菲希尔镀层测厚仪

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菲希尔镀层测厚仪相关的厂商

  • FISCHER — 让测量变得简便! 现今,FISCHER 的测量和分析仪器广泛应用于世界各个领域,可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们通过专业的咨询服务为客户提供最佳的解决方案,即从第一次接触开始,不断沟通,直至达到定制化服务的理念。这些紧密合作与我们的创新驱动力不断结合,为形成新的测量解决方案奠定了坚实的基础。 HELMUT FISCHER集团是一家受德国基金会控股、专业生产和销售涂镀层测厚仪、材料分析仪、微纳米压痕仪(微纳米硬度仪)和材料测试仪的全球性集团公司。集团总部位于德国和瑞士,在德国、美国和英国各建有一个工厂、并设立了一个研究院和多个全球用户应用实验室,在全世界设有近50个分公司。??位于德国总部的基地,用于生产、物流、研发及客户应用??南通菲希尔测试仪器有限公司是HELMUT FISCHER集团在中国大陆地区设立的唯一子公司,全权负责FISCHER产品在中国地区的销售、安装、维修、备品备件及技术咨询等业务。FISCHER生产的涂镀层测厚仪主要分为:X射线涂镀层测厚及材料分析仪、β射线测厚仪、电涡流法测厚仪、电磁感应测厚仪、库仑法(多层镍电位差)测厚仪,除此之外还有包括 微纳米压痕仪(微纳米硬度仪)、电导率测试仪、铁素体含量测试仪、孔隙率测试仪 和 针孔测试仪 等在内的多种测试仪器。 FISCHER 公司生产的各类仪器,广泛应用于航天工业、航空工业、造船工业、港口机械、电镀工业、显像管流水线、电子工业(包括印制电路行业、半导体工业)、汽车工业、石油化工、黄金珠宝、手表、大专院校、科研单位、第三方测试机构等众多行业。 南通菲希尔测试仪器有限公司成立于1997年,位于中国上海,至今已在东莞建立了分公司;在北京、西安、青岛、厦门设立了办事处;并在成都、昆山、苏州、南京、宁波等地建立了售后服务点。FISCHER中国的应用实验室更是在2011年获得了ISO/IEC17025:2005认证。 “让用户满意”是公司的一贯宗旨,FISCHER将以一流的服务来赢得用户的信赖。选择FISCHER仪器,为您产品的超高品质提供保障。 认证在 FISCHER,产品和服务的认证和持续改进至关重要。这也是Helmut Fischer GmbH,Institut für Elektronik und Messtechnik 能够通过 ISO 9001 认证的原因。自 1997 年起,我们的质量管理体系已符合 DIN EN ISO 9001:2008 标准。 获得认证的校准实验室 获得认证的校准实验室2003 年,Helmut Fischer 成为了第一个根据 DIN EN ISO/IEC 17025 标准而获得的“表面尺寸”量值认证的德国公司。因此,公司有资格代表德国认证机构 DAkkS 来检验校准标准片,并为其出具证书供用户使用。校准标准片如可用于:例如,对 X 射线荧光仪器进行校准;从而极大地提高了测量的可靠性。 Germany: DIN EN ISO/IEC 17025 USA: ISO/IEC 17025:2005 & ANSI/NCSL Z540-1-1994 Switzerland: ISO 17025 SCS & STS DIN 成员(德国标准化学会) 自 2016 年 3 月 1 日起 FISCHER 成为 DIN 成员。公司自愿遵守标准化自律守则,提升总体经济竞争力。 应用实验室凭借我们在业内多年的经验优势,助力您解决复杂的测量难题。在遍及欧洲、亚洲和美国的七个应用实验室中,我们的技术专家会为客户在正确选择仪器、开发测量方法及确定合适的测量程序方面提供支持。 凭借我们在业内多年的经验优势,助力您解决复杂的测量难题。 所有 Fischer 集团内部的应用实验室之间都已建立联系,同时也与各高校、机构及企业建立了合作关系。这样稳定的知识交流体系能够确保获取到全球最前沿的专业知识,同时也能够应对特殊咨询。除提供客户定制培训(可以在我们的实验室进行也可以在您的公司进行)外,我们的技术专家也非常愿意协助您对测量结果进行分析。 Helmut Fischer 博物馆企业家 Helmut Fischer博士的专业知识、工作热情、发明家精神以及卓越的执行力是公司成功发展的源动力。他的成功故事从 1953 年在斯图加特创建的技术车间开始。现今,Fischer 作为业务遍及全球的大公司,已成为工业测量技术领域的领导者之一。持续改革与永无止境的创新是其从始至终一直坚守的明确目标。Helmut Fischer 研发的首款测量仪器 位于总部的博物馆展示了公司创始人,同时也是公司长期所有人 Helmut Fischer博士的成功人生。参观者们受邀来感受公司从小工厂成长为国际性解决方案提供商的发展历程,以及了解 Fischer产品从最初创意到最终投入市场的整个过程。Helmut Fischer 博物馆的常客:当地的在校学生 ????????更多详情请访问公司官网:http://www.helmutfischer.com.cn
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  • 厦门科检仪器有限公司是一家专业的实验室项目系统集成供应商。拥有专业的售前支持,高效的售后服务,为您提供实验室相关的采购咨询、样品检测、仪器使用培训以及实验室整体配套一条龙服务。公司主营业务:实验室大型分析仪器销售与服务实验室通用仪器销售与服务实验室仪器配件及耗材销售与服务实验室装修设计与销售服务公司运营品牌:英国百灵达(palintest )COD/BOD测定仪、多参数水质分析、浊度仪、余氯测定美国博勒飞(Brookfield)旋转粘度计、流变仪、质构仪、粉体流动测试仪德国菲希尔(Fischer)XRF镀层测厚仪、库仑测厚仪、涂层测厚仪美国CEM:微波消解/萃取/合成/马弗炉/多肽合成、蛋白水解酶解日本奥林巴斯(Olympus)生物显微镜、金相显微镜、体视显微镜日本日立(Hitachi)荧光分光光度计、离心机、电子显微镜、氨基酸分析仪韩国大韩(Dahan)高压灭菌器、磁力搅拌器、电热板、水浴锅、马弗炉北京优晟(Usun)超声波清洗器、氮吹仪、搅拌器、混合器、振荡器、恒温器上海昂拉(angra)紫外可见分光光度计公司宗旨:高效、快捷、诚信于客户 探索、创新、跻身于市场
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  • 公司致力于长度计量仪器,光学仪器、形状类仪器,材料检测仪器,涂装与表面处理检测仪器的销售与维护服务。主要代理德国EPK涂层测厚仪产品,并且我司具有国家许可进出口经营权。本公司有专业销售和技术人员,为客户提供方信守合同便,快捷的售前(演示设备、介绍最新技术)售中(为客户选型、满足客户要求),售后服务(设备维护、保养问题)在客户需要的时候,我们的专业人员能够即来到客户现场,提供急需的服务。 公司宗旨:公司一贯坚持“质量第一,用户至上,优质服务,”的宗旨,凭借着高质量的产品,良好的信誉,优质的服务,产品畅销全国.竭诚与国内外商家双赢合作,共同发展,共创辉煌! 笃挚仪器(上海)有限公司是德国菲希尔Fischer测厚仪,德国Elektrophysik(EPK)公司测厚仪,英国易高测厚仪,英国泰勒Taylor Hobson粗糙度仪、轮廓仪、圆度仪、圆柱度仪等的专业代理商,欢迎来电咨询查看更多规格和配置的更详细介绍。笃挚公司将以优质产品、优势价格、优秀服务,为您提供最具性价比的解决方案。
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菲希尔镀层测厚仪相关的仪器

  • 菲希尔金镍测厚仪,无损多层镀层测厚仪金镍测厚仪用途 该设备适用于多层镀层厚度测量及材料分析,可用来定量和定性分析样品的元素组成,也可用于镀层和镀层系统的厚度测量,最多可同时测定24种元素,广泛应用于电路板、半导体、电镀、珠宝等工业中的功能性镀层及电镀槽液中的成分浓度分析。 金镍测厚仪特点:1、无论是镀层厚度测量,还是镀液分析,复杂的多镀层应用,一个软件程序就可以完成所有测量应用2、X射线管有带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管多种选择3、X射线探测器PC(比例接收器)、PIN(硅PIN接收器)、SDD(硅漂移接收器)4、可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地应用不同测量。X射线荧光镀层测厚及材料分析仪测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器,它配备了一个固定的准值器和滤,射线管出射点稍大,非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用,如Cr/Ni/Cu等,非常合适。PC标准11(Φ0.3)是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层(如50nm Au或100um Sn)都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34(0.05*0.05-Φ0.3)是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言,只有一个固定的准直器和固定的滤片,特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器,适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器,更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11(Φ0.3XAN110)1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器,测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭,可以使作大准直器分析,高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64(Φ0.2-Φ2)否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器,即使大测量距离也可以测量(DCM,范围0-80mm)配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用;跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11(Φ0.3)是XDLM比XDL适用面更广,配备微聚焦管,4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似;适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板,也可以测量大的工作(DCM,范围0-80mm)PC微聚焦34(0.05*0.05-Φ0.3)是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层(基于良好的信噪比)。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34(Φ0.1-Φ0.6)是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成,激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器,即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64(Φ0.1-Φ0.3)否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同,可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层,测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室,这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64(Φ0.1-Φ3)否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜,金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便,启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物,薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。
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  • 菲希尔无损测厚仪可用于检测金镍厚度,元素分析,涂层镀层检测,材料分析等。菲希尔X-RAY系列产品可以分析从元素氯(17)到铀(92)的元素,最多可同时测定24种元素。设计理念:FISCHERSCOPE X- Ray ADLM-PCB系列仪器是用户界面友好的台式测量仪器。测量门底部留有空隙,以方便对大面积印制电路板的测量。 样品定位简便的特点:XDLM-PCB 200型:首先PCB板将在仪器集成的激光点的协助下准确放置于样品台上。然后将样品台如抽屉般推入仪器内部。XDLM-PCB210和220:仪器配备了高精度、可编程的XY平台,并带有弹出功能。激光点作为辅助定位,能帮助快速对准测量位置。高分辨彩色摄像头,使得对准测量位置的过程更加准确。简便。通过强大且界面友好的WINFTM® 软件,可以在电脑上便捷地完成整个测量过程,包括测量结果的数据分析和所有的相关信息的显示等。X-RAY XDLM-PCB系列仪器完全符合DIN ISO 3497和ASTM B568标准。应用领域:钟表,首饰,眼镜 汽车及紧固件 卫浴五金连接器化学药水通信半导体封装测试电子元器件 PCB正业科技主要从事检测仪器和高端材料,菲希尔为正业代理的德口产品,如想了解菲希尔的更多产品可以直接联系。
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  • X射线荧光镀层测厚仪,材料分析仪X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品,HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供最先进的产品和最完善的解决方案。X射线荧光镀层测厚仪产品用途:由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统,因而应用广泛 在电子和半导体产业里,测量触点上薄金,铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中,精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中,需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中,光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中,则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者,检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》(ROHS指令)也是十分关键的。在玩具工业中,也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用,菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。X射线荧光镀层测厚仪,材料分析仪也可测量金属元素的等。我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪,金镍厚度测量仪,孔铜测厚仪,面铜测厚仪,涂镀层测厚仪,台式涂层镀层测厚仪,铜箔测厚仪,绿油测厚仪,油墨测厚仪,各领域的测厚仪。
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菲希尔镀层测厚仪相关的资讯

  • 英飞思科学仪器X射线荧光镀层测厚仪EDX8000T plus全新发布
    英飞思科学仪器X射线荧光镀层测厚仪EDX8000T plus全新发布经过多年研发,英飞思科学仪器全新推出X射线荧光光谱镀层测厚仪。主要优点:微光斑垂直光路,专为镀层厚度分析而设计高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速,无损,高精度测量高分辨率样品观测系统,精确的点位测量功能有助于提高测量精度全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量 背景介绍材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数,其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命,因此,镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000T Plus镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确,快速,无损,操作简单,测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度,并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。 XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪EDX8000T Plus是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。 膜厚仪EDX8000T Plus产品特点全新的下照式一体化设计,测试快速,无需样品制备可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量,避免直接接触,污染或破坏被测物。软件配备距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,螺纹,曲面等)的异型件的精准测试备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品可覆盖元素周期表Mg镁到U铀SDD检测器,具有高计数范围和出色的能量分辨率自动切换准直器和滤光片(0.15mm,0.2mm,0.3mm) 膜厚仪EDX8000T Plus应用场景EDX8000T Plus镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量,金属电镀镀层分析;测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度镀铬,例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品钢上锌等防腐涂层电路板和柔性PCB上的涂层插头和电触点的接触面贵金属镀层,如金基上的铑材料分析分析电子和半导体行业的功能涂层分析硬质材料涂层,例如 CrN、TiN 或 TiCN可拓展增加RoHS有害元素分析功能,电镀液离子浓度分析
  • 天瑞镀层测厚仪Thick 800A取得技术突破
    天瑞仪器新一代Thick 800A核心技术已取得突破性进展。  镀层测厚仪市场一直对高精度仪器有着很高的需求,天瑞仪器作为国内镀层测试企业的行业领先龙头,一直以满足市场客户需求为目标,致力于新技术的研究和新产品的更新换代。  在此之前,国内小功率仪器无法测试0.5mm以下微小尺寸的镀层样品,国际同类仪器如不借助透镜聚焦也只能达到0.2-0.3mm的标准。此次我司推出的新一代Thick 800A,测试精度目标已达0.2mm以下。  在董事长刘召贵博士、应刚总经理的亲切关怀、指导并时刻关注下,公司常务副总经理兼研发项目管理委员会主任委员王耀斌亲自挂帅负责此项目的研发工作,我司研发部研发人员和生产部技术部配合人员经过多次对比试验、数据分析,摸索、总结出了自己的一套独特的测试、加工和装配技术,并应用了几项本公司的发明专利,终于攻克技术难关,取得了突破性进展。据对比测试结果分析,国外同类测试仪器最小测试光斑为0.2-0.22mm,我司研制推出的新一代Thick 800A最小测试光斑为0.15-0.18mm,天瑞仪器镀层测厚仪已进入新一阶段。  为了尽快满足广大客户对微小样品镀层测厚仪的迫切需求,本研发成果取得成功后立即转入产品调试、应用阶段,目前新一代镀层测厚仪Thick 800A已投入批量生产,最迟在本月底前揭开神秘而绚丽的面纱,和广大客户会面。
  • 天瑞仪器Thick800镀层测厚仪全国路演
    Thick 800是我司专门研发的能散型镀层厚度测试仪,天瑞最新科技与智慧的结晶,领先国际水平,为新一代镀层厚度分析利器,是电镀业、实验室、科研机构等不可多得的检测和实验助手。 Thick 800可精确测量各类镀层的厚度,精确度达到0.01&mu m,同时镀层分析能力多达5层,能分析单镀层、双镀层、合金镀层等多种镀层类型。整台机器具有精度高、稳定性好、测量范围宽、非破坏、非接触、多层合金测量等优秀特点。 天瑞仪器Thick800镀层测厚仪全国路演于5月16日在深圳启动,历东莞、广州、厦门、昆山、嘉兴、温州等地,于6月13日在青岛胜利结束。经公司领导密切关注和亲临指导,整个路演活动非常成功。顾客对镀层测厚原理、Thick800的性能特点、Thick800的比较优势有了全面的了解。 在深圳、东莞站,许多顾客对仪器表现出浓厚的兴趣,他们仔细询问了仪器的技术指标、配置、功能等。在昆山站,顾客围着仪器进行了仔细的观摩,他们认真察看了操作人员的演示。在温州站,顾客踊跃提问,积极表达自己的关切点,主动了解公司的售后服务、仪器应用和销售等情况。他们纷纷表示,参加我司的全国路演活动,不但了解了一款技术领先的仪器,而且了解了一个魅力四射的公司,体验了一种服务顾客、关注需求的企业文化。 至此,我司Thick800镀层测厚仪全国路演活动胜利落下帷幕。 天瑞仪器副总经理胡晓斌在昆山站作Thick800镀层测厚仪专门报告 主持人正在演示Thick800的产品说明、技术参数及配置 客户仔细聆听路演报告 客户向主持人询问产品的性能及售后服务等问题

菲希尔镀层测厚仪相关的方案

菲希尔镀层测厚仪相关的资料

菲希尔镀层测厚仪相关的试剂

菲希尔镀层测厚仪相关的论坛

  • 求购镀层测厚仪

    请问涂层测厚仪与镀层测厚仪有什么区别,求购镀层测厚仪,联系电话,13695244645。

菲希尔镀层测厚仪相关的耗材

  • MINITEST600-N 涂镀层测厚仪
    MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型:MiniTest 600B和MiniTest 600,每种小类都可分为F型、N型、FN型三种,因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型,没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型,无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型,无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如:铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的,一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零,才可以保证测量的精确性; 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性; 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量,但要严格按照说明书的校准步骤进行校准; 不要用力拽或折测头线,以免线断; 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品,以免损坏测头; 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面; 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型(两用型) 0-3000um(F),0-2000um(N) 允许误差 ± 2um或± 2-4%读数 最小曲率半径 5mm(凸)、25mm(凹) 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm(F型)、50um(N型) 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准(华丰公司内) 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232(不适合B型) 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体; 5号碱性电池两节; 零板和厚度标准箔; 中英德文操作手册各一本; 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱; 橡胶套; 打印机MiniPrint 4100; RS-232数据接口电缆; 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981,50982; ASTM B499,E367,D1186,B530,G12 BS5411 DIN EN ISO 2178,2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准:适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准:置零,不用标准箔。用于允许误差不超过4%的场合。 两点校准:置零,用一片标准箔。用于误差范围在2-4%之间的测量 特殊的基础校准:此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板; 如果主板不上电,在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘; 测值不稳定,可认为探头系统频率不稳定,一般要更换探头系统; 在显示系统不能正常显示时,可更换显示系统; 更换电缆时,一定要保证电缆长度不小于1m;
  • 铁基涂层测厚仪,非铁基涂层测厚仪CM-8822
    铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822 一、应用概述 用磁性传感器测量钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层,例如:漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。用涡流传感器测量铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等。广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 二、功能参数 1、功能:测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度 2、测量范围:0-1000um/0-40mil (标准量程) 3、曲面不小于:F: 凸1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm 4、分辨率:0.1/1 5、测量面积不小于:6mm 6、基底不小于:0.3mm 7、自动关机 8、使用环境:温度:0-40℃ 湿度:10-90%RH 9、准确度:±(1~3%n)或±2um 10、电源:4节5号电池 11、电池电压指示:低电压提示 12、外形尺寸:161×69×32mm 13、重量:210g(不含电池) 14、可选附件:可定制量程(大量程传感器)可选:0-200um to 18000um 铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822
  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
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