金属镀层厚度测量系统

仪器信息网金属镀层厚度测量系统专题为您提供2024年最新金属镀层厚度测量系统价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括金属镀层厚度测量系统参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的金属镀层厚度测量系统您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合金属镀层厚度测量系统相关的耗材配件、试剂标物,还有金属镀层厚度测量系统相关的最新资讯、资料,以及金属镀层厚度测量系统相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

金属镀层厚度测量系统相关的厂商

  • Thicktest- 您身边涂镀层厚度测量专家!西安申科泰仪器设备有限公司是一家专业提供涂镀层厚度测量设备及技术服务的企业,坐落于丝绸之路的起点陕西省西安市。可为客户提供涂镀层厚度测量设备的销售、安装、维修、备品备件及技术咨询等业务主要产品有:X射线荧光镀层测厚仪,真空镀铝测厚仪,白光干涉测厚仪,椭偏仪,电解式测厚仪,电涡流测厚仪,磁感应测厚仪,超声测厚仪,红外测厚仪,球磨测厚仪,台阶仪等在内的多种测量仪器。申科泰的愿景是做“您身边涂镀层厚度测量专家” ,全体员工将坚持“以客户为中心”的理念,专注于涂镀厚度测量领域,为客户提供最佳涂镀层测量解决方案、产品和服务,帮助企业降低成本,降低风险,提高产品质量,提高生产效率。
    留言咨询
  • 无锡市瑞金恒科技发展有限公司2012年10月落户于江苏无锡,以制造、贸易一体发展,产品——在线镀锌锌层测厚仪;——在线钢丝镀锌测厚仪;——在线硅钢干膜测厚仪,以“区别于其余产品”的设计原理,存于行业,以“为您提供一步到位的产品”为已任,为仪器制造产业争光增彩。 企业原则:以质量,诚信为根为本;企业宗旨:为您提供一步到位的产品。 服务产品:在线镀层测厚仪,在线镀锌层测厚仪,在线镀铝锌层测厚仪,在线镀锡层测厚仪,在线金属镀层测厚仪(镀锌测厚仪,锌层测厚仪,镀锌层测厚仪,镀铝锌层测厚仪,锡层测厚仪,镀银层测厚仪,锌层厚度检测仪,镀锌在线测厚仪) 在线钢丝镀锌层测厚仪,钢丝镀锌测厚仪,钢丝镀层测厚仪,钢丝在线检测仪,钢丝在线测厚仪,钢丝测厚仪,镀锌钢丝测厚仪 在线硅钢干膜测厚仪,硅钢干膜测厚仪,干膜厚度测厚仪,涂层干膜测厚仪,在线干膜测厚仪,干膜测厚仪,干膜涂层测厚仪
    留言咨询
  • 苏州三值精密仪器有限公司(3V仪器)坐落于“乾隆七下江南”的苏州市木渎古镇,我们是一家专业从事ROHS检测仪,合金分析仪,贵金属检测仪,镀层厚度检测仪,元素成分析仪研发、生产、销售和实验室检测服务为一体的高科技生产厂家,工商名称为苏州三值精密仪器有限公司,商标为3V。 公司拥有职业经理人出身的管理团队,设有研发中心、生产中心、质检中心、销售中心、客服中心,其中研发团队骨干全部为硕士及以上学历,掌握多项该领域世界前沿技术,公司先后被授予“江苏省高新技术企业”和“江苏省双软企业”等称号公司致力于成为X射线领域的行业领导者, 其自主研发的X荧光光谱仪系列产品被授予“江苏省高新技术产品”,并成为多家大型跨国企业、集团等指定战略伙伴。 我们的客户遍及全国及东南亚、南非等国家和地区。产品广泛应用于环境保护与安全、合金元素分析、贵金属检测、金属表面镀层工艺、矿石等领域;遍布电子电器、机电、五金工具、塑胶、包装材料、电镀、有色金属、贵金属、钢铁、冶炼、质检、考古、实验室、高校和科研机构等各行业,为客户提供全面的系统解决方案。
    留言咨询

金属镀层厚度测量系统相关的仪器

  • 【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】专业供应镀层测厚仪,金属镀层测厚仪,应对镀锌层、镀锡层、镀镉层、镀铬层、镀铜层、镀铅层、镀铜锡合金等等。1.6 技术性能及指标: 1.6.1 元素分析范围从硫(S)到铀(U) 1.6.2 元素含量分析范围为 1PPm 到 99.99% 1.6.3 测量时间:60-200 秒 1.6.4 检测限度达 1PPM 1.6.5 能量分辨率为 149±5 电子伏特 1.6.6 温度适应范围为 15℃至 30℃ 1.6.7 电源:交流 220V±5V(建议配置交流净化稳压电源) 1.7 产品特点:● EDX6000E 是针对镀层测厚设计的一款产品 ● 打破传统仪器直线的设计,采用流线体的整体化设计,仪器时尚大方 ● 采用美国新型的 Si-PIN 探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确,维护成本低 ● 采用自主研发的 SES 信号处理系统,有效提高测量的灵敏度,让测量更精确 ● 一键式自动测试,使用更简单,更方便,更人性化 ● 七种光路校正准直系统,根据不同样品自动切换 ● 多重防辐射泄露设计,辐射防护级别优于同类产品。 ● 一体化散热设计,使整机散热性能得到极大提高,保证了核心部件的运行安全 ● 机芯温控技术,保证 X 射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本 ● 多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全 ● 专用测试软件,标准视窗设计,界面友好,操作方便 ● 本机采用 USB3.0 接口,有效地保证了数据准确高速有效的传输【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】2.仪器硬件部分主要配置2.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器2.1.1 Si-PIN 电制冷半导体探测器;分辨率:149±5 电子伏特 2.1.2 放大电路模块:对样品特征 X 射线进行探测;把探测采集的信息,进一步放大2.2 X 射线激发装置2.2.1 灯丝电流输出:1mA2.2.2 属于半损耗型部件,使用寿命达 20000 小时2.3 高低压电源2.3.1 电压输出: 50kV2.3.2 5kv 可控调节2.3.3 自带电压过载保护2.4 多道脉冲幅度分析器2.4.1 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件2.4.2 通道数: 40962.4.3 包含信号增强处理2.5 光路过滤模块 2.5.1 降低 X 射线光路发送过程中的干扰,保证探测器接收信号准确2.5.2 将准直器与滤光片整合2.6 准直器自动切换模块2.6.1 多达 7 种选择,口径分别为 8-1#, 8-2#, 8-3#, 4#,2#, 1#, 0.5# 2.7 滤光片自动切换模块2.7.1 五种滤光片的自由选择和切换 2.8 准直器和滤光片的自由组合模块2.8.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合 2.9 工作曲线自动选择模块2.9.1 自动选择工作曲线,摒弃手动选择,避免人为操作失误,将自动化和智能化 操作得更轻松,使操作更人性,更方便3. 专用软件配置 3.1 专用 镀层分析软件 3.1.1 专门针对镀层检测而开发,对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告 显示测量结果 3.3 专用 FP 金属镀层分析软件3.3.1 元素分析范围:从硫(S)到铀(U)3.3.2 一次可同时分析 3 层以上镀层3.3.3 分析检出限可达 0.1μm3.3.4 分析厚度一般为 0.1μm 到 30μm 之间3.3.5 多次测量重复性可达 0.1μm(对于小于 1μm 的最外层镀层)3.3.6 长期工作稳定性为 0.1μm(对于小于 1μm 的最外层镀层)3.3.7 配置小孔准直器,测试光斑在 0.2mm 以内3.3.8 探测器能量分辨率为 149±5eV3.3.9 应用领域:金属电镀层厚度的测量,如 Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu 等 【3V仪器-EDX6000E金属镀层测厚仪 多镀层厚度检测分析】
    留言咨询
  • 货期&价格请与咨询客服为准!谢谢! 1. Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界。 2. 采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。 3. Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。 4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。 5. Ux-720镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。 6. 样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。 7. 软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。 测厚技术:X射线荧光测厚技术测试样品种类:金属镀层,合金镀层测量下限:0.003um测量上限:30-50um(以材料元素判定)测量层数:10层测量用时:30-120秒探测器类型:Si-PIN电制冷 探测器分辨率:145eV高压范围:0-50Kv,50WX光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;光管靶材:Mo靶;滤光片:专用3种自动切换;CCD观察:260万像素微移动范围:XY15mm输入电压:AC220V,50/60Hz测试环境:非真空条件数据通讯:USB2.0模式准直器:Ø 1mm,Ø 2mm,Ø 4mm软件方法:FlexFP-Mult工作区:开放工作区 自定义标准配件:样品固定支架1支窗口支撑薄膜:100张保险管:3支计算机主机:品牌+双核显示屏:19寸液晶打印机:喷墨打印机 可选配件:可升级为SDD探测器 可以实现全自动一键操作功能,准直器自动切换,滤光片自动切换,开盖随意自动停,样品测试照片自动拍照、自动保存,测试报告自动弹出,供应商信息自动筛选和保存。
    留言咨询
  • 3V仪器电镀层测厚仪0-50us金属镀层厚度分析EDX6600能量色散X荧光光谱仪EDX66600镀层测厚仪目录1.产品名称及特点:2.仪器硬件主要配置2.1 Si-pin电制冷半导体探测器2.2 X光管(专用小焦点X光管):2.3 高低压电源:2.4 多道分析器:2.5光路过滤模块2.6 准直器自动切换模块2.7滤光片自动切换模块2.8准直器和滤光片自由组合模块3.金属镀层专用分析软件4.附件5.产品保修及售后服务产品资料1.产品名称及特点: 1.1. 产品名称及型号:(3V x-ray)能量色散X射线荧光光谱仪-------EDX66001.2. 制造商:苏州三值精密仪器有限公司1.3 仪器总价值: 数量 单位 金额(人民币) 1 套 RMB(含税)1.4 产品图片 EDX6000E型1.5. 工作条件:● 工作温度:15~30℃● 相对湿度:40%~80%● 电 源:AC220V±5V1.6.产品特点 1.6.1 EDX6600可专门针对金属镀层厚度及成分含量进行分析。 1.6.2打破传统仪器直线的设计,采用流线体的整体化设计,仪器简洁大方。 1.6.3采用美国新型的Si-pin探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低。 1.6.4采用自主研发的SES信号处理系统,有效提高测量的灵敏度,测量更准确。 1.6.5七种光路校正准直系统,根据不同样品自动切换。 1.6.6多重防辐射泄露设计,辐射防护级别属于同类产品高级。 1.6.7一体化散热设计,使整机散热性能得到极大提高,保证了核心部件的运行安全。 1.6.8机芯温控技术,保证X射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本。 1.6.9多重仪器部件保护系统,并可通过软件进行全程监控,仪器工作更稳定安全。 1.6.10专用测试软件,标准视窗设计,界面友好,操作方便。 1.6.11采用USB2.0接口,有效保证数据准确、高速的传输。2.仪器硬件主要配置2.1 Si-pin电制冷半导体探测器 2.1.1. Si-pin电制冷半导体探测器;分辨率:149±5eV。 2.1.2. 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测,将探测采集的信号进一步放大。2.2 X光管(专用小焦点X光管): 2.2.1 灯丝电流:1mA。 2.2.2 属于半损耗型部件,设计使用寿命大于10000小时。2.3 高低压电源: 2.3.1.电压输出:≤50kV。 2.3.2.5kv可控调节。 2.3.3.自带电压过载保护。2.4 多道分析器: 2.4.1. 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。 2.4.2 通道数:4096。 2.4.3 包含信号增强处理。2.5光路过滤模块 2.5.1 降低X射线光路发送过程中的干扰,保证探测器接收信号准确。 2.5.2 将准直器与滤光处组合;2.6 准直器自动切换模块 2.6.1 多种选择,口径分别为8、4、2、1、0.5mm。2.7滤光片自动切换模块 2.7.1五种滤光片的自由选择和切换。2.8准直器和滤光片自由组合模块 2.8.1多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。3.金属镀层专用分析软件 3.1 元素分析范围:从硫(S)到铀(U)。 3.2 分析检出限可达0.1-99.99% 3.3 分析厚度一般为0.1μm至30μm之间。 3.4 多次测量重复性可达0.1μm(对于小于1μm的最外层镀层)。 3.5 长期工作稳定性为0.1μm(对于小于1μm的最外层镀层)。4.附件 4.1 样品腔:开放式大样品腔。 4.2 标准样品:镀层标样。5.产品保修及售后服务 5.1 免费对客户方操作人员进行培训。 5.2 安装、调试、验收、培训及售后服务均为免费在用户方现场进行。 5.3正常使用,经本公司确认属工艺或材质缺陷引起的故障,且未经拆修,仪器自验收合格之日起保修壹年。 5.4 产品终身维修(客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等)。 5.5 免费提供软件升级。 5.6 提供最有效的技术服务,在接到用户故障信息后,2小时内响应,如有需要,24小时内派人上门维修和排除故障。3V仪器电镀层测厚仪0-50us金属镀层厚度分析EDX6600苏州三值X射线荧光光谱仪厂家
    留言咨询

金属镀层厚度测量系统相关的资讯

  • 日本精工电子X射线荧光镀层厚度测量仪全新上市
    日本精工电子纳米科技有限公司最新推出X射线荧光镀层厚度测量仪的新机型[SFT-110]  通过自动定位功能,可简单迅速地测量镀层厚度。     日本精工电子有限公司的子公司精工电子纳米科技有限公司将在5月初推出配备自动定位功能的[X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110],使操作性进一步提高。  对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理,可保证产品的功能及品质,降低成本。精工从1971年首次推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线荧光镀层厚度测量仪以来,已经累计销售6000多台,得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。  为了适应日益提高的镀层厚度测量需求,精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能,仅需把样品放置到样品台上,就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此,无需进行以往的手动逐次对焦的操作,大大提高了样品测量的操作性。  近年来,随着检测零件的微小化,对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度,即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且,配备有新开发的薄膜FP法软件,即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量,可对应更广泛的应用需求。  精工今后还会通过X射线技术产品的开发,更多地支持制造业的品质管理及环境管制对应。[SFT-110的主要特征] 1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统(选配) 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5. 对应大型印刷线路板(选配) 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6. 低价位 与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。[主要产品规格] 检测器: 比例计数管 X射线源: 空冷式小型X射线管 准直器: 0.1、0.2mmφ2种 样品观察: CCD摄像头 样品台移动量:250(X)×200(Y)mm 样品最大高度:150mm
  • 精工盈司推出高性能X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9500X系列
    高精度测量极微小部位的金属薄膜厚度 精工电子纳米科技有限公司(简称:SIINT,社长:川崎贤司,总公司:千叶县千叶市)是精工电子有限公司(简称:SII,社长:新保雅文,总公司:千叶县千叶市)的全资子公司,其主要业务是测量分析仪器的生产与销售。本公司于12月19日开始销售可高精度测量电镀・ 蒸镀等极微小部位的纳米级别的镀层厚度测量仪「SFT9500X系列」。出货时间预定为2012年2月上旬。 高性能X射线荧光镀层厚度测量仪 「SFT9550X」 要对半导体、电子部件、印刷电路板中所使用的电镀・ 蒸镀等金属薄膜的膜厚・ 组成进行测量管理,就必须确保功能、品质及成本。特别是近年来随着电子仪器的高功能化、小型化的发展,连接器和导线架等电子部件也逐渐微细化了。与此同时,电镀・ 蒸镀等金属薄膜厚度的测量也要求达到几十微米的极微小部位测量以及达到纳米等级的精度。 「SFT9500X系列」通过新型X射线聚光系统(毛细管)和X射线源的组合,可达到照射直径30μmφ的高能量X射线束照射。以往的X射线荧光膜厚仪由于照射强度不足而无法获得足够的精度,而「SFT9500X系列」则可以对导线架、连接器、柔性线路板等的极微小部位进行准确、迅速的测量。 SIINT于1978年在世界上率先推出了台式X射线膜厚仪,而后在日本国内及世界各地进行广泛销售,得到了顾客很高的评价。此次推出的「SFT9500X系列」是一款凝聚了长期积累起来的X射线微小部位测量技术的高性能X射线荧光膜厚仪。今后将在电子零部件、金属材料、镀层加工等领域进行销售,对电子仪器的性能・ 品质的提高作出贡献。 【SFT9500X系列的主要特征】1. 极微小部位的薄膜・ 多层膜测量通过采用新型的毛细管(X射线聚光系统)和X射线源,把与以往机型(SFT9500)同等强度的X射线聚集在30μmφ的极微小范围。因此,不会改变测量精度即可测量几十微米等级的微小范围。同时,也可对几十纳米等级的Au/Pd/Ni/Cu多镀层的各层膜厚进行高精度测量。 2.扫描测量通过微小光束对样品进行XY扫描,可把样品的镀层厚度分布和特定元素的含量分布输出为二维扫描图像数据,更方便进行简单快速的观察。 3. 异物分析通过高能量微小光束和高计数率检测器的组合,可进行微小异物的定性分析。利用CCD摄像头选定样品的异物部分并照射X射线,通过与正常部分的能谱差进行异物的定性分析(Al~U)。 【SFT9500X系列的主要产品规格】 SFT9500XSFT9550X样品台尺寸(宽)×(长) 175×240 mm330×420 mm样品台移动量(X)×(Y)×(Z) 150×220×150 mm300×400×50 mm被测样品尺寸(最大)(宽)×(长)×(厚度) 500×400×145 mm820×630×45 mmX 射 线 源空冷式小型X射线管(最大50kV,1mA)检 测 器Vortex半导体检测器(无需液氮)照 射 直 径最小30μmφ样 口 观 察CCD摄像头(附变焦功能)样 品 对 焦激光点滤 波 器Au极薄膜测量用滤波器操 作 部电脑、19英寸液晶显示器测 量 软 件薄膜FP法、薄膜検量線法选 配能谱匹配软件、红色显示灯、打印机测 量 功 能自动测量、中心搜索数 据 处 理Microsoft Excel、Microsoft Word(配备统计处理;测量数据、平均值、最大・ 最小值、CV值、Cpk值等测量结果报告制作(包含样品图像))安 全 功 能样品室门安全锁、仪器诊断功能 【价格】 1,650万日元~(不含税) 【出货开始时间】 2012年2月上旬 【销售目标台数】 50台(2012年度)    Microsoft是美国 Microsoft Corporation在美国及其它国家的登记商标或者商标。 以上本产品的咨询方式中国:精工盈司电子科技(上海)有限公司TEL:021-50273533FAX:021-50273733MAIL:sales@siint.com.cn日本:【媒体宣传】精工电子有限公司综合企划本部 秘书广告部 井尾、森TEL:043-211-1185【客户】精工电子纳米科技有限公司分析营业部 营业三科TEL: 052-935-8595MAIL:info@siint.co.jp
  • 金属镀层中六价铬测试方法(GB/T39560.701-2020)的关键变化
    为配合《电器电子产品有害物质使用管理办法》及合格评定制度的实施,全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会有害物质检测方法分技术委员会(SAC/TC297/SC3)于2018年启动了IEC 62321系列标准转化国家标准的制定工作,2020年正式完成,现已发布5项,剩余4个标准,预计将在今年内发布。今后,GB/T 39560系列标准(IEC标准转国标)将替代GB/T 26125成为我国《电器电子产品有害物质使用管理办法》新的支撑标准。 先期发布的5个标准已于今年7月1日起正式实施,其中,需要特别注意的是Cr(VI)的测定标准GB/T 39560.701,其变化最大。该标准是IEC 62321-7-1:2015的等同转化,针对金属上无色和有色防腐镀层中六价铬的测试给出了详细方法。相较于老版IEC 62321:2008或GB/T 26125-2011附录B,新标准修订的关键内容主要有以下三点: 01取消斑点法斑点法本身有局限性,可能会出现假阴性的结果。由于镀层工艺千差万别,广泛存在不均匀性。同一批次样品的镀层表面,取样位点不同,可能得到的测试结果也不相同。甚至出现部分样品在斑点法测试中,六价铬测试结果为阴性,但继续使用沸水提取,结果又呈阳性。因此在新一版的标准方法,取消了斑点法测试镀层中的六价铬。 02选用镀层单位表面积的六价铬质量(μg/cm2)来体现六价铬的存在性1) 六价铬主要存在金属镀层表面。在金属基材镀锌、镉等之后,往往需要进行表面钝化处理,形成一层薄钝化膜,主要是为了保护金属镀层。传统含铬工艺,主要是Cr(Ⅵ)和三价铬的混合物。 2) 在产品生产后,难以准确测量防腐镀层的质量。涂镀层和钝化膜通常很薄,与基材质量相比甚小。若以涂镀层中Cr(Ⅵ)含量来表示,需要对镀层进行剥离。尽管已开发了多种镀层剥离技术,但由于镀层厚度与密度的不均匀性,很难获得较为准确的镀层质量。 3) 考虑到行业的变化趋势,从镀层技术角度看,要么使用不含六价铬的化学物质,即很少或者不存在六价铬,要么使用传统的含有六价铬的化学物质,即六价铬含量显著,且能可靠的检测到。考虑到样品中六价铬分布的不均匀性,将0.10 μg/cm2~0.13 μg/cm2之前的“灰色区域”确定为“非结论性的”。 03测试结果的判定依据在新版标准中,采用比色法与目视法结合对判定样品测试结果进行指导,大大降低了误判风险,可参考以下流程进行镀层中六价铬测试:岛津UV系列产品助您快速准确完成六价铬测试 应用例中Cr6+标准曲线示意: 标准样品制备和测试条件:分别取六价铬标准储备液至25 mL比色管中,并用纯水定容(标准曲线相当于0.00、0.05、0.10、0.20、0.50 mg/L的六价铬),加入2.0 mL二苯卡巴肼溶液(5.00 g/L)。以零点作为比色时的参比液。用1 cm比色皿于波长540 nm处测定吸光度。 六价铬水质分析试剂为您免去显色试剂的配制苦恼:岛津(上海)实验器材有限公司可提供1,5-二苯碳酰二肼显色试剂(型号:LR-Cr6+),方便快捷,随拆随用。

金属镀层厚度测量系统相关的方案

金属镀层厚度测量系统相关的资料

金属镀层厚度测量系统相关的试剂

金属镀层厚度测量系统相关的论坛

  • 测量金属镀层厚度的选择

    我们想买测量金属混合镀层的厚度,到底应该选择 [color=#333333]赛默飞(fisher)的还是菲希尔(fischer )的,[/color][color=#333333]感觉差一个字母,都是测量这块的厂家,[/color][color=#333333]哪个更专业?[/color][color=#333333]Fe基材,测量锌镍混合镀层厚度;[/color][color=#333333]Cu基材,测量锌或银镀层厚度;[/color][color=#333333]等等。[/color][color=#333333][/color]

  • 测量镀层厚度--设备

    求助:在金属表面测镀层厚度,镀的是同一种物质比如镍;镀两层,这两层镍的物理属性不同,晶粒大小不一样,请问有什么仪器可以测试出不同镀层的厚度。谢谢!

  • 【讨论】XRF测量磷镍镀层厚度 问题

    本人使用日本精工仪器测量铁基材料上磷镍镀层与通过做切片用电子显微镜测量的结果相差0.5um,是通过纯镍标准片建立工作曲线的,只测定了镍的的厚度为2.5um,通过SME拍照厚度为3.1um,想请教我能用什么方法把这个磷镍镀层的尺寸测得与实际尺寸接近,如果用XRF测试其修正参数应怎样确认,谢谢!

金属镀层厚度测量系统相关的耗材

  • MINITEST600-N 涂镀层测厚仪
    MINITEST600-N 涂镀层测厚仪一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型:MiniTest 600B和MiniTest 600,每种小类都可分为F型、N型、FN型三种,因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型,没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型,无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如:铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的,一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零,才可以保证测量的精确性; 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性; 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量,但要严格按照说明书的校准步骤进行校准; 不要用力拽或折测头线,以免线断; 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品,以免损坏测头; 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面; 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型(两用型) 0-3000um(F),0-2000um(N) 允许误差 ± 2um或± 2-4%读数 最小曲率半径 5mm(凸)、25mm(凹) 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm(F型)、50um(N型) 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准(华丰公司内) 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232(不适合B型) 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体; 5号碱性电池两节; 零板和厚度标准箔; 中英德文操作手册各一本; 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱; 橡胶套; 打印机MiniPrint 4100; RS-232数据接口电缆; 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981,50982; ASTM B499,E367,D1186,B530,G12 BS5411 DIN EN ISO 2178,2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准:置零,不用标准箔。用于允许误差不超过4%的场合。 两点校准:置零,用一片标准箔。用于误差范围在2-4%之间的测量 特殊的基础校准:此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板; 如果主板不上电,在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘; 测值不稳定,可认为探头系统频率不稳定,一般要更换探头系统; 在显示系统不能正常显示时,可更换显示系统; 更换电缆时,一定要保证电缆长度不小于1m;
  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型,不同光谱范围和光源,满足各种测量应用
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制