聚焦离子束扫描电镜

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聚焦离子束扫描电镜相关的厂商

  • 欧波同集团成立于2003年,是一家材料分析数字化解决方案服务商。旗下拥有科学仪器、智慧实验室、第三方检测、技术服务等业务板块。欧波同坚持“让实验更简单”的发展主线,充分掌握计算机视觉和图像识别技术,实现AI技术和工业分析技术的跨界融合,帮助中国企业在世界级竞争中取得成功。为世界材料分析贡献中国力量!SEM扫描电子显微镜、双束聚焦离子束显微镜、赛默飞扫描电镜、场发射扫描电镜、聚焦离子束电镜、赛默飞双束电镜、台式扫描电镜、FEI扫描电镜、FIB扫描电镜、FIB双束电镜、TEM透射电镜、球差电镜、工业三维扫描仪、氩离子抛光测试及制样设备中国区授权代理商,旗下拥有国际贸易、行业解决方案研发、第三方技术服务、融资租赁等业务板块。
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  • 广东金鉴实验室科技有限公司是专注于第三代半导体氮化镓和碳化硅芯片和器件失效分析的新业态的科研检测机构,是广东省工业和信息化厅认定的“中小企业LED材料表征与失效分析公共技术服务平台”。金鉴实验室建设了一条从芯片到封装灯具的LED失效分析线,市场占有率为80%。公司拥有透射电镜(STEM)、双束聚焦离子束显微镜(FIB-SEM)、扫描电镜(SEM)四台、扫描超声波仪(C-SAM)两台、X射线透视仪(XRD)、氩离子切割抛光仪(CP)、显微红外光谱(Micro-FTIR)、全套的热分析(TGA、TMA和DSC)、显微红外热像仪等大型精密贵重分析仪器设备。企业拥有CMA和CNAS资质,所发布的报告可用于产品质量评价、成果验收及司法鉴定,具有法律效力。
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  • 400-831-3279
    TESCANTESCAN是一家专注于微观形貌、结构和成分分析的科学仪器的跨国公司,是全球知名的电子显微仪器制造商,总部位于全球最大的电镜制造基地-捷克布尔诺,且已建立起全球的销售和服务网络,在捷克、法国和美国拥有4家研发中心、2个生产基地以及6家海外子公司,已有超过60年的电子显微镜研发和制造历史。其产品主要有电子显微镜、聚焦离子束系统、多通道全息显微镜及相关分析附件和软件,正被广泛应用于医学、生物、生化、农业、材料科学、冶金、化学、石油、制药、半导体和电子器件等领域中。作为科学仪器的全球供应商之一,TESCAN正为其在设计、研发和制造扫描电子显微镜及扫描电子显微镜在不同领域的应用方面树立良好的声誉和品牌。目前TESCAN的产品和解决方案已经在全球微纳米技术领域取得了领先的地位,首创了扫描电子显微镜与拉曼光谱仪联用技术、聚焦离子束与飞行时间质谱仪联用技术以及氙等离子聚焦离子束技术,也是行业领域的技术领导者。TESCAN凭借优异的性能赢得全世界越来越多的用户认可,目前生产的各系列电镜在世界范围内受到广泛的好评。从2000年至今已有2500多台电镜积极地服务于全球客户。 TESCAN中国TESCAN于2009年正式进入中国市场,成立了TESCAN CHINA中国分公司,总部设在上海,且在北京、上海两地建立了DEMO实验室,在北京、上海、广州、重庆、南京、武汉、西安、无锡、苏州等城市设立9个维修站。TESCAN中国公司拥有经验丰富的售前应用和售后服务的技术团队,在上海的应用中心有包含钨灯丝电镜、场发射电镜、FIB以及电制冷能谱仪、电镜制样设备等全系列产品的演示培训平台,为国内用户提供参观、交流和学习的平台。在进入中国的短短几年内,TESCAN已逐步建立起了自己的品牌,得到了广大客户的认同。TESCAN在中国的高速发展得益于产品优异的性能、快捷的售后服务以及致力于成就客户的信念,未来TESCAN中国将持续提升个性化服务,为国内用户提供更全面、更专业的综合解决方案!TESCAN中国总部地址:上海市闵行区联航路1688弄旭辉国际10号楼电话 +86 21 6439 8570传真 +86 21 6480 6110销售热线:15000550180邮箱:market-china@tescan.com更多信息请访问:TESCAN官网 www.tescan.comTESCAN中国官网 www.tescan-china.comTESCAN中国应用网站 www.tescan-china.com.cn
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聚焦离子束扫描电镜相关的仪器

  • Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束专为自动化冷冻电子断层扫描成像样品的制备而设计。用户可以稳定地在原位制备厚度约为 200nm 或更薄的冷冻薄片,同时避免产生镓 (Ga) 离子注入效应。与目前市场上的其他 cryo-FIB-SEM 系统相比,Arctis Cryo-PFIB 可显著提高样品制备通量。与冷冻透射电镜和断层成像工作流程直接相连通过自动上样系统,Thermo Scientific&trade Arctis&trade Cryo-PFIB 可自动上样、自动处理样品并且可存储多达 12 个冷冻样品。与任何配备自动上样器的冷冻透射电镜(如 Thermo Scientific Krios&trade 或 Glacios&trade )直接联用,省去了在 FIB-SEM 和透射电镜之间的手动操作载网和转移的步骤。为了满足冷冻聚焦离子束电镜与透射电镜应用的低污染要求,Arctis Cryo-PFIB 还采用了全新的高真空样品仓和经过改进的冷却/保护功能。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束电镜的主要特点与光学显微镜术关联以及在透射电镜中重新定位"机载"集成宽场荧光显微镜 (iFLM) 支持使用光束、离子束或电子束对同一样品区域进行观察。 特别设计的 TomoGrids 确保从最初的铣削到高分辨率透射电镜成像过程中,冷冻薄片能与断层扫描倾斜轴始终正确对齐。iFLM 关联系统能够在电子束和离子束的汇聚点处进行荧光成像。无需移动载物台即可在 iFLM 靶向和离子铣削之间进行切换。CompuStage的180° 的倾转功能使得可以对样品的顶部和底部表面进行成像,有利于观察较厚的样品。TomoGrids 是针对冷冻断层扫描工作流程而特别设计的,其上下2面均是平面。这2个面可防止载样到冷冻透射电镜时出现对齐错误,并始终确保薄片轴相对于透射电镜倾斜轴的正确朝向。 利用 TomoGrids,整个可用薄片区域都可用于数据采集。厚度一致的高质量薄片Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜可在多日内保持超洁净的工作环境,确保制备一致的高质量薄片。等离子体离子束源可在氙离子、氧离子和氩离子间进行切换,有利于制备表面质量出色的极薄薄片。等离子体聚焦离子束技术适用于液态金属离子源 (LMIS) 聚焦离子束系统尚未涉及的应用。例如,可利用三种离子束的不同铣削特性制备高质量样品,同时避免镓注入效应。系统外壳的设计考虑到了生物安全,生物安全等级较高的实验室(如生物安全三级实验室)可选用高温消毒解决方案。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜的紧凑型样品室专为冷冻操作而设计。由于缩小了样品室体积,操作环境异常干净,最大限度减少水凝结的发生。通过编织套管冷却样品及专用冻存盒屏蔽样品,进一步提升了设计带来的清洁度,确保了可以进行多日批量样品制备的工作环境。 自动化高通量样品制备和冷冻断层扫描连接性自动上样器可实现多达 12 个网格(TomoGrids 或 AutoGrids)的自动上下样,方便转移到冷冻透射电镜,同时最大限度降低样品损坏和污染风险。通过新的基于网络的用户界面加载的载网将首先被成像和观察。 随后,选择薄片位置并定义铣削参数。铣削工作将自动运行。根据样品情况,等离子体源可实现高铣削速率,以实现对大体积材料的快速去除。自动上样系统为易损的冷冻薄片样品提供了受保护的环境。在很大程度上避免了可能会损坏或污染样品的危险手动操作样品步骤。 自动上样器卡槽被载入到与自动上样器对接的胶囊中,可在 Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜和 Krios 或 Glacios 冷冻透射电镜之间互换。
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  • 仪器简介:JIB-47000F是集成扫描电镜和聚焦离子束于一身高性能仪器。电子光学系统采用场发射电子枪,可以对进行实时研磨监控。该仪器又是一个微区观察、样品分析、微区研磨的集合体,应用范围广泛。技术参数:FIB 分辨率: 5nm, 30kV SEM分辨率: 1.2 nm(15 kV)1.6 nm(1KV) FIB束流:最大90nASEM束流:最大300nA气体输入系统 x1-3主要特点:监控、切割、组装和三维图像重构连续操作 2大束流,最大90nA 3.提供空前稳定的图像 4.气体注入系统用于刻蚀和沉积 5.最大装样 150 mm 6.气锁式样品交换 7.五轴全对中样品台 8.多个样品分析接口9.三维图像、能谱、EBSD
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  • 第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷冻聚焦离子束显微镜,Cryo-FIB)是一款专用的冷冻双束显微镜系统,可为高端冷冻透射电镜断层扫描分析提供最佳的样品制备流程。专为冷冻电镜设计 Thermo Scientific™ Aquilos™ 2 冷冻聚焦离子束显微镜让用户可以控制样品厚度,将生长在电镜载网上的细胞样品进行原位(in situ)的冷冻减薄制备成冷冻超薄切片(cryo-lamellas)。Aquilos™ 2 冷冻聚焦离子束显微镜集成了一个可完全旋转的冷冻载物台以及保护冷冻水合样品免受冰污染的相关硬件设施,从而确保脆弱的生命科学冷冻样品始终保持在玻璃化的温度下。核心优势为使用 Autoloader 的透射电镜制备冷冻断层扫描专用的冷冻超薄切片。仓室内专用的硬件可确保最低程度的样品冰污染,损坏和相关精度的损失。制备没有切割伪影的更薄的冷冻超薄切片。离子束减薄能够制备无压缩的冷冻超薄切片样品,以进行透射电镜断层成像。使用冷冻聚焦离子束减薄可以有效地避免伪影的产生,而使用冷冻超薄切片机制备冷冻超薄切片过程中会形成机械压缩,因而不可避免地会产生伪影。提高样品制备的精度。具有向导式用户软件和 Maps 软件,即使毫无经验的用户也能轻松地操作 Aquilos 2 冷冻聚焦离子束显微镜。将光学显微镜数据导入到 Maps 软件中,可以识别感兴趣区域的特征、瞄准目标并在不同成像方式之间进行关联。自动减薄和冷冻提取系统。具备最先进的自动化冷冻减薄软件,与冷冻提拉系统相配合可处理具有挑战性大块冷冻样品。通宵运行。更长的冷冻工作时间使系统能够通宵运行,以进一步实现冷冻超薄切片制备过程的自动化。
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  • 日程公布!iCEM 2024之扫描电镜/聚焦离子束显微镜技术与应用专场预告
    2024年6月25-28日,仪器信息网(www.instrument.com.cn) 与中国电子显微镜学会(对外)(www.china-em.cn)将联合主办“第十届电子显微学网络会议(iCEM 2024)”。会议结合目前电子显微学主要仪器技术及应用热点,邀请业界知名电子显微学专家、电子显微学仪器技术专家、电子显微学应用专家等,重点邀请近来有重要工作成果进展的优秀青年学者代表线上分享精彩报告。iCEM 2024恰逢电子显微学网络会议创立十周年,会议专场将增设“十周年”主题内容,围绕过去十年我国电子显微学重要进展、未来展望等进行分享。第十届电子显微学网络会议(iCEM 2024)将设置八个分会场:1) 原位/环境电子显微学与应用;2)先进电子显微学与应用;3)扫描电镜/聚焦离子束显微镜技术与应用;4)电子能量损失谱/电镜光谱分析技术;5)低温电子显微学与应用;6)生物医学电镜技术与应用;7)电镜实验操作技术及经验分享;8)电镜开放共享平台及自主保障体系建设。诚邀业界人士线上报名参会。主办单位:仪器信息网,中国电子显微镜学会(对外)参会方式:本次会议免费参会,参会报名请点击会议官网:https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCEM2024/或扫描二维码报名“扫描电镜/聚焦离子束显微镜技术与应用”专场预告(注:最终日程以会议官网为准)专场三:扫描电镜/聚焦离子束显微镜技术与应用(6月26日上午)专场主持暨召集人:王晋 浙江大学材料学院高温合金研究所 副研究员 报告时间报告题目演讲嘉宾8:30-9:00【十周年主题报告】:纳米分辨可视化方法在变形高温合金热制造中的应用研究王晋(浙江大学材料学院高温合金研究所 副研究员)9:00-9:30赛默飞双束电镜在生命科学研究的应用介绍及选型推荐程路(赛默飞世尔科技 电镜业务拓展经理)9:30-10:00钛合金双相组织变形机制的原位SEM/EBSD研究王柯(重庆大学 教授)10:00-10:30TESCAN 电镜在材料领域的最新应用李景(泰思肯(中国)有限公司 资深应用工程师)10:30-11:00新品发布:飞纳台式扫描电镜的技术突破及全新智能型离子研磨制样平台介绍张传杰(复纳科学仪器(上海)有限公司 产品、应用专家)11:00-11:30ECCI结合HR-EBSD研究增材制造金属结构材料变形机理及稳定性研究安大勇(上海交通大学 助理教授)11:30-12:00锂电池材料表界面改性与工况条件下失效机制的原位扫描电镜研究程晓鹏(北京工业大学 助理研究员)嘉宾简介及报告摘要(按分享顺序)专场主持暨召集人:王晋 浙江大学材料学院高温合金研究所 副研究员【个人简介】主要从事电子显微镜原位测试表征仪器的开发、高温合金材料微观结构与力学性能、变形断裂机理等研究,并致力于国内自主科学仪器的转化与应用。先后参与国家自然科学基金委科学仪器设备专项,科技部国家重大科学仪器设备开发专项,国家863计划重大项目,国家自然科学基金基础科学中心项目等。在国内外SCI期刊发表论文22余篇,授权国家专利20余项,完成发明专利职务科技成果转化3项。报告题目:纳米分辨可视化方法在变形高温合金热制造中的应用研究【摘要】热锻造、热处理是金属材料加工制造领域的传统基础工艺,但是由于金属材料加工工艺烦琐,精确过程控制难度大等问题,目前我国高端金属热加工工艺优化和过程精确控制的智能化基础理论与关键工艺技术研究开发显著落后。我国制造业面临严峻挑战,只有深入发展智能化设计和加工制造基础理论与关键工艺技术,并借力于自主开发新的热加工工艺设计与表征方法,才能更为高效、经济、全面的一体化研究该合金热锻造工艺-微观组织-锻造工艺性能之间关系,缩短合金性能优化研制时间,降低研发成本,提高生产合格率,解决热加工制造领域的共性难题。程路 赛默飞世尔科技 电镜业务拓展经理【个人简介】硕士毕业于北京科技大学之后进入电镜行业,曾多次前往日本、奥地利和德国学习电镜操作和电镜制样技术,从事电镜和电镜制样应用工程师工作超过15年时间,积累了丰富的电镜应用技术经验。2022年入职赛默飞生物电镜部门,现负责赛默飞双束电镜、常温透射电镜和扫描电镜在生物应用领域的售前技术支持和业务拓展。报告题目:赛默飞双束电镜在生命科学研究的应用介绍及选型推荐【摘要】双束电镜结合了聚焦离子束(FIB/PFIB)的精确样品修饰和扫描电镜(SEM)的高分辨率成像功能,广泛应用于获取生物样品的超微结构,包括拍摄常温2D图像、获取高分辨率体电子显微3D图像,和为CryoET制备Lamella等,其分析尺度范围可以从亚纳米级到毫米级。报告将从介绍多种类型的生物样品应用案例出发,结合丰富类型的赛默飞双束电镜,推荐对应的最适合型号。王柯 重庆大学 教授【个人简介】王柯,博士,重庆大学教授,博士生导师,长期从事钛合金热加工工艺与组织性能调控研究,重点关注钛合金高温变形和热处理一体化工艺设计、组织遗传性机制、组织性能关系、强韧性协同优化调控技术等。主讲课程包括:《材料力学性能》、《材料热力学与动力学》、《轻质耐高温航空结构材料:钛合金》等。主持国家自然科学基金面上/青年项目,重点研发计划项目子课题、企业横向等项目10余项,以第一/通讯作者发表学术论文 50 余篇,授权发明专利 6 项。参编《锻压手册》第四版高温合金部分。2022年获评重庆市创新创业导师。获陕西省自然科学一等奖1项。报告题目:钛合金双相组织变形机制的原位SEM/EBSD研究【摘要】对于大多数近α和α+β钛合金,滑移是主要的变形机制。本报告主要汇报内容包括:(1)α相和β相之间滑移启动的先后顺序;(2)微观组织对滑移启动和传递、以及裂纹形核的影响;(3)基于微观变形机制分析了组织对力学性能的影响机制;(4)基于组织性能关系研究,研制出一种多尺度组织,实现了钛合金强塑性协同提升。李景 泰思肯(中国)有限公司 应用工程师【个人简介】李景是TESCAN中国公司的高级应用工程师、首席应用专家,2015年毕业于北京科技大学材料科学与工程专业。她长期专注于扫描电镜在材料领域的研究,并且具有丰富的扫描电镜、FIB-SEM双束电镜及相关联用仪器(TOF-SIMS、Raman、EBL等)的操作与应用经验。李景在TESCAN公司中,不仅专注于技术研究,多年来持续参与各种学术交流和培训活动,包括但不限于客户研究项目技术支持、电镜会议分享、高级应用培训讲座等,获得客户的一致好评与感谢。报告题目:TESCAN 电镜在材料领域的最新应用【摘要】随着科研的深入及学科的交叉,常规扫描电镜系统无法满足科研工作者日益增高的分析需求。借助其它分析系统所得的数据,和电镜系统的数据往往非同时同位。TESCAN提出了All-In-One的综合解决方案,在常规的FIB-SEM系统上,增加Raman Spectrum Image以及TOF-SIMS和AFM等多种表征系统,可以极大的提升扫描电镜系统的原位综合分析能力,做到所见即所得。张传杰 复纳科学仪器(上海)有限公司 产品、应用专家【个人简介】飞纳电镜应用专家,长期从事扫描电镜应用拓展,自动化开发等相关工作,相关发明专利授权4篇,参与《2021年度国家药品标准制修订研究课题 2021Y05》,参会与起草《2025 中国药典 -- 扫描电子显微镜法通则》。报告题目:新品发布:飞纳台式扫描电镜的技术突破及全新智能型离子研磨制样平台介绍【摘要】飞纳电镜焕新赋能中国科研。全新发布台式场发射扫描透射一体机—Pharos STEM,扫透模式下分辨率突破 1 nm。 发布 Maps 3 全新软件平台,支持自动化多尺度成像及拼接,关联能谱分析及拼接以及尺度和多模态关联表征功能。发布 Phase Mapping 相分布软件。并将发布TechnoorgLinda 全新智能型离子研磨制样设备!敬请期待!安大勇 上海交通大学 助理教授【个人简介】安大勇,2019年毕业于德国亚琛工业大学/德国马普钢铁所,研究方向聚焦于金属结构材料微观变形机理研究。主持NSFC青年基金、重庆市自然基金等项目10余项,作为骨干参加173项目、国家重点研发计划项目、NSFC航空发动机重点项目、GF基础科研计划项目等7项,获第九届中国科协青年人才托举计划;揭示了增材制造奥氏体不锈钢胞状结构中周期性位错偶极子是其强韧性的关键因素,发现了位错类型决定胞状结构的热稳定性。提出了热力耦合渐进成形工艺,成功制备出晶粒-位错反向梯度高性能复杂薄壁构件,研究成果以第一和通讯作者在Int J Plast、 J Mater Sci Tech、 Mater Res Lett、Mater Charact、J Mater Proc Tech等期刊发表论文10篇,应邀撰写MRS Bulletin综述1篇,发明专利受理10项;报告题目:ECCI结合HR-EBSD研究增材制造金属结构材料变形机理及稳定性研究【摘要】金属增材制造奥氏体不锈钢中常具有亚微米级的胞状结构,该结构中包含高密度位错胞、纳米析出相和元素偏析等,显著影响着材料的机械性能。研究发现,不同胞状结构中的位错的热稳定性不同。本论文利用先进表征技术,对激光粉床熔融技术打印的奥氏体不锈钢胞状结构热稳定性进行了系统性研究,并揭示影响热稳定性的内在机理。程晓鹏 北京工业大学 助理研究员【个人简介】程晓鹏,北京工业大学助理研究员,硕士生导师。2021年博士毕业于北京工业大学材料与制造学部并留校从事教学科研工作,获北京市优秀毕业生。主要从事原位电子显微学表征方法及技术开发、原子层沉积技术与应用、能源材料与先进金属材料微观结构与性能等研究。主持国家自然科学基金青年项目、北京市教委科技项目、中国博士后基金等多个项目,授权国家专利5项,目前在Nature Energy,ACS Energy Letters,Nano Letters,Corrosion Science等发表学术论文30余篇,他引2000多次,担任Journal of Energy Chemistry等多个期刊审稿人。报告题目:锂电池材料表界面改性与工况条件下失效机制的原位扫描电镜研究【摘要】原位扫描电子显微镜(in-situ SEM)拥有较大的内部腔室,可容纳更接近实际的原位电池系统,同时具有足够高的分辨率,能够在实际工作状态下表征电池材料的结构演化机制,进而提出性能优化策略。本报告将介绍利用原位扫描电镜揭示锂电池材料在工况循环过程中的微结构演变机制,以及原子层沉积技术在电池材料表界面改性中的应用研究进展。会议联系1. 会议内容仪器信息网杨编辑:15311451191,yanglz@instrument.com.cn中国电子显微镜学会(对外)汪老师:13637966635,cems_djw @163.com2. 会议赞助刘经理,15718850776,liuyw@instrument.com.cn
  • 南京大学预算400万元,购买1套聚焦离子束扫描电镜双束系统
    4月29日,南京大学公开招标购买1套聚焦离子束扫描电镜双束系统,预算400万元。  项目编号:0667-211JIBEP6018  项目名称:聚焦离子束扫描电镜双束系统  预算金额:400.0000000 万元(人民币)  采购需求:  聚焦离子束扫描电镜双束系统 1套  简要技术要求:扫描电子显微镜5-15kv分辨率1.8nm  合同履行期限:交货期:合同签订后三个月内  本项目( 不接受 )联合体投标。  开标时间:2021年05月21日 14点30分(北京时间)
  • 卡尔蔡司AURIGA COMPACT聚焦离子束电镜全球首发
    仪器信息网讯 2012年8月29日,在北京国际材料工艺设备、科学仪器展(CIAMITE 2012)召开之际,卡尔蔡司举行了AURIGA COMPACT聚焦离子束电镜系统新品全球首发仪式。来自科研院所高校150多位专家学者参加了此次新品发布会。  卡尔蔡司AURIGA COMPACT发布会现场卡尔蔡司负责人与嘉宾共同启动新品发布仪式  聚焦离子束(Focused Ion beam, FIB)系统是利用电镜将液态金属离子源产生的离子聚焦成尺寸非常小的离子束,在电场的作用下离子束与样品产生物理碰撞,来达到切割(蚀刻)样品的目的。聚焦离子束电镜是指在离子束切割的同时利用电子束观察影像,同时也可配备能谱进行样品表面的元素分析。离子束显微镜也可以为透射电镜制作厚度达十几纳米的样品薄片。  卡尔• 蔡司新推出的AURIGA系列聚焦离子束显微镜是由电子束系统(SEM)和离子束系统(FIB)组成,具备高分辨率成像功能。AURIGA系列包含AURIGA Compact、AURIGA、AURIGA 60、AURIGA Laser四款产品。此次发布的AURIGA Compact FIB-SEM系统可以对材料实现高分辨三维纳米尺度成像和精确的材料加工及纳米组装。  AURIGA Compact GEMINI透镜设计可以在FIB切割的同时同步高分辨成像,样品的倾斜不会影响电子光学性能。AURIGA Compact具有的稳定性和效率,足以支持自动采集成百上千的EBSD剖面图谱。CrossBeam工作站的ASP系统支持自动制备TEM样品和进行断面切割。卡尔蔡司独有的X2技术,可以制备面积较大薄片样品,厚度小于10nm。  卡尔蔡司中国区总裁兼CEO Maximilian Foerst先生  卡尔蔡司中国区总裁兼CEO Maximilian Foerst先生在致辞中表示,这次活动对于卡尔蔡司非常重要,这是卡尔蔡司首次在中国举行新产品全球首发仪式,同时也证明了中国的客户和市场对于卡尔蔡司非常重要。去年,卡尔蔡司集团的收入超过了42亿欧元,其中卡尔蔡司中国公司的收入超过15亿人民币,并且建立了拥有超过30位研发人员的研发中心。随后Maximilian Foerst介绍了卡尔蔡司集团以及卡尔蔡司中国公司的总体发展情况。  北京科技大学新金属材料国家重点实验室主任吕昭平教授  卡尔蔡司全球首台AURIGA Compact FIB-SEM系统落户北京科技大学新金属材料国家重点实验室,实验室主任吕昭平教授在致辞中表示,研究材料有四个重要因素:材料制备、组织结构、性能和服役,材料学研究的主要内容是将这些方面联系起来 而组织结构是研究的核心。材料科学的发展与分析手段息息相关,得益于像卡尔蔡司这样的公司在显微分析手段和关键技术上的突破。  在新品发布会期间,卡尔蔡司显微镜中国区副总裁张育薪先生接受了仪器信息网简短采访。  卡尔蔡司显微镜中国区副总裁张育薪先生  仪器信息网:请您谈谈,电子显微最近有哪些技术发展趋势?  张育薪:近期电子显微技术发展趋势都是围绕“追求自动化、更高分辨率、操作简单以及软件界面更清楚,为客户节省更多的时间”。此次发布的针对常规用户的AURIGA Compact,在这方面都有很好的体现,同时为客户带来3D测试效果。这些方面,基本上已经体现了目前电镜追求的发展方向。  仪器信息网:请您谈谈国内电镜市场情况,近几年哪些领域对于电镜需求比较大?  张育薪:近期,中国政府推出了十二五战略发展规划,涉及到新能源、新材料、制药等,很多方面都会用到电镜,所以国内的市场不是简单的销售市场,而是全方位的大市场。整个纳米技术的发展对电镜市场有很大推动作用。就市场规模而言,每年都有变化,我个人估计2011年国内电镜市场规模在20亿人民币左右,其中约60%左右是扫描电镜。  仪器信息网:相对于其他的电镜厂商,卡尔蔡司的技术优势体现在哪些方面?  张育薪:卡尔蔡司是全球唯一一家同时拥有光镜和电镜及相关显微镜技术的公司,我们能够给客户提供一个完整的解决方案,一次性达到客户的要求。很多需要电镜的用户大多数需要光镜来进行筛选,光镜用户也有不断提高分辨率的要求,这两类产品互为补充。  Instrument:电镜产品的价格一直居高不下,随着配件不同,价格变化非常大,您是如何看待这方面的问题?  张育薪:大部分电镜产品是与科研有密切的关系,这样的高端设备都是一台一台的生产,很难像民品那样集成化、规模化生产,这是其价格高的主要原因。另外,越是高端的产品,对于售后支持依赖性越强,客户在购买产品的时候,都应该把这些考虑进去,没有完善的售后,再好的产品也很难发挥应有的作用,我们对于价格的理解是客户得到的应该是包括各种服务在内的“完整产品”,而不只报价上的数字。  AURIGA COMPACT聚焦离子束系统

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  • 扫描电镜聚焦离子束显微镜

    [font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]聚焦离子束显微镜FIB是将液态金属离子源产生的离子束经过离子枪加速,聚焦后照射于样品表面产生二次电子信号取得电子像,此功能与SEM相似,或用强电流离子束对表面原子进行剥离,以完成微、纳米级表面形貌加工。[/color][/size][/font][font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]服务内容:切点分析[/color][/size][/font][font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]FIB/SEM/EDX[/color][/size][/font][font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]服务内容:1.材料表面形貌分析,微区形貌观察 [/color][/size][/font][font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]2.材料形状、大小、表面、断面、粒径分布分析 [/color][/size][/font][font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]3.薄膜样品表面形貌观察、薄膜粗糙度及膜厚分析[/color][/size][/font][font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]4.纳米尺寸量测及标示[/color][/size][/font][font=mp-quote, -apple-system-font, BlinkMacSystemFont, &][size=17px][color=#353535]5.微区成分定性及定量分析[/color][/size][/font]

  • 谈谈扫描电镜聚焦[zt]

    谈谈扫描电镜聚焦[zt]

    驰奔扫描电镜操作,最简单,但最重要的操作就是聚焦-Focus. 正确聚焦是调节其他相关参数的基础。很多情况下,不能正确的聚焦,造成图像不清。自动聚焦可以解决不能正确聚焦问题,实际上是错误的理解,有时也被某些人用来引导暗示客户,这往往成为忽悠人的一种策略。扫描电镜自动聚焦很多情况下是粗聚焦。总之手动聚焦不清楚,自动一定不会清楚。下面主要介绍手动聚焦, 当然也是最精细的聚焦。首先,扫描电镜是齐焦系统,即高倍正确聚焦,降低放大倍数,焦点不会改变。因此使用尽可能可识别的高倍聚焦操作是快速的正确聚焦方法。因为,高倍情况下焦深变小,对聚焦的正确与否,反应更灵敏。其次,要消除象散。象散的存在,往往会干扰正确聚焦。判断象散,需要较为丰富的图像细节,而象散现象又不被图像干扰,才是好的聚焦点。如果把象散在拉伸时的位置看做正确聚焦点,再进行象散矫正,图像会更模糊。再次,高倍高分辨成像,往往受限于信噪比差。反差小的细节,将被噪音覆盖,这时候要找到小反差基本等高的大反差部位作为聚焦点。也可以加大束斑尺寸,使用较高的SPOT值,获得比较良好的信噪比,在低分辨条件下对小反差样品进行聚焦消除象散操作,最后获得正确聚焦,然后再把SPOT值降低,获得高分辨的正确聚焦。改变SPOT值,如果无WD补偿机制,图像将不再正确聚焦,最后,在高倍正确聚焦情况下,将放大倍数降低到想要的放大倍数,自然可以看清同一个高斯焦面上下一定景深的所有的形貌。如下图低倍图像。需要说明,扫描电镜成像有多重缺陷,其中荷电严重部位,有边缘效应严重部位,不适合作为正确聚焦调节点。

聚焦离子束扫描电镜相关的耗材

  • 中镜科仪 光阑专为扫描和透射电镜、电子探针、聚焦离子束和X-射线仪耗材
    高品质的光阑,专为扫描电镜和透射电镜、电子探针、聚焦离子束和X-射线仪而设计。高精密的钻孔和形状,可以避免电子散射。孔径符合制造商预先设计的严格的公差。材质有铂合金(Pt / Ir ,95:5 % )、钼(Mo),金(Au)。每种孔径厚度的光阑又有A、B、C、D四种不同规格和形状,孔径可用于目前所有品牌的EM系统制造商: FEI /飞利浦,日本电子,日立,蔡司/ LEO , CAMECA ,拓普康,TESCAN, CamScan等 。用户也可根据自己的实际需要设计加工新的光阑。产品包装实拍图:产品编号产品名称规格产地OZ63400黄金光阑直径:3mm 20um,AU中国
  • 大和电子科技 扫描电镜用条形光阑
    用途:扫描电镜光阑尺寸:如图所示后期处理: ■本公司自行研发的光阑特殊清洗 特点: ■没有毛刺、突起、倾斜的高精密加工 ■去除纳米量级附着物的特殊清洗 ■为防止氧化,加入干燥剂或者抗氧化剂后进行真空包装 ■ 实现批量化的生产加工,而且加工的质量稳定,品控体系严格交货期:根据产品规格另作商量,一般初次定做需要两个月以上的时间大和电子科技株式会社是电镜耗材的专门制作厂商,从事耗材制作50余年。除了上述的扫描电镜光阑外,我们可以制作用于透射电镜、聚焦离子束和X射线系统的光阑。最小孔径为Φ0.001mm。欢迎您的咨询,期待为您服务!
  • 聚焦离子束离子枪专用电镜光阑
    STRIP,TOMAHAWK,#02光阑条,用于原厂聚焦离子束TOMAHAWK型号的离子枪,光阑条是一个条状薄片上有多个不同孔径的圆孔,通过不同的孔径限制离子束的电流强度。以实现不同离子束电流间的切换。大束科技是一家以自主技术驱动的电子显微镜系列核心配件研发制造的供应商和技术服务商。目前公司主要生产电子显微镜的核心配件离子源、电子源以及配套耗材抑制极、拔出极、光阑等销往国内外市场,此外,还为用户提供定制化电子显微镜以及电子枪系统等的维修服务,以及其他技术服务和产品升级等一站式、全方位的支持。在场发射电子源(电子显微镜灯丝)、离子源以及电镜上的高低压电源、电镜控制系统研发制造等领域等均具有优势。
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