EMI)进行了优化,有效防止外界干扰影响测量精度的问题。Chameleon-QY荧光粉量子产率测量系统可实现对激发荧光光谱分析,包括半波宽,傅立叶变换,谱线计算,色度计算,以及荧光量子产率计算等。 主要技术规格 型号Chameleon QY探测器探测器型号TCD1304DG线性阵列CCD响应非均匀性(PRNU)10%(MAX)有效像素数3648像素尺寸8&mu m X 200&mu m光路系统设计非对称交叉C-T光路焦距100mm入射孔径 F/2.95入射狭缝 100&mu m光谱特性波长范围400~780nm光谱分辨率1.62nm波长准确度± 0.5nm积分时间7.2ms~64s积分球内径110mm反射率 大于90%(320~2200nm)大于96%(380~1400nm)电子特性通讯接口USB2.0功耗350mA@5VDC供电方式USB口直接供电,或5V输出适配器物理特性摄谱仪尺寸203*160*90mm摄谱仪重量4Kg积分球尺寸130*130*165mm
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  • 组合式荧光光谱测量系统-OmniFluo系列荧光光谱测量系统介绍系统组成:在许多应用领域如材料学、生物学(叶绿素和类胡萝卜素)、生物医学(恶性病的荧光诊断)和环境应用中都需要用到荧光检测技术。荧光检测通常需要高灵敏度光谱仪,在大多数应用中荧光能量仅为激发光能量的0.1%,波长要长于激发光,而且是散射光。在荧光测量系统中,一定要避免激发光进入到光谱仪中。荧光实验光学布局中的一个重点是如何避免激发光进入光谱仪, 以下几种方法提供给各位参考:1. 选择TLS或TLSE系列可调单色光源作为荧光激发源,因其具有良好的单色性,杂散光低,能够较少的影响荧光的检测;2. 在光路上使用垂直90°配置,避免激发光直射或镜面反射至荧光光谱仪,可大幅降低激发光对荧光的干扰。可调单色光源+样品室+荧光光谱仪+数据采集及处理系统+软件+计算机系统优点:可同时做激发谱及发射谱,对于未知激发谱之材料可提供更有效分析工具。OmniFluo系列组合式荧光光谱测量系统OmniFluo 系列荧光光谱测量系统采用模块化的组合方式集成而成,通过不同配件的选择,不仅可以实现荧光光谱测量,还能够实现功能的多样化,如PL、拉曼、透射反射吸收、探测器定标等光谱测量;系统采用一体化的光学调校,可以完全固定在一块精密光学平板上,只需要在初次安装时进行调校,实际应用过程中只需要对样品进行简单调整,确保在仪器使用中始终保持高效率的操作。OmniFluo-113型光子计数级稳态荧光光谱系统主要技术参数:● 激发光源:TLSE1805i-X150可调单色光源,采用150W氙灯● 激发光功率:0.3mW(@500nm,单色)● 激发光谱范围:250-1500nm(可选200-1500nm)● 激发光谱带宽:0.15-10nm(连续可调@1200g/mm光栅)● 荧光光谱仪光谱范围:200-2500nm● 荧光光谱带宽:0.1-8nm(连续可调@1200g/mm光栅)● 波长准确度:±0.25nm(Ex),±0.2nm(Em)● 波长重复性:±0.1nm(Ex,Em)● 光探测器:光子计数级光电倍增管,200-850nm● 数据采集器:DCS200PC单光子计数器,计数率:100Mcps● 系统灵敏度:纯水拉曼峰信噪比:1,000:1(RMS@带宽5nm,积分时间1s)● 超大样品室设计,便于操作,并可选配多种滤光片附件及偏振附件● 提供荧光量子产率测量附件● 可选配闭循环超低温制冷机,最低温度可达2K● 系统扩展性:采用模块化设计,可扩展至近红外波段光谱测量● 可选配锁相放大器,特别适合红外波段测量时提升系统信噪比● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能,可随时储存和提取图谱,并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算
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  • 荧光光谱仪在许多领域中被广泛应用,如:材料学(宽禁带半导体材料发光特性检测)、生物学(叶绿素和类胡萝卜素检测)、生物医学(恶性病的荧光诊断)和环境监测中都可以用到荧光检测技术。 OmniFluo “卓谱”系列荧光光谱测量系统采用模块化的组合方式集成而成,吸收了我公司 15 年的光谱系统设计、制造经验,通过不同配件的选择,不仅可以实现荧光光谱测量,还能够实现功能的多样化,如 PL、拉曼、透射反射吸收、探测器定标等光谱测量,有效解决了传统荧光分光光度计光谱范围有限及拓展功能不足的问题。 OmniFluo “卓谱”系统采用高性能“谱王”Omni-λ系列光谱仪 / 单色仪、高灵敏度单通道或多通道探测器,采用单光子计数技术或锁相放大技术,极大的提高了荧光探测的灵敏度,使得纯水拉曼信噪比达到 1000:1 以上的水平。 OmniFluo“卓谱”组合式荧光光谱测量系统将 PL 和 PLE 两种荧光测试需求完美结合,采用模块化设计,可以根据需要进行系统架构的灵活调整,实现常温及低温下的荧光光谱、激发光谱测量。 OmniFluo“卓谱”组合式荧光光谱测量系统性能特点 ■ 模块化的结构设计——各功能模块完美结合,根据需要进行选择,后续升级方便■ 合理的空间布局——在满足功能需求的前提下尽可能占用更少的空间,且方便测量操作■ 超宽光谱范围*——200nm-2500nm■ 独有的发射光谱校正功能*——让光谱测量更精准且具有可比性■ 宽波段、高输出功率光源——150W、500W氙灯光源可选■ 多种激光器波长可选*——266nm/325nm/375nm/405nm/442nm/532nm/785nm/1064nm等■ 量子产率测量功能可选**——扩展选项■ 电致发光(EL)功能可选**——扩展选项■ 超低温测量附件可选**——可提供≤10K的超低温测量*需根据实际需要进行配置确定;**选配项,请详细咨询。OmniFluo“卓谱”组合式荧光光谱测量系统参数规格表(*) 主型号OmniFluo光谱测量范围200-2500nm荧光光谱分辨率0.1nm激发光源基于150W或500W氙灯可调单色光源激发光输出带宽0.1nm-30nm激光器可选波长266nm/325nm/375nm/405nm/442nm/532nm/785nm /1064nm等探测器类型制冷型CCD 2000×256制冷型InGaAs 512×1单点 PMT 单点制冷型 InGaAs探测光谱范围200- 1000nm800-2200nm200-870nm800- 2500nm数据采集器--单光子计数器或锁相放大器锁相放大器
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荧光粉量子产率测量系统相关的资讯

  • 复合荧光材料的量子产率分布测量
    1. 引言量子产率是评价荧光材料发光效率的重要参数,复合荧光材料通常由两种或两种以上的材料组成,依据样品的量子产率分布可以确认每种成分的发光效率,助力于样品的精细化分析。 日立荧光分布成像系统能够同时获取样品图像和光谱信息,从而实现精细化测量,此次实验测定了复合荧光材料的量子产率分布。 2. 应用数据 2.1 附件介绍荧光分布成像系统是荧光分光光度计的新附件,包含软件和硬件两部分。入射光通过附件中的积分球均匀照射到样品,通过荧光分光光度计的检测器获取荧光光谱,利用积分球下方的CMOS相机同时获取样品荧光和反射图像。图1 荧光分布成像系统安装示例利用样品的反射图像计算出吸收量,利用荧光图像计算出荧光量,从而计算得到量子产率分布图像。 图2 量子产率分布图像计算过程 2.2 实验部分 实验材料 样品:复合荧光材料 测量设备:日立F-7100,荧光分布成像系统 结果与分析使用日立F-7100测定样品的三维荧光光谱,通过荧光分布成像系统的分析软件对样品三维荧光光谱进行平行因子分析(PARAFAC),得到如图两种成分。图3 样品的三维荧光光谱 通过荧光分布成像系统中的智能光谱算法,将拍摄的样品图像分离为反射成分图像和荧光成分图像,如图所示。图4 样品的拍摄图像和反射、荧光图像在荧光分布成像系统软件中,可以将不同激发波长下样品的图像信息保存为如下缩略图,直接用于文档中。图5 不同激发波长下的样品图像(缩略图)对获得的样品荧光图像和反射图像进行分区,如下图将样品测量区域分成5x5的格子,选取不同的格子,坐标系中便显示对应的光谱。图中选取的两个位置分别对应平行因子分离出的成分1和成分2。图6 样品的荧光图像和荧光光谱图7 样品的反射图像和反射光谱基于以上样品的荧光图像和反射图像,软件自动计算出对应的量子产率分布图像,如下图,通过点击图像中不同的区域,可以获得对应的量子产率曲线。图8 量子产率分布和不同激发波长的量子产率因此使用荧光分布成像系统将样品在不同激发波长下的拍摄图像分离为反射图像和荧光图像,可以计算出影响荧光材料发光效率的量子产率分布图,样品中黄色区域的量子产率约60%,红色区域的量子产率约35%。 3. 总结 荧光分布成像系统是日立首创的全新技术,与日立超高扫描速度的荧光分光光度计联用,助力客户实现更精细化的荧光分析。拨打电话400 630 5821,获取更多信息!
  • 滨松近红外绝对量子产率测量仪亮相2018先进材料研究国际研讨会
    2018先进材料研究国际研讨会于2018年8月2日至8月5日在中国上海市举行,此次会议由中国材料研究学会、北京理工大学、东华大学和应用物理化学国家重点实验室(陕西应用物理化学研究所)联合主办。研讨会旨在推动中外材料科学与技术科学的发展,扩大中外学者在科学研究层面的合作水平,同时为国内材料研究工作者和博士生提供有关综述和展望近年来新材料最新进展和科研成果的平台。会议现场滨松中国展台滨松近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS C13534亮相了本次会议。绝对法是一种快速而准确测定量子效率的方法,该方法具有低能源消费与高环境保护的特点,所以被广泛应用于先进材料研究。滨松近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS是采用绝对法测量光致发光材料量子产率(PLQY)的集成化全新产品,通过集成光源、分光系统、积分球以及探测器于一体,大大提高了空间利用率,产品的软件操作自动化,让用户可以简单、便捷地使用产品。其可以测量薄膜、粉末以及液体样品,包含样品的激发光谱、发射光谱、量子产率、色度参数、EEM谱。在前代产品的基础上,Quantaurus-QY PLUS C13534增加了可扩展近红外探测器通道以及可扩展外接光源的接口。可扩展的近红外通道可以将量子产率的测量范围扩展至300-1650nm,覆盖市面上发光材料量子效率测量需求波段。与普通双通道探测器不同,滨松的双通道探测器测量结果通过算法拟合,结合JCSS级别的校准技术,可以让双通道结果无缝接合,得到稳定结果。产品的外接光源扩展接口可外接激光器以及高能氙灯等光源,可以轻松测量低量子产率以及上转换发光的材料,满足客户对于低发光效率以及上转换材料的测量需求。滨松近红外绝对量子产率测量仪 Quantaurus-QY PLUS C13534产品涉及领域广泛,包括荧光粉、量子点、有机电致发光材料、金属有机框架材料、PV敏化染料电池片、荧光探针、钙钛矿材料、上转换材料、AIE材料等。凭借优秀的性能以及滨松高效优质的技术支持和产品服务,近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS在研讨会期间受到了与会专家学者的高度关注。
  • 量子产率测量技巧
    1. 什么是量子产率? 荧光量子产率是发射的光子数与吸收光子数之比,如下图所示。 图1 量子产率示意图 量子产率的大小可以表示物质的发光能力,量子产率越大,说明荧光材料的质量越好。依据量子产率可以对生物领域中的荧光探针进行开发和评估,同时助力于照明领域中有机EL材料和荧光物质的开发。量子产率的类型,按照测定的样品来分,有两种,固体量子产率和液体量子产率。按照量子产率测定方式,可以分为绝 对量子产率和相对量子产率。2. 固体量子产率测定2.1 测定装置固体量子产率的测定需要使用积分球附件,通过积分球的光收集效应,样品向各个方向发射的荧光都可以被检测到,保证荧光的准确测量。图2 量子产率附件日立荧光量子产率附件具有以下特点: i. 6阶动态范围的高精确度、高灵敏度测量,即使是量子产率较低的样品,也可以得到高精度测量。 ii. 有效的光谱校正功能,由于样品需要放置在积分球上进行测量,因此需要对积分球的波长特性进行校正才可以测定到准确的荧光量。积分球的校正比较困难,日立开发了一种简易有效的方法,利用扩散子和积分球的比例,进行校正。从而可以在200~800nm的宽波长范围内测定校正光谱。 iii. 高速扫描,对于有光敏性的物质,超高的扫描速度提高通量,有效测量其量子产率。 iv. 专用量子产率计算软件,易于选择计算范围,操作更便利。2.2 测定技巧对于量子产率较大的样品,一般指量子产率大于0.5的样品,需要考虑间接激发产生的量子产率。间接激发指的是没有被样品吸收的激发光反射到积分球内壁上,被积分球内壁反射再次激发样品产生荧光。图3 直接激发示意图通过将样品放置在积分球不同位置,以校正间接激发产生的量子产率,如图4所示。 通过对样品进行不同放置,获得直接激发的量子产率Φd和间接激发的量子产率Φi,利用公式(1)得到校正之后的样品实际量子产率Φ。图4直接激发样品位置(左)和间接激发样品位置(右)更多技巧点击:量子产率测量技巧检测仪器_检测方案_日立高新技术公司 (instrument.com.cn)总结:日立荧光量子产率测量附件具有高灵敏度和六位数的动态范围,即使样品量子产率比较低,也可以准确测定;高扫描速度,减少激发光对避免光敏性物质的影响;校正积分球的波长特性,确保结果准确;吸收池支架,实现液体量子产率的测定。

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荧光粉量子产率测量系统相关的资料

荧光粉量子产率测量系统相关的试剂

荧光粉量子产率测量系统相关的论坛

  • 【原创】发光粉的形貌影响量子产率 PLQY

    【原创】发光粉的形貌影响量子产率 PLQY

    荧光粉的微观形貌对其光学性质也有很大的影响。接近球形的颗粒可以使发光层的不规则形状最小化,从而提高发光效率。简单采用粒度计并不能完全的表征颗粒的的大小和发光效率的关系。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/10/201010172011_251970_1609847_3.jpg图. 荧光粉S1(A)和荧光粉S3(B)的TM3000电镜图片从图中可以看到两种荧光粉样品的形貌是不一样的。S1是相对规则的多面体结构,而S3则是棱角分明的棒状结构,因此,从微观形貌上推断,S1的量子产率应该高于S3。两种荧光粉绝对量子产率测量可以证实电镜图片的推论。结果表明,近球形的S1样品荧光量子产率为67.7%,而棒状的S3样品荧光量子产率仅为28%。

  • 测量荧光量子产率

    在测定量子点荧光量子产率时,要求计算荧光积分面积,在测定出来的荧光光谱图中应该是那一部分的荧光面积,积分面积怎么算?

荧光粉量子产率测量系统相关的耗材

  • 量子效率测量系统
    产品特点: u即时性內部量子效率测量。u大幅降低紫外光領域的迷光现象,对高量子效率的样品展現出优异的测量性能。搭配低迷光对应光谱仪,实现高感度、高稳定性的光谱解析。u激发光源采用光栅搭配滤光镜分光、可任意选择单一波长。(选配)产品规格: 波长范围240nm~800nm(视所搭配的光谱仪规格)分光元件全息成像光栅,焦点距离F=3、f=135mm波长精度±0.3nm检出元件CCD影像感测器(电子冷却)512ch检出能力1.2nm/pixel受光光纤石英制,金属包覆,固定口径Φ12mm消耗电力100V/200V125VA激发光源系统光源套件Xe灯+光栅分光激发波长范围250nm~700nm波长扫描方式正弦杆移动方式撷取波长(SineBar),手动or自动皆可对应测量系统积分半球设备(HalfMoon)Φ150mm、Φ60mm积分球设备Φ60mm电源消耗电力415VAAC输入100V±10%50/60Hz应用范围: u受紫外光激发的荧光粉体频谱测量uLED所使用的荧光材料频谱测量u光激发频谱测量uLB膜、机能性分子膜的荧光频谱测量u生物发光、散乱光的荧光频谱测量
  • 改性后的石墨烯量子点粉末
    制备方法: 热解法成份:改性后的石墨烯量子点外观:粉状荧光色:蓝色荧光量子产率:10 ± 2%粒径:6 ± 3 nm电位:~+20mV纯度:80%(A)(B)(C) TEM graphs (D) particle size distribution histogram of ACS Material Imidazole-Modified GQDs
  • 多功能量子效率测量系统配件
    超级多功能量子效率测量系统配件成功问世,一套量子效率测试系统可以测量:薄膜厚度, 折射率,透过率,光学常数, 光谱响应,外量子效率和内量子效率。多功能量子效率测量系统配件是特别为太阳能光伏电池(器件)的测量而设计开发的新一代量子效率测试系统。它可以测量光伏器件的光谱响应(Spectral Response, SR, A/W),外量子效率(External Quantum Efficiency, EQE/IPCE,%) 和内量子效率(Internal Quantum Efficiency, IQE,%)多功能量子效率测量系统配件特色×光路全部采用光纤传导替代自由空间光系统(Free-Space Optics), 从而可以保证用户长时间使用而不需要准直或调节光路,也不需要日常频繁地移动光学器件或维护,×光路传导系统也规避了周围环境光线对测量的影响。×快速测量EQE/IQE测量(5分钟内就可测量串联光伏电池的全部特性);×真正全部匹配各种光伏技术(C-Si,多晶硅,硅薄膜电池, CIS/CIGS,有机光谱电池等);×根据用户的需求提供订制化服务;×集成其它光学测量功能,如”薄膜厚度测量“功能。内量子效率测量系统测量方法多功能量子效率测量系统配件由300-1100nm的光源和1/4m的单色仪构成。内部还配置电动的6位滤波片轮实现高精度地测量。而光电流(Photocurrent)测量是通过锁相放大器和数字控制的chopper实现的。 外量子效率测量系统的软件控制光源(LED),使用高性能光电二极管作为参考,可对串联电池进行偏置测量(Biasing Measurement)。多功能量子效率测量系统配件对于内量子效率(IQE)的测量是通过使用两个积分球与一个微型光谱仪联合实现的。其中微型光谱仪用于确定反射率和透过率,标定(校准)单色仪的输出光谱带宽。对于我们还有重要的配件供用户选择:安装样品的温度控制基座和外部电压偏倚源共选择。多功能量子效率测量系统配件的软件全天候控制这个套系统。该软件基于LABVIEW构建,不仅可以控制系统工作,处理电子和光谱测量,还具有极其广泛的拓展性。软件采用”指导提示性”界面设计,指导用户一步步完成实验操作,从而大大方便用户的使用。即使没有使用经验的人员也能在软件的提示下工作。量子效率测试系统软件提供如下两个工作模块:1) EQE-模块用于测量外部量子效率,控制所有二级模块如温度和偏置测量等》2) IQE-模块用于反射率和透过率,计算内量子效率,定义单色仪的输出带宽,不要激光和特殊校准配件和程序。
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