高分辨原子力显微镜

SPM-8100FM 岛津高分辨率原子力显微镜SPM-8100FM使用调频模式，极大提高了信号的灵敏度，是第一款可以在大气环境下获得与真空环境中同样超高分辨率表面观察图像的产品，无论样品种类（薄膜、晶体、半导体、有机材料），还是不同环境（大气环境及溶液环境）。并且首次观察到固体和液体临界面（固液界面）的水化、溶剂化现象的图像，因此实现了对固液界面结构的测量分析。1. 大气及溶液中的超高分辨率观察变为现实通过提高检测悬臂振动的光检测系统的效率，以及压制激光干扰等技术开发，把检测悬臂变位的光杠杆检测系统的噪音成功地降低到了以往的1/20。由此实现了以往SPM只能在真空环境中才能实现的超高分辨率观察。2. 固液界面水化/溶剂化作用三维构造解析SPM-8000FM利用超高灵敏度的力检测系统实现了水化溶剂化结构的观察分析。通过精确测量探针在固液界面的受力，作为探针所在位置的函数，成功观察到了界面的液体结构。并且采用了新的扫描方式，不仅在二维层面，还首次实现了三维结构的解析。不仅可以观察电极、聚合物在界面活性剂、生物界面等溶液中的表面形态，还可以进行固液界面结构的观察分析。例如，可实现锂离子电池中电解液和电极界面发生的结构变化，或者脂类等生物分子溶液中的结构观察等研究，为电子设备、纳米材料、催化剂、生物材料等纳米技术领域的研发工作带来新手段。3. 更为快速便捷的操作性综合使用头部滑动结构，专用探针更换夹具以及高速扫描器，完善了用户操作的便利性，提高了工作效率。

美国Anasys公司的AFM+可以提供全面的原子力显微功能，具有强大的分析能力，使得AFM不仅仅是一个普通的成像工具，还可以进行材料纳米级尺度的成分分析，热性能和机械性能的分析。AFM+的主要特点：简洁的安装与操作 □ AFM+为最便利的使用而设计制造。探针预装在金属圆片上，确保探针位置的准确性和装针的便捷□ 仪器集几十年AFM设计大师的经验之大成，即使初次使用也能快速获取结果完整的AFM工作模式 □ 包含所有常规成像模式：接触、轻敲、相位、侧向力、力调制、力曲线□ 独有高分辨率低噪音的闭环成像□ 基于DI传承的多功能AFM，实现纳米热学，力学，电学和磁学测量：l 纳米热分析模块（nanoTA, SThM）l 洛仑兹接触共振模块（LCR）l 导电原子力显微镜镜（CAFM）l 开尔文电势显微镜（KPFM）l 磁力显微镜（MFM）l 静电力显微镜（EFM）独有的可升级功能□ 热学性能：独有的热探针技术，提供纳米级红外分析□ 机械性能：洛伦兹接触共振模式能够提供宽频纳米机械分析□ 化学性能：可升级具有纳米红外光谱技术，实现局部化学组分分析□ 近场成像：可升级具有散射式近场光学成像和光谱采集功能

超快速原子力显微镜 NanoWizard ULTRA Speed 2630 Hz线速率、10帧/秒高分辨超快速成像最高分辨的定量纳米力学成像与最精密先进光学显微镜的完美结合新一代基于工作流程的软件革新灵活易用的模块化设计与大量模块的卓越拓展性 超快速扫描终极性能NanoWizard ULTRA Speed 2 拥有最新一代Vortis&trade 2控制器、顶尖的基于工作流程的用户界面、先进的扫描器设计以及新的工作模式，从而提供了卓越的高性能和无与伦比的用户有好度。新一代超快速原子力显微镜结合了真正原子级分辨率与10帧/秒的超快速扫描速率。这些技术突破是JPK BioAFM技术团队的技术专家们不断强化与创新的结晶。用户易用性的新高度JPK的工程师团队采用了全新的方法开发了新一代控制软件。新一代V7控制软件基于工作流程，旨在满足每个用户的多种需求。新一代软件可以更容易的控制复杂与长期的实验过程，结合一整套新开发的配件与功能，帮助和加快科学产出。真正原子级分辨率与超高的稳定性NanoWizard ULTRA Speed 2为满足高分辨率应用需求而设计。该系统提供的市面上最低噪音水平和最高稳定性是获得真正原子级分辨率的关键。此外，在超低力下的直接力控制可以防止对样品和探针的损坏。该系统采用最先进的位置传感器技术，可以提供最高的精度和最大的准确度。搭配倒置光学显微镜10帧/秒超快速扫描定义新标准全新的NanoWizard ULTRA Speed 2探针扫描技术可以达到传统原子力显微镜难以企及的速度水平。实时、原位的成像实验现在可以搭配高分辨先进光学系统进行。采用NestedScannerTM技术对大起伏褶皱样品进行高速成像迄今为止，在活细胞、大起伏褶皱样品以及具有陡峭边缘的样品进行最高时间与空间分辨率的动态成像实验一直是一项具有挑战性的工作。基于全新的NestedScannerTM技术，在细胞、细菌或其他褶皱样品的表面可以实现高速的扫描成像，样品最大容许起伏可达8 µ m。搭配先进荧光显微镜的AFM同步触发与样品动态过程实时观察样品的动力学变化通常依赖于改变环境条件来触发反应。全面的环境控制解决方案(温度控制以及气体或液体交换)，结合光学显微镜手段，使用户能够以无与伦比的速度进行高级AFM实验。NanoWizard ULTRA Speed 2刷新了显微镜连用方案的标准。高速扫描的技术优势■高分辨观察样品实时的动态过程■NestedScannerTM技术快速扫描褶皱或较高的样品表面■AFM与荧光显微镜连用实现原位的多参数观察■极大提高工作效率，快速观察样品多个位置