电荷迁移率测试系统

简介：载流子迁移率测量系统Paios主要用于太阳能电池在稳态，瞬态以及交流条件下的光电性能测量（载流子迁移率测量Photo-CELIV，瞬态光电流测量TPC、瞬态光电性能测量TPV、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS以及阻抗IS,CV等量测）为光电器件微观机理研究提供了有力的测试平台；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。可量测器件类型： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC；主要测量功能： * 最大功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子浓度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系；*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和Langevin复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：载流子迁移率量测 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量； 应用案例：1.第三代太阳能电池的表征2. Consistent Device Simulation Model Describing Perovskite Solar Cells in Steady-State, Transient and Frequency Domain

该系统对测量和评价薄膜电子和空穴的迁移率非常关键，主要是用于EL元件和太阳能电池。该系统由一个短脉冲激光激发的载流子产生氮模具，高速采样电子，样品室和数据处理系统。我们的防噪声系统和独特的信号处理降低了噪声明显，响应速度快，如纳米二阶和高灵敏度已经达到为了测量电子和空穴的迁移率。更换不同的模具（作为一个选项）模具的激光使系统振荡的波长范围从分子与脉冲宽度缩短600皮秒荧光。除此之外，TOF法测量，可选单位系统能通过FET的方法测量的迁移率（选项）。原理：脉冲光照射样品。然后用示波器测量电荷的流动速度光脉冲照射到薄膜样品，被施加电压到薄膜样品。主要应用：测试有机半导体和有机薄膜的载流子迁移率The Model CMM-250 has been designed to measure the electron and hole mobilities which are very critical to evaluation of the thin film to be used for the EL elements and solar cells. The system consists of a short pulse nitrogen excitation die laser for carrier generation, high speed sampling electronics, sample compartment and data processing system. Our noise prevention system and unique signal processing have reduced noise significantly so that fast response such as nano-second order and high detection sensitivity have been achieved in order to measure the electron and hole mobilities. Changing different die ( as an option ) of the die laser enables the system to oscillate the wavelength range from 337nm to 730nm with pulse width shortened in 600 pico second. In addition to this TOF method measurement, the system with an optional unit is capable to measure mobilities by FET method(option).Features? Achievement of time resolution at nano-second enables the system to measure mobility such as 10-7-１0-１cm2/Vsec( this maybe changed depending on the sample and its thickness).? Easy Operation with probe/sample compartment? New designed optics and data processing enabled to obtain high SN ratio dataMeasurementMobility calculationWhile checking the measurement data, mobility can be easily calculated.By putting cursor on the inflection point, mobility can be calculated automatically while seeing the logarithmic converted data.Signal processingIn addition to noise prevention, our unique signal processing enables the system to calculate very small signal data with large noise. The measurement can be applied to the thinner film or high mobility sample, which extends the measurement range.FET Measurement ( Option )Adding the optional probe and software to the system is enabled to measure mobility measurement for FET type element.

GRIMM 差分电迁移率分析仪 空气纳米颗粒物筛分-差分电迁移率分析仪（DMA） DMA通过纳米颗粒物在电场中的电迁移率不同来分离不同粒径的颗粒物。带负电荷的颗粒物，受到带正电的电极吸引而在电场中迁移，在特定电压下，只有特定电迁移率的颗粒物能够通过DMA，并进入CPC或FCE计数。通过在10000V到5V范围内步进调节电压，即可得到颗粒物的粒径分布。 当DMA设置固定电压时，可用于产生单分散气溶胶。 GRIMM DMA分为长、中、短型号，适用于不同测量需求。 GRIMM DMA可以和CPC,FCE检测器连用组成SMPS+C或SMPS+E，或和静电采样器连用，收集纳米气溶胶。 典型应用：吸入和暴露研究环境和气候变化柴油汽油发动机排放研究工作环境测量健康影响纳米技术航测纳米颗粒物生成和传输过滤效率测试打印机排放路边测量 GRIMM 为您提供室内外颗粒物测量全面解决方案

SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪&bull 仪器简介 扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility Particle Sizer)是一个纳米颗粒粒径谱分析系统，固定式由DMA+CPC5.414组成检测系统，移动式由DMA+CPC5.403组成检测系统，用于5nm ~ 1100nm的纳米颗粒分析。对小颗粒物有最高分辨率和最低分散损失，根据实验需求不同，有两种长度的电极。DMA（Differential Mobility Analyzer）差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类，切割头将粗的颗粒去除，减少大颗粒的干扰；同时建议前置个静电中和器，消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计，可减少颗粒损失；顶端层流器，使气流呈层流状态流动。洁净干燥的保护鞘气与气溶胶气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地，中心极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与中心极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度)，具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出，其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒，进入CPC凝聚核粒子计数器（Condensation Particle Counters）对颗粒物进行计数.&bull 仪器应用&bull 基础气溶胶研究&bull 吸入和暴露研究&bull 环境和气候研究&bull NP增长&bull 凝结及迁移率研究&bull 过滤检测&bull 发动机排放研究&bull 工作场所检测&bull 类型类型型号总高度mm电极长度mm3.0L/min鞘气时粒径范围 nm20L/min鞘气时粒径范围L-DMA55-90049235011-11104.2-247M-DMA55-340230885.4-3582.1-103&bull 性能参数&bull 粒径范围5.4 ~ 358 nm (M-DMA)；11 ~ 1110 nm (L-DMA)&bull 粒径分辨率标准44通道，可优化为255通道，对数间隔&bull 气体流速样品气：0.3 L/min；鞘气体：3.0 L/min&bull 工作流体：1-丁醇，超级纯 液体除去：微泵连续&bull 通讯方式RS-232、ASCII存储卡&bull 环境温度10~35℃&bull 环境湿度0~95%&bull 压力环境压力±50mbar&bull 电源85-264VAC/47-440Hz

U-SMPS 1700扫描迁移率粒度仪适用于高气溶胶浓度的Palas 通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两种版本。 U-SMPS带有短分类柱（1700型），特别适合2-400 nm范围内的极高精度粒度分布测量。Palas U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义称为差动迁移率分类器（DEMC），也称为差动迁移率分析仪（DMA）]，根据气溶胶颗粒电迁移率选择气溶胶颗粒并传递到出口。然后，在下游的Charme 气溶胶静电计中测量这些粒子携带的电荷。气溶胶静电计的一个主要优点是可以进行非常快速的测量。但是，这种方法需要很高的成本。因此，其适用性被限制于高气溶胶浓度（例如，燃烧过程或颗粒发生器的下游）。可以通过物理参数直接追溯每时间单位（流量）的电荷测量值。其结果是，此方法主要用作凝结粒子计数器（例如UF-CPC）校准期间的参考。U-SMPS使用触摸屏图形用户界面进行操作。可以在短短30秒内执行单粒子分布扫描，或者在多达128个尺寸通道中执行扫描，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（丰富的统计和平均值计算）和导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232 / 485）连接到计算机或网络。 Palas U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA，CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能尤其重要，特别是对于校准。所有组件都必须通过严格的质量保证测试，并在内部组装。U-SMPS 1700扫描迁移率粒度仪优点2至400 nm粒径分布连续和快速扫描的测量原理高分辨率，多达128个分类器/衰减适用于高达10^8颗粒/立方厘米的浓度通用连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器图形显示测量值直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI集成数据记录仪支持多种接口和远程访问低维护功能可靠减少您的运营费用U-SMPS 1700扫描迁移率粒度仪应用领域过滤测试气溶胶研究吸入实验工作场所测量

产品简介室内宽范围气溶胶光谱仪组合两种粒子计数和分类技术:扫描迁移率粒度仪(SMPS+C用于纳米颗粒的丁醇缩合粒子计数器便携式光学气溶胶光谱仪(11-D)为尘埃颗粒。该系统可用于精确和高分辨率测量整个粒度范围从5 nm到35 μm的31个尺寸通道，用于11-D和用户可选择SMPS+C的通道数。该系统操作简单，适用于各种场合气溶胶的研究。测量原理DMA（Differential Mobility Analyzer）差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类，喷嘴将粗的颗粒去除，减少大颗粒的干扰；同时建议前置个静电中和器，消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计，可减少颗粒损失；顶端层流器，使气流呈层流状态流动。洁净干燥的鞘气与样气气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地，中心极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与中心极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度)，具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出，其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒，进入CPC凝聚核粒子计数器（Condensation Particle Counters）对颗粒物进行计数。仪器特征实时监测整个粒径范围在低浓度和高浓度下，CPC和OPC具有高精度极好的计数统计和再现性低扩散损耗自检所有光学和气动元件为高质量标准仪器参数安全，防止数据丢失应用监测超细颗粒和粉尘N气溶胶科学N工作场所监控

适用测量有机半导体器件的电子迁移率和空穴迁移率分布式系统：测试箱主尺寸2400mm*800mm*1600mm，重量＜200KG，系统配置包括：示波器、电压源、信号触发单元、测试暗箱，样品仓，部件置于机柜内，固定样品台。主要参数：1．电压源电压范围：1-200V；2．电压分辨率：0.1V；3．激光器：纳秒Nd YAG激光器2个；4．激光束尺寸：＜2mm*2mm；5．测量时间范围：4 ns-10 s；6．最大输出电流：5mA 7．测试功能：载流子渡越时间、迁移率、载流子寿命；8．迁移率测量范围：＞10^-6cm^2/(V.s)@1um样品厚度。

适用于高气溶胶浓度的Palas通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两种版本。 U-SMPS带有短分类柱（1700型），特别适合2-400 nm范围内的极高精度粒度分布测量。PalasU-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义称为差动迁移率分类器（DEMC），也称为差动迁移率分析仪（DMA）]，根据气溶胶颗粒电迁移率选择气溶胶颗粒并传递到出口。然后，在下游的Charme气溶胶静电计中测量这些粒子携带的电荷。气溶胶静电计的一个主要优点是可以进行非常快速的测量。但是，这种方法需要很高的成本。因此，其适用性被限制于高气溶胶浓度（例如，燃烧过程或颗粒发生器的下游）。可以通过物理参数直接追溯每时间单位（流量）的电荷测量值。其结果是，此方法主要用作凝结粒子计数器（例如UF-CPC）校准期间的参考。U-SMPS使用触摸屏图形用户界面进行操作。可以在短短30秒内执行单粒子分布扫描，或者在多达128个尺寸通道中执行扫描，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（丰富的统计和平均值计算）和导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232 / 485）连接到计算机或网络。 PalasU-SMPS普遍支持其他制造商的DMA，CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能尤其重要，特别是对于校准。所有组件都必须通过严格的质量保证测试，并在内部组装。图1展示U-SMPS的工作原理：图1：使用气溶胶静电计作为浓度测量装置的通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）的工作原理气溶胶在进入分类器（DEMC列）之前经过调节。可选的干燥器（例如硅胶，Nafion）可以去除颗粒中的水分。使用双极中和剂（例如Kr 85）来确保测定的气溶胶电荷分布。为了去除大于分类器尺寸范围的颗粒，需要在DEMC的入口处使用撞击器。然后，气溶胶通过入口导入DEMC色谱柱。沿着外部电极的气溶胶流在此与护套气流仔细合并。重要的是在此处避免任何湍流，以确保层流。电极的表面在光滑度和公差方面必须具有极高的质量。鞘空气是干燥、无颗粒的载气（通常是空气），其体积大于连续在闭环中循环的气溶胶体积。鞘空气与样品空气的体积比决定传递函数，因此决定DEMC的分离能力。通过施加电压，在内外电极之间会产生一个径向对称的电场。内电极在末端带有小缝隙，带正电。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力，带负电的粒子被转移到正电极。根据它们的电迁移率，一些颗粒会穿过狭缝并离开DEMC。在工作中，电压和电场因此而连续变化。结果，具有变化迁移率的颗粒会离开DEMC，并且由纳米颗粒计数器 – 在此显示为气溶胶静电计（例如PalasCharme）连续测量-。为了组合数据（电压、电荷数、电荷分布等）并获得粒度分布，必须进行逆变换。为此，使用的算法是由IfT（德国莱比锡）的Wiedensohler教授开发的算法。图2：在触摸屏显示PalasDNP 3000颗粒发生器产生的气溶胶粒径分布用户界面和软件基于持续的客户反馈，我们设计了良好的用户界面和软件，以实现直观的操作、实时控制并显示测量数据和参数。此外，软件还通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络支持为数据管理提供支持。测量数据可以显示和评估。可用系统图3显示Palas可提供的DEMC和Charme气溶胶静电计的两种组合。 对于DEMC分类器与Palas冷凝粒子计数器的组合，请阅读“U-SMPS 1xx0_2xx0_V0011212”规格参数表。 其他制造商提供的大多数DMA、CPC和气溶胶静电计都可以用作U-SMPS系统的组件。图3：用于高浓度颗粒测量的PalasU-SMPS系统概述

产品介绍SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪（Scanning Mobility Particle Sizer）是一个纳米颗粒粒径谱分析系统，实验室型由DMA+CPC5416组成检测系统，19’机架式由DMA+CPC5420组成检测系统，用于5nm ~ 1100nm的纳米颗粒分析。GRIMM DMA符合Vienna型设计特征，对小颗粒物有最高分辨率和最低分散损失，根据实验需求不同，有两种长度的电极。 图 5420机架式CPC测量原理DMA（Differential Mobility Analyzer）差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类，喷嘴将粗的颗粒去除，减少大颗粒的干扰；同时建议前置个静电中和器，消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计，可减少颗粒损失；顶端层流器，使气流呈层流状态流动。洁净干燥的鞘气与样气气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地，中心极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与中心极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度)，具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出，其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒，进入CPC凝聚核粒子计数器（Condensation Particle Counters）对颗粒物进行计数。图 系统工作原理粒径范围DMA根据粒径范围不同可以分为L-DMA、M-DMA和S-DMA。 图 差分粒子电迁移器DMA 图 三种型号DMA类型型号总高度/mm电极长度/mm鞘气3.0LPM时粒径范围/nmL-DMA55-90049235011~1110M-DMA55-340230885.4~358S-DMA55-100157152.2~112测试结果可靠在2005年8月和9月加利福尼亚州中部Fresno，GRIMM仪器与其他品牌的SMPS系统通过测量环境气溶胶进行测量结果比较。结果显示GRIMM SMPS+C测量得到的粒子数浓度分布，与其他品牌测量得到的平均值相比，是可靠的。【Comparison of four scanning mobility particle sizers at the Fresno Supersite (Chow 2006)】产品特征粒径总范围5 ~ 1094 nm浓度范围可达到107P/cm3Vienna型DMA，L-DMA与M-DMA可互相切换坚固可靠，丁醇安全特征（防水、除臭）防溢出CPC饱和器设计与软件联合使用，全自动；开机后自动自检，保证高可靠性气象传感器的模拟输入全面的自检以实现最高的可靠性产品应用基础气溶胶研究吸入和暴露研究环境和气候研究NP增长、凝结及迁移研究过滤检测移动气溶胶研究工作场所监测操作软件可用于纳米颗粒检测仪器的通用软件，可以记录测量数据和一系列完整的仪器参数。结果以图表形式显示，可以输出为通用的文件格式。软件将CPC作为计数器，差分电迁移分析仪（DMA）作为粒径分级的气溶胶发生器。实时进行数据处理，算法由Reischl教授（维也纳大学）开发，符合计算粒径分布的新标准ISO 15900。软件显示颗粒物数浓度、表面积和粒径质量分布及其他统计参数。技术参数性能参数粒径范围5~ 350 nm (M-DMA)；10 ~ 1094 nm (L-DMA)粒径分辨率标准44通道，最多255通道，对数间隔CPC D50粒径4nmCPC响应时间＜3s浓度范围1~107 P/cm3150000 P/cm2（单颗粒模式）107 P/cm3（光度计模式）中和器环形高压放电中和器（非放射性）气体流速样气流速0.3LPM鞘气流速3.0LPM流速控制通过热限流孔两端压差传感器控制流速，对环境温度和压力变化不敏感载气空气和惰性气体流体系统工作液正丁醇，超级纯废液微泵连续抽取到废液瓶中通讯系统RS-2329孔D形连接器，ASCII制命令内存卡：PCMCIA SRAM 4MB（仅移动系统有）模拟输入可接气象或气体传感器3个模拟信号操作条件环境温度10 ~ 40°C环境相对湿度RH：0~95%无凝结环境压力600~1100 mbar电源85~264VAC/47~440Hz，或120~370VDCVienna型DMA外部电极内径40 mm内部电极内径26 mm高压输出模块5 ~ 10 000 V，阳极内部电极(阴极可选)高压输入模块0 ~ 10 V，由CPC或DMA控制器提供高压安全保障打开DMA自动切断高压内部传感器温度、压力及两个热限流孔压差传感器

扫描电迁移率粒径谱仪 U-SMPS 气溶胶检测产品介绍：扫描电迁移率粒径谱仪 U-SMPS 气溶胶检通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两个版本。长分类柱（2050/2100型）能够可靠地确定8至1,200 nm的粒径分布。U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器（DMA），也称为差分迁移率分析器（DEMC）]，根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。然后通过冷凝颗粒计数器对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的单颗粒计数。 Wiedensohler教授（德国IfT莱比锡）开发了的算法，用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行，或者，每十个通道最多执行64个尺寸通道，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（广泛的统计和平均）以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232/485）连接到计算机或网络。 支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能十分重要，对于校准来说尤其如此。所有组件都通过严格的质量保证测试，并在内部组装。工作原理：气溶胶在进入分类器（DEMC列）之前经过调节。可选的干燥器（例如硅胶，Nafion）可以去除颗粒中的水分。使用双极中和剂（例如Kr 85）来确保测定的气溶胶电荷分布。为了去除大于分类机尺寸范围的颗粒，需要在DEMC的入口处使用撞击器。通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）的工作原理然后，气溶胶通过入口导入DEMC色谱柱。沿着外部电极的气溶胶流在此与护套气流仔细合并。重要的是，在此处应避免任何湍流，以确保层流。电极的表面在光滑度和公差方面必须具有ji高的质量。鞘空气是干燥的、无颗粒的载气（通常是空气），其体积大于连续在闭环中循环的气溶胶的体积。鞘空气与样品空气的体积比定义传递函数，从而定义尺寸分类器的分辨率。通过施加电压在内和外电极之间产生径向对称的电场。内电极在末端具有小缝隙，带正电。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力，带负电的粒子被转移到正电极。根据它们的电迁移率，一些颗粒会穿过狭缝并离开DEMC。在工作中，电压和电场连续变化。结果，迁移率变化的粒子离开DEMC，并由纳米粒子计数器（例如缩合粒子计数器）连续进行测量。在实际条件下，经过测试的软件为组合数据（电压、粒子数等）并获得粒度分布提供特殊的处理功能。3000颗粒发生器产生的气溶胶的粒径分布用户界面和软件基于持续的客户反馈，我们已设计良好的用户界面和软件，以实现直观的操作、实时控制，并可以显示测量数据和参数。此外，软件还通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络支持为数据管理提供支持。可以使用许多可用的显示选项和测量数据评估功能。产品优点：&bull 粒径分布从8 nm到1.2 μm&bull 连续和快速扫描的测量原理&bull 高分辨率，最多128个大小类/衰减&bull 适用于高达108颗粒数/立方厘米的浓度&bull 可以连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器&bull 图形显示测量值&bull 直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI&bull 集成数据记录仪&bull 支持多种接口和远程访问&bull 低维护&bull 功能可靠&bull 减少您的运营费用应用领域：过滤测试；气溶胶研究；环境与气候研究；吸入实验；室内和工作场所测量规格参数：接口USB, LAN, WLAN, AUX, RS-232 (CPC only)测量范围（尺寸）8 – 1,200 nm尺寸通道高达256（128 /衰减）测量范围（浓度数值）0 – 108 个颗粒/立方厘米用户界面触摸屏，800&bull 480像素，7英寸（17.78厘米）数据记录仪存储4 GB软件PDAnalyze调整范围（电压）1 – 10.000 V(上下扫描 mö gich奇)体积流量（鞘空气）2.5 – 14升/分钟安装条件+10 – +30°C（其他按需提供，控制单元）气溶胶体积流量0,5 – 3升/分钟

集成X射线电离功能的通用扫描迁移率粒度仪适用于8 ? 1200 nm的各种应用 图1：U-SMPS 2050X / 2100X / 2200X Palas 通用扫描迁移率粒径谱仪（U-SMPS）可提供两种版本。长分类柱（2050X / 2100X / 2200X 型号）可以确定 8 至 1200 nm 的粒径分布。该系列已经集成了 X 射线源作为中和器（参见图 1），代替放射性中和器（例如使用 Kr-85），优点是在运输过程中无需遵循针对放射源的要求。PalasU-SMPS 系统包括一个分类器 [ 在 ISO15900 中定义为电迁移率分级器（DEMC），也称为微分迁移率分析仪（DMA）]，可根据气溶胶颗粒的电迁移率选择相应的气溶胶颗粒并传送到出口。然后通过冷凝颗粒计数器（例如 UF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的 UF-CPC 型号可在各种浓度范围内实现更佳的单颗粒计数。 Palas 使用了由 Wiedensohler 教授（IfTLeipzig，德国）开发的演算算法，将测量数据转化为 U-SMPS 的颗粒分布。U-SMPS 使用图形化用户界面并在触摸屏上进行操作。一次粒子分布扫描可以在短短 30 秒之内执行，并且每十进制多达 64 个尺寸通道。在扫描期间，DEMC 分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上设置线性或对数显示测量值。随附的评估软件可提供各种数据评估（各种统计和平均值），以及导出功能。U-SMPS 通常作为独立设备运行，但也可以连接到计算机或使用各种接口（USB， LAN，WLAN，RS-232 / 485）连接网络。 PalasU-SMPS 支持 DMA，CPC 和其他制造商的气溶胶静电计。 U-SMPS 对颗粒物准确的尺寸确定和可靠性能极其重要，尤其是对于校准来说。所有组件都必须通过严格的质量保证测试，并且必须内部组装。 图 2 给出了U-SMPS 的工作原理：气溶胶在进入分类器（DEMC）之前先经过调节。 选配的干燥器（例如硅胶，Na?on）可以去除颗粒中的水分。 双极中和剂（XRC 049）用于确保气溶胶电荷分布符合预定。 在 DEMC 的入口处需要一个撞击器以去除大于分类器尺寸范围的颗粒。 图 2：扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）的工作原理。气溶胶通过 DEMC 柱的进样口导入，沿着外部电极与鞘气合并。合并过程要避免湍流，确保层流。电极的表面必须极其光滑和精准。该鞘气是干燥的、无颗粒的载气（通常为空气），比气溶胶的体积大，且在闭环中连续循环。鞘气与样品空气的体积比决定了传递效率，从而决定尺寸分类器的分辨率。在内部和外部电极之间施加电压产生径向对称电场。内电极带正电，末端有一个小缝隙。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力，带负电颗粒转移到正电极。根据它们的电迁移率，一些颗粒会通过顶部小缝隙离开 DEMC。在操作中，电压产生的电场持续变化，使得不同迁移率的颗粒离开 DEMC，并由纳米粒子计数器（例如冷凝粒子计数器）连续测量计数（例如 PalasUF-CPC）。方便实用的软件提供多数据信息（如电压，粒子数等）并取得粒度分布数据，如图 3 所示。 图 3：PalasDNP3000 颗粒发生器产生的气溶胶的粒径分布。基于客户反馈优化过的用户界面和软件可以进行直观的操作、实时控制并显示测量数据和参数。 此外，通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络连接，该软件可以实现数据管理功能。 测量数据有多种形式显示和评估。 可用的系统：下面的文档介绍了 DEMC 和 Palas 提供的计数器的各种组合。其他制造商提供的大多数 DMA，CPC和气溶胶静电计都可以用作 U-SMPS 系统的组件。 优点：粒径分布范围为 8nm 至 1.2μm连续快速扫描测量原理高分辨率，最多 128 个尺寸通道 / 十进制适用于最高 108 颗粒 / cm3 的浓度跟其他制造商的 DMA 和纳米颗粒计数器通用图形显示测量结果7 英寸触摸屏和 GUI 直观操作内置数据记录仪支持多种接口和远程访问低维护功能可靠减少您的运营费用 应用领域：过滤测试气溶胶研究环境与气候研究吸入实验室内和工作场所测量 生产厂家：德国Palas

产品介绍SMPS+E扫描电迁移率粒径谱仪（Scanning Mobility Particle Sizer）是一个纳米颗粒粒径谱分析系统，由DMA+FCE组成。DMA（Differential Mobility Analyser）差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类， GRIMM DMA符合Vienna型设计特征，对小颗粒物有最高分辨率和最低分散损失。FCE法拉第杯静电计（Electrostatic Precipitator）对颗粒物进行计数。SMPS+E系统，用于0.8nm ~ 1100nm粒径范围100 ~ 108P/cm3浓度范围内的纳米颗粒物计数和粒径分析。样气流速1~5LPM，鞘气流速3~20LPM。组成部分有：静电中和器（DBD）、高效差分电迁移器DMA、DMA控制器（可调控DMA电压、FCE设置和气体流量）、法拉第杯静电计FCE（快速且低噪音）。FCE利用法拉第杯周围的冲洗气流避免内部污染，防机械振动和耐受压力变化的设计使其成为纳米颗粒物计数的校准参考。测量原理DMA差分电迁移器对颗粒物进行分类，喷嘴将粗的颗粒去除，减少大颗粒的干扰；同时建议前置个静电中和器，消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计，可减少颗粒损失；顶端层流器，使气流呈层流状态流动。洁净干燥的保护鞘气与气溶胶气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地，中心极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与中心极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度)，具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出，其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒，进入法拉利杯对颗粒物进行计数。系统工作原理法拉利杯及其工作原理DMA差分粒子电迁移器DMA根据粒径范围不同可以分为L-DMA、M-DMA和S-DMA。图 差分粒子电迁移器DMA图 三种型号DMA产品特征0.8nm~ 1100nm范围内纳米颗粒物的计数和粒径分析最大采样频率16Hz超低噪音，冲洗空气流的超快反应时间3种不同的DMA规格可选坚固紧凑设计，无耗材与软件联合实现全自动操作开机后自检程序保证高可靠性产品应用基础气溶胶研究大气凝结核研究大气中粒子群粒径分布大分子研究纳米技术过程监测燃烧研究官方CPC校准参考仪器操作软件可用于纳米颗粒检测仪器的通用软件，可以记录测量数据和一系列完整的仪器参数。结果以图表形式显示，可以输出为通用的文件格式。软件将FCE作为计数器，差分电迁移分析仪（DMA）作为粒径分级的气溶胶发生器。实时进行数据处理，算法由Reischl教授（维也纳大学）开发，符合计算粒径分布的新标准ISO 15900。软件显示颗粒物数浓度、表面积和粒径质量分布及其他统计参数。 技术参数 法拉利杯FCE粒径范围0.8nm~ 1100nm；浓度范围 ~ 108P/cm3响应时间T90=200ms电阻1TΩ灵敏度1Hz时为0.1fA最大电流±4000fA噪音0.35 fA（τ=0.25s，90%），即相当于2LPM时65个电荷/cm3零点调整自动进行信号滤波器可选，低通量（250/500/1500ms）压力范围400 ~ 1100mbar气溶胶载体空气和惰性气体电源12VDC±10%大小直径88mm，高190mm，重1.36kg工作环境温度0 ~ 40℃，相对湿度0 ~ 95%，不凝结差分电迁移分级器DMA外部电极内径40 mm内部电极内径26 mm高压输出模块5 ~ 10 000 V，阳极内部电极(阴极可选)高压输入模块0 ~ 10 V，由CPC或DMA控制器提供高压安全保障打开DMA自动关闭高压内部传感器温度、压力及两个热限流孔压差传感器DMA控制器采样频率0.25 ~ 16Hz粒径通道高达255个样品气体流量8步达1 ~ 5LPM鞘气流量9步3 ~ 20LPM冲洗空气流量0.3 ~ 0.6LPM流量控制体积流量控制状态指示4个3种颜色的LED灯和数字显示屏RS-2329孔D形连接器，ASCII制命令内存80KB存储卡PCMCIA SRAM 4MB模拟输入3个可选气象或气体传感器，即插即用电源230VAC 50 ~ 60Hz；或120V 50 ~ 60Hz大小31×25.5×22cm（H×W×D）重量12.2kg

TOF测量仪介绍FlyTOF飞行时间法迁移率测量仪是东谱科技HiTran瞬态综合光电特性测量平台中的重要成员。该系统利用飞行时间法(time-of-flight，TOF)测量半导体材料的迁移率以及相关的光电特性， 广泛适用于各类半导体材料， 如有机半导体、金属- 有机框架（metal-organic framework, MOF）、共价有机框架（covalent organic framework,COF）、钙钛矿材料等。FlyTOF基于我司的MagicBox主机研制而成，是一款高度集成化的光电测试系统，配备便捷的上位机控制和数据测量软件，可助力客户进行快速、准确的测量。示例NPB材料在不同电场下的TOF测试信号NPB材料在不同电场下的迁移率和化学结构式主要功能：- 飞行时间法瞬态光电流测量- 半导体中的载流子迁移率测量- 电子/空穴迁移率的测量 - 低温测量

产品描述 设备主要利用微波测试原理，非接触式测量射频HEMT结构半导体材料的方阻、迁移率及载流子浓度。可实现单点测试，亦可以实现面扫描的测试功能，具有快速，无损，准确等优势，可用于材料研发及工艺的监测及质量控制。特点 适用于迁移率量测范围在100cm² /V s～3000cm² /V s 的射频HEMT外延片。非接触，非损伤测试，具有测试速度快，重复性佳，测试敏感性高，可以直接测试产品片等优点。

U-SMPS 2050 X / 2100 X / 2200 X通用扫描迁移率粒度仪，集成X射线电离，适用于8 – 1200 nm的各种应用• 粒径分布从8 nm到1.2 μm • 连续和快速扫描的测量原• 高分辨率，最多128个尺寸类别/衰减 • 适用于高达108颗粒/立方厘米的浓度 • 可以连接其他制造商的各类DMA和纳米粒子计数器 • 图形显示测量值 • 直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI • 集成数据记录仪 • 支持多种接口和远程访问 • 低维护 • 功能可靠 • 减少您的运营费用 * 请联系Palas了解更多信息。 说明图1：U-SMPS 2050 X / 2100 X / 2200 XPalas通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两种版本。长分类柱型号（2050 X / 2100 X / 2200 X型号）能够可靠地测定8至1,200 nm的粒径分布。已经集成软X射线源作为中和器（见图1）。代替放射性中和（例如使用Kr-85）的优点是在运输过程中无需遵循以下要求。PalasU-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器（DEMC），也称为差分迁移率分析器（DMA）]，根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。然后，冷凝颗粒计数器（例如PalasUF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的良好单颗粒计数。 Wiedensohler教授（德国IfT莱比锡）开发了Palas的算法，用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行，或者每十个通道最多执行64个尺寸通道，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（广泛的统计和平均）和导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232 / 485）连接到计算机或网络。 PalasU-SMPS支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸确定和可靠性能尤其重要，特别是对于校准。所有组件都通过严格的质量保证测试，并在内部组装。图2展示U-SMPS的工作原理：气溶胶在进入分类器（DEMC列）之前经过调节。可选的干燥器（例如硅胶，Nafion）可以去除颗粒中的水分。使用双极中和器（XRC 049）可以确保测定的气溶胶电荷分布。为了去除大于分类器尺寸范围的颗粒，需要在DEMC的入口处使用撞击器。图2：通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）的工作原理然后，气溶胶通过入口导入DEMC色谱柱。沿外部电极的气溶胶流在此与护套气流仔细合并。重要的是在此处避免任何湍流，以确保层流。电极的表面在光滑度和公差方面必须具有极高的质量。鞘空气是干燥、无颗粒的载气（通常是空气），其体积大于连续在闭环中循环的气溶胶体积。鞘空气与样品空气的体积比定义传递函数，从而定义尺寸分类器的分辨率。通过施加电压在内和外电极之间产生径向对称的电场。内电极在末端带有小缝隙，带正电。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力，带负电的粒子被转移到正电极。根据它们的电迁移率，一些颗粒会穿过狭缝并离开DEMC。在工作中，电压并因此电场连续变化。结果是，迁移率变化的粒子离开DEMC，并由纳米粒子计数器（例如缩合粒子计数器）（例如PalasUF-CPC）连续测量。在实际条件下，经过测试的软件为组合数据（电压，粒子数等）并获得粒度分布提供特殊的处理功能，如图3所示。图3：PalasDNP 3000颗粒发生器产生的气溶胶的粒径分布用户界面和软件基于持续的客户反馈，我们已设计良好的用户界面和软件，以实现直观的操作、实时控制，并可以显示测量数据和参数。此外，软件还通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络支持为数据管理提供支持。可以使用许多可用的显示选项和测量数据评估功能。可用系统下面的文档介绍DEMC与Palas提供的计数器的各种组合。 其他制造商提供的大多数DMA、CPC和气溶胶静电计都可以用作U-SMPS系统的组件。优点• 粒径分布从8 nm到1.2 μm • 连续和快速扫描的测量原理 • 高分辨率，最多128个尺寸类别/衰减 • 适用于高达108颗粒/立方厘米的浓度 • 可以连接其他制造商的各类DMA和纳米粒子计数器 • 图形显示测量值 • 直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI • 集成数据记录仪 • 支持多种接口和远程访问 • 低维护 • 功能可靠 • 减少您的运营费用 * 请联系Palas了解更多信息。 应用领域• 过滤测试 • 气溶胶研究 • 环境与气候研究 • 吸入实验 • 室内和工作场所测量 规格参数接口USB，LAN，WLAN，AUX，RS-232（仅CPC）测量范围（尺寸）8 – 1,200 nm尺寸通道最高256（128 /衰减）测量范围（浓度数值）0 – 108 个颗粒/立方厘米用户界面触摸屏，800• 480像素，7英寸（17.78厘米）数据记录仪存储4 GB软件PD分析调整范围（电压）1 – 10.000 V（上下扫描m?gich）体积流量（鞘空气）2.5 – 14升/分钟安装条件+10 – +30°C（其他按需提供，控制单元）中和剂XRC 049气溶胶0.5-3升/分钟

集成X射线电离功能的通用扫描电迁移率粒径谱仪适用于8-1200 nm的各种应用PALAS设备U-SMPS 2050X/ 2100 X / 2200 XPALAS设备U-SMPS通用扫描电迁移率粒径谱仪Palas@通用扫描电迁移率粒径谱仪(U-SMPS)可提供两种版本。长分类柱(2050X/2100X / 220O型号)可以确定8至1200 nm的粒径分布。该系列已经集成了X射线源作为中和器（参见图1)，代替放射性中和器（例如使用Kr-85〉，优点是在运输过程中无需遵循针对放射源的要求。PalasRU-SMPS系统包括一个分级器[在ISO15900中定义为电迁移率分级器(DEMC)，也称为微分迁移率分析仪(DMA)]，可根据气溶胶颗粒的电迁移率选择相应的气溶胶颗粒并传送到出口。冷凝颗粒计数器（例如UF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC型号可在各种浓度范围内实现很好的单颗粒计数。Palas使用了由Wiedensohler教授〈(IfTLeipzig，德国）开发的演算算法，将测量数据转化为U-SMPS的颗粒分布。U-SMPS使用图形化用户界面并在触摸屏上进行操作。一次粒子分布扫描可以在短短30秒之内执行，并且每十进制多达128个尺寸通道。在扫描期间，DEMC分级器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计效率更高。集成的数据记录器允许在设备上设置线性或对数显示测量值。随附的评估软件可提供各种数据评估(各种统计和平均值)，以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以连接到计算机或使用各种接口(USB，LAN，WLAN，RS-232/485)连接网络。PalasRU-SMPS支持DMA，CPC和其他制造商的气溶胶静电计。U-SMPS对颗粒物准确的尺寸确定和可靠性能极其重要，尤其是对于校准来说。所有组件都必须通过严格的质量保证测试，并且必须内部组装。图2∶给出了U-SMPS的工作原理:气溶胶在进入分级器（DEMC)之前先经过调节。选配的干燥器（例如硅胶，Nafion)可以去除颗粒中的水分。双极中和剂(RC 049)用于确保气溶胶电荷分布符合预定。在DEMC的入口处需要一个撞击器以去除大于分级器尺寸范围的颗粒。气溶胶通过DEMC柱的进样口导入，沿着外部电极与鞘气合并。合并过程要避免湍流，确保层流。电极的表面必须极其光滑和准确。该鞘气是干燥的、无颗粒的载气(通常为空气)，比气溶胶的体积大，且在闭环中连续循环。鞘气与样品空气的体积比决定了传递效率，从而决定尺寸分级器的分辨率。在内部和外部电极之间施加电压产生径向对称电场。内电极带正电，末端有一个小缝隙。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力，带负电颗粒转移到正电极。根据它们的电迁移率，一些颗粒会通过顶部小缝隙离开DEMCo在操作中，电压产生的电场持续变化，使得不同迁移率的颗粒离开DEMC，并由纳米粒子计数器（例如冷凝粒子计数器）连续测量计数（例如Palas R UF-CPC)。方便实用的软件提供多数据信息（如电压，粒子数等）并取得粒径分布数据，如图3所示。基于客户反馈优化过的用户界面和软件可以进行直观的操作、实时控制并显示测量数据和参数。此外，通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络连接，该软件可以实现数据管理功能。测量数据有多种形式显示和评估。优点：粒径分布范围为8nm至1.2um7英寸触摸屏和GUI直观操作连续快速扫描测量原理内置数据记录仪高分辨率，zui多128个尺寸通道/十进制支持多种接口和远程访问适用于zui高108颗粒/cm3的浓度低维护跟其他制造商的DMA和纳米颗粒计数器通用功能可靠图形显示测量结果减少您的运营费用数据表参数说明描述接口USB,LAN, AUX, RS-232(CPC)测量范围(尺寸)8-1,200nm尺寸通道zui多256个(128个/十进制)测量范围(数量浓度)0- 108颗粒/cm3用户界面触摸屏，800x480分辨率，7”数据存储4GB软件PDAnalyze调节范围（电压)1-10,000 V(上行和下行)体积流量（鞘气)2.5-14L/分钟安装条件10-30°C中和器XRC 049气溶胶体积流量0.5-3L/分钟应用领域过滤测试气溶胶研究环境与气候研究吸入实验室内和工作场所测量

德国palas DEMC 2000纳米粒子测量差分电迁移率分类器Palas® DEMC提供两种版本。具有长分类柱（型号2000）的版本能够分类尺寸范围8-1400 nm的颗粒。DEMC尺寸分类器（符合ISO 15900的规定）根据气溶胶颗粒电迁移率选择气溶胶颗粒并将其引导至出口。此外，它还经常被称为DMA。Palas® DEMC可普遍连接到其他制造商的CPC和气溶胶静电计。已经支持多个计数器（请参见图4）。我们还将根据要求将您的计数器集成到软件中。与多分散颗粒源*结合使用时，DEMC用于获得一定尺寸纳米颗粒的极窄（单分散）粒径分布。DEMC的准确尺寸测定和可靠性能非常重要，尤其是对于校准设置。通过直接在触摸屏上输入尺寸（以nm为单位）或使用箭头按钮来增大或减小尺寸，可以调整尺寸大小。如果将DEMC用作SMPS系统的组件，它可以连续且快速地扫描气溶胶粒径分布。根据用户设置，每十个通道或64个尺寸通道可在短短30秒内执行扫描。用户使用图形用户界面控制DEMC，该图形用户界面提供测量值的线性和对数显示以及集成数据记录器的数据管理功能。软件提供复杂的数据评估（广泛的统计和平均）和导出功能。DEMC通常作为独立设备运行，但也可以使用各种接口（USB、LAN、WLAN、RS-232 / 485）连接到计算机或网络。*有关Palas® 气溶胶发生器的其他信息可在产品数据表中找到，例如DNP 2000、RBG 1000 或AGF 2.0。功能气溶胶在进入DEMC柱之前先进行调节。干燥器（例如硅胶、Nafion）除去颗粒中的水分。使用双极中和剂（例如Kr 85）来确保规定的气溶胶电荷分布。为了去除大于分类器尺寸范围的颗粒，需要在DEMC的入口处使用撞击器。然后，气溶胶通过入口导入DEMC柱。沿外部电极的气溶胶流在此与鞘气流仔细合并。重要的是在此处避免任何湍流，以确保层流。电极的表面在光滑度和尺寸公差方面必须具有极高的质量。鞘气是干燥、无颗粒的载气（通常是空气），其体积大于连续在闭环中循环的气溶胶体积。鞘气与样品空气的体积比定义传递函数，从而定义尺寸分类器的分辨率。通过施加电压，在内外电极之间会产生一个径向对称的电场。内电极在末端带有小缝隙，带正电。通过平衡每个粒子上的电力及其在电场中的空气动力学阻力，带负电的粒子被转移到正电极。具有适当电迁移率的粒子穿过缝隙并离开DEMC。这些具有相同电迁移率的分类颗粒随后可用于下游。如果DEMC被用作SMPS系统的组件，那么电压（从而电场）将会连续变化，并且具有不同迁移率的颗粒将会离开DECMC。这些颗粒通过纳米颗粒计数器，例如凝结粒子计数器（如Palas® UF-CPC）或气溶胶静电计（例如Palas® Charme® ）连续计数。经过了测试和优化的Palas® 软件结合了数据（电压、颗粒数等），以便获取粒径分布。用户界面和软件基于持续的客户反馈，我们设计了良好的用户界面和软件，以实现直观的操作、实时控制并测量数据和参数。此外，该软件提供了具有集成数据记录器、复杂导出功能和网络支持的数据管理。可使用多种可用方法显示和评估测量数据。DEMC软件和固件支持其他制造商使用纳米计数器。德国palas DEMC 2000纳米粒子测量差分电迁移率分类器:优点■用户可以在定义的粒度范围内选择任何粒度。■DEMC可以连接到多个计数器以构成SMPS。■连续和快速扫描测量原理■图形显示测量值■直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI■集成数据记录仪■低维护■功能可靠■减少您的运营费用x6box" style="word-break: break-all font-family: "Microsoft Yahei", Tahoma, Verdana, Arial text-size-adjust: none margin: 0px padding: 0px color: rgb(51, 51, 51) font-size: 14px white-space: normal background-color: rgb(255, 255, 255) "德国palas DEMC 2000纳米粒子测量差分电迁移率分类器:应用领域■冷凝粒子计数器（CPC）的校准■单分散颗粒源■SMPS的系统组件德国palas DEMC 2000纳米粒子测量差分电迁移率分类器:规格参数尺寸通道256（128 /衰减）用户界面触摸屏，800• 480像素，7英寸 (17.78 厘米)数据记录仪存储空间4 GB软件PD分析分类范围（粒度）8 – 1,489 nm调整范围（电压）1 – 10,000 V体积流量（鞘空气）2.5 – 14 升/分钟冲击器3种不同截面的喷嘴安装条件+5 – +40°C（控制单元）

Palas通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两种版本。长分类柱型号（2050 X / 2100 X / 2200 X型号）能够可靠地测定8至1,200 nm的粒径分布。已经集成软X射线源作为中和器。代替放射性中和（例如使用Kr-85）的优点是在运输过程中无需遵循以下要求。U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器（DEMC），也称为差分迁移率分析器（DMA）]，根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。然后，冷凝颗粒计数器（例如Palas UF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的良好单颗粒计数。Wiedensohler教授（德国IfT莱比锡）开发了Palas的算法，用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行，或者每十个通道最多执行64个尺寸通道，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（广泛的统计和平均）和导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232 / 485）连接到计算机或网络。 PalasU-SMPS支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能尤其重要，特别是对于校准。所有组件都通过严格的质量保证测试，并在内部组装。图1展示U-SMPS的工作原理：气溶胶在进入分类器（DEMC列）之前经过调节。可选的干燥器（例如硅胶，Nafion）可以去除颗粒中的水分。使用双极中和器（XRC 049）可以确保测定的气溶胶电荷分布。为了去除大于分类器尺寸范围的颗粒，需要在DEMC的入口处使用撞击器。图1：通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）的工作原理然后，气溶胶通过入口导入DEMC色谱柱。沿外部电极的气溶胶流在此与护套气流仔细合并。重要的是在此处避免任何湍流，以确保层流。电极的表面在光滑度和公差方面必须具有极高的质量。鞘空气是干燥、无颗粒的载气（通常是空气），其体积大于连续在闭环中循环的气溶胶体积。鞘空气与样品空气的体积比定义传递函数，从而定义尺寸分类器的分辨率。通过施加电压在内和外电极之间产生径向对称的电场。内电极在末端带有小缝隙，带正电。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力，带负电的粒子被转移到正电极。根据它们的电迁移率，一些颗粒会穿过狭缝并离开DEMC。在工作中，电压并因此电场连续变化。结果是，迁移率变化的粒子离开DEMC，并由纳米粒子计数器（例如缩合粒子计数器）（例如Palas UF-CPC）连续测量。在实际条件下，经过测试的软件为组合数据（电压，粒子数等）并获得粒度分布提供特殊的处理功能，如图2所示。图2：PalasDNP 3000颗粒发生器产生的气溶胶的粒径分布用户界面和软件基于持续的客户反馈，我们已设计良好的用户界面和软件，以实现直观的操作、实时控制，并可以显示测量数据和参数。此外，软件还通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络支持为数据管理提供支持。可以使用许多可用的显示选项和测量数据评估功能。可用系统下面的文档介绍DEMC与Palas提供的计数器的各种组合。 其他制造商提供的大多数DMA、CPC和气溶胶静电计都可以用作U-SMPS系统的组件。优点• 粒径分布从8 nm到1.2 μm• 连续和快速扫描的测量原理• 高分辨率，最多128个尺寸类别/衰减• 适用于高达108颗粒/立方厘米的浓度• 可以连接其他制造商的各类DMA和纳米粒子计数器• 图形显示测量值• 直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI• 集成数据记录仪• 支持多种接口和远程访问• 低维护• 功能可靠• 减少您的运营费用 * 应用领域• 过滤测试• 气溶胶研究• 环境与气候研究• 吸入实验• 室内和工作场所测量

EMEF FULLY AUTOMATIC RESISTIVITY\MOBILITY TESTEREMEF全自动电阻率\迁移率测试仪产品描述 EFEM（半导体设备前置模块）从属于半导体生产设备，其内部主要由晶圆装载模块、空气过滤器FFU、晶圆运输机器人、晶圆对准装置、晶圆读码装置、自动化控制模块等组成。其中晶圆装系统(Loadport)、晶圆运输机器人(Robot)、晶圆对准装置(Aligner)和晶圆读码装置(OCR)是最核心的四大部件。

DEMC 1000差分电迁移率分级器 DEMC 1000差分电迁移率分级器被广泛的应用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的标准测试，同时也可用于对液体悬浮颗粒进行精确的纳米粒径测量。Palas DEMC有两个版本可用。短分级柱（1000型）的版本适用于4至600 nm的尺寸范围。DEMC尺寸分级器根据其电迁移率选择气溶胶颗粒并将其导至出口（可参考ISO 15900定义标准）。在分析多分散颗粒源时，DEMC差分电迁移率分级器用于获得一定尺寸的非常窄范围内（单分散）纳米颗粒的粒度分布。DEMC的准确尺寸确定和可靠性能非常重要，尤其是对于校准设置。通过在触摸屏上直接输入尺寸（nm）或使用箭头按钮增加和减小尺寸。 DEMC 1000差分电迁移率分级器可用于Palas SMPS系统的组件，可以连续且快速地扫描气溶胶的粒径分布。最短可在30秒内或每十进制最多64个尺寸的通道中执行扫描。用户使用图形化用户界面控制DEMC，该界面提供测量值的线性和对数显示，以及集成数据记录器的数据管理。该软件提供复杂的数据评估（各种统计和平均值）及导出功能。差分电迁移率分级器DEMC 1000优点： 用户可以在型号允许的尺寸范围内选择任何尺寸。 DEMC 可以与多种计数器并用组成SMPS（扫描迁移率粒度仪）。 连续快速扫描测量原理 图形化显示测量值 使用7 英寸触摸屏和GUI 进行直观操作 集成数据记录仪 低维护 功能可靠 减少您的运营费用差分电迁移率分级器DEMC 1000工作原理 气溶胶通过进样口导入DEMC柱，沿着外部电极与鞘气合并。合并过程要避免湍流，确保层流。电极的表面必须极其光滑和精准。该鞘气是干燥的、无颗粒的载气（通常为空气），比气溶胶的体积大，且在闭环中连续循环。鞘气与样品空气的体积比决定了传递效率，从而决定尺寸分类器的分辨率。在内部和外部电极之间施加电压产生径向对称电场。内电极带正电，末端有一个小缝隙。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力，带负电颗粒转移到正电极。根据它们的电迁移率，一些颗粒会通过小缝隙离开DEMC。这些具有相同电迁移率的分类颗粒可用于下游分析。如果DEMC是作为SMPS系统的组件使用的，则电 压和电场将连续变化。不同迁移率的颗粒离开DEMC，并由纳米粒子计数器和冷凝粒子计数器（如Palas UF-CPC）或气溶胶静电计（如Palas UF-CPC）连续测量计数。方便实用的软件提供多数据组合（如电压，粒子数等）并取得粒度分布数据如图所示差分电迁移率分级器DEMC 1000用户界面和软件： 基于持续的客户反馈，用户界面和软件的被设计成可以进行直观的操作、实时控制并显示测量数据和参数。此外，通过集成的数据记录器，完善的导出功能和网络支持，该软件可以实现数据管理功能。测量数据有多种形式显示和评估。DEMC软件和硬件也支持其他制造商使用纳米粒子计数器。差分电迁移率分级器DEMC 1000技术参数 参数说明描述尺寸通道最高256（128 /十进制）用户界面触摸屏800• 480像素，7英寸（17.78厘米）数据记录仪存储4GB软件PDAnalyze分类范围（尺寸）4 ? 607nm调节范围（电压）1 ? 10,000 V体积流量（鞘气）2.5 ? 14升/分钟撞击器喷嘴，用于3个不同的截止点安装条件+5 ? +40°C（控制单元）差分电迁移率分级器DEMC 1000应用领域： 冷凝粒子计数器（CPC）的校准单分散颗粒源 SMPS 的系统组件

扫描电迁移率粒径谱仪SMPS+C和SMPS+E双系统GRIMM SMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径分级器（DMA）和凝聚核粒子计数器（CPC）技术结合，两种不同型号的DMA可以同时检测5—350纳米或10—1100纳米的气溶胶的粒径分布。根据应用不同，可以选配移动式：CPC 5403，实验室固定式：CPC 5416 或 19英寸标准机柜式：CPC 5421。 系统每次开机时，自动自检以确保系统准确性，自检内容包括泄露测试、DMA 型号确认、 DMA 电压测试、CPC 状态检查等。 自检通过后，软件自动控制采样、测量和数据记录。测量参数 SMPS+C1. 检测粒径范围： 5-350 纳米（M-DMA）； 10-1100 纳米(L-DMA)2. 检测浓度范围： 0--108 /cm33. 粒径通道：最多255通道4. CPC D50粒径： 4 纳米5. CPC 响应时间： 4 秒 GRIMM SMPS+E系统采用差分电迁移率粒径分级器（DMA）和法拉第静电计（FCE）技术结合，配合3种不同的DMA，粒径检测下限可以低至1纳米，检测数量浓度高达109个/cm3。

通用扫描迁移率粒度仪，适合各种应用（8–1200nm）&bull 粒径分布从8 nm到1.2 μm&bull 连续和快速扫描的测量原理&bull 高分辨率，最多128个大小类/衰减&bull 适用于高达108颗粒数/立方厘米的浓度&bull 可以连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器&bull 图形显示测量值&bull 直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI&bull 集成数据记录仪&bull 支持多种接口和远程访问&bull 低维护&bull 功能可靠&bull 减少您的运营费用 图1：U-SMPS 2050/2100/2200Palas通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两个版本。长分类柱（2050/2100型）能够可靠地确定8至1,200 nm的粒径分布。 PalasU-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器（DMA），也称为差分迁移率分析器（DEMC）]，根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。然后通过冷凝颗粒计数器（例如PalasUF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的单颗粒计数。 Wiedensohler教授（德国IfT莱比锡）开发了Palas的算法，用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行，或者，每十个通道最多执行64个尺寸通道，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（广泛的统计和平均）以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232/485）连接到计算机或网络。 PalasU-SMPS支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能十分重要，对于校准来说尤其如此。所有组件都通过严格的质量保证测试，并在内部组装。图2展示U-SMPS的工作原理：气溶胶在进入分类器（DEMC列）之前经过调节。可选的干燥器（例如硅胶，Nafion）可以去除颗粒中的水分。使用双极中和剂（例如Kr 85）来确保测定的气溶胶电荷分布。为了去除大于分类机尺寸范围的颗粒，需要在DEMC的入口处使用撞击器。图2：通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）的工作原理然后，气溶胶通过入口导入DEMC色谱柱。沿着外部电极的气溶胶流在此与护套气流仔细合并。重要的是，在此处应避免任何湍流，以确保层流。电极的表面在光滑度和公差方面必须具有极高的质量。鞘空气是干燥的、无颗粒的载气（通常是空气），其体积大于连续在闭环中循环的气溶胶的体积。鞘空气与样品空气的体积比定义传递函数，从而定义尺寸分类器的分辨率。通过施加电压在内和外电极之间产生径向对称的电场。内电极在末端具有小缝隙，带正电。通过平衡每个粒子上的电场力及其在电场中的空气动力学阻力，带负电的粒子被转移到正电极。根据它们的电迁移率，一些颗粒会穿过狭缝并离开DEMC。在工作中，电压和电场连续变化。结果，迁移率变化的粒子离开DEMC，并由纳米粒子计数器（例如缩合粒子计数器）（例如PalasUF-CPC）连续进行测量。在实际条件下，经过测试的软件为组合数据（电压、粒子数等）并获得粒度分布提供特殊的处理功能，如图3所示。图3：PalasDNP 3000颗粒发生器产生的气溶胶的粒径分布用户界面和软件基于持续的客户反馈，我们已设计良好的用户界面和软件，以实现直观的操作、实时控制，并可以显示测量数据和参数。此外，软件还通过集成的数据记录器、完善的导出功能和网络支持为数据管理提供支持。可以使用许多可用的显示选项和测量数据评估功能。规格参数：优点：&bull 粒径分布从8 nm到1.2 μm&bull 连续和快速扫描的测量原理&bull 高分辨率，最多128个大小类/衰减&bull 适用于高达108颗粒数/立方厘米的浓度&bull 可以连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器&bull 图形显示测量值&bull 直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI&bull 集成数据记录仪&bull 支持多种接口和远程访问&bull 低维护&bull 功能可靠&bull 减少您的运营费用 *请联系Palas了解更多信息应用领域：过滤测试；气溶胶研究；环境与气候研究；吸入实验；室内和工作场所测量

离子迁移率谱仪简介Lonestar是一个强大的，适应性强的便携式化学监视器。仪器提供快速警报和详细的样本分析。它可以被训练来应对各种各样的化学物质监测，易于与其他传感器和第三方系统集成，提供完整的监测解决方案。因此，Lonestar适用于从在线/在线过程监控到实验室研发的广泛应用。相对于IMS,FAIMS使用的不是平行于离子运动的电场，而是垂直于运动方向的非对称交变电场。这导致离子漂移取决于他们的K值高(Kh¬ )和低(KL)字段,只有离子与某些微分迁移(Kh¬ KL)将通过系统。通过附加的直流补偿场，可以改变这种差动性的值，通过扫描补偿场的强度，可以得到由差动性分离的离子谱。复杂基质中挥发性、半挥发性和非挥发性有机化合物的敏感检测和鉴定。FAIMS可以用来检测和识别液体、固体和气体基质中的挥发物。离子迁移率谱仪的应用领域可以用于检测液体、固体和气体混合物中的各种易挥发物，应用领域广泛。可应用于各类领域：食品、中药、烟草、酒类、农业、生物医药、医疗、工业、汽车、环境检测等。食品及相关产品o食品风味研究：过程监控，质量控制，不同产品、不同品质、不同储存年限产品风味探究，产品研发、生产工艺控制，储藏条件的优化，产品味道公证，感官评审的数据支持，产品包装对食品风味的影响探究等o食品质量控制及安全探究：产品品质鉴别，异味早期检测，产地鉴别，等级鉴别，掺假检测，成品和商品的质量控制，新鲜度评估，保质期鉴别等o食品材料筛选：检查原料的质量或来源等医疗o诊断仪器-分析呼吸或体液以进行非侵入性诊断或监测治疾病o治监测-分析体液呼吸对治效果和进展的非侵入性监测o麻醉和呼吸监视器-检测呼出的呼吸中的其他相关指标，以减少临床医生对生命体征的反应时间工业o工序监察-监察及优化工序的运作，并在工序线的“气味"偏离正常时，以故障指示的方式作出故障诊断o危险气体监测器-检查环境中可能危及个人、工厂或设备的有毒或易燃烧气体o石化气体传感器-检测各种可燃气体和挥发性有机化合物(VOCs)，以及各种碳氢化合物流中的污染物汽车o碳氢化合物监测-对发动机排气中的碳氢化合物进行分析，以更好地控制发动机的功能，提高性能和减少排放o氮氧化物监测-监测废气中氮氧化物(NOx)浓度，以确保数值不超过允许的限度o机舱空气质素传感器-检测车内挥发性有机化合物(VOCs)及其他污染物，以进行机舱空气质素管理环境o空气质素监察-监察特定污染物的化合物，以便进行清理工作o排放监察-监察有害工业气体排放进入大气，可能会破坏环境o有毒工业化合物的检测-测试有毒化合物的释放，监测净化工作，并确认化学试剂的有效补救o水质监测-监测污染和毒性，以确保饮用水供应的安全FAIMS-Lonestar产品优势现场检测：实时连续进样分析时间快：无需前处理，检测时间小于10s高选择性、重复性好高灵敏度：检测限低：ppb — ppt级，结合入口控制，动态范围大芯片级检测器：*的三维图谱，可以为每一个样品建立特有的指纹信息软件：自带各类数据处理软件，快速进行聚类分析和物质定性便携，占用空间小独立操作，采样处理一体化集成温度、流量和湿度传感器，运行稳定、闭环网络和无线(可选)连接，用于远程监控和操作易集成其他传感器数据及第三方系统控制强大的数据可视化、实时控制、离线分析定制软件

样品尺寸：2"-8"或者16mm×16mm的方形样品；迁移率测量范围：100-20000（cm2/v.sec)；方块电阻测量范围：100-3000（ohm/sq)；载流子面密度测量范围：1E11-1E14（cm-2）；电磁铁磁场强度：1.0T探头线圈直径：15mm

测定分子尺寸，迁移率，Zeta电位及分子量；表征颗粒大小与溶液稳定性。分子尺寸范围：0.3 &ndash 1000nm；迁移率：无实际限制；高功率DPSS激光光源（50mW），确保超高灵敏度；最大程度降低电极电压（3伏），避免样品被破坏；光源超稳定，超长寿命（10000h）；多检测读取头阵列技术（多达30个）同步检测，减少测量时间，获取更多数据，精度高，重复性好；电极距离仅1.6mm；充分降低样品量，降低电极电压，避免样品降解；灵活选择样品池：PEEK材质与可抛弃型样品池（全部兼容水/有机溶剂）；兼容QELS：同时获取流体力学半径Rh；宽广的温度范围，支持低于室温的样品分析：4 &ndash 70℃；全彩色LCD实时显示屏与数字键盘操作区：便于实验者随时观察结果与快速操作；外部输入与输出端口，满足高度自动需求；可以自动进样器连接，实现高度自动化。

U-SMPS2050/2100/2200通用扫描迁移率粒度仪Palas通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两个版本。长分类柱（2050/2100型）能够可靠地确定8至1,200 nm的粒径分布。 PalasU-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器（DMA），也称为差分迁移率分析器（DEMC）]，根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。然后通过冷凝颗粒计数器（例如PalasUF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的优异单颗粒计数。 Wiedensohler教授（德国IfT莱比锡）开发了Palas的算法，用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行，或者，每十个通道多达执行64个尺寸通道，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（广泛的统计和平均）以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232/485）连接到计算机或网络。 Palas U-SMPS支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能十分重要，对于校准来说尤其如此。所有组件都通过严格的质量保证测试，并在内部组装。应用领域过滤测试气溶胶研究环境与气候研究吸入实验室内和工作场所测量优点：粒径分布从8 nm到1.2 μm连续和快速扫描的测量原理高分辨率，多达128个大小类/衰减适用于高达108颗粒数/立方厘米的浓度可以连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器图形显示测量值直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI集成数据记录仪支持多种接口和远程访问低维护功能可靠减少您的运营费用

Palas通用扫描迁移率粒度仪（U-SMPS）有两个版本。长分类柱（2050/2100型）能够可靠地确定8至1,200 nm的粒径分布。 Palas U-SMPS系统包括一个分类器[在ISO 15900中定义为差分电迁移率分类器（DMA），也称为差分迁移率分析器（DEMC）]，根据气溶胶颗粒的电迁移率选择并传递给出口。然后通过冷凝颗粒计数器（例如Palas UF-CPC）对这些颗粒进行计数。三种可用的UF-CPC模型可实现各种浓度范围内的优异单颗粒计数。 Wiedensohler教授（德国IfT莱比锡）开发了Palas的算法，用于对测量数据进行反演以产生U-SMPS粒度分布。U-SMPS使用触摸屏上的图形用户界面进行操作。单个粒子分布扫描可以在短短30秒内执行，或者，每十个通道多达执行64个尺寸通道，在此期间，DEMC分类器中的电压连续变化，从而导致每个尺寸通道的计数统计更高。集成的数据记录器允许在设备上以线性和对数显示测量值。随附的评估软件提供各种数据评估（广泛的统计和平均）以及导出功能。U-SMPS通常作为独立设备运行，但也可以使用各种接口（USB，LAN，WLAN，RS-232/485）连接到计算机或网络。 Palas U-SMPS支持其他制造商的各类DMA、CPC和气溶胶静电计。U-SMPS的准确尺寸测定和可靠性能十分重要，对于校准来说尤其如此。所有组件都通过严格的质量保证测试，并在内部组装。特点：U-SMPS2050/2100/2200通用扫描迁移率粒度仪，适合各种应用（8–1200nm）• 粒径分布从8 nm到1.2 μm• 连续和快速扫描的测量原理• 高分辨率，多达128个大小类/衰减• 适用于高达108颗粒数/立方厘米的浓度• 可以连接其他制造商的DMA和纳米粒子计数器• 图形显示测量值• 直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI• 集成数据记录仪• 支持多种接口和远程访问• 低维护• 功能可靠• 减少您的运营费用 *请联系Palas了解更多信息。

DEMC (Differential Electrical Mobility Classifier 差分粒子电迁移分级器)被广泛用于气溶胶颗粒物的分离，DEMC又名DMA (Differential Mobility Analyzer.静电迁移率分析仪)。气溶胶颗粒根据他们在电场中的性质不同而被分离。产品特点: 用户自行设置粒径范围 兼容性好，可连接到其他厂家的计数设备（如：CPC, aerosol electrometers） 连续快速扫描粒径范围（30秒） 图形化显示测量值Graphical display of measurement values 触摸屏，软件引导性操作，GUI友好 内置数据采集 低维护 高可靠性 应用: 标定CPC 高度单分散粒子源 作为SMPS系统组件技术参数： 颗粒粒径范围： DEMC 1000 dp = 1 nm – 350 nm DEMC 2000 dp = 5 nm – 1,000 nm 粒径通道数：1 – 64 样气流速: 0 – 4 l/min 鞘气流速: 0 – 8 l/min 碰撞器: Nozzles for 3 different cutoffs 嵌入式系统 触摸屏： 800 x 480 pixels 1.6 GHz Intel AtomTM Processor 2 GB Compact Flash 数据接口: USB, WLAN, Ethernet, RS232/485 供电: 115/230 V 50/60 Hz 控制单元尺寸: 33 x 38 x 24 cm (H x W x D) 柱体尺寸: 15 x 57 cm (? at base x H) 控制单元重量: 12.9 kg 柱体重量: 9.3 kg DEMC+CPC:用于室内/室外纳米气溶胶检测，汽车尾气排放以及交通实时监测、环境和气候研究。DEMC+Charme 可用于成核现象的研究，还可对冷凝粒子记数器进行校准

Palas U-SMPS（Uuniversal Scanning Mobility Particle Sizer扫描电迁移率粒径谱仪）用于亚微米颗粒粒径分布研究。颗粒大小和浓度的测量在健康领域广为研究，如吸入治疗、工作环境评价，同时在环境监测领域也广为关注。 Palas U-SMPS由一个DMA静电迁移率分析仪和CPC凝聚核粒子计数器，DMA静电迁移率分析仪又称为DEMC差分粒子电迁移器。气溶胶颗粒根据他们在电场中的性质不同而被分离，然后被CPC凝聚核粒子计数器计数或Palas Charme气溶胶静电计检测，软件将以上数据反演为气溶胶粒径和浓度分布图。 用户可以自行设置粒径范围，最快30秒可以扫描一次。用户也可以设置电压，获得更好的分离效果。 系统触摸屏图形化的用户界面，测量值线性和对数显示，内存数据管理。数据评价软件，可用于数据进一步处理。系统为嵌入式操作系统，也可外接电脑进行操作。 特点: 气溶胶粒径分布， 8 nm to 1.2 μm 高分辨率： 128 size channels/decade 测量浓度可达 to 100,000,000 particles/cm3 图形化显示测量值 7”触摸屏，引导式操作 内置数据记录功能 可远程操作应用: 过滤材料测试 气溶胶研究 大气环境研究 吸入和暴露研究 室内和工作环境测量 技术参数DEMC:DEMC 2000 dp = 5 nm – 1,200 nm 通道数: 1 – 64 浓度范围: up to 108 particles/cm3 样气流速 /鞘气流速: 0 – 4 l/min / 0 – 8 l/min 嵌入式操作系统: 触摸屏 800 x 480 pixels处理器 1.6 GHz Intel AtomTM内存：2 GB 接口: USB, WLAN, Ethernet, RS‐232/485 供电: 115/230 V 50/60 Hz 控制单元尺寸: 33 x 38 x 24 cm (H x W x D) 柱体尺寸: 15 x 57 cm (? at base x H) 控制单元重量: 12.9 kg 柱体重量: 9.3 kg UF-CPC 颗粒粒径范围: dp = 5 nm – 10,000 nm浓度范围:UF‐CPC 100 CNmax ≤ 50,000 P/cm3 (single counting)CNmax 107 P/cm3 (nephelometric mode)UF‐CPC 200 CNmax ≤ 1,000,000 P/cm3 (single counting)CNmax 107 P/cm3 (nephelometric mode)浓度精度: 5% (single counting),10% (photometric mode)工作流体: Butanol, isopropanol, water 或其他可选气溶胶流速: Adjustable 0.30 to 0.60 L/min数字信号：detection: 20 MHz Processor256 Raw data channels光源：LED 寿命长 稳定性高尺寸(HxWxD): 33 x 38 x 24 cm (13 x 15 x 9.5 in)重量： 10 kg (22 lbs)

德国palas DEMC 2000纳米粒子测量差分电迁移率分类器德国palas DEMC 2000纳米粒子测量差分电迁移率分类器:优点■用户可以在定义的粒度范围内选择任何粒度。■DEMC可以连接到多个计数器以构成SMPS。■连续和快速扫描测量原理■图形显示测量值■直观操作，使用7英寸触摸屏和GUI■集成数据记录仪■低维护■功能可靠■减少您的运营费用x6box" style="word-break: break-all font-family: "Microsoft Yahei", Tahoma, Verdana, Arial text-size-adjust: none margin: 0px padding: 0px color: rgb(51, 51, 51) font-size: 14px white-space: normal background-color: rgb(255, 255, 255) "德国palas DEMC 2000纳米粒子测量差分电迁移率分类器:应用领域■冷凝粒子计数器（CPC）的校准■单分散颗粒源■SMPS的系统组件德国palas DEMC 2000纳米粒子测量差分电迁移率分类器:规格参数尺寸通道256（128 /衰减）用户界面触摸屏，800• 480像素，7英寸 (17.78 厘米)数据记录仪存储空间4 GB软件PD分析分类范围（粒度）8 – 1,489 nm调整范围（电压）1 – 10,000 V体积流量（鞘空气）2.5 – 14 升/分钟冲击器3种不同截面的喷嘴安装条件+5 – +40°C（控制单元）