石墨盘发射率测量系统

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石墨盘发射率测量系统相关的厂商

  • 400-860-5168转1431
    巨力科技有限公司专门经销欧美、日本等国家制造的先进科学仪器,为客户提供完备的售前咨询和售后服务、技术支持。目前产品涵盖材料科学、微纳米技术、表面测量及表征、半导体、光伏和生命科学等领域。 主要产品:d33测量仪,压电系数测试仪,精密压电测试仪; 电容充放电测量系统高压漏电流及热释电测量系统电滞回线及高压介电击穿强度测量系统低温宽频介电测量系统高场宽频谱介电测量系统kSA MOS US薄膜应力测量系统,kSA MOS Thermal Scan薄膜热应力测量系统,kSA MOS原位薄膜应力测试仪,kSA MOS薄膜残余应力测试仪; kSA 400 RHEED 分析系统; kSA BandiT 测温系统;石磨盘发射率测量系统;kSA RateRat沉积速率检测仪; ALD 原子层沉积系统 碳纳米管生长系统 纳米碳制备CVD炉 石墨烯制备系统SPD喷雾热解成膜系统太阳能电池量子效率测试系统/光谱响应测量系统/IPCE测量系统; AAA级太阳光模拟器,全光谱太阳光模拟器(A+A+A+);高准直太阳光模拟器;稳态太阳光模拟器; 单体测试仪,太阳能电池IV测试仪,全自动太阳能电池IV测试; 大面积组件太阳能模拟器及IV测试系统; 有机太阳能电池太阳光模拟器;光催化太阳光模拟器;有机半导体载流子特性测量系统有机/钙钛矿太阳能电池载流子测量系统钙钛矿太阳能电池/LED寿命分析系统OLED光谱分析系统有机/钙钛矿太阳能电池扩散长度测量系统有机/钙钛矿太阳能电池量子效率测量系统有机/钙钛矿太阳能电池缺陷测量系统有机/钙钛矿太阳能电池制备系统实验室涂布机等等
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  • 北京华瑞森科技发展有限公司 是一家集技术推广、销售和技术服务于一体的高科技企业,公司设有高效的业务职能机构、完善的服务体系,迅速为您提供优质的产品和热情周到的服务。北京华瑞森科技发展有限公司 致力于核辐射检测仪器及辐射防护用品、辐射监测系统工程、射线防护材料、远红外线发射率检测仪器、 核医学仪器(井型NaI咖玛计数仪、多功能核放射性检测仪、活度计,个人剂量报警仪,Xγαβ辐射仪等)、医疗器械、实验仪器、环保核辐射仪器设备等研发销售,我们以科学严谨的工作态度,服务于科研、医疗教育、环保、检验检疫、疾控中心、军警、安防等诸多行业,服务于社会。北京华瑞森科技发展有限公司 专业维修德国R280型手持式αβγX多功能放射性检测仪,GAMMA-SCOUT多功能数字核辐射仪,维修900型数字核辐射仪, 维修美国Alert型αβγ和X辐射检测仪,专业维修Inspector Radalert 100、Inspector Alert、Inspector EXP、Monitor 4辐射检测仪
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  • 我司主要经营石墨制品,石墨坩埚、热解石墨坩埚、石墨消解仪、高温实验耗材、地质分析土壤检测用坩埚、石墨电极板等高纯石墨制品,可来图来样加工异型高纯石墨件。
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石墨盘发射率测量系统相关的仪器

  • ZLX-ES系列发射光谱/光源测量系统发射光谱/光源测量系统介绍 发光体,如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试,对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布,而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。 针对不同辐射光源的特性,可灵活选择测试系统,如:宽带光源和LED通常分辨率要求不高,可使用Omni-&lambda 150系列单色仪系统;激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等要求分辨率高,可使用Omni-&lambda 300、Omni-&lambda 500、Omni-&lambda 750系列单色仪系统;宽波长范围(UV~IR),建议采用双出口单色仪接两个探测器;测试宽光谱范围的发光体,建议采用SD滤光片轮消多级光谱。系统组成:分光系统+检测系统+数据采集及处理系统+软件系统+计算机系统
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  • 技术介绍:系统采用双传感器设计,可在石墨盘旋转同时进行整个石墨盘的漫反射率、镜面反射率及发射率二维分布Mapping 测量;原理用途:物体的发射率与物体的表面状态(包括物体表面温度、表面粗糙度、面形以及表面氧化层、涂层、缺陷、残留物、表面杂质等)有关。所以,通过对石墨盘各个点发射率的测量可以直接反映出石墨盘表面肉眼难以观测到的表面细节,同时基于黑体辐射原理进一步评估石墨盘表面温度的分布情况。这对有效控制器件的质量,以及优化生长工艺有帮助。技术指标及特点:1. 扫描尺寸:700mm;2. 适配石墨盘:大部分商用石墨盘;3. 扫描分辨率:径向分辨率0.05mm,角度分辨率0.1°,用户可自定义;4. 扫描时间:10 分钟(465mm 尺寸的石墨盘,以径向1mm,角度0.1°测量);5. 测量光点尺寸:2mm6. 光源波长:940nm 或660nm(可选);7. 镜漫反射率分辨率:±0.005;镜漫反射率准确度:±0.01;发射率分辨率:±0.01;发射率准确度:±0.02;8. 系统为离线测量设备,便于石墨盘的装卸。软件操作简单,专为操作员及工程师设计;
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  • 发射率测量仪 400-860-5168转6159
    20240701 RLK650 pro便携式红外发射率测量仪规格书一份V1.0-立鼎光电.pdfRLK650 pro 是便携式红外发射率测量仪 RLK650 的升级产品,采 用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术, 以及人体工程学技术新型的光电检测仪器。其基于定向半球反 射比(DHR)测量原理,完成双波段(3-5um 和 8-14um)发射 率的贴近测量,产品针对野外、移动试验条件设计,集公司多 项技术积累,吸收国际先进产品技术与特点,具有携带方便、 操作简单等优点,测量结果保存在 SD 卡中。可广泛应用于飞机、 舰船、车辆的红外隐身性能现场评估,红外隐身涂覆材料的研 究等,是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。详见附件。
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石墨盘发射率测量系统相关的资讯

  • 小菲课堂 | 想要提高发射率?这里有个省钱的方法......
    各位菲粉们,还记得小菲给大家科普过发射率对红外检测的重要性吗?(回顾戳这里)今天,小菲就教大家如何用低成本提高目标的发射率~为了正确的使用热像仪,你需要知道不同的材料和环境如何影响热像仪的温度读数。发射率是指物体表面辐射出的能量与相同温度的黑体辐射能量的比率。(黑体是一种理想化的辐射体,可辐射出所有的能量,其表面的发射率为 1.00)实际上,我们测量物体的发射率值通常低于1,对于这些目标,测量的温度将是物体的发射率、反射率、透射率的综合结果。一个完美的黑体的发射率是1,也就是说目标的辐射是从目标表面发射出来的实际上,我们的目标并不是完美的黑体测定发射率从测量辐射量出发,了解发射率值是进行真实温度评估的必要条件,但是,必须谨慎使用发射率表值。通常不清楚发射率值在哪个波段有效,而且发射率也会随着波长的变化而变化。此外,表面条件、纹理和形状对材料的发射率也有重要影响。有一种方法可以理解发射率不确定度对测量精度的影响:假设目标发射率的不确定度为±0.05。对于0.95的发射率,看上去这表示大约5%的误差(0.05/0.95),而对于光亮的铜等材料,发射率为0.05。这些误差传播到温度计算中,增加了温度读数的误差(但实际测温结果是由红外电磁辐射通过斯蒂芬?波尔茨曼定律间接转换成温度读数获取得来的,温度和电磁辐射是一个四次方的非线性曲线Wrb=εσΤ4)。因此我们建议不要尝试对低于0.5的目标发射率进行温度测量。如果必须要测量,则可通过准确的补偿(ITC培训中有详细介绍),或者可用建议的高发射率材料覆盖目标,通过热传导作用,将被测物体表面温度传导到高发射率材料后间接测量获取。通过红外图像,你可能会认为树叶比杯子表面更冷,实际上,它们的温度完全相同,红外辐射强度的差异是由发射率的差异造成的改变发射率的低成本材料电工胶带大多数高质量的电工胶带的发射率为0.95,需要注意的是使用中波长热像仪(3 - 5μm),胶带是不透明的,有些乙烯基胶带很薄,有一定的红外透过率,因此不能用作高发射率的涂料。Scotch™ Brand的88黑色乙烯基电工胶带的发射率为0.96,在短波(3-5μm)和长波(8-12μm)区域的发射率均为0.96,建议使用。这个例子展示了两个带胶带的罐子:左边的那个装满了热水,右边的在室温下。对于热罐,胶带的温度为163°F(72.8°C),罐的温度为74.3°F(23.5°C)。后者的读数基本上是环境温度,因为罐子的发射率很低。这是一个典型的例子,说明在低发射率目标上使用高发射率应用程序的必要性油漆和涂料大多数油漆的发射率约为0.9至0.95,金属基涂料具有低发射率,不推荐使用。油漆的平整度和涂层的厚度对红外发射率来说很重要。胶带适合小面积使用。油漆适用于较大面积,但这是一种涂料。对于需要去除的大面积涂层,或者胶带不合适的地方,悬浮在泥浆或喷雾形式的粉末可以很好地工作。染料渗透显影剂和Dr. Scholl s喷雾足粉就是两个例子,这些粉末的发射率在0.9至0.95范围内,前提是它们的应用厚度足够不透明。没有增加发射率涂料的印刷电路板 随着涂料的发射率增加,使用油漆的缺点是减少了精细的细节实例:控制PCB板的发射率值在故障查找过程中,测量组装好的印刷电路板(PCB)上元件的温度是一项经济有效的技术,但由于不同元件的ε值不同,因此很难实现。通常,多氯联苯中含有各种金属和塑料部件,这些部件由不同的制造商制造,这些制造商对这些部件进行自己的表面处理。当用已知的、测试过的和有特征的涂层处理电路板时,通常可以简化问题。涂覆后,组件表面具有相同的ε值,并且可以通过热成像确定相对温度。要控制发射率值,可以用涂层处理PCB板各位菲粉们对于如何改善物体的发射率你们了解多少呢?想要系统的学习相关知识一定要来参加ITC红外培训在这里不仅可以学到发射率的相关知识还有很多红外相关的秘密哦~
  • 小菲课堂|“吃透”发射率,热像仪测温才最准确
    上周我们分享了电影的精彩片段因为熟知物体发射率的差异强森透过热像仪鉴定出“假金蛋”想要回顾的小伙伴戳这里:可乐浇毁“金蛋”,强森的自信源于这里......那么到底什么是发射率?它和热像仪是如何相辅相成的?,时长01:13身边物体的发射率发射率其实是一种比率发射率是指物体表面辐射出的能量与相同温度的黑体辐射能量的比率。(黑体是一种理想化的辐射体,可辐射出所有的能量,其表面的发射率为 1.00)各种物质的发射率是由物体的本身材质、表面粗糙程度、表面几何形状、拍摄角度、观测波长以及被摄物体本身的温度所决定(其中物体本身材质是对物体发射率影响的一个因素),所以在相同的温度下,物质不同,向外辐射的能量也会不同。相同温度下,因发射率不同,而显示的表象温度有差异例如,高度抛光的金属表面,如铜或铝,其发射率通常低于0.10。粗糙或氧化的金属表面有更高的发射率(0.6或更大,取决于表面条件和氧化量)。大多数平面漆的发射率约为0.90,而人类皮肤和水约为0.98。影响发射率的因素:反射温度金属的发射率随表面温度的大幅上升而增大,而非金属的发射率一般是随表面温度的变动却几乎没有变化,金属的发射率比非金属的小得多。如果你看到的是一个高抛光金属物体,具有低发射率,该表面将像一面镜子。而你的热像仪不会测量物体本身的温度,而是检测被测物体表面的出射辐射(物体的表象温度),出射辐射包括物体自身的红外辐射+环境在物体表面的,经过相同的反射角进入热像仪镜头的反射辐射。环境反射表面温度(也称为背景温度或T-反射)是指来自被测物体周围环境中其他物体的任何热辐射,这些物体从你测量的目标反射进入热像仪镜头。反射温度会影响热像仪测量的表象温度反射温度会影响热像仪测量的表象温度(除发射率是影响测温结果的重要补偿参数,环境反射表象温度对测温结果影响也是至关重要的!),如果附近的热源(如变压器,电动机或者反射阳光中的红外波段能量)从物体表面反射进入热像仪镜头,而被测物体本身温度可能很低,但根据热像仪显示的温度却可能高得多。金属灯的开关是比墙的其他部分更热,还是反射了一个温暖的热源?或者一个物体可能和一个相邻物体的温度相同,但看起来要冷得多。戒指的温度可能和人的皮肤一样,但看起来要冷得多对于发射率较高的物体,反射温度的影响较小。但对于低发射率的物体来说,反射温度是关键因素。随着发射率的降低,你所测量的热量更多的是来自周围物体的表面,而不是你正在检查的目标。如何测量物体的真实温度?如果要测量的对象具有高发射率,则可以在热像仪设置中调整发射率和反射温度。例如,如果你想测量一个人的体温,你可以将发射率设置为0.98(人体皮肤的发射率),将反射温度设置为环境温度(如果你在室内,大概在68°F/20°C左右),你的热像仪就会进行补偿。对于其他类型的表面,如果温度测量精度对您和您的检查程序很重要,您可能需要进行热成像培训,以便在进行测量时正确补偿发射率。一般来说,如果你要测量的目标的发射率低于0.5,你可能得不到精确的温度测量值。在这种情况下,你需要考虑如何提高目标的发射率。高发射率表面如电子胶带可用于精确测量低发射率表面如闪亮金属的温度发射率+反射率+透射率=1对于热像师来说,我们平时拍摄的被摄物体在红外波段绝大多数都是不透明的物体,意味着物体的透射率为0,而物体的发射率+反射率+透射率=1。所以可以推出:不透明的物体(指红外波段):发射率+反射率=1。这也就意味着在低发射率(尤其当物体表面发射率低于50%的时候)环境的反射表象温度会对测温结果产生比较大的干扰。这个时候我们就需要热像师通过具体的检测手段来调整补偿物体的发射率以及物体的反射表象温度,来更接近物体的真实表面温度!在进行温度测量时,发射率是一个具有挑战性的因素,而且它还会受到不同因素的影响。幸好它是可以学习的,用先进的测量方法,它可以得到正确的补偿。所以小菲建议各位菲粉们,要想获得物体本身的真实温度,可以到ITC红外培训系统学习下发射率、环境反射表象温度等补偿的设置,在这里不仅可以学习各种热成像相关的理论知识,还可以上手实操检测,完成培训后,妥妥滴由热成像“小白”转换成专业热成像师哦~Teledyne FLIR的明星课程ITC红外培训本年度还有一堂课想要学习提升自己的小伙伴赶快联系我们报名来年你就是专业红外热像师or热像分析师啦~新品免费试用目前,Teledyne FLIR正在进行一场2021年终新品免费试用的活动,无论是FLIR A50/A70研发套件,还是FLIR A50/A70图像流/智能传感器热像仪,亦或是FLIR Si124-PD:局部放电检测声像仪,还有FLIR Si124-LD:压缩空气泄漏检测声像仪,以及FLIR E96 高级热像仪都在此次活动当中哦~当然如果您想试用其他产品,小菲也会尽量满足您的需求!所以,小伙伴们赶紧联系我们,我们将安排专人上门为您演示!
  • 新材料领域:高温红外高发射率节能涂料
    工业高温窑炉作为一种高耗能设备广泛应用于各个行业,我国现有高温窑炉每年的能源消耗约占总能耗的三成,占工业能耗的六成。同时我国工业高温窑炉的热能利用率远低于发达国家的水平。因此,工业高温窑炉的节能降耗具有重大意义,同时也存在巨大的节能空间。本项目是针对工业窑炉节能的需求以及国内外在高温节能涂料方面的发展状况而研发的一种高性能节能涂料。该节能涂料在很宽的红外波段范围都具有高的发射率(~0.9)。在高温炉膛内壁(或炉管外壁)涂覆高发射率材料,可有效提高辐射换热量,改善炉内热辐射特性,提高热辐射效率,从而达到节能降耗、减少排放的目的。同时,高发射率涂层是一种高致密性的无机陶瓷材料,具有抗腐蚀、耐火焰冲刷等特点,对炉壁和炉管起到保护作用,可以延长窑炉(锅炉)的使用寿命。   主要技术指标(或参数):   1、红外发射率:≥0.9;   2、耐火度:1100℃~1500℃;   3、节能效率:5%~15%;   4、能缩短炉膛升温时间、提高炉膛温度、降低排烟温度、延长炉体(炉管、加热元件等)使用寿命,起到明显的节能减排和降耗增效作用。   应用领域:   用于冶金、石化、火电、水泥、玻璃、陶瓷等行业的各种高温窑炉、锅炉的涂层材料。   市场前景:   可广泛用于冶金、石化、火电、水泥、玻璃、陶瓷等行业的各种高温窑炉、锅炉,涂层具有红外发射率高、节能效果好、抗老化、耐候性强等特点。使用该产品可缩短炉膛升温时间、提高炉膛温度、降低排烟温度、延长炉体(炉管、加热元件等)使用寿命,能起到明显的节能减排和降耗增效作用。   拟转化的方式(或合作模式):   可采用研究所与企业通过成果转让或技术入股等方式,共同推进该成果的产业化。

石墨盘发射率测量系统相关的方案

  • 护热板法导热系数测定仪测量半球向全发射率测试模型有限元模拟分析
    根据保护热板法导热系数测试的国标和ISO标准中对热辐射率的规定,本文在保护热板法测量原理的基础上建立了相应的半球向全发射率测试模型,并对半球向全发射率测试模型进行了有限元模拟分析计算,从理论上摸清了测试模型中的温度分布和热流分布情况,证明了保护热板法热导率测试方法应用在试样表面半球向发射率测量存在巨大的原理性误差,但同时揭示了另外一种准确有效的半球向全发射率测试方法,即采用稳态热流计法热导率测量装置来测量试样表面的半球向全发射率。同时,也表明了在采用各种稳态法测量发射率过程中,直接测量热流密度往往会更有效,测量精度会更高。
  • 护热板法导热系数测定仪测量半球向全发射率原理模型有限元模拟分析
    根据保护热板法导热系数测试的国标和ISO标准中对热辐射率的规定,本文在保护热板法测量原理和测量装置基础上建立了相应的半球向全发射率原理模型,并对半球向全发射率的原理模型进行了有限元模拟分析计算,优化和确定出了有限元计算参数和试验参数,从理论上证明了这种方法的有效性和准确性,并得出了一些实际测量中需要特别关注的结论,为进一步实际测试模型的有限元分析计算提供了参考。
  • 采用保护热板法导热系数测定仪测量材料半球向全发射率
    介绍了稳态保护热板法导热系数测试仪器用于材料半球向全发射率测试的原理和方法,并介绍了英国国家物理实验室采用真空型保护热板法导热系数测试设备对有机玻璃、带涂层玻璃和反射隔热产品的半球向全发射率进行的测量工作,测量结果与光谱法测量结果进行了对比,证明保护热板法测试材料半球向全发射率的测量精度能够满足大多数建筑材料的使用要求,是一种比热箱法更快捷测试费用低的替换和补充方法。

石墨盘发射率测量系统相关的资料

石墨盘发射率测量系统相关的试剂

石墨盘发射率测量系统相关的论坛

  • 【求助】透明样品发射率测量问题

    最近试验中遇到一个棘手问题,就是透明样品的法向发射率测量问题。样品其实就是硅片。目前的实现方案: 硅片压在加热器上加热(例如300度),测量其发射光谱,利用该光谱和标准黑体比较计算发射率。问题: 从理论上讲,硅片是透红外光的,因此加热器的背景辐射也透了过来,这就导致了测量得到的发射率偏高。虽然加热器的背景辐射很容易测量出来,但无法知道样品此时的反射率和透射率(似乎目前国内有测量高温反射率的地方,但还没有测量高温透射率的机构)因此,无法进行计算。不知道大家有没有什么高招啊?

石墨盘发射率测量系统相关的耗材

  • 石墨烯薄膜25X25mm正电子发射断层显像板
    增长方法:CVD合成、转移方法:清洁迁移取样法、质量控制:光学显微镜、拉曼光谱、扫描电镜和投射电镜批签,外观(颜色):透明,透明度:97%,外观(形状):薄,覆盖率:95%,石墨烯层数:1,厚度(原理上):0.345毫微米,场效应管电子AI203迁移率:2,000cm2/Vs,场效应管SIO2/SI的电子迁移率:4,000cm2/Vs,表面电阻:170欧姆平方米,晶粒尺寸:约10μm,正电子发射断层显像板厚度:175μm,应用:有机太阳能电池、有机发光二极管、正电子发射断层显像板、氧化铟锡更换、石墨烯研究柔性显示器。
  • 石墨烯薄膜4英寸正电子发射断层显像板
    透明度:97%,外观(形状):薄,覆盖率:95%,石墨烯层数:1,厚度(原理上):0.345毫微米,场效应管电子AI203迁移率:2,000cm2/Vs,场效应管SIO2/SI的电子迁移率:4,000cm2/Vs,表面电阻:170欧姆平方米,晶粒尺寸:约10μm,正电子发射断层显像板厚度:175μm。
  • 石墨烯薄膜10X10mm正电子发射断层显像板
    透明度:97%,外观(形状):薄,覆盖率:95%,石墨烯层数:1,厚度(原理上):0.345毫微米,场效应管电子AI203迁移率:2,000cm2/Vs,场效应管SIO2/SI的电子迁移率:4,000cm2/Vs,表面电阻:170欧姆平方米,晶粒尺寸:约10μm,正电子发射断层显像板厚度:175μm,应用:有机太阳能电池、氧化铟锡更换、石墨烯研究柔性显示器。
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