荧光粉量子产率测量系统

产品特点： u即时性內部量子效率测量。u大幅降低紫外光領域的迷光现象，对高量子效率的样品展現出优异的测量性能。搭配低迷光对应光谱仪，实现高感度、高稳定性的光谱解析。u激发光源采用光栅搭配滤光镜分光、可任意选择单一波长。(选配)产品规格： 波长范围240nm~800nm（视所搭配的光谱仪规格）分光元件全息成像光栅，焦点距离F=3、f=135mm波长精度±0.3nm检出元件CCD影像感测器（电子冷却）512ch检出能力1.2nm/pixel受光光纤石英制，金属包覆，固定口径Φ12mm消耗电力100V/200V125VA激发光源系统光源套件Xe灯+光栅分光激发波长范围250nm～700nm波长扫描方式正弦杆移动方式撷取波长（SineBar），手动or自动皆可对应测量系统积分半球设备（HalfMoon）Φ150mm、Φ60mm积分球设备Φ60mm电源消耗电力415VAAC输入100V±10%50/60Hz应用范围： u受紫外光激发的荧光粉体频谱测量uLED所使用的荧光材料频谱测量u光激发频谱测量uLB膜、机能性分子膜的荧光频谱测量u生物发光、散乱光的荧光频谱测量

制备方法: 热解法成份：改性后的石墨烯量子点外观：粉状荧光色：蓝色荧光量子产率：10 ± 2%粒径：6 ± 3 nm电位：~+20mV纯度：80%(A)(B)(C) TEM graphs (D) particle size distribution histogram of ACS Material Imidazole-Modified GQDs

超级多功能量子效率测量系统配件成功问世，一套量子效率测试系统可以测量：薄膜厚度, 折射率，透过率，光学常数, 光谱响应，外量子效率和内量子效率。多功能量子效率测量系统配件是特别为太阳能光伏电池（器件）的测量而设计开发的新一代量子效率测试系统。它可以测量光伏器件的光谱响应（Spectral Response, SR, A/W),外量子效率（External Quantum Efficiency, EQE/IPCE,%) 和内量子效率（Internal Quantum Efficiency, IQE,%）多功能量子效率测量系统配件特色×光路全部采用光纤传导替代自由空间光系统（Free-Space Optics)， 从而可以保证用户长时间使用而不需要准直或调节光路，也不需要日常频繁地移动光学器件或维护，×光路传导系统也规避了周围环境光线对测量的影响。×快速测量EQE/IQE测量（5分钟内就可测量串联光伏电池的全部特性）；×真正全部匹配各种光伏技术（C-Si,多晶硅,硅薄膜电池, CIS/CIGS,有机光谱电池等）；×根据用户的需求提供订制化服务；×集成其它光学测量功能，如”薄膜厚度测量“功能。内量子效率测量系统测量方法多功能量子效率测量系统配件由300-1100nm的光源和1/4m的单色仪构成。内部还配置电动的6位滤波片轮实现高精度地测量。而光电流（Photocurrent)测量是通过锁相放大器和数字控制的chopper实现的。 外量子效率测量系统的软件控制光源（LED),使用高性能光电二极管作为参考，可对串联电池进行偏置测量（Biasing Measurement)。多功能量子效率测量系统配件对于内量子效率（IQE)的测量是通过使用两个积分球与一个微型光谱仪联合实现的。其中微型光谱仪用于确定反射率和透过率，标定（校准）单色仪的输出光谱带宽。对于我们还有重要的配件供用户选择：安装样品的温度控制基座和外部电压偏倚源共选择。多功能量子效率测量系统配件的软件全天候控制这个套系统。该软件基于LABVIEW构建，不仅可以控制系统工作，处理电子和光谱测量，还具有极其广泛的拓展性。软件采用”指导提示性”界面设计，指导用户一步步完成实验操作，从而大大方便用户的使用。即使没有使用经验的人员也能在软件的提示下工作。量子效率测试系统软件提供如下两个工作模块：1) EQE－模块用于测量外部量子效率，控制所有二级模块如温度和偏置测量等》2) IQE－模块用于反射率和透过率，计算内量子效率，定义单色仪的输出带宽，不要激光和特殊校准配件和程序。

这款LED荧光粉欧洲进口，是全球白光LED转换效率最高的LED荧光片，成功打破日本在这一领域的垄断，并完全在性能上超过日本产品，称为全球最佳白光LED和高功率LED荧光粉。这款LED荧光粉专业为白光LED和高功率LED而生的单晶LED荧光发光体,，对InGaN蓝光LED直接封装，获取高效高亮度的白光LED, LED荧光粉是单晶荧光粉末或多晶荧光粉的理想替代产品。 对于蓝光InGaN发射发光二极管的波长转换而言，单晶Ce:YAG闪烁发光体是一种智能,精准和高效的解决方案。由Ce:YAG单晶制成的荧光体为高功率LED事业提供了最佳性能，其效率超过150LM/W，是单晶荧光粉末或多晶荧光粉的理想替代产品。Ce:YAG闪烁体LED荧光粉主要特性优势l 后向散射少，自吸收少，更高的转换效率，更大光强荧光粉和多晶材料的颗粒边界容易把光束散射到发光非有效方向，造成效率低下。而这种单晶荧光屏只需要克服一个边界的影响，具有最少的寄生吸收。l 产生热量少，LED寿命长单晶荧光片具有更高的热导率，可帮助芯片散热。同时，芯片也不会经受后向散射产生热量，有助于降低LED芯片的老化，使得LED寿命更长。l 热稳定性好，温度淬灭少与其它荧光粉相比，这种单晶荧光体在相对高温时也能产生更多的光，避免LED在高端应用中变暗，LED温度淬灭更少。l 质量均匀可靠，更少的分选工作单晶荧光片具有稳定的特性，LED制造企业不需要对其分选或分类，有助于提高生产效率，优化生产成本。 l 光谱范围可变，色彩表现更佳荧光片可被调谐到多个波长范围，可制成产品覆盖CT2700-6500K的范围。l 更长的持久性单晶Ce:YAG荧光体具有良好的抗划伤能力和抗热退化能力，这种物理特性决定了这种荧光片不仅是LED芯片的理想转换材料，同时也是LED理想的保护性材料。 l 更价的经济性，使用成本更低与荧光粉和多晶材料相比，这种单晶Ce:YAG荧光体具有更低的使用成本。超高效率：单晶YAG:Ce荧光体制作的LED荧光粉可以获得最佳照明表现，可以把后向散射降到最小，使得发射效率最大化。 LED荧光粉和Ce:YAG荧光体表面增加了微小凹坑，成为扩散中心，产生的荧光光子更容易向上发射。LED荧光粉荧光体有效控制表面粗糙度，表面和边缘平坦极大减少反射的光子，进而提高发射效率。精细荧光片穿孔允许光子反弹到荧光片或小孔边缘，竖直方向发射出去，提供光子激发效率。LED荧光粉用Ce:YAG荧光体应用LED荧光粉荧光体可以制成适合LED工业应用的各种类型，为不含树脂的高功率LED而设计。其中平板形荧光片和半圆形荧光片非常适合不同的LED使用。LED荧光荧光体非常适合拾放机器人操作，添加到单个或多个LED上。平板形或圆顶形荧光片提供了标准的结构，使得固定位置安装极为方便。圆顶形荧光片和镜片组成整体的高效组合 荧光片可被加工成带有连接器（切口或针孔）的特定形状设计实例荧光片 带孔荧光片 带有切口连接器 切口连接器 半圆形带切割连接器LED荧光粉数据LED荧光粉尺寸可根据LED设计和物理特性而自由加工，生产尺寸范围从十几微米到毫米单位的大小。标准LED荧光粉尺寸是1x1mm截面积，250微米厚度，半圆形荧光片：直径为1.4mm单晶LED荧光粉与其他荧光粉的LED温度猝灭比较圆顶形荧光片在宽视角范围都表现出良好的光均匀性1mm厚的Ce:YAG荧光片透过率曲线 荧光片制成的LED的发射光谱仪（色温4500K）

制备方法: 酸性回流成份：改性石墨烯量子点外观：棕黑色溶液荧光色：蓝色荧光量子产率：10 ± 2%粒径：6 ± 3 nm浓度：1mg/ml, 最大值: 10 mg/ml溶剂：水电位：~+20mV纯度：80%(A)(B)(C) TEM graphs (D) particle size distribution histogram of ACS Material Imidazole-Modified GQDs

YAG:Ce荧光粉,YAG:Ce闪烁粉和YAP:Ce荧光粉 /夜光粉/ 闪烁粉我们提供优质进口YAG:Ce和YAP:Ce荧光粉，这些荧光粉由高质量闪烁体单晶直接加工而成。晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格的荧光粉可根据要求加工。荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

YAG荧光粉由Y3Al5O12:Ce闪烁体或Y3Al5O12:Ce荧光体直接加工而成，这款YAG荧光粉是欧洲进口的优质Ce:YAG荧光粉,是广泛用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料,也常用于InGaN发光二极管。YAG荧光粉，全称Y3Al5O12:Ce荧光粉或YAG:Ce荧光粉，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

荧光粉 /夜光粉/ 闪烁粉---YAG:Ce荧光粉和YAP:Ce荧光粉我们提供优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

ZnSe量子点是一种新型环保“绿色”半导体纳米材料，有效克服了Cd系量子点毒性大的缺点，作为宽带隙半导体材料，ZnSe是制造蓝绿波段半导体发光器件的重要材料。应用独特专有技术合成的ZnSe/ZnS量子点具有尺寸均匀，单分散性强，荧光量子产率高，稳定性好，生物毒性低等优异特性；可以广泛应用于蓝光半导体光电器件、太阳能电池、生物标记等领域。发射峰：400-440 nm半峰宽：量子产率：~40%表面基团：十八胺（或客户指定配体）溶剂：甲苯（或客户指定溶剂）我们可根据客户需求，提供不同表面基团、溶剂、浓度、400-440nm间任一发射波长的HMF_ZnSe/ZnS量子点。由于此款产品为定制款，标价为参考价，具体价格请联系在线客服发射峰 & 吸收峰TEM测试图

YAP:Ce荧光粉 /夜光粉/ 闪烁粉---YAG:Ce和YAP:Ce我们提供优质进口YAP:Ce荧光粉和Ce:YAP荧光粉，这些YAP:Ce荧光粉由高质量Ce:YAP闪烁体单晶直接加工而成。YAP:Ce荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAP:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAP:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。Ce:YAP荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

这款P43荧光粉是欧洲进口的优质GOS荧光粉,Gd2O2S:Tb荧光粉和硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

P46荧光粉由P46闪烁体或P46荧光体,Y3Al5O12:Ce闪烁体直接加工而成，这款P46荧光粉是欧洲进口的优质掺铈硅酸钇荧光粉,是广泛用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料,也常用于InGaN发光二极管。P46荧光粉又称YAG荧光粉，全称Y3Al5O12:Ce荧光粉或YAG:Ce荧光粉，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

P47荧光粉由Y2SiO5:Ce荧光粉闪烁体,掺铈硅酸钇闪烁体直接加工而成，这款Y2SiO5:Ce荧光粉,Y2SiO5:Ce荧光粉是欧洲进口的优质掺铈硅酸钇荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P47-Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

GOS荧光粉由GOS闪烁体或GOS陶瓷加工而成，这款GOS荧光粉是欧洲进口的优质Gd2O2S:Tb荧光粉和硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P43 – GOS荧光粉 Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

由于其激子波尔半径比Ⅱ-Ⅵ族的大，量子限域效应明显，消光系数大，发射光谱频率覆盖整个可见光范围，并延伸至近红外区域，尤其是不含有重金属元素，InP量子点在平板显示背光源、照明、生物医学标记、指纹识别，以及太阳能领域具有广泛的应用。应用独特专有技术合成的InP/ZnS量子点具有稳定性好，荧光发射峰范围广，发光效率高，波长可调等诸多优异特性。发射峰：500-800 nm半峰宽：量子产率：60%表面基团：十八胺（或客户指定配体）溶剂：甲苯（或客户指定溶剂）我们可根据客户需求，提供不同表面基团、溶剂、浓度、500-750nm间任一发射波长的HMF_InP/ZnS量子点。由于此款产品为定制款，标价为参考价，具体价格请联系在线客服发射峰 & 吸收峰TEM测试图

硫氧化钆荧光粉由硫氧化钆荧光粉闪烁体直接加工而成，这款硫氧化钆荧光粉,Gd2O2S:Tb荧光粉是欧洲进口的优质硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P43 –Gd2O2S:Tb荧光粉是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

Gd2O2S:Tb荧光粉由Gd2O2S:Tb闪烁体直接加工而成，这款Gd2O2S:Tb荧光粉是欧洲进口的优质硫氧化钆荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P43 –Gd2O2S:Tb荧光粉是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

Y2SiO5:Ce荧光粉由Y2SiO5:Ce闪烁体或Y2SiO5:Ce荧光体,掺铈硅酸钇闪烁体直接加工而成，这款Y2SiO5:Ce荧光粉,Y2SiO5:Ce荧光粉是欧洲进口的优质掺铈硅酸钇荧光粉,是广泛用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 P47-Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉，这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀，在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如，这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。YAG:Ce荧光粉颗粒规格： 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻，也可覆盖钝化层，防止背景增加。其它荧光粉P43 – GOS，P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料，具有较高的原子量，发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3P46 – YAG，全称YAG – Y3Al5O12:Ce，是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

COL准直镜系列版本：Version 1.0 1. 产品简介COL-UV-10是配套光纤用于准直和聚焦的光谱采样附件（简易透射测量，量子荧光）；适用于200-2500nm光谱范围。COL-UV-10采用焦距为10mm，直径6.3mm的石英透镜。光束经过透镜后(通过芯径为600um, N.A=0.22的光纤)，发散角度小于2°(取决于光纤的芯径)。螺纹3/8-24UNF； COL90-UV-10是光谱测量应用常规配件，主要用于配合光纤实现光束准直和聚焦，焦距10mm，通光口径5mm；光谱范围200-2500nm。COL90-UV-10内部放置45°分束镜片，可将分束光转置90°输出 2. 产品外观准直镜COL-UV-10直角准直镜COL90-UV-10 3. 规格参数型号COL-UV-10COL90-UV-10透镜直径6.3mm6.3mm有效通光口径6mm5mm透镜焦距10 mm透镜材料紫外级熔石英波长范围200-2500nm发散角度＜2°（@600μm, N.A=0.22光纤为例）光纤接头SMA 905, UNS 1/4"(标准配置)，接头位置可调反射镜反射率无90% (200-1100nm)外壳材料发黑氧化铝螺纹UNF 3/8"-24无工作温度范围-30℃ to 100℃ (-HT 版本 200℃) 5. 产品特点? 优化的设计可确保光纤在每个接触器件上获得相同的位置；? 良好的黑色涂层可以有效的减少杂散光；? 优化的光学设计，最高输出窗口直径达到6mm；? SMA接口? 良好的石英透镜。 6. 有效通光谱图

GATTA-SIM NANORULER来自德国GATTA-SIM系列Nanorulers（纳米尺）是检查您的SIM系统（单分子定位超分辨显微镜）分辨率的完美样本。单色纳米尺子携带两个由高量子产率染料分子密集排列而成的荧光标记。此外，我们提供了一种新的设计，包含两个不同的荧光团三个发光点，允许获取非常引人注目的图像。单色GATTA-SIM纳米尺120纳米-120nm尺寸只有蓝色可供选择140纳米-黄色和蓝色160纳米-颜色为红色(ATTO 647N)，黄色(Alexa Fluor568)或蓝色(Alexa Fluor488)多色纳米尺有三个发射点，尺寸：140纳米(Alexa Fluor 568 & Alexa Fluor 488)160纳米(ATTO 647N & Alexa Fluor 568或ATTO 647N & Alexa Fluor 488)我们还可以根据您的要求设计特殊的解决方案。所有纳米样品都将是GATTA-SIM超分辨率图像，在密封玻片上交付，您可以舒适地直接放在显微镜上。

光学性能对粒子尺寸的依赖性是量子点独特的和具吸引力的功能。例如，通过控制粒子的大小，CdSe量子点的发射光波长在整个可见光范围内连续可调。然而，二元素量子点，如CdSe量子点，有两个缺点。第一，其表面缺陷形成表面陷阱态，使发光效率和稳定性降低。通过在量子点表面包附ZnS，形成Core-shell结构可以降低面缺陷，但CdSe和ZnS晶格失配，在很大程度上影响其发光效率和光学稳定性。第二，量子点的消光系数同粒子的体积成正比例关系。标记6nm（红光）CdSe量子点的物质发射光强度是2nm（绿光）量子点的三十倍，这会引起检测灵敏度的差异。不同于二元素量子点，梯度合金CdSe量子点，在发光核和ZnS壳中加入三元合金过渡组分，因而带来了以下几个优点：1、通过调整合金元素组成控制其光学性能，制备体积一致但发光频率不同的量子点，从而降低由于应用不同颜色量子点引起的检测灵敏度上的差异；2、合金量子点晶格力度强，性能稳定；3、实现晶格的逐步过渡，有效降低量子点晶格缺陷造成的内部压力，从而使量子点具有较高的发光效率和稳定性。发射峰：460-650 nm半峰宽：量子产率：85 %表面基团：十八胺（或客户指定配体）溶剂：甲苯（或客户指定溶剂）我们可根据客户需求，提供不同表面基团、溶剂、浓度、500-650nm间任一发射波长的GA_CdSe /ZnS量子点。由于此款产品为定制款，标价为参考价，具体价格请联系在线客服发射峰 & 吸收峰TEM测试图

光学性能对粒子尺寸的依赖性是量子点独特的和最具吸引力的功能。例如，通过控制粒子的大小，CdSe量子点的发射光波长在整个可见光范围内连续可调。然而，二元素量子点，如CdSe量子点，有两个缺点。第一，其表面缺陷形成表面陷阱态，使发光效率和稳定性降低。通过在量子点表面包附ZnS，形成Core-shell结构可以降低面缺陷，但CdSe和ZnS晶格失配，在很大程度上影响其发光效率和光学稳定性。第二，量子点的消光系数同粒子的体积成正比例关系。标记6nm（红光）CdSe量子点的物质发射光强度是2nm（绿光）量子点的三十倍，这会引起检测灵敏度的差异。不同于二元素量子点，梯度合金CdS/ZnS量子点，在发光核和ZnS壳中加入三元合金过渡组分，因而带来了以下几个优点：1、通过调整合金元素组成控制其光学性能，制备体积一致但发光频率不同的量子点，从而降低由于应用不同颜色量子点引起的检测灵敏度上的差异；2、合金量子点晶格力度强，性能稳定；3、实现晶格的逐步过渡，有效降低量子点晶格缺陷造成的内部压力，从而使量子点具有较高的发光效率和稳定性。发射峰：400-460 nm半峰宽：量子产率：75%表面基团：十八胺（或客户指定配体）溶剂：甲苯（或客户指定溶剂）我们可根据客户需求，提供不同表面基团、溶剂、浓度、400-460nm间任一发射波长的GA_CdS/ZnS量子点。由于此款产品为定制款，标价为参考价，具体价格请联系在线客服发射峰 & 吸收峰TEM测试图

LED光电测量系统配件是一款进口的满足LED电光参数和性能测量的系统，它可以测量LED, OLED,激光等任何发光光源的光电参数和特性,可快速而准确地测量各种发光光源辐射，光度学，色度以及效率参数。为了测量各种光源，孚光精仪公司为LED光电测量系统配件提供各种类型的灯具，光采样选项和电探针附件。这种齐全的附件配备，使得这套LED光谱分析系统能够适合世界上任何商业标准封装或作为实验样品的各种发光器件的测量，使用积分球可以更为有效地收集光辐射，而不受光发射角的分布影响。其它光采样附件也可配置，以满足标准测量的要求，能够适应外部光源测量的需要，融入最好的输出功率等级和精度的测量工具，也可根据用户的要求提供定制系统，更可以根据用户已有的仪器提供定制服务。LED光电测量系统配件参数发射光谱 Emission Spectrum辐射通量 Radiant Flux (W)辐照度 Irradiance (W/cm2)亮度 Luminance (Cd/m2)色度坐标Chromaticity Coordinates（x,y)色纯度 Color Purity主波长 Dominant Wavelength峰值波长 Peak Wavelength发光效率Luminous Efficiency (Cd/A)外部量子效率 External Quantum EfficiencyLED光电测量系统配件软件*能够把所有重要参数测量结果展现到一个屏上，这个独具特色能够帮助用户更好地全面监测发光。×控制采集点血和光谱数据，精确控制测量样品的供电, (具有外部源仪表接口，用户能以所需电压或电流范围扫描测试）×集合所有电学和光谱参数，用户还能获得“外部量子效率”和“发光效率”之类的重要指标；*实时测量发光器件OLED测量系统配件规格组成：光谱仪，光纤，积分球，样品台，仪表，数据接口，软件光谱范围：200-850nm或 350-1000nm探测器：2048像素Si CCD阵列采光周期： 1毫秒--65秒光谱分辨率：1.5nm(FHWM)电压源 测量范围：±5μV - ±200V电流源测量范围：±10pA - ±1A电源要求：110/230VAC,系统尺寸：320x360x180mm系统重量：9.8kg

绿色荧光石墨烯量子点 Green GQDs制备方法：水热法组成：绿色荧光石墨烯量子点外观：无色溶液发光峰：530纳米粒度：6纳米浓度：1毫克/毫升（可高达20mg/ml）解决方法：水，含有少量DMF规格：100mlEmission Photos (1) of ACS Material Green Graphene Quantum Dots Excited by Natural Light (left) and UV Light (right)TEM Image (2) of ACS Material Green Graphene Quantum DotsSize Distribution (3) of ACS Material Green Graphene Quantum Dots

参数：制备方法：水热法组成：绿色荧光石墨烯量子点外观：无色溶液发光峰：530纳米粒度：6纳米浓度：1毫克/毫升（可高达20mg/ml）解决方法：水，含有少量DMFParameter:Preparation Method：Hydrothermal methodComposition：Green Graphene Quantum DotsAppearance：Colorless solutionPL peak：530 nmParticle Size：Concentration：1 mg/ml (available up to 20mg/ml)Solution：Water, containing a little DMF

GATTA-STED NANORULER作为第一种超分辨率显微镜技术，STED(受激辐射损耗技术）方法彻底改变了光学显微镜。有了GATTA-STED系列的纳米尺子，现在终于有了足够的校准探针。单色纳米尺子携带两个由高量子产率染料ATTO 647N密集排列而成的荧光标记。我们提供50纳米，70纳米，90纳米和120纳米尺寸的标记距离。此外，我们还提供了一种新的设计，包含两个不同荧光团的三个发射点，可以获得非常引人注目的图像。多色纳米尺有三个发射点，尺寸为140 nm (ATTO 647N和ATTO 594)。我们还可以根据您的要求设计特殊的解决方案。所有的纳米样品将在一个密封的玻璃载片上，你可以舒服地直接放在你的显微镜上。订购选单

Allsheng荧光定量分析试剂盒适用于不同浓度双链DNA、单链DNA的精确定量分析，其灵敏度、准确性显著高于传统的紫外吸光度检测，由于紫外吸收法定量DNA或RNA时，会不加区分地检测260nm的所有物质，包括DNA、RNA、降解核酸以及游离核苷酸。而荧光定量试剂盒中的荧光染料能专一性地结合单链DNA，荧光量子产率高，摩尔消光系数大，连接双链DNA后荧光值至少提高1000倍，有较好的灵敏度和特异性。 该试剂盒与本公司的Fluo-100荧光计配合使用，具有简便、快速、自动化程度高、精确定量等优点，能应用于合成引物浓度的检测、重组制品外源单链DNA残留检测等。订货信息：订货号产品描述RS-FL 0103-SAllsheng 高灵敏度 ssDNA 定量试剂盒 (100 assays)RS-FL 0103-MAllsheng 高灵敏度 ssDNA 定量试剂盒 (200 assays)RS-FL 0103-LAllsheng 高灵敏度 ssDNA 定量试剂盒 (1000 assays

X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统 X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统的独特设计专门用于测量荧光显微设备的光功率，具有绝佳的精准性和易用性。它以瓦特为单位显示数据，不仅可用于实验，还可以用于设备的安装和故障排除。该系统包括X-Cite® XP750传感器，外形小巧别致，专门设计用于显微镜载物台。它具有多种功能，可以对X-Cite® 照明器或其他任何落射荧光光源的输出功率进行测量。为了实现zui终的可重复性，X-Cite® XR2100会利用光导管输入端口或物体平面上的X-Cite® XP750光功率计获得的功率数据，来校准X-Cite® exacte照明器。功能和优势:功能优势X-Cite® XP750小巧的显微镜载玻片尺寸适合标准的显微镜压片夹，更方便的直接从物镜测光，无需移除或重新配置设备兼容灯泡，激光和 LED 光源不仅技术ling先，还能适配多种显微镜，更经济探测面积高达 – 10mm同时适用低倍和高倍物镜无聚焦要求快速精确测量宽广的波长和功率测量范围适合多样化的用途和显微镜配置根据NIST/NRC标准进行校对测量结果准确，深受用户信任* NIST指美国国家标准技术研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美国）全国科学研究委员会（National Research Council）***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。XP750规格规格内含物体平面功率传感器，配备电缆和连接器，适用于X-Cite® XR2100设备功率范围5μW-500mW测量分辨率0.01μW-1mW误差***±6%响应时间600ms（起始），3s（确保稳定显示）校准符合NRC** 标准波长范围320nm-750nm灯管类型/光源兼容性X-Cite® exacte，X-Cite® 120系列，汞/HBO，金属卤化物灯，氙灯，LED，激光物镜兼容性4X-63X，空气耦合，FOV直径小于10mm显示通过X-Cite® XR2100显示波长选择使用X-Cite® XR2100的上/下按钮或直接使用PC界面，以1nm为度量进行调节数据容量经X-Cite® XR2100PC控制查看/改变设置，确定波长，记录多个物镜的数据/滤光片/强度设置，下载/输出存储数据指令协议通过X-Cite® XR2100电源重量2.9oz (82g)尺寸（无盖）3″ x 1″ x 0.35″ (75mm x 25mm x 9mm)世界认证通过 X-Cite® XR2100质保一年X-Cite® 包含的技术受下列保护：US#6,437,861 US#7,335,901*NIST指美国国家标准技术研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美国）全国科学研究委员会（National Research Council）***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。

Allsheng荧光定量分析试剂盒适用于不同浓度双链DNA、单链DNA的精确定量分析，其灵敏度、准确性显著高于传统的紫外吸光度检测，由于紫外吸收法定量DNA或RNA时，会不加区分地检测260nm的所有物质，包括DNA、RNA、降解核酸以及游离核苷酸。而荧光定量试剂盒中的荧光染料能专一性地结合双链DNA，荧光量子产率高，摩尔消光系数大，连接双链DNA后荧光值至少提高1000倍，有较好的灵敏度和特异性。该试剂盒与本公司的Fluo-100、Fluo-200、Fluo-800荧光计配合使用，具有简便、快速、自动化程度高、精确定量等优点，能应用于重组制品外源DNA残留检测、药物残留DNA的检测以及游离DNA含量检测等。浓度检测范围：0.2ng—100ng（dsDNA）订货信息：订货号产品描述RS-FL 0101-SAllsheng 高灵敏度 dsDNA 定量试剂盒 (100 assays)RS-FL 0101-MAllsheng 高灵敏度 dsDNA 定量试剂盒 (200 assays)RS-FL 0101-LAllsheng 高灵敏度 dsDNA 定量试剂盒 (1000 assays)

1.产品简介SH-RAM-FS-V2 拉曼/荧光粉末样品测量支架是在SA-RAM-FFS的基础上改造，前端加装了石英窗口片。该探头专为固体粉末样品测量而设计，能有效防止探头被固体粉末污染，影响检测效果。每次使用后，样品请采用酒精和专用擦镜纸及时清洁窗口。2.产品外观3.产品参数规格SH-RAM-FS-V2尺寸Φ16×33mm材质铝合金颜色亚光发黑焦距7.5 mm（探头焦距）适配产品拉曼探头荧光探头用途专为固体粉末测量而设计；能有效防止探头被固体粉末污染，影响检测效果。4.产品展示