椭圆偏光膜厚测试仪

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椭圆偏光膜厚测试仪相关的厂商

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    环球分析测试仪器有限公司(UATIL)成立于1982年,总部设在香港,是国外多家知名的高新科技仪器生产制造商在中国的独家总代理。主要产品电化学仪器:电化学工作站、光电化学测试设备 化学合成仪器:全自动反应系统、反应量热仪、超声波结晶系统、平行合成仪、高温高压釜、流动化学系统 萃取及纯化仪器:超临界萃取仪、快速制备色谱、固相萃取、溶剂蒸发仪、气体纯化系统 生命科学仪器:生物反应器、发酵罐、冷冻干燥机、移液工作站、离心浓缩仪 乳品分析仪器:乳品成分分析仪、体细胞计数器、奶牛生产性能测试仪 材料测试仪器:网格应变测试仪、杯凸试验机 惰性环境仪器:手套箱 微流控仪器:单细胞测序、细胞包裹、微流控芯片、微流泵、液滴微流控系统、3D芯片打印机
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  • HT ITALIA来自于美丽的欧洲小镇——意大利法恩莎,公司自1983年成立以来,产品年销售额超过4000万欧元。并在2009年在中国广州建立办事处,负责中国地区的产品销售和售后服务。 HT ITALIA公司设立专业的研发团队,在1992年研制生产出HT2038,1999年研制生产了世界上第一台带电能质量分析仪功能的便携式多功能电气安全测试仪——GENUIS 5080,在2001推出具有三相电能质量分析仪功能的多功能电气安全测试——GSC系列,刷新了便携式仪器的多功能之最。2007年HT公司开始涉及太阳能光伏系统测试,以提供太阳能光伏电站的现场测试仪表,HT可提供全面的太阳能光伏电站测试仪表:并网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR300N,太阳能电池I-V特性曲线分析测试仪I-V400,离网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR I-V等。近年来,HT公司又基于自身的设计现场测试理念,推出自主品牌的全新系列红外热像仪产品,以充分满足客户的个性化需求,HT品牌的红外热像仪家族包括:THT41/42/44的经济型系列,THT49的专业级红外热像仪和THT50专家型红外热像仪。现在HT公司拥有:红外热成像仪,电气安全测试仪(含:绝缘电阻测试仪,接地电阻测试仪,漏电保护开关-RCD测试仪,耐压测试仪和多功能电气安全测试仪)、电能质量分析仪、通用测试仪表(含:数字万用表,数字电流钳表,红外测温仪,数字测温仪,数字噪声计,激光测距仪等)、GEF专业绝缘工具(含:绝缘镙丝批,各种绝缘剪钳,各种型号的工具套包,工具箱等)等系列产品。
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  • 上海摩尼测试仪器有限公司是实验室、便携式和在线分析检测仪器的专业供应商。我们致力为环境监测、教育科研、水文水利、化工制药以及工业实验室等众多领域长期提供世界著名品牌的分析检测仪器设备、解决方案和技术服务。 公司环境分析部现为美国Teledyne Isco、美国Xylem WTW、美国ITS、美国ASA、美国TraceDetect、德国Merck、荷兰Rhosonics等行业知名品牌的特约代理商和技术服务中心。
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椭圆偏光膜厚测试仪相关的仪器

  • 产品特点: ? 椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。? 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。? 400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。? 可自由变换反射测量角度,得到更详细的薄膜解析数据。? 非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。产品规格: 膜厚测量范围0.1nm~波长测量范围250~800nm(可选择350~1000nm)感光元件光电二极管阵列512ch(电子制冷)入射/反射角度范围45~90o电源规格AC1500VA(全自动型)尺寸1300(H)×900(D)×1750(W)mm重量约350kg(全自动型) 应用范围: ■半导体晶圆?电晶体闸极(Gate)氧化薄膜、氮化膜,电极材料等?SiO 2、SixOy、SiN、SiON、SiNx、Al 2 O 2、SiNxOy、poly-Si、ZnSe、BPSG、TiN?光阻剂光学常数(波长色散)■化合物半导体?AlxGa (1-x) As多层膜、非结晶矽■平面显示器?配向膜?电浆显示器用ITO、MgO等■新材料?类钻碳薄膜(DLC膜)、超传导性薄膜、磁头薄膜■光学薄膜?TiO 2、SiO 2、多层膜、抗反射膜、反射膜■平版印刷领域?g线(436nm)、h线(405nm)、i线(365nm)、KrF(248nm)等于各波长的n、k值评价 应用范例: 非线性最小平方法比对NIST标准样品(SiO 2)膜厚精度确认
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  • 产品特点: ? 400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。? 自动变更反射测量角度,可得到更详细的薄膜解析数据。? 采用正弦杆自动驱动方式,展现测量角度变更时优异的移动精度。? 搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。? 可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格: 样品对应尺寸100×100mm测量方式偏光片元件回转方式入射/反射角度范围45~90o入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更波长测量范围300~800nm分光元件Poly-chrometer尺寸650(H)×400(D)×560(W)mm重量约50kg
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椭圆偏光膜厚测试仪相关的资讯

  • HORIBA拉曼/SPRi及椭偏光谱技术交流会
    HORIBA Scientific 暨华南理工大学测试中心拉曼、SPRi及椭偏光谱技术交流会邀 请 函  主办:HORIBA Scientific (Jobin Yvon光谱技术)  协办:华南理工大学分析测试中心  时间:2011年4月27日(周三)上午8:30  地点:华南理工大学人文馆报告厅日程安排  上午:拉曼光谱及SPRi在化学、生物领域的应用专场  8:30~9:00 来宾签到  9:00~9:10 开幕词  9:10~10:00 拉曼光谱仪新进展以及应用 (HORIBA Scientific 沈婧 博士)  10:00~10:50 拉曼光谱在生物医学领域的应用(暨南大学 黄耀熊 教授)  10:50~11:00 提问及茶歇  11:00~11:30 拉曼光谱在食品化学领域的应用(华南理工大学 宋国胜 博士)  11:30~12:00 SPRi技术以及在生物、食品和卫生安全领域的应用(HORIBA Scientific 沈婧 博士)  12:00~13:30 午餐及休息  下午:拉曼光谱及椭圆偏振光谱在新能源、新材料领域的应用专场  13:30~14:00 来宾签到  14:00~14:30 拉曼光谱在新材料领域的应用(HORIBA Scientific 武艳红 应用工程师)  14:30~15:30 椭圆偏振光谱测量技术以及HORIBA Jobin Yvon新型椭偏仪(HORIBA Scientific Dr. Ramdane Benferhat)  15:30~15:45 提问及茶歇  15:45~16:45 椭偏仪在新能源材料领域的应用(HORIBA Scientific Dr. Ramdane Benferhat)  因本次会议场地有限,为方便我们对会议的组织与安排,请您与4月25日前确认参加  (请点击如下按钮完成网络提交)     如果您对会议有任何疑问,欢迎您随时与我们联系:  联系人:Li Su邮件地址:info-sci.cn@horiba.com  电话:021-62896060-101  会议地址地图   HORIBA Scientific(HORIBA集团科学仪器事业部)  HORIBA Scientific隶属 HORIBA 集团。一直致力于为用户提供先进的测和分析仪器:包括激光拉曼光谱、椭圆偏振光谱、元素分析、荧光、ICP、粒度表征、油中硫分析、水质和XRF等分析仪器。结合旗下知名品牌的技术优势,包括拥有近200年发展历史的世界光谱制造技术的Jobin Yvon。  今天,HORIBA Scientific 的各种高端检测分析仪器已经遍布全球各地,并在中国实现了销售和服务的本土化,位于上海、北京、广州三地的产品专家、售后服务团队以及全国各地的代理商机构可充分保障国内用户的技术咨询以及售后服务需求。  www.horiba.com/cn华南理工大学分析测试中心(计量认证合格单位)  组建于1982年10月,现有专业技术教师和管理人员共27人分析测试工作十年以上人员占80%,整体的检测分析能力强。中心装备了高分辨透射电镜、热场发射扫描电镜、超导核磁共振谱仪、液-质联用仪、多功能化学电子能谱、电子探针、X 射线荧光光谱仪、拉曼光谱仪、多功能生物质谱、气- 质联用仪、单晶衍射仪等大型精密贵重仪器30台,仪器总价值5000多万元 拥有独立且相对集中的现代化实验室,使用面积达3000m2 是华南地区规模宏大、设备先进、富具特色、  队伍精良的现代分析测试中心。  www.scut.edu.cn/test/   HORIBA科学仪器快讯第13期第12期
  • HORIBA | 平时使用仪器遇到这些困惑,你怎么办?——拉曼/荧光/椭圆偏振光谱仪
    使用光谱仪器时,如何巧妙制样?针对不同的样品,测试方法有哪些区别?仪器测试结果如何分析解读…11月13日,HORIBA的资深工程师们,就拉曼、荧光、椭圆偏正光谱仪器日常使用技巧,为大家分享了自己多年的宝贵(xue)经(lei)验(shi)。分享过程中,同学们也纷纷提出自己的问题,不知道是否也有你的困惑,我们一起看看吧:荧光光谱1.为什么样品信号之前的背景光平台不是平的?在进行磷光寿命测试时,前端的小段曲线是由光源产生的,即激发光还没有完全消失,就开始了样品信号采集,后边部分属于光源消失后磷光衰减的信号,进行寿命拟合的时候只要选择后边尾部即可。2.问水拉曼峰怎么测?1)开启仪器;2)将标准盛有三重去离子水的比色皿放入样品仓;3)打开软件,选择Spectra——emmission功能;4)点击Run进行信号采集即可。参数详见如下:激发波长350nm,水拉曼峰值,峰值波长397nm。实验条件:激发波长350nm,带宽5nm,0.5nm步进,发射波长扫描范围365~450nm,带宽5nm,积分时间1s;样品要求:必须是超纯水,三重蒸馏水或去离子水,HPLC级(18.2 MΩ,10ppb 溶解有机碳)或相同水质的水样。用4mL石英荧光比色皿3.ms量级荧光寿命如何测量?配置SpectrLED、Delta-HUB和相应的探测器,使用磷光寿命测试功能即可进行ms级的磷光寿命测量。具体测量及拟合方法可以联系我们应用工程师。4.薄膜样品怎么测量?将薄膜及其载玻片固定在固体样品支架上,即可进行稳瞬态荧光测试,但是有的薄膜样品散射较强,为了避免杂散光的干扰,一般需要使用相应的滤光片,另外Horiba提供前置测量附件,可以有效避免杂散光的干扰。5.用HORIBA的荧光光谱仪测荧光寿命,是用上升沿还是下降沿拟合寿命的?对于荧光寿命,拟合时上升下降沿的信号都要用到,对于磷光寿命,仅用下降沿部分拟合即可。具体拟合步骤及要点可与工程师联系。椭圆偏振1.请问老师,这个可以测量颗粒物表层吸附物质的厚度吗?纳米级别,烟尘颗粒由于椭偏光斑在微米至毫米尺度,无法分析离散态的纳米级别颗粒表层2.老师您好,请问衬底是石英片,可以测膜的厚度吗?可以,只要薄膜光学透明即可使用椭偏测试拉曼光谱1.CLS那个没看懂?简单的来说,CLS是数据统计的分析方法。夹峰法是以单个谱峰的峰强、峰面积、峰位的特性为拉曼成像依据。而CLS是以整张光谱或者某段光谱为依据,赋予不同的颜色。适用于已知混合物的拉曼成像。2.细胞的那个是这么做的呀?详细请见文章ACS Appl. Mater. Interfaces, 2017, 9 (7), pp 5828–5837,文章的拉曼部分在北京DEMO实验中心完成的,欢迎讨论。3.用JobinYvonLabRam HR800仪器,325 nm 的激光测薄膜光致发光,有时PL谱的曲线有波动,就是线一抖一抖的,请问能怎么改善呢?能测到发光峰,但是曲线上有很多小的正弦波。两个方面:一个需要标准样品测试,检验仪器本身是否有问题。另一个方面,考虑薄膜的厚度问题,是否刚好发生多次反射。之前有经历,特定的玻璃片上测样品,也有小正弦波,更换玻璃片之后就没有了。4.那请问如果是贴壁细胞呢 直接光斑扫描?贴壁细胞,做完封片,可以直接通过平台移动实现细胞成像。5.指甲油有要求吗?指甲油不要涂到样品上?指甲油本身有很好的拉曼信号,不能直接涂到样品上,建议选择亮色,这样能够看清楚指甲油的本身分布。若样品量比较大,建议选择大号的盖玻片,操作相对简单。6.请问G/D的物理意义G峰为石墨烯的特征峰,归属于sp2碳原子的面内振动,出现在1580 cm-1附近,该峰能够表征石墨烯的层数。D峰为石墨烯的无序振动峰,出现在1350 cm-1附近处,表征石墨烯中的结构缺陷或边缘。所以G/D峰,可以反映石墨烯的层数和缺陷分布。7.测细胞必须要涂指甲油吗?不是必须,封片的好处是减缓水份蒸发。8.老师,做矿物的话激光波长用多少合适大多数矿物532 nm激光比较合适,对于有荧光背景的,考虑红光激发。9.半導體異物量測方式?測試過532,633,785 laser量測都只有螢光訊號,異物大小約1~3um若异物在表层,可以考虑325 nm尝试下。若还是不行是否可以考虑用PL成像来区别异物。10.如何衡量石墨烯条带的边缘质量?见问题6,G/D比值成像及D峰成像都是不错的选择。11.鲁老师,请问罗丹明溶液633直接测拉曼,如何计算光斑内有效分子数?影响影子的计算方法我们在上一次的报告中有提到。详细可参见Phys. Chem. Chem. Phys., 2015,17, 21149-21157。文章是用XploRA仪器实现的,欢迎讨论。12.样品中有水,可以用3D得到水分布吗样品若是半透明的,可以实现水的分布的3D. 常见的地质样品,包裹体中的水分可以用3D表征。这是一篇文章,里面用拉曼证明了油水凝胶中的水分分布,你可以参考下。Nature Communications 8, Article number: 15911 (2017) doi:10.1038/ncomms15911。文章的拉曼部分在北京DEMO实验室完成的,欢迎讨论。13.请问测拉曼时荧光效应太强,背底太高可以怎么改善?一般是某些样品会出现,跟样品有关系,可是又需要样品的拉曼数据抑制荧光背景的方法:更换不同的激发波长;长时间激光照射光漂白;数值处理等。目前有效的是更换不同的激发波长测试。14.请介绍一下实时在线原位拉曼技术?在线原位技术是一个比较宽泛的命题,常见的有有机化学合成在线检测,高温高压在线检测,锂电池在线检测,电化学在线检测。若大家都有兴趣,我们可以专门利用一次讲座交流。HORIBA科学仪器事业部结合旗下具有近 200 多年发展历史的 Jobin Yvon 光学光谱技术,HORIBA Scientific 致力于为科研及工业用户提供先进的检测和分析工具及解决方案。如:光学光谱、分子光谱、元素分析、材料表征及表面分析等先进检测技术。今天HORIBA 的高品质科学仪器已经成为全球科研、各行业研发及质量控制的首选。
  • HORIBA Scientific诚邀您参加第五届椭圆偏振光谱国际会议
    2010 年 5 月 23 日- 28 日,第五届椭圆偏振光谱国际会议(ICSE-V,International Conference on Spectroscopic Ellipsometry)将在美国纽约州奥尔巴尼市(Albany)奥尔巴尼大学纳米科技与工程学院(CNSE)举办。 和历届会议一样,为椭圆偏光术和相关测量技术领域的科学家和工程师提供国际交流的平台。ICSE-V 会议将为您展示椭圆偏振光谱技术和应用的新研究进展,包括涉及偏振技术开发的相关光谱分析技术等。 更多信息: http://www.icse-v.org/web/index.php 向世界同行展示您的工作! HORIBA Scientific(Jobin Yvon 光谱技术)诚邀 Jobvin Yvon 椭偏仪用户提交会议摘要并参加第五届椭圆偏振光谱国际会议(ICSE-V)! 摘要提交起讫时间: Oct.19&mdash Dec.6, 2009HORIBA Jobin Yvon 赞助 HORIBA Scientific 承诺赞助参与展板展示(poster presentation)或口头报告(oral presentation)的 Jobvin Yvon 用户。 申请赞助,请联系 :tfd-marketing.sci@horiba.com 应用支持,请联系: tfd-sales-sci.fr@horiba.com

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  • 用于激光颗粒测试技术的非球形颗粒的椭圆衍射模型

    用于激光颗粒测试技术的非球形颗粒的椭圆衍射模型

    用于激光颗粒测试技术的非球形颗粒的椭圆衍射模型任中京 王少清( 山东建材学院科研处 济南250022)提要:激光颗粒大小测试的结果与颗粒形状密切相关。通过对椭圆衍射谱的研究, 提出在激光粒度分析中以椭圆谱代替球形颗粒谱。计算机模拟计算与对金刚砂实测的结果表明椭圆衍射模型可以有效地抑制粒度反演结果的展宽, 更准确地获得非球形颗粒群的粒度分布。关键词 激光衍射, 椭圆模型, 颗粒大小分析, 颗粒形状, 反演1 引言  由于颗粒大小对粉末材料的重要影响, 颗粒粒度测试在建材、化工、石油等许多领域已经成为一种不可缺少的检测技术。由于颗粒形状的多样性, 无论何种测量方法, 均需要颗粒模型。通常假定颗粒为球体, 与被测颗粒等体积的球体直径称为粒径, 或称等效粒径 。然而球体模型在激光衍射(散射) 粒度分析技术中却遇到严重困难—对非球形颗粒测试常常产生较大误差, 表现为所测得的粒度分布较真实分布有展宽且偏小。来自日本和美国的颗粒测试报告也有相同的倾向 。从光学原理上看,激光粒度分析技术是通过检测颗粒群的衍射谱来反演颗粒群的尺寸分布的。非球形颗粒的衍射谱与球体有很大不同: 前者是非圆对称的, 而后者是圆对称的。欲使二者具有可比性需要新的物理模型, 新的模型应满足: 1) 更加逼近真实颗粒;2)对一系列颗粒有普遍的适用性;3)可给出衍射谱解析式;4)在激光测粒技术中能校正颗粒形状引起的测量误差;5)能函盖球体模型。本文将证明椭圆衍射模型是满足以上条件的最佳选择。2 非球形颗粒衍射模型的椭圆屏逼近颗粒虽然是三维物体, 但是在激光测粒技术中其横截面是使光波发生衍射的主要几何因素, 因此只需研究与入射光垂直的颗粒横截面。球体衍射模型即是取颗粒的体积等效球的投影圆作为该颗粒的衍射模型。如图1 所示, 将形状任意颗粒的横截面视为一衍射屏。可分别做出其轮廓的最大内接圆和最小外接圆。设外圆直径为2b, 内圆直径为2a。分别以2a, 2b 为长短轴做椭圆。下面将证明该椭圆屏即为与图1 所示的颗粒横截面等效的非圆屏的最佳解析逼近。2. 1非圆屏与椭圆屏的几何关系由图1 可见,与非球颗粒相对应的椭圆屏的面积S e 恰好为其横截面外接圆与内接圆面积的几何中值,而与该椭圆屏面积相等的圆( 面积等效圆) 的直径Do 恰好为其长短轴2a 与2b 的几何中值。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281105_441929_388_3.jpg此颗粒对球体的偏离可用形状系数K 表示, K 定义为:K=b/a[fon

  • 网络讲堂:9月16日 最新镀层、薄膜表征工具-辉光放电光谱仪&椭圆偏振光谱仪

    http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif最新镀层、薄膜表征工具——辉光放电光谱仪&椭圆偏振光谱仪讲座时间:2014年09月16日 10:00 主讲人:武艳红、王锋武艳红,HORIBA Scientific 辉光放电光谱技术应用工程师。王锋,HORIBA Scientific 椭圆偏振光谱技术应用工程师。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif【简介】 辉光放电光谱和椭圆偏振光谱仪作为现在最常用的两种镀层、薄膜表征技术。前者主要应用于镀层元素的深度剖析,它能够获得镀层中各元素随深度的分布状况,可以分析几纳米~100多微米的深度,深度分辨率1nm。后者是一种无损的分析技术,可以精确测量1A~40微米范围内的薄膜,并能表征单层、多层薄膜表面的粗糙度和氧化层,甚至可以获取折射率、消光系数等。 本次课程中我们将会介绍这两种技术的基本原理、可分析的材料,并对主要应用领域及案例进行深度分析。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间:2014年09月16日 9:304、报名参会:http://simg.instrument.com.cn/meeting/images/20100414/baoming.jpg

椭圆偏光膜厚测试仪相关的耗材

  • 椭圆芯保偏光纤
    椭圆芯保偏光纤产品介绍:加拿大IVG公司生产的椭圆具有高的消光比,并且对弯曲,扭曲以及应力不敏感。不同于传统的高双折射保偏光纤,椭圆芯的保偏光纤的双折射波导具有非常低的温度依赖性。椭圆芯的保偏光纤可以与普通熊猫光纤,单模光纤,或者领结型光纤熔接。熔接损耗是非对称的:圆心到椭圆芯的损耗为0.5dB, 但是椭圆芯到圆芯的损耗为2.5dB。PMD in spun fiber在光电感应或者远程通讯中,一般来说低双光折射旋转光纤可以显著的降低偏振模式的色散。而LB1300的偏振模式色散(Polarization mode dispersion)仅为传统通讯光纤的十分之一。描述PME1300单位工作波长1300-1600nm截至波长nm拍长9mmSpinPeriod-mm衰减8dB/km模场直径8×13um包层直径125um衣层直径250um包层连接性um包层偏离度um衣层材料亚克力拉力测试100kpsi弯曲半径30mm更多信息,请联系我们。
  • 椭圆窗口片
    北京飞凯曼科技有限公司提供立陶宛EKSMA OPTICS公司曲面窗口片(CURVED WINDOWS)和滤光片(Filters),曲面窗口片包括平凹窗口片(Plano-concave windows),平凸窗口片(Plano-convex windows),椭圆窗口片(ELLIPTICAL WINDOWS),平面窗口片(Flat WINDOWS)、圆形窗口片(Round Windows),薄圆形窗口片(Precision Thin Round Windows),矩形窗口片(Rectangular Windows)等。光学滤光片包括光学级紫外带通滤光片(Optical UV Band Pass Filters)、中密度吸收性带通滤光片(NEUTRAL DENSITY ABSORPTION TYPE FILTE RS AT 450-650 nm)、中密度反射式带通滤光片(NEUTRAL DENSITY REFLECTIVE TYPE FILTE RS AT 400-2000 nm)、彩色玻璃滤光片(COLO R GLASS FILTE RS)等。窗口片材料包括BK7和UV FS两种材料。椭圆窗口片技术规格MaterialBK7, UV FSSurface quality S1, S220-10 scratch & dig (MIL-PRF-13830B)Surface flatness S1, S2λ/4 @ 633 nmAxis tolerance+0.00,-0.12 mmThickness tolerance±0.25 mmParallelism椭圆偏振片示意图椭圆偏振片选型表BK7, A TypeCodeMaterialMinor axisMajor axisThickness T020-0183ABK718 mm25 mmT - 3 mm020-0254ABK725 mm35 mmT - 4 mm020-0304ABK730 mm42,5 mmT - 4 mmBK7, B TypeCodeMaterialMinor axisMajor axisThickness T020-0183BBK718 mm25 mmT - 3 mm020-0254BBK725 mm35 mmT - 4 mm020-0304BBK730 mm42,5 mmT - 4 mmUVFS, A typeCodeMaterialMinor axisMajor axisThickness T020-1183AUV FS18 mm25 mmT - 3 mm020-1254AUV FS25 mm35 mmT - 4 mm020-1304AUV FS30 mm42,5 mmT - 4 mmUVFS, B typeCodeMaterialMinor axisMajor axisThickness T020-1183BUV FS18 mm25 mmT - 3 mm020-1254BUV FS25 mm35 mmT - 4 mm020-1304BUV FS30 mm42,5 mmT - 4 mm其他技术规格和尺寸请咨询我们。
  • 偏振测试仪
    偏振测试仪确定线偏振片和圆偏振片的偏振方向方便轻巧的手持式设计验证偏振片校准的理想选择在确定 LCD 的偏振方向方面表现出众TECHSPEC® 偏振测试仪适用于确定未知偏振片的不同特性,如线性偏振片的偏振方向和圆形偏振片的旋转方向。这款易于使用的手持式紧凑型工具兼容所有已安装和未安装的偏振片,其中包含设计用于测试线性偏振光,以及左旋和右旋的圆形偏振光的区域。对于圆形偏振片,本测试仪可识别偏振旋转方向,以及延迟器和线性偏振片的位置。TECHSPEC® 偏振测试仪适用于识别正确偏振片,或验证应用中是否精确对准。为获得优良效果,请确保在测试之前将所有保护膜从偏振片上取下。注意:安装偏振测试仪时,建议使用#54-997.产品信息类型波长范围(nm)厚度(mm)透射率(%)长度 (mm)宽度 (mm)产品编码Polarization Tester400 - 7000.7542200.0020.00#37-699
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