德尔塔差示扫描量热仪

仪器信息网德尔塔差示扫描量热仪专题为您提供2024年最新德尔塔差示扫描量热仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括德尔塔差示扫描量热仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的德尔塔差示扫描量热仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合德尔塔差示扫描量热仪相关的耗材配件、试剂标物,还有德尔塔差示扫描量热仪相关的最新资讯、资料,以及德尔塔差示扫描量热仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

德尔塔差示扫描量热仪相关的厂商

  • 上海埃提森仪器科技有限公司,为德国sinmo公司在中国设立的,专门从事研发、生产、检测、销售、技术服务、技术咨询等仪器设备的综合服务机构。德国sinmo公司专业从于自动化仪器设备的生产与贸易。2016年在中国成立莘默(上海)自动化设备有限公司。随后设立我司。企业总部位于德国。“埃提森仪器科技”目前集中致力于对高端检测类仪器设备的研发生产和技术服务,立志成为中国领先的高端检测类仪器生产商和服务商。 “埃提森”使合作伙伴对设备的选择更便捷,使用更高效,竞争更有优势。 “埃提森”为伙伴提供了强大的售前和售后的服务,以及精准与细微的技术培训服务。 诚信为本,精益求精,追求卓越,矢志创新!是“埃提森”的奋斗目标!是全体员工对所有业务合作朋友的承诺! 我司已取得各类检测设备的多项专利。 差示扫描量热仪专利 热重分析仪专利 导热系数测定仪专利公司产品热分析类产品差示扫描量热仪、导热系数测定仪、介电常数测试仪、氧化诱导期分析仪、热重分析仪TGA、同步热分析仪STA、全自动熔点仪、炭黑分散度测试仪、炭黑含量测试仪、便携式灰分含量测试仪等燃烧类产品 水平垂直燃烧测试仪、灼热丝试验机、针焰试验机、多工位漏电起痕试验机、建材及制品单体燃烧设备、数显氧指数测定仪、建材不燃性试验炉等LED检测类产品ALP-01照明护照Pro等
    留言咨询
  • 南京大展检测仪器有限公司位于南京市江宁区百家湖科技产业园,是集科研、生产、销售于一体的高新技术型企业,专业从事差示扫描量热仪dsc、热重分析仪、同步热分析仪、差热分析仪、炭黑含量测试仪、炭黑分散度检测仪、导热仪和介电常数测试仪、热失重分析仪、高温差示扫描量热仪等仪器的研发、制造,产品广泛应用于电力、煤炭、造纸、石化、农牧、医药科研、教学等领域,在众多用户中享有很好的口碑。 南京大展检测仪器是热分析仪器生产厂家,用于dsc差示扫描量热仪、tga热重分析仪、综合热分析仪和导热系数测试仪等仪器的研发和生产,并且有专业的研发、生产、技术和营销团队,我们可提供样品测试、上门调试、售后维修等服务,并且产品2年质保期,可送货上门,期待您的来点咨询。
    留言咨询
  • 400-860-5168转4573
    耐优(上海)电子科技有限公司创建于2015年,注册资金580W人民币,是环境模拟试设备、热分析仪制设备造生产商。公司集研发、生产、销售和服务四位一体,提供材料检测、结构试验和成品试验的科学试验仪器和解决方案。公司品牌NETZYU/耐优公司产品环境类仪器主要生产高低温试验箱、恒温恒湿试验箱、盐雾试验箱、步入式恒温恒湿试验箱、干燥箱系列、紫外光耐气候试验箱、快速温变试验箱、冷热冲击试验箱、热真空试验舱等用于各种材料耐热、耐寒、耐干、耐湿性能。适合电子、电器、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。热分析仪仪器差示扫描量热仪DSC、导热系数测定仪、氧化诱导期分析仪、热重分析仪TGA、同步热分析仪STA、炭黑含量测试仪光学检测仪照明护照Pro系列
    留言咨询

德尔塔差示扫描量热仪相关的仪器

  • 到梅特勒托利多公司官网详细了解 Flash DSC 2+闪速差示扫描量热仪Flash DSC 2+ 是完全创新型的超高速扫描量热仪(中文名称为闪速DSC),是对传统 DSC 的完美补充,是目前世界上扫描速率最快的商品化DSC扫描量热仪,升温速率达到2,400,000K/min,降温速率达到240,000K/min。该仪器能分析之前无法测量的结构重组过程。极快的降温速率可制备明确定义的结构性能的材料,例如在注塑过程中快速冷却时出现的结构;极快的升温速率可缩短测量时间从而防止结构改变。Flash DSC扫描量热仪也是研究结晶过程动力学的理想工具,不同的降温速率的应用可影响试样的结晶行为和结构。Flash DSC2+扫描量热仪的心脏是基于MEMS(Micro-Electro-Mechanical Systems微机电系统)技术的芯片传感器(UFS1)。MEMS芯片传感器安置于稳固的有电路连接端口的陶瓷基座上。全量程UFS1传感器有16对热电偶,试样面和参比面各8对。Flash DSC扫描量热仪基于功率补偿测试原理,专利注册的动态功率补偿电路可使超高升降温速率下的测试噪声最小化。传感器的试样和参比面各有热阻加热块,一起生成需要的温度程序。加热块由动态功率补偿控制。热流由排列于样品面和参比面的热电偶测量。 Flash DSC 2+扫描量热仪为快速扫描 DSC 带来了变化。 该仪器可分析以前无法测量的结构重组过程。 Flash DSC 2+ 扫描量热仪是对传统 DSC 的完美补充。 现在,升温速率范围已超过 7 个数量级。它的升温与降温速率极高,为研究热物理转变(如聚合物的结晶与结构重组)和化学过程提供全新的视角。超高降温速率 &mdash 可以制备特定结构的的材料超高升温速率 缩短测量时间、抑制重排过程温度范围宽 可在 -95 至 1000℃ 的范围内测量 扫描量热仪技术参数:温度范围: -95~1000℃升温速率:30~2,400,000℃/min降温速率:6~240,000℃/min最大热流信号: 20mW热流信号噪声: 0. 5&mu W扫描量热仪主要特点:极快的降温速率&ndash 可制备明确定义的结构性能的材料超高的升温速率&ndash 缩短测量时间、防止结构改变极速响应的传感器&ndash 可研究极快反应或结晶过程的动力学超高灵敏度&ndash 可使用低升温速率,测量范围与常规DSC交迭温度范围宽&ndash &ndash 95至450 ° C友好的人体工程学设计和功能&ndash 试样制备快速、容易扫描量热仪应用领域:聚合物等物质的结构形成过程的详细分析、测量快速结晶过程、测定快速反应的反应动力学、研究接近生产条件下的添加剂机理等。扫描量热仪主要型号:Flash DSC 2+到梅特勒托利多公司官网详细了解 Flash DSC 2+闪速差示扫描量热仪查看更多信息 咨询电话:4008-878-788
    留言咨询
  • 我们的DSC(差示扫描量热仪)被广泛用于材料表征。 例如熔点,玻璃化转变,结晶。 DSC600被广泛用于包括聚合物,制药,化学,石油和天然气,食品和金属等行业的质量控制和研发。 日立的DSC具有世界一流的灵敏度和基线平坦度,从而提供更精确的试验,并能评价最微小的反应。我们提供一系列解决方案,从涵盖各种应用的DSC200到旨在满足最先进的DSC应用(尤其是应用研究领域)的DSC600。概览特点高灵敏度和卓越的传感器技术具有独特熔炉设计的世界级基线性能Real View;在屏幕上实时显示材料特性的摄像机系统安装后期可灵活添加选项卓越的软件,直观易用,但在需要时可具备更先进的功能可靠的自动取样器试验,自动分析功能可实现更快操作优点直观的软件和自动取样器使分析仪易于使用且时间效率高可靠和强大的系统带来成本效益能够评价最微小的反应,以提高准确度凭借独特的摄像机系统,即使是非专家用户也可轻松创建报告RealView 试样实时观察系统我们创新的RealView试样实时观察系统使您可以实时查看样品中的变化。收集的图像与精确的温度和时间测量数据链接,这些数据可保存让您随时查看。 在研究新材料、进行故障排除或了解意外情况时,实时查看样品发生的情况非常宝贵。日立新款DSC系列差示扫描热量计信息由日立分析仪器(上海)有限公司为您提供,如您想了解更多关于日立新款DSC系列差示扫描热量计报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
    留言咨询
  • 法国塞塔拉姆-全新差式扫描量热仪- SetlineDSC2019年,业界热分析品牌-法国塞塔拉姆正式发布旗下全新差式扫描量热仪- SetlineDSC!作为法国凯璞科技集团全球战略的重要组成部分, SetlineDSC系列产品定位于高精度、通用型实验室仪器,落户中国生产并在全球上市。全新Setline平台倾注了中、法、瑞研发团队共同心血,新一代通用型差式扫描量热仪(DSC)开创了高端热分析仪国产化新纪元!欧洲研发、全球采购,本土生产的全球化协作方式将为用户带来前所未有的性能卓越的产品,灵活定制的服务与全方位售前售后服务体验。SetlineDSC独特的技术设计满足高频率、高强度实验环境(特别适用于高校教学实验中心、橡塑化工企业技术研发与质量检验领域),具有易学耐用、操作简单、温度应用范围广阔和低维护成本等显著特点。SetlineDSC能出色地在聚合物、制药合成、食品、塑料、橡胶、涂料等行业领域进行研究测试、质量监控和失效分析。广泛应用于测定各种材料的相变反应热、玻璃化转变温度、反应动力学、定量热焓、熔点、材料氧化稳定性(氧化诱导期)、固化、结晶度、纯度、材料鉴别等特性。
    留言咨询

德尔塔差示扫描量热仪相关的资讯

  • 差示扫描量热仪的扩展
    p   差示扫描量热仪除常规的热通量式DSC和功率补偿式DSC外,还有数种特殊的应用形式。 /p p strong 超快速差示扫描量热仪 /strong /p p   超快速DSC是最新发展起来的创新型快速差示扫描量热仪,采用动态功率补偿电路,属于功率补偿式DSC的一类。 /p p   瑞士梅特勒-托利多公司于2010年9月推出了世界上首款商品化超快速差示扫描量热仪Flash DSC(中文名称:闪速DSC)。升温速率可达到2400000K/min,降温速率可达到240000K/min。 /p p   闪速DSC的心脏是基于微机电系统(micro electro mechanical systems-MEMS)技术的芯片传感器,传感器置于有电路连接端口的陶瓷基座上。如图所示为闪速DSC芯片传感器和测量原理示意图。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201808/insimg/b5b7573d-a532-4a86-95d9-b7ec0e2ba93d.jpg" title=" 闪速DSC芯片传感器和测量原理示意图.jpg" width=" 400" height=" 325" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 400px height: 325px " / /p p style=" text-align: center " strong 闪速DSC芯片传感器和测量原理示意图 /strong /p p style=" text-align: center " 1.陶瓷板 2.硅支架 3.金属连线 4.电阻加热块 5.铝薄涂层 6.热电偶 /p p   试样面和参比面各有电阻加热块,加热块由动态功率补偿控制。补偿功率即热流由排列于样品面和参比面的各8对热电偶测量。热电偶呈星形对称排列,可获得平坦和重复性好的基线。样品面和参比面由涂有铝薄涂层的氮化硅和二氧化硅制成,可保证传感器上的温度分布均匀。传感器面厚约2.1μm,时间常数约为1ms,可保证快速升降温速率下的高分辨率。 /p p   在常规DSC中,为了保护传感器,将试样放在坩埚内测试,坩埚的热容和导热性对测量有显著影响。典型的试样质量为10mg。在闪速DSC中,试样直接放在丢弃型芯片传感器上进行测试。试样量一般为几十纳克(ng)。由于试样量极小,必须借助显微镜制备试样。 /p p   闪速DSC能分析之前无法测量的结构重组过程。极快的降温速率可制备明确定义的结构性能的材料,如在注塑过程中快速冷却时出现的结构 极快的升温速率可缩短测量时间从而防止结构改变。不同的降温速率可影响试样的结晶行为和结构,因此闪速DSC是研究结晶动力学的很好工具。闪速DSC在其升、降温低速段可与常规DSC交叠,如闪速DSC的最低升温速率为30K/min、最低降温速率为6K/min。因此,闪速DSC与常规DSC可互为补充,达到极宽的扫描速率范围。 /p p strong 高压差示扫描量热仪 /strong /p p   将DSC炉体集成于压力容器内,可制成高压差示扫描量热仪。高压DSC一般有3个气体接口,各由一个阀门来控制:快速进气口用来增压 炉腔吹扫气体入口用于进行测试过程中的气流控制 气体出口用于进行压力控制。测试炉内的实际压力由压力表显示。通过压力和气体流量控制器,可实现静态和动态程序气氛下的精确压力控制。 /p p   加压将影响试样所有伴随发生体积改变的物理变化和化学反应。在材料测试、工艺过程开发或质量控制中,经常需要在压力下进行DSC测试。高压DSC仪器扩展了热分析的应用。 /p p   压力下进行DSC测试可缩短分析时间,较高压力和温度将加速反应进程 可模拟实际反应环境,在工艺条件下测试 可抑制或延迟蒸发,将蒸发效应与其他重叠的物理效应及化学反应分开,从而改进对重叠效应的分析和解释 可提高气氛的浓度,加速与气体的多相反应速率 可在特定气氛下测量,如氧化、无氧条件或含有毒或可燃气体(如氢气) 可通过不同压力下的实验,更精确地测试吸附和解吸附行为。 /p p strong 光量热差示扫描量热仪 /strong /p p   光量热组件与DSC结合,可生成DSC光量热仪,测量材料在不同温度下用一定波长的光照射引发固化反应所产生的焓变。主要应用于材料的光固化领域,测试光引发的反应。可用于研究各种光敏材料的光效应,如光活性固化过程、光引发反应以及紫外线稳定剂影响、加速测试或老化研究中聚合物稳定性的光强度效应。 /p p   如图所示为光量热DSC仪光学部分的示意图。光源一般为紫外线,也可为其他光源,如可见光。通过遮光器的开闭来控制光照时间,光强度由光源控制。光由光纤透过石英炉片(用作炉盖)照射到试样和参比坩埚上,由DSC传感器测量固化反应焓。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201808/insimg/2da48264-bd5e-4dc3-8c3f-1cea1d15ca90.jpg" title=" 光量热DSC系统的光学设计示意图.jpg" width=" 400" height=" 421" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 400px height: 421px " / /p p style=" text-align: center " strong 光量热DSC系统的光学设计示意图 /strong /p p strong 差示扫描量热仪显微镜系统 /strong /p p   DSC与装备有摄像技术的显微镜的结合可生成DSC显微镜系统,在DSC加热或冷却过程中可对试样进行光学观察,得到与DSC测试同步的图像信息。这种图像信息对于DSC测试到的现象作出精确的解释往往非常有用,而且显微镜能对极少或无焓变的过程摄录信息,达到极高的测试极限。 /p p   典型的应用有粘合剂或固体涂料的流延性测试,薄膜或纤维收缩的光学观察,药物或化学品从溶液结晶、热致变色、汽化、升华及安全性研究,食物脂肪和食用油的氧化稳定性、与活性气体的反应,等等。 /p p strong 温度调制式差示扫描量热法 /strong /p p   DSC的传统温度程序是以恒定的速率将试样升温或降温。温度调制式差示扫描量热法的升温速率以更复杂的方式变化,是在线性温度程序上叠加一个很小的调制温度。 /p p   典型的温度调制式DSC方法有等温步阶扫描法、调制DSC法和随机调制DSC法3种。 /p p   等温步阶扫描法的温度程序由一系列等温周期步阶组成。调制DSC方法的温度程序为在线性温度变化上叠加一个周期性变化(通常为正弦)的调制,也可叠加其他调制函数(如锯齿形)。随机调制DSC为最先进的温度调制式技术,它的温度程序是在基础线性升温速率上叠加脉冲形式的随机温度变化。 /p p   温度调制技术的优势在于可将热流分离为两个分量,一个对应于试样的比热容,另一个对应于所谓的动力学过程,如化学反应、结晶过程或蒸发过程等。 /p
  • 美国TA仪器推出多样品Discovery X3差示扫描量热仪
    p   近期,美国TA仪器公司推出了新款差示扫描量热仪——Discovery X3 DSC。这款革命性的多样品X3 DSC采用了专利的Fusion Cell& #8482 技术还有Tzero& #8482 技术,能够提供业界领先的、多达3个样品的测试。& nbsp /p p style=" text-align: center " img width=" 400" height=" 401" title=" X3 DSC.png" style=" width: 400px height: 401px max-height: 100% max-width: 100% " alt=" X3 DSC.png" src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/3c78a65d-cf13-433d-97eb-da0cbb7c5030.jpg" border=" 0" vspace=" 0" / /p p   许多行业对高性能材料的需求都在迅速增长。新材料需要大量的测试,这些测试大大延长了开发和验证的时间。传统的dsc仅限于在实验过程中分析单个样品,根据测试条件的不同,可能需要几分钟到几个小时。 /p p   用于确定材料性能或探索材料稳定性和相容性的温度调制DSC(MDSC)实验通常需要数小时才能获得结果。& nbsp /p p   新的Discovery X3差示扫描量热仪(DSC)经过独特的设计,除去了多个测试步骤,其产生的实验数据量是标准DSC的三倍,有效地将三个仪器合并为一个。Fusion Cell& #8482 技术的基线质量和灵敏度使研究人员能够在完全相同的测试条件下平行比较各种配方或对比材料。它对于科学家而言,是最功能多样,最高吞吐量的DSC。使用X3 DSC多样品池,在测量有价值的药物样品的同时进行仪器校准的内部验证也是可行的。 /p p   TA仪器的创新不仅仅在于硬件,为更好适配X3 DSC,还引入了TRIOS& #8482 软件功能和批处理。TRIOS中的批处理很容易处理大型数据集的分析、报告和控制图表。 /p p br/ /p
  • 差示扫描量热仪原理简介
    p   差示扫描量热法是在程序控温和一定气氛下,测量流入流出试样和参比物的热流或输给试样和参比物的加热功率与温度或时间关系的一种技术,使用这种技术测量的仪器就是差示扫描量热仪(Differential scanning calorimeter-DSC)。 /p p   扫描是指试样经历程序设定的温度过程。以一个在测试温度或时间范围内无任何热效应的惰性物质为参比,将试样的热流与参比比较而测定出其热行为,这就是差示的含义。测量试样与参比物的热流(或功率)差变化,比只测定试样的绝对热流变化要精确的多。 /p p   差热分析法是测量试样在程序控温下与惰性参比物温差变化的技术,使用这种技术测量的仪器就是差热分析仪(Differential thermal analyzer-DTA)。DTA是将试样和参比物线性升温或降温,以试样与参比间的温差为测试信号。DTA曲线表示试样与参比的温差或热电压差与试样温度的关系。 /p p   现在,DTA主要用于热重分析仪(TGA)等的同步测量,市场上已难觅单独的DTA仪器。 /p p   DSC主要有两类:热通量式DSC和功率补偿式DSC。 /p p span style=" color: rgb(255, 0, 0) " strong 热通量式DSC /strong /span /p p   热通量式DSC是在程序控温和一定气氛下,测量与试样和参比物温差相关的热流与温度或时间关系的一种技术和仪器。热通量式DSC是通过试样与参比物的温差测量流入和流出试样的热流量。 /p p   热通量式DSC的测量单元根据所采用的传感器的不同而有所区别。 /p p   如下图所示为瑞士梅特勒-托利多公司采用金/金-钯热电偶堆传感器设计的DSC测量单元示意图。传感器下凹的试样面和参比面分别放置试样坩埚和参比坩埚(一般为空坩埚)。热电偶以星形方式排列,以串联方式连接,在坩埚位置下测量试样与参比的温差。试样面和参比面的热电偶分布完全对称。几十至上百对金/金-钯热电偶串联连接,可产生更高的测量灵敏度。传感器的下凹面提供必要的热阻,而坩埚下的热容量低,可获得较小的信号时间常数。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/f02e8309-d24c-4db9-9b02-ba4b239805a5.jpg" title=" 金_金-钯热电偶堆传感器热通量式DSC测量单元截面示意图.jpg" width=" 400" height=" 345" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 400px height: 345px " / /p p style=" text-align: center " strong 金/金-钯热电偶堆传感器热通量式DSC测量单元截面示意图 /strong /p p   如下图所示为美国Waters公司采用的康铜传感器设计的DSC测量单元示意图。康铜是一种铜-镍合金(55%Cu-45%Ni)。康铜与铜、铁、镍/铬等组成热电偶时,灵敏度较高(μV/K较大)。与贵金属铂、金/金-钯等相比,康铜耐化学腐蚀性较差。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/be5eca73-9eb5-41bf-83a6-dd1c6a5325a1.jpg" title=" 康铜传感器热通量式DSC测试单元示意图.jpg" width=" 400" height=" 255" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 400px height: 255px " / /p p style=" text-align: center " strong 康铜传感器热通量式DSC测试单元示意图 /strong /p p   传感器上凸的试样面和参比面分别放置试样坩埚和参比坩埚(一般为空坩埚)。两对热电偶分别测量试样温度和参比温度,测得温差。 /p p   热通量式DSC的炉体一般都由纯银制造,加热体为电热板或电热丝。可选择不同的冷却方式(自然或空气、机械式或液氮冷却等)。 /p p   热通量式DSC热流的测量 /p p   以金/金-钯热电偶堆传感器设计的DSC为例,热流Φ以辐射状流过传感器的热阻 热阻以环状分布于两个坩埚位置下面。热阻间的温差由辐射状排列的热电偶测量。根据欧姆定律,可得到试样面的热流Φ1(由流到试样坩埚和试样的热流组成)为 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/13d50f86-2166-44cc-93f7-4a0dfc48a0e2.jpg" title=" DSC-1.jpg" / /p p 式中,T sub s /sub 和T sub c /sub 分别为试样温度和炉体温度 R sub th /sub 为热阻。 /p p   同样可得到参比面的热流Φr(流到参比空坩埚的热流)为 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/66a68742-b966-4f01-80ea-6940d21e12f9.jpg" title=" DSC-2.jpg" / /p p 式中,T sub r /sub 为参比温度。 /p p   DSC信号Φ即样品热流等于两个热流之差: /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/8b903427-9007-493f-8229-23065fe62ac7.jpg" title=" DSC-3.jpg" / /p p   由于温差由热电偶测量,因此仍需定义热电偶灵敏度的方程S=V/ΔT。式中,V为热电压。于是得到 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/54c0c2b1-c913-449b-84db-541255ac821e.jpg" title=" DSC-4.jpg" / /p p 式中,热电压V为传感器信号 R sub th /sub S的乘积称为传感器的量热灵敏度 R sub th /sub 和S与温度有关 令R sub th /sub S为E,E与温度的关系可用数学模型描述。 /p p   在DSC曲线上,热流的单位为瓦/克(W/g)=焦耳/(秒· 克)[J/(s· g)],以峰面积为例,热流对时间(s)的积分等于试样的焓变ΔH,单位为焦耳/克(J/g)。 /p p   热通量式DSC试样温度的测量 /p p   炉体温度T sub c /sub 用Pt100传感器测量。Pt100基本上是由铂金丝制作的电阻。 /p p   DSC测试所选择的的升温速率基于参比温度而不是试样温度,因为试样可能发生升温速率无法控制的一级相变。 /p p   与热阻有关的温差ΔT对于热流从炉体流到参比坩埚是必需的。该温差通常是通过升高与ΔT等值的炉体温度实现的。炉体温度T sub c /sub 与参比温度T sub r /sub 的时间差等于时间常数τ sub lag /sub ,与升温速率无关。 /p p   在动态程序段中,计算得到的温度升高ΔT加在炉体温度设定值上,因而参比温度完全遵循温度程序。 /p p   严格来说,试样内的温度与测得的试样坩埚的温度存在微小差别。通过在软件中正确选择热电偶的灵敏度,可补偿该差别。 /p p   采用康铜传感器设计的DSC仪器,试样坩埚温度由热电偶直接测量。也需要通过软件中正确选择热电偶的灵敏度,通过修正来获得试样内的温度。 /p p span style=" color: rgb(255, 0, 0) " strong 功率补偿式DSC /strong /span /p p   功率补偿式DSC是在程序控温和一定气氛下,保持试样与参比物的温差不变,测量输给试样和参比物的功率(热流)与温度或时间关系的一种技术。与热通量(热流)式DSC采用单独炉体不同,功率补偿式DSC以两个独立炉体分别对试样和参比物进行加热,并各有独立的传感装置。炉体材料一般为铂铱合金,温度传感器为铂热电偶。 /p p   如下图所示为美国珀金埃尔默公司功率补偿式DSC测量单元的示意图。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/c459d34d-d427-453c-acdf-3a462e04e3e4.jpg" title=" 功率补偿式DSC测量单元示意图.jpg" width=" 400" height=" 263" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 400px height: 263px " / /p p style=" text-align: center " strong 功率补偿式DSC测量单元示意图 /strong /p p   由于采用两个小炉体,与热通量式DSC相比,功率补偿式DSC可达到更高的升降温速率。 /p p   功率补偿式DSC对两个炉体的对称性要求很高。在使用过程中,由于试样始终只放在试样炉中,两个炉体的内部环境会随时间而改变,因此容易发生DSC基线漂移。 /p p   功率补偿式DSC热流的测量 /p p   功率补偿式DSC仪器有两个控制电路,测量时,一个控制升降温,另一个用于补偿由于试样热效应引起的试样与参比物的温差变化。当试样发生放热或吸热效应时,电热丝将针对其中一个炉体施加功率以补偿试样中发生的能量变化,保持试样与参比物的温差不变。DSC直接测定补偿功率ΔW,即流入或流出试样的热流,无需通过热流方程式换算。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/4b2384fe-4770-4f1b-af33-e5d731956a4c.jpg" title=" DSC-5.jpg" / /p p 式中,Q sub S /sub 为输给试样的热量 Q sub R /sub 为输给参比物的热量 dH/dt为单位时间的焓变,即热流,单位为J/s。 /p p   由于试样加热器的电阻RS与参比物加热器的电阻R sub R /sub 相等,即R sub S /sub =R sub R /sub ,因此当试样不发生热效应时, /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/13c863c9-be1e-4808-942f-e0765844b444.jpg" title=" DSC-6.jpg" / /p p 式中,I sub S /sub 和I sub R /sub 分别为试样加热器和参比加热器的电流。 /p p   如果试样发生热效应,则输给试样的补偿功率为 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/1fa7ba2d-3a0b-4911-a86b-801d2336f395.jpg" title=" DSC-7.jpg" / /p p 设R sub S /sub =R sub R /sub =R,得到 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/83f06029-71c9-4e13-bf3e-d2c6b64eed1a.jpg" title=" DSC-8.jpg" / /p p 因总电流I sub T /sub =I sub S /sub +I sub R /sub ,所以 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/35825b17-b30d-4aa7-9bc8-a8a1ae877397.jpg" title=" DSC-9.jpg" / /p p 式中,ΔV为两个炉体加热器的电压差。 /p p   如果总电流I sub T /sub 不变,则补偿功率即热流ΔW与ΔV成正比。 /p p br/ /p p style=" text-align: center " span style=" color: rgb(255, 0, 0) " strong DSC仪器性能评价的重要参数 /strong /span /p p strong DSC仪器的灵敏度和噪声 /strong /p p   每个传感器都具有一定的灵敏度。灵敏度是指单位测量值的电信号大小,用每度热电压(V/K)表示。例如,室温时的铜-康铜热电偶的灵敏度约为42μV/K,金-金钯热电偶约为9μV/K,铂-铂铑(10%铑,S型)热电偶约为6.4μV/K。 /p p   信号的噪声比灵敏度更加重要,因为现代电子装置能将极其微弱的信号放大,但同时也会将噪声放大。噪声主要有三个来源:量的实际随机波动(如温度的微小波动) 传感器产生的噪声(统计测量误差) 放大器和模-数转换器的噪声。 /p p   噪声与叠加在信号上的不同频率的交流电压相一致。因此,对于交流电压,噪声可用均方根值(rms)或峰-峰值(pp)表示。rms值得计算式为 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/8355adf9-cd1e-46b0-9538-67ac7bd524e4.jpg" title=" DSC-10.jpg" / /p p 式中,n为信号值个数 x sub i /sub 为单个信号值 x为平均信号值。 /p p   对于正弦振动,pp/rms比为2 (2.83左右) 对于随机噪声,比值为4~5。 /p p   灵敏度与检测极限是不同的。检测极限(常误称为“灵敏度”)指可检出的测试信号的最小变化量。检测极限比背景噪声明显要大,如10倍与rms值(或pp值的2倍)。信号和噪声水平决定最终的检测极限。 /p p   值得指出的是,通过数学光滑方法可容易地获得低噪声水平,但这样会同时“修剪”掉微弱却真实的试样效应,所以噪声水平低并不一定表示灵敏度高。 /p p   TAWN灵敏度最初是由荷兰热分析学会提出的方法,用来比较不同的DSC仪器。TAWN灵敏度测试法测量一个已知弱效应的试样,用峰高除以峰至峰噪声得到的信/噪比来表征DSC仪器的灵敏度。峰高/噪声的比值越高,DSC仪器的灵敏度越好。 /p p strong DSC仪器的分辨率与时间常数 /strong /p p   在很小温度区间内发生的物理转变的分辨率(分离能力)是DSC仪器的重要性能特征。分辨率好的仪器给出高而窄的熔融峰,换言之,峰宽应小而峰高应大。 /p p   分辨率的表征方法有多种,常用的有铟熔融峰峰高与峰宽比、TAWN分辨率和信号时间常数等。 /p p   由铟熔融峰测定的分辨率=峰高/半峰宽,数值越高表明分辨率越好。TAWN分辨率为基线至两峰之间DSC曲线的最短距离与小峰高度之比,数值越低表明分辨率越好。信号时间常数τ定义为从峰顶降到后基线的1/e,即降63.2%的时间间隔。信号时间常数τ是热阻R sub th /sub 与试样、坩埚和坩埚下传感器部分的热容之和(C)的乘积,τ=R sub th /sub C。显然,较轻的铝坩埚可得到较小的信号时间常数。信号时间常数越小,DSC分辨率越好。 /p

德尔塔差示扫描量热仪相关的方案

德尔塔差示扫描量热仪相关的资料

德尔塔差示扫描量热仪相关的试剂

德尔塔差示扫描量热仪相关的论坛

  • 转让美国TA差示扫描量热仪

    美国TA差示扫描量热仪(18年)基本未用,16万标价为实价,还价勿扰. 上门自提,新机30多万,现在省一半不止,注意??此价不含税DISCOVERY DSC25+RCS40[b]【仪器名称】:[/b][font=&][color=#ff0000][/color][/font]美国TA差示扫描量热仪DISCOVERY DSC25+RCS40[font=&][/font][b]【新旧程度】:[/b][font=&](18年)基本未用[/font][b]【价格范围】:16万标价为实价,还价勿扰,新机30多万,现在省一半不止【质保期限】:【交易地点】:上门自提【联 系 人】:李生【联系方式】:[/b][font=&]15557081199[/font][b]【信息有效性】:[/b][font=&](该条信息有效期)[/font]感兴趣的话点“我想要”和我私聊吧[img=,690,920]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/01/202101022010277471_7656_2868603_3.png[/img][img=,690,518]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/01/202101022010279693_5947_2868603_3.png[/img][img=,690,518]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/01/202101022010283223_5029_2868603_3.png[/img][img=,690,920]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/01/202101022010284547_1941_2868603_3.png[/img][img=,690,518]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/01/202101022010287002_7482_2868603_3.png[/img]

  • 【讨论】生物高灵敏度差示扫描量热仪

    查阅了相关资料,生物差示扫描量热仪主要厂家及品牌,美国TA公司TAM系列,法国塞塔拉姆公司Micro DSC系列,美国GE公司的VP DSC系列,用于微量生物样品热分析,真不知道哪家的产品好,价格?还有没有其他品牌,请专家指点!

德尔塔差示扫描量热仪相关的耗材

  • DSC铝坩埚 热分析坩埚 DSC坩埚
    我公司专业生产DSC差示扫描量热仪、DTA差热分析仪、TGA热重分析仪,热分析仪专用的铝制、氧化铝、不锈钢、铂金样品盘和坩锅。适用于美国PE,美国TA,德国耐驰NETZSCH,瑞士梅特勒METTLER,法国塞塔拉姆SETARAM,日本岛津Shimadzu,日本精工SII,日本日立等,并提供来样来图加工定制,本公司是一家引进进口工艺、精心设计、精密加工生产的坩埚生产厂家,拥有国内外众多客户,赢得了广泛赞誉! 样品盘分类:氧化铝坩埚/皿:使用温度范围为-190℃~2000℃铝坩锅/皿:使用温度范围为-190℃~600℃白金样品盘/坩锅可以使用到-190℃~1700℃ 适用范围:固体、液体、粉末、纤维等各种样品,例如聚合物和药物、热塑性材料和热固性材料、涂料、火炸药等,有机材料/无机材料。
  • 微阵列芯片扫描仪配件
    微阵列芯片扫描仪配件专业为扫描基因芯片,蛋白质芯片等微阵列芯片而设计,是功能强大的高分辨率荧光扫描仪。适合所有微阵列芯片,如DNA芯片,蛋白质芯片和细胞和组织,并适用于各类型的应用研究,如基因表达,基因分型,aCGH,芯片分析片内,微RNA检测的SNP,蛋白质组学和微阵列的方式。微阵列芯片扫描仪配件是完全开放的系统,兼容任何标准的显微镜载玻片25x75mm(玻璃基板,塑料,透明和不透明),可以扫描生物芯片,有3 1.mu.m/像素的分辨率,同时保持高图像质量。能够同时扫描两个检测通道3.5分钟(10.mu.m/像素,最大扫描区域),InnoScan900是市场上最快的扫描器,扫描速率可调节,达10到35行每秒。 微阵列芯片扫描仪配件共焦扫描仪配备有两个光电倍增管(PMT),非常敏感,整个工作范围(0至100%)线性完美,允许用户简单地改变PMT,调整2种颜色的荧光信号。使用这种独特的动态自动聚焦系统,提供的是不敏感的基板的变形,整个扫描表面上完美,均匀。微阵列芯片扫描仪有出色光度测定性能,特别是在灵敏度和信噪比方面。 微阵列芯片扫描仪有一系列可满足您的应用程序,四扫描器(710,710 U,900 U和900)。该Innoscan® 900和900AL系列(磁带自动加载机)是专为现在和未来的高密度微阵列发展。
  • Jenoptik JENar&trade F-Theta 扫描透镜
    &bull 高精度材料加工和激光扫描应用的理想选择&bull 高达 320mm x 320mm 的大扫描场&bull 从 53mm 到 420mm 的宽焦距范围&bull Jenoptik JENar&trade Silverline&trade F-Theta 扫描透镜也可用通用规格安装螺纹:M85 x 1生产商:Jenoptik产品介绍Jenoptik JENar&trade F-Theta 扫描透镜用于在扫描系统的像面提供平场,并与检流计、扩束镜和激光源配合使用。这些 F-Theta 透镜具有宽焦距和大扫描场。这些透镜针对常见的 Nd:YAG、Yb:doped 和光纤激光源进行了优化,波长范围为 355nm、515-540nm 和 1030-1080nm。凭借其获得专利的可堆叠安装技术,这些透镜可补偿热应力并提高光学组件的稳定性,确保 OEM 系统中的高精度调整和位置控制。Jenoptik JENar&trade F-Theta 扫描透镜是高精度激光材料加工和激光扫描应用的理想选择。如果您的应用需要我们网站上未显示的 Jenoptik JENar&trade F-Theta 扫描透镜或 Jenoptik JENar&trade Silverline&trade F-Theta 扫描透镜,请联系我们。订购信息扫描角 (°)扫描场 (mm)类型WD (mm)波长范围 (nm)产品编码52.1 165 x 165 JENar F-Theta 294 515 - 54016-77357.6 245 x 245 JENar F-Theta 384.1 515 - 54016-77440 53 x 53 JENar F-Theta 130.2 515 - 54017-02353.2 169 x 169 JENar F-Theta 291 1030 - 108016-77237.2 57 x 57 JENar F-Theta 154.6 500 - 680, 1030 - 108017-02453.2 169 x 169 JENar F-Theta 291 500 - 680, 1030 - 108017-025
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制