电荷迁移率测试系统

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电荷迁移率测试系统相关的厂商

  • 晶圆电阻率测试仪硅片方阻测试仪涡流法低电阻率分析仪晶锭电阻率分析仪迁移率测试仪少子寿命测试仪半导体、晶圆、硅片、光伏等电阻率一站式解决方案。
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  • 美国阿美特克集团公司(www.ametek.com)是全球电子仪器和电子机械设备的领先制造商,年销售额超过50亿美元,员工超过14,000人,分布在美国及全球的120多个工厂,100多家销售和服务中心。Advanced Measurement Technology Inc.是美国阿美特克(Ametek)集团的子公司,旗下拥有PrincetonApplied Research(普林斯顿应用研究),SolartronAnalytical(输力强分析),Signal Recovery等四个品牌。 普林斯顿应用研究(PAR,Princeton Applied Research)是一个历史悠久的电化学仪器品牌。它创建于1961年,由世界著名的普林斯顿大学和等离子物理实验室的一群科学家和商业人士联合组建,50多年来,在业内拥有极高的品牌知名度。自1979年以EG&G旗下品牌进入中国以来,用户已经超过千人,专心倾注于电化学分析与合成、电催化、腐蚀应用与研究、化学电源、生物医药和传感器、材料研究等领域,提供卓越的研究型宏观和微观电化学测试仪器。 输力强分析SolartronAnalytical 是阿美特克集团公司旗下另一个卓越品牌。具有60多年设计和生产精密电子仪器的历史,是电化学及材料交流阻抗谱仪的专业生产厂商,已成为极高准确性和可靠性的电化学和材料测试分析仪器市场的领导者。业内久负盛誉的产品有:频率响应分析仪,电池研究测试系统,材料阻抗测试仪。应用于物理与化学电源、超级电容器、电化学传感器、腐蚀与防护、电分析、电催化、电解电镀电合成等领域;在研究和检测材料(包括生物材料)的储存电荷(电容)和传递电荷(电导)等阻抗特性测试方面以其极高的采样速度及频率分辨率、极小的测量误差以及多种阻抗测量技术成为全球市场上的领跑者。销售电话:400-1100-281 服务电话:400-1100-282E-mail:amt.si.china@ametek.com中文网站:www.par-solartron.com.cn AMETEK Inc.北京朝阳区酒仙桥路10号京东方总部大厦(B10)二层西侧邮编:100015电话:010-85262111-15传真:010-85262141 AMETEK Inc.上海上海自由贸易试验区富特东三路526号1幢二层A1区邮编:200131电话:021-58685111-101传真:021-58660969AMETEK Inc. 成都四川省成都市锦悦西路236号高新孵化园9号楼F座10楼9-10号 邮编:610041电话:13609185289AMETEK Inc. 广州广东广州市越秀区东风东路767号东宝大厦810室邮编:510060电话:18925065958
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  • 荷兰轶诺 金牌11年
    400-860-5168转3316
    荷兰INNOVATEST轶诺提供高品质硬度计及其配件和软件。轶诺的硬度计产品包括:布氏硬度计、洛氏硬度计、维氏硬度计、显微硬度计、努氏硬度计、布洛维硬度计。轶诺硬度计的解决方案从硬度计设计、研发、生产到售前技术支持、售中、维护保养和售后服务等。 轶诺硬度计的产品分类: 维氏硬度计(含宏观维氏硬度计、显微硬度计、努氏硬度计),型号举例: FALCON400, FALCON 450, FALCON 500, FALCON 600, FALCON 5000, FALCON400 G2, FALCON 450 G2, FALCON 500 G2, FALCON 600 G2, FALCON 5000 G2等; 布氏硬度计,型号举例:NEXUS 3100, NEXUS 3200 ,NEXUS 3001XLM-IMP, NEXUS 3300(M), NEXUS 3400(M) ,NEXUS 3300FA, NEXUS 3400FA, NEXUS 8103RSB, NEXUS 8103XLM-RSB, NEMESIS 9600RS(B)等 洛氏硬度计(含双洛氏硬度计、一般洛氏硬度计、表面洛氏硬度计以及塑料球压痕硬度计),型号举例:FENIX 200AR, FENIX 200ACL, FENIX 200DCL, FENIX 300RS, FENIX 300RS-IMP, FENIX 300XL, HAWK 250RS, HAWK 400RS,HAWK 400RS-IMP, HAWK 651RS, HAWK 652RS-IMP, NEXUS 605RS(B), VERZUS 710RS(B), VERZUS 720RS(B), NEMESIS 6100, NEMESIS 6200, NEMESIS 9100RS(B)等 布洛维硬度计/通用硬度计/多功能硬度计,型号 举例:FENIX 300U, NEMESIS 5100,NEMESIS 5100 G2, NEMESIS 9100, NEXUS 7700, NEXUS 8100, NEXUS 8100XLM, NEMESIS 9600等 硬度计标准机,涵盖布氏、洛氏、维氏、努氏等标尺,具体方案, 请洽轶诺销售部。 富有创新性的机械、软件和硬件科技为质保、实验室或机器人在线测试提供先进的硬度测试解决方案。轶诺对质量有着非常高的标准,无论多小的零部件都有溯源代码便于追溯。轶诺硬度计均符合ISO和ASTM标准,在ISO 17025标准实验室中,您可放心使用检定和认证后的轶诺硬度计。荷兰轶诺在工业领域的历史可以追溯到1890年,总部位于荷兰Maastricht,被誉为“产业先驱”,毗邻德国亚琛技术大学、埃因霍温大学、南方应用科学大学等理工科大学,是轶诺产品设计、前沿技术、先进硬件以及硬度测试视频压痕测量系统的发源之地。 INNOVATEST硬度计和服务受到科学家、工程师、实验室和金属/塑料行业、从业人员的信赖和认可,不断刷新行业的科技标准。质量控制人员和产品研发人员利用INNOVATEST的产品来创建和优化设计。在世界各地的实验室里,轶诺硬度计受到工程师们的高度认可,并被广泛应用于各种部件和材料的硬度测试中。IMPRESSIONS™ 工作流程控制软件, 先进的压痕扫描算法应用了先进的现代化AI(人工智能)技术。硬度计附件如硬度试块和压头均带有可追溯性证书。 轶诺硬度计的行业应用:轶诺的硬度计主要应用在金属、合金、复材、塑料、橡胶等材料领域,轶诺为全球诸多提供了先进的硬度测试仪器。像波音和空客一样的航空实验室应用轶诺的硬度计为及其关键的发动机部件提供可靠的测试报告。德国汽车制造商,如BMW(宝马汽车)使用轶诺硬度计保证汽车使用材料和部件的过硬质量。数十年来,轶诺累积了大量的忠实客户,行业遍及汽车、航空航天、钢铁、机械、高校、科研、船舶、铁路、交通、电子、能源、医疗、石化、桥梁、建筑、或者骨科/牙科实验室等领域。 轶诺硬度计的部分典型用户:中国航发南方工业有限公司、中国飞机强度研究所、贵州黎阳航空发动机、西安航空发动机、成都飞机、哈飞、哈轴、贵州红林机械厂、中车,青岛四方机车、宝马汽车、德尔福、福沃克、乔治费歇尔、德西福、上汽依维柯、法士特、吉利、皮尔博格、天合汽车、东风汽车、通用电气、长安汽车、神龙汽车、二重集团、一汽大众、舍弗勒、布雷博、采埃孚、神龙汽车、三菱电梯、康辉医疗器械、微创医疗器械、奎克化学、中国核工业集团、中国核动力研究设计院、洛阳LYC 轴承、潍、深圳市计量质量检测研究院、江南造船、重庆江增船舶重工、博世力士乐、国家电网、东方电气集团、北京航空航天大学、大连理工大学、东北大学、江苏大学、华北理工大学、深圳大学、武汉理工大学、中科院物理所、中国原子能科学研究院、中国计量科学研究院、上海材料研究所、浙江国检、SGS、莱茵技术、钢研纳克、华测、沈阳金属所、大冶特钢、上海宝钢、韶钢、攀钢、马钢、昆钢、重庆钢铁、包钢,南山铝业、 丰东热处理、帕卡热处理、北京机电研究所等企业。(尚有部分用户未取得联系,相关购买信息如果不方便展示,请与我司联系。) INNOVATEST轶诺硬度计的优势:• 超前技术、先进的硬度计/硬度测试仪器• 全球销售与服务网络• 行业内广受赞誉的硬度计质保体系• 100多款不同机型,总有一款硬度计契合您的需求• 全球各地的展厅 轶诺遍布全球的分支机构和富于经验的供应链团队,能够确保客户获得真正有可比价值的测试结果. 轶诺仪器(上海)有限公司是INNOVATEST集团在华的全资子公司,旨在为中国和亚太区客户提供更快速、有效的销售和服务支持。 INNOVATEST轶诺上海的现代化展厅,展示布、洛、维等硬度计20余台。轶诺工程师现场演示仪器的操作方法,并针对您在工作中遇到的问题进行分析与解答。轶诺诚挚邀请您探索和体验INNOVATEST先进的硬度测试仪器,体验我们完善的安装、调试等售后服务。
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电荷迁移率测试系统相关的仪器

  • 简介:载流子迁移率测量系统Paios主要用于太阳能电池在稳态,瞬态以及交流条件下的光电性能测量(载流子迁移率测量Photo-CELIV,瞬态光电流测量TPC、瞬态光电性能测量TPV、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS以及阻抗IS,CV等量测)为光电器件微观机理研究提供了有力的测试平台;多功能一体化高性能瞬态测试平台,不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等,还可以对瞬态光电流谱TPC,瞬态光电压谱TPV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS等进行测量分析,全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。可量测器件类型: * 无机半导体光电器件,有机半导体光电器件; * 有机太阳能电池OPV; * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell,钙钛矿LED; * 无机太阳能电池(例如:单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池); * 染料敏化太阳能电池DSSC;主要测量功能: * 最大功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强,迁移率(I-V测试 & I-V-L测试,空间电荷限制电流SCLC法) * 载流子浓度,载流子动力学过程(瞬态光电流法 TPC) * 载流子寿命,载流子符合动力学过程(瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV) * 载流子迁移率(暗注入瞬态法 DIT,单载流子器件&OLED) * 串联电阻,几何电容,RC时间(电压脉冲法 Pulse Voltage) * 参杂密度,电容率,串联电阻,载流子迁移率(暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV) * 载流子迁移率,载流子密度(光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV) * 载流子复合过程,朗之万函数复合前因子(时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV) * 不同工作点的载流子强度,载流子迁移率(注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV) * 几何电容,电容率(MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV) * 陷阱强弱度,等效电路(阻抗谱测试 IS) * 迁移率,陷阱强弱度,电容,串联电阻(电容VS频率 C-f) * 内建电压,参杂浓度,注入势垒,几何电容(电容VS电压 C-V) * 陷阱分析(深能级瞬态谱DLTS) * 载流子传输时间分析(强度调制光电流谱 IMPS); * 载流子复合时间、收集效率等分析(强度调制光光电压谱IMVS); * 点亮电压(电流电压照度特性 I-V-L) * 发光寿命,载流子迁移率(瞬态电致发光法 TEL) *载流子迁移率(TEL瞬态电致发光,Photo-CELIV线性增压抽取载流子) *OLED/钙钛矿LED发光特性测量(发光器件测量);测量技术: 1)IV/IVL特性:IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法,通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系;*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等; 2)瞬态光电流(TPC):研究载流子动力学过程和载流子密度等; 3)瞬态光电压(TPV):研究载流子寿命和复合过程; 4) 双脉冲瞬态光电流(Double Transient Photocurrent):分析电荷载流子俘获动态过程; 5) 暗注入瞬态法(Dark Injection):对于单载流子器件和OLED,研究其载流子迁移率; 6) 电压脉冲法(Voltage Pulse):串联电阻、几何电容和RC效应分析; 7) 暗态线性增压载流子瞬态法(Dark-CELIV):参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量; 8) 光照线性增压载流子瞬态法(Photo-CELIV):提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility,及载流子浓度分析等; 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法(Delaytime-CELIV):复合动态过程分析和Langevin复合因子分析等; 10)注入线性增压载流子瞬态法(Injection-CELIV):电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析; 11)MIS-CELIV:载流子迁移率量测 12)阻抗谱测量(Impedance Spectroscopy):器件等效电路分析等; 13)电容频率测量法(C-f): 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量; 14)电容电压测量法(C-V):内建电压、参杂浓度和几何电容等测量; 15) 深能级瞬态谱(DLTS):陷阱分析; 16)强度调制光电流谱(IMPS):载流子传输时间分析; 17)强度调制光光电压谱(IMVS):载流子复合时间、收集效率等分析; 18)瞬态电致发光测试(Transient Electroluminescence):抽取OLED器件的载流子,磷光寿命测量; 应用案例:1.第三代太阳能电池的表征2. Consistent Device Simulation Model Describing Perovskite Solar Cells in Steady-State, Transient and Frequency Domain
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  • 该系统对测量和评价薄膜电子和空穴的迁移率非常关键,主要是用于EL元件和太阳能电池。该系统由一个短脉冲激光激发的载流子产生氮模具,高速采样电子,样品室和数据处理系统。我们的防噪声系统和独特的信号处理降低了噪声明显,响应速度快,如纳米二阶和高灵敏度已经达到为了测量电子和空穴的迁移率。更换不同的模具(作为一个选项)模具的激光使系统振荡的波长范围从分子与脉冲宽度缩短600皮秒荧光。除此之外,TOF法测量,可选单位系统能通过FET的方法测量的迁移率(选项)。原理:脉冲光照射样品。然后用示波器测量电荷的流动速度光脉冲照射到薄膜样品,被施加电压到薄膜样品。主要应用:测试有机半导体和有机薄膜的载流子迁移率The Model CMM-250 has been designed to measure the electron and hole mobilities which are very critical to evaluation of the thin film to be used for the EL elements and solar cells. The system consists of a short pulse nitrogen excitation die laser for carrier generation, high speed sampling electronics, sample compartment and data processing system. Our noise prevention system and unique signal processing have reduced noise significantly so that fast response such as nano-second order and high detection sensitivity have been achieved in order to measure the electron and hole mobilities. Changing different die ( as an option ) of the die laser enables the system to oscillate the wavelength range from 337nm to 730nm with pulse width shortened in 600 pico second. In addition to this TOF method measurement, the system with an optional unit is capable to measure mobilities by FET method(option).Features? Achievement of time resolution at nano-second enables the system to measure mobility such as 10-7-10-1cm2/Vsec( this maybe changed depending on the sample and its thickness).? Easy Operation with probe/sample compartment? New designed optics and data processing enabled to obtain high SN ratio dataMeasurementMobility calculationWhile checking the measurement data, mobility can be easily calculated.By putting cursor on the inflection point, mobility can be calculated automatically while seeing the logarithmic converted data.Signal processingIn addition to noise prevention, our unique signal processing enables the system to calculate very small signal data with large noise. The measurement can be applied to the thinner film or high mobility sample, which extends the measurement range.FET Measurement ( Option )Adding the optional probe and software to the system is enabled to measure mobility measurement for FET type element.
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  • GRIMM 差分电迁移率分析仪 空气纳米颗粒物筛分-差分电迁移率分析仪(DMA) DMA通过纳米颗粒物在电场中的电迁移率不同来分离不同粒径的颗粒物。带负电荷的颗粒物,受到带正电的电极吸引而在电场中迁移,在特定电压下,只有特定电迁移率的颗粒物能够通过DMA,并进入CPC或FCE计数。通过在10000V到5V范围内步进调节电压,即可得到颗粒物的粒径分布。 当DMA设置固定电压时,可用于产生单分散气溶胶。 GRIMM DMA分为长、中、短型号,适用于不同测量需求。 GRIMM DMA可以和CPC,FCE检测器连用组成SMPS+C或SMPS+E,或和静电采样器连用,收集纳米气溶胶。 典型应用:吸入和暴露研究环境和气候变化柴油汽油发动机排放研究工作环境测量健康影响纳米技术航测纳米颗粒物生成和传输过滤效率测试打印机排放路边测量 GRIMM 为您提供室内外颗粒物测量全面解决方案
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电荷迁移率测试系统相关的资讯

  • 如何1分钟完成厘米级二维材料的载流子迁移率测量
    引言近年来, 石墨烯等二维材料与器件领域的研究和开发取得了日新月异的进展。随着二维材料与器件研究和开发的深入, 研究人员越发清楚地认识到, 二维材料中载流子的传输能力是影响其器件性能的一个至关重要的因素。衡量二维材料载流子传输能力的主要参数是载流子迁移率μ, 它直接反映了载流子在电场作用下的运动能力, 因此载流子迁移率的测量一直是石墨烯等二维材料与器件研究中的重要课题。二维材料载流子迁移率的测量方法迄今为止已有许多实验技术来测量二维材料的载流子迁移率,主要分为四大类, 一是稳态电流方法( 如稳态直流J-V 法和场效应晶体管方法),该方法是简单的一种测量载流子迁移率的方法,可直接得到电流电压特性和器件的厚度等参数。二是瞬态电流方法,如瞬态电致发光、暗注入空间电荷限制电流和飞行时间( TOF) 方法等;三是微波传导技术, 如闪光光解时间分辨微波传导技术和电压调制毫米波谱;四种是导纳( 阻抗) 法。但上述实验方法仍存在一些普遍性问题:1)样品制备要求较高,需要繁杂的电制备;2)只能给出平均值,无法直观的得到整个二维材料面内的载流子迁移率的分布情况,无法对其均匀性进行直观表征;3)测量效率较低,无法满足未来大面积样品及工业化生产的需求。因此,我们亟需进一步优化和开发新的实验技术来便捷快速的获得载流子迁移率。颠覆性的二维材料载流子迁移率测量方法西班牙Das Nano公司采用先进的脉冲太赫兹时域光谱技术创新性的研发出了一款针对大面积(8英寸wafer)石墨烯、半导体薄膜和其他二维材料100%全区域的太赫兹无损快速测量设备-ONYX[2,3],可在1 min之内完成厘米样品的载流子浓度测量。基于反射式太赫兹时域光谱技术(THz-TDS)弥补了传统接测量方法之间的不足和空白。实现了从科研到工业的大面积石墨烯及其他二维材料的无损和高分辨,快速的载流子迁移率测量,为石墨烯和二维材料科研和产业化研究提供了强大的支持。近日,北京大学刘忠范院士团队通过自主设计研发的电磁感应加热石墨烯甚高温生长设备,在 c 面蓝宝石上在 30 分钟内就可以直接生长出了由取向高度一致、大晶畴拼接而成的晶圆高质量单层石墨烯。获得的准单晶石墨烯薄膜在晶圆尺寸范围内具有非常均匀的面电阻,而且数值较低,仅为~600 Ω/□,通过Das Nano公司的ONYX的载流子迁移率测量功能显示当分辨率为250 μm时迁移率依旧高于6,000 cm2 V–1 s–1,且具有很好的均匀性。这是迄今为止,常规缘衬底上直接生长石墨烯的好水平。文章以题为“Direct growth of wafer-scale highly-oriented graphene on sapphire”[4]发表在Science Advances上。图二、电阻及载流子迁移率测量结果 【参考文献】[1] Bardeen J, Shockley W. Deformation Potentials and Mobilities in Non-Polar Crystals[J]. Physical Review, 2008, 801:72-80[2] Cultrera, A., Serazio, D., Zurutuza, A. et al. Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography. Sci Rep 9, 10655 (2019).[3] Melios, C., Huang, N., Callegaro, L. et al. Towards standardisation of contact and contactless electrical measurements of CVD graphene at the macro-, micro- and nano-scale. Sci Rep 10, 3223 (2020).[4]Chen, Z., Xie, C., Wang, W. et al. Direct growth of wafer-scale highly-oriented graphene on sapphire. Sci. Adv. (2021).
  • TSI公司发布新一代MacroIMS高分子离子迁移率谱仪
    世界精密测量仪器的生产商TSI公司宣布了其新一代MacroIMS高分子离子迁移率谱仪的上市。 MacroIMS高分子离子迁移率谱仪3982是一款全新的可快速测量高分子的分子量和粒径的仪器,并具有非常高的分辨率。MacroIMS高分子离子迁移率谱仪系统是由来自TSI公司的纳米颗粒分析核心技术中发展而来,经过验证,该系统可用于各种生化分析,包括抗体聚合、脂蛋白、病毒、疫苗、类病毒颗粒、聚合物以及纳米颗粒胶体等。 这款新一代的产品具有许多上一代产品所不具有的独特优势,例如通过直接与LC泵和自动取样器相连,新产品能够实现自动分析;并采用了软X射线电离技术,摆脱了为实现电荷中和需要使用放射源的缺陷;而且该设备可自动发现组分;它具有更快的扫描速度,并配备了基于色谱分析的具有扩展分析工具的软件。 TSI公司高级全球产品经理Erik Willis先生说,“这款MacroIMS高分子离子迁移率谱仪的优势就在于它能够分析那些对质谱仪来说粒径过大的高分子和纳米粒子,而且具有光散监测仪所无法达到的高测量精度和分辨率。这款MacroIMS高分子离子迁移率谱仪是对液态色谱分析、场流分析、AUC分离以及质谱分析的有力补充。” 如果您想了解更多信息或寄送样品至本公司进行分析,请点击http://www.tsi.com/Products/Macromolecule-Analyzers/Other/MacroIMS-Macroion-Mobility-Spectrometer-3982.aspx。
  • Science:科学家测定超高热导率半导体-砷化硼的载流子迁移率
    中国科学院国家纳米科学中心研究员刘新风团队联合美国休斯顿大学包吉明团队、任志锋团队,在超高热导率半导体-立方砷化硼(c-BAs)单晶的载流子扩散动力学研究方面取得进展,为其在集成电路领域的应用提供重要的基础数据指导和帮助。相关研究成果发表在《科学》(Science)上。 随着芯片集成规模的进一步增大,热量管理成为制约芯片性能的重要因素。受到散热问题的困扰,不得不牺牲处理器的运算速度。2004年后,CPU的主频便止步于4GHz,只能通过增加核数来进一步提高整体的运算速度,而这一策略对于单线程的算法无效。2018年,具有超高热导率的半导体c-BAs的成功制备引起了科学家的兴趣,其样品实测最高室温热导率超过1000 Wm-1K-1,约为Si的十倍。c-BAs具有高的热导率以及超弱的电声耦合系数和带间散射,理论预测c-BAs同时具有颇高的电子迁移率(1400 cm2V-1s-1)和空穴迁移率(2110 cm2V-1s-1),这在半导体材料系统中颇为罕见,有望将其应用在集成电路领域来缓解散热困难并可实现更高的运算速度,因而通过实验来确认这种高热导率的半导体材料的载流子迁移率具有重要意义。 虽然c-BAs已被制备,但样品中广泛分布着不均匀的杂质与缺陷,对其迁移率的测量带来困难。一般可以通过霍尔效应,测定样品的载流子的迁移率,而电极的大小制约其空间分辨能力,并直接影响测试结果。2021年,利用霍尔效应测试的c-BAs单晶的迁移率报道结果仅为22 cm2V-1s-1,与理论预测结果相差甚远。具有更高的空间分辨能力的原位表征方法是确认c-BAs本征迁移率的关键。 通过大量的样品反复比较,科研团队确定了综合应用XRD、拉曼和带边荧光信号来判断样品纯度的方法,并挑选出具有锐利XRD衍射(0.02度)窄拉曼线宽(0.6波数)、接近0的拉曼本底、极微弱带边发光的高纯样品。进一步,科研团队自主搭建了超快载流子扩散显微成像系统。通过聚焦的泵浦光激发,广场的探测光探测,实时观测载流子的分布情况并追踪其传输过程,探测灵敏度达到10-5量级,空间分辨能力达23 nm。利用该测量系统,研究比较了具有不同杂质浓度的c-BAs的载流子扩散速度,首次在高纯样品区域检测到其双极性迁移率约1550 cm2V-1s-1,这一测量结果与理论预测值(1680 cm2V-1s-1)非常接近。通过高能量(3.1 eV,400 nm)光子激发,研究还发现长达20ps的热载流子扩散过程,其迁移率大于3000 cm2V-1s-1。 立方砷化硼高的载流子和热载流子迁移速率以及超高的热导率,表明可广泛应用于光电器件、电子元件。该研究厘清了理论和实验之间存在的差异的具体原因,并为该材料的应用指明了方向。 研究工作得到中科院战略性先导科技专项(B类)、国家自然科学基金、国家重点研发计划与中科院仪器设备研制项目等的支持。  图1.c-BAs单晶的表征。(A)c-BAs单晶的扫描电镜照片;(B)111面的X射线衍射;(C)拉曼散射(激发波长532 nm);(D)极微弱的带边发光(激发波长593 nm)及荧光成像(插图,标尺为10微米)。 图2.瞬态反射显微成像和在c-BAs中的载流子扩散。(A)实验装置示意图,激发波长为600 nm探测波长为800 nm;(B)不同时刻的瞬态反射显微成像(标尺1微米);(C)典型的载流子动力学;(D)0.5 ps的二维高斯拟合(E)不同时刻的载流子分布方差随时间的演化及载流子迁移率,误差标尺代表95%置信拟合区间。

电荷迁移率测试系统相关的方案

  • 人高迁移率族蛋白1(HMG1)ELISA试剂盒
    人高迁移率族蛋白1(HMG1)ELISA试剂盒人高迁移率族蛋白1(HMG1)ELISA试剂盒使用说明书本试剂盒仅供研究使用。检测范围: 规格:96T/48T使用目的:本试剂盒用于测定人血清,血浆及相关液体样本中人高迁移率族蛋白1(HMG1)含量。实 验 原 理 本试剂盒应用双抗体夹心酶标免疫分析法测定标本中人高迁移率族蛋白1(HMG1)水平。用纯化的抗体包被微孔板,制成固相抗体,往包被单抗的微孔中依次加入人高迁移率族蛋白1(HMG1)抗原、生物素化的人高迁移率族蛋白1(HMG1)抗体、HRP标记的亲和素,经过彻底洗涤后用底物TMB显色。TMB在过氧化物酶的催化下转化成蓝色,并在酸的作用下转化成最终的黄色。颜色的深浅和样品中的人高迁移率族蛋白1(HMG1)呈正相关。 使用酶标仪在450nm波长下测定吸光度(OD值),计算样品浓度
  • 使用光谱和寿命共焦光致发光映射在 VACNT 钙钛矿太阳能电池中成像电荷提取
    由于钙钛矿具有高载流子迁移率、大的吸收系数、可调带隙和长载流子扩散长度等特性,卤化物钙钛矿太阳能电池成为目前研究热点。如何有效地将电荷载流子从器件中提取出来是太阳能电池设计中的挑战之一。为了帮助提取电荷,通常会将电子和空穴提取层合并到器件中。垂直排列的碳纳米管 (VACNTs)是目前研究较多的太阳能材料,常被用于空穴提取层。VACNTs空穴提取层的太阳能电池如图 1 所示。VACNTs 在 ITO 电极顶部以网格状图案生长,以实现改进的电荷提取,同时保持ITO/VACNTs 具备较高的光传输功能。光致发光 (PL)强度与钙钛矿中电荷载流子的数量成正比,因此对电荷转移到相邻层中很敏感。这使得基于 PL 的技术对于研究新提取层的性能非常宝贵。在本文中,空穴转移到基于 VACNT 的空穴提取层是通过使用爱丁堡仪器 RMS1000 共焦显微拉曼成像获取到的。
  • 北京豫维:高效液相色谱法测定粽子中的黄酮类化合物及其迁移规律
    建立天然包装材料箬叶及粽米中荭草苷、异荭草苷、牡荆苷、异牡荆苷、对香豆酸5种黄酮类化合物的高效液相色谱的分析方法。通过测定一次蒸煮、二次蒸煮、不同保存条件等因素对箬叶及粽米中黄酮类化合物含量变化的影响,阐明了不同条件下箬叶中黄酮类化合物在粽子中的迁移规律。结果表明:一次蒸煮后,荭草苷、异荭草苷、牡荆苷、异牡荆苷、对香豆酸5种黄酮化合物从箬叶迁移到粽米的迁移率为7.41%~45.18% 二次蒸煮时,在120 min内箬叶中5种黄酮类化合物的迁移率为18.07%~65.94%,特别是在前30 min中,箬叶中黄酮类化合物降低明显,分别占120 min总减少量的51.61%~72.48%,并且二次蒸煮的迁移率大于一次蒸煮。在30 d的保存时间内,箬叶中黄酮类化合物在前15 d减少明显,占总减少量的68.60%~85.50%(除异牡荆苷为0外) 第15天后迁出缓慢 30 d内总迁移率分别为25.90%~64.84%(除异牡荆苷为0外)。随着二次蒸煮时间与保存时间的变化,荭草苷与异荭草苷较迁移缓慢。新鲜保存的方式最有利于异牡荆苷在粽子中迁移,速冻保存最有利于荭草苷、异荭草苷、牡荆苷、对香豆酸的迁移。异牡荆苷在真空保存和速冻保存时短时间内不发生迁移。

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    薄膜综合物性分析仪(导热系数,电导率,电阻率,赛贝克系数,霍尔系数,迁移率 载流子浓度 发射率)同步测量苏需要的热物性参数,消除样品的几何尺寸,样品物质组分和热分布不均的影响,结果非常具有可靠性。可测量30nm-30μm的涂层与薄膜样品,样品面积约25mm²采用芯片式设计,样品于传感器紧密接触,构成一个缩小的热带发导热测量模型,可配置锁相放大器,以适应3ω法对样品的in-plance和cross-plance导热进行测量。可以适应不同材质样品。无论是金属,陶瓷,半导体等无机薄膜还是有机薄膜,都可以用TFA测量模块化设计, 根据需求,添加测量模块。1:瞬态导热测量磨坏:锁相放大器 配置3ω测量单元,可测平面,交叉面导热系数,比热等2: 霍尔效应测量模块: 配置磁场单元,可测霍尔电压,迁移率,载流子浓度。3 低温附件模块:-150°-400°C 样品两侧均安装LN2管道, 有利于样品两侧温度控制。导热系数:稳态热带法,3ω法。电阻于霍尔系数:范德堡法赛贝克:静态直流法http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151255_581948_3060548_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151255_581949_3060548_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151255_581950_3060548_3.png

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    用途:主要用于核酸、蛋白质电泳观察、照像和实验结果科学分析。特点:暗箱式,无需暗室,可全天候使用;*抽屉式灯箱互换,使用方便,防止污染;*具有实时预览、手动对焦功能;紫外滤光镜:EB专用超多层镀膜滤光镜;*兼容tif、jpg、bmp、gif等诸多图像格式。通用技术参数技术指标:*摄像头有效分辨率130万像素;专业的6倍光学变焦镜头;摄像头信噪比:62dB;摄像头像素大小5.2μm(H)×5.2μm(V);CCD摄像头曝光时间:1/100000-1/50sec.;*图像自适应增强积分,有效保证图像清晰,稳定,真实;可进行1D、斑点杂交和菌落记数等专业分析。基本参数外形尺寸(L×W×H):456×420×553mm反射紫外光源波长:254nm、365nm透射紫外光源波长:302nm紫外光透射面积:252×252mm可见光透射面积:280×192mm系统配置:*采用高性能低照度进口黑白摄像头;*进口专业分析软件;高配置品牌计算机;高分辨率喷墨打印机。功能强大的分析软件1.图象处理功能:l调整图像大小、调整亮度、调整灰度、调整对比度;图像旋转、图像反色、图象裁切、图象缩放。2.1D分析功能:l*分子量、浓度和各条带在泳道内的含量计算;l可计算出每根条带的迁移率(Pix),强度(nt),净面积值;最大面积值和百分比;l泳道的自动识别(包括弯曲泳道);l*具有等高线功能,可标记出相同分子量的水平线;l可在同一屏幕显示出所有泳道所有条带的灰度值、分子量、浓度、面积、迁移率;l可添加各种文字、箭头、图形符号的注解。3.克隆计数(蓝白斑筛选)4.菌落、斑点杂交5.*数据结果与MS Excel无缝联接6.软件支持win98/Me/2000/xp
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    用途:主要用于核酸、蛋白质电泳观察、照像和实验结果科学分析。特点:暗箱式,无需暗室,可全天候使用;*抽屉式灯箱互换,使用方便,防止污染;*具有实时预览、自动对焦功能;*紫外滤光镜:兼容EB、Sybr、GoldView等大部分荧光染料;*兼容tif、jpg、bmp、gif、pcx等诸多图像格式。1功能强大的分析软件:图象处理功能:调整图像大小、调整亮度、调整灰度、调整对比度;图像旋转、图像反色、图象裁切、图象缩放。2.1D分析功能:*分子量、浓度计算(可按连接点、线性衰减、指数衰减等三种方法得出结果);*可计算出每根条带的迁移率(Pix),强度(Int),净面积值,最大面积值和百分比;*条带标注、文字与图形标注;*泳道的自动识别;*弯曲泳道的手动识别;*可在同一屏幕显示出所有泳道所有条带的灰度值、分子量、浓度、面积、迁移率;*可显示分子量的标准曲线图;*可添加各种文字、箭头、图形符号的注解。3.*AFLP,RFLP,PCR聚类等同源性遗传树分析:多肽性分析;差异显示分析;自动给出遗传树状图。4.*2D分析功能:可计算出每个点的迁移率(Pix),强度(Int)和百分比;根据标准蛋白点自动计算分子量和等电点PH值;可求双向电泳某点的面积、直径、灰度值;自动统计点的总数,计算面积、灰度值;可分析双向电泳三个重复样品的平均数、差异位置,根据平均数生成新的图形。5.克隆计数(蓝白斑筛选)6.菌落、斑点杂交7.*数据结果与MS Excel无缝联接8.软件支持win98/Me/2000/xpv通用技术参数外形尺寸(L×W×H):456×435×780mm反射紫外光源波长:254nm、365nm透射紫外光源波长:302nm紫外光透射面积:252×252mm可见光透射面积:280×192mm系统配置:进口高分辨率数码相机;进口专业分析软件;奔4级高配置品牌计算机;高分辨率彩色喷墨打印机。技术指标:分辨率:与相机一致;有效像素数:1470万像素;像素密度:8位(256级灰度);数码变焦:与相机一致;光学变焦:与相机一致;光圈范围:F2.8/F4.5-F8.0;快门速度:15-1/4000秒;微距自动调焦:与相机一致;可进行1D、2D、AFLP等实验结果的专业分析。
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