二次离子质谱探针

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二次离子质谱探针相关的厂商

  • CAMECA SAS 铜牌12年
    400-860-5168转2751
    自1929年成立以来,CAMECA不断为国际一流科研机构提供大型材料分析仪器,并为半导体行业的精准测量需求提供解决方案。CAMECA在多个尖端微量分析技术上开拓进取,精益求精,所提供的设备包括: 二次离子质谱仪(SIMS) ,三维原子探针断层分析术(APT) ,电子探针微量分析 (EPMA) ,低能量电子激发X射线发射光谱(LEXES) CAMECA的总部邻近法国巴黎,分支机构遍及美国,德国,日本,韩国,中国,中国台湾,以及一个全球代理商网络,充分保证我们的支持服务惠及所有用户。 2007年,CAMECA加入AMETEK Inc.,成为这家全球电子和机电产品领先供应商的一部,隶属 AMETEK 材料分析部。
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  • 北京艾飞拓科技有限公司作为德国 IONTOF 公司的中国总代理,成立于2012年。主要负责飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS,新一代型号ToFSIMS M6)、低能离子散射能谱仪(LEIS,型号Qtac100)和高分辨磁力显微镜(hr-MFM,型号VLS-80)这三类产品,在中国大陆及港澳地区的销售、售后、宣传、培训、技术服务等工作。公司成员来自北京大学、中科院物理所等一流院校研究生,“以物理学、材料学、国际贸易等专业背景打造核心团队,秉承引进国际质谱领域先进技术的理念,以提高我国材料分析技术为核心目标,密切与国内多所高校、研究机构、科技公司合作,共同攻克技术难题。”IONTOF是由Alfred Benninghoven教授,Dr.Ewald Niehuis和Thomas Heller先生于1989年创立,创始人Prof.Benninghoven教授是国际静态二次离子质谱的奠基人,他们团队始终带领国际二次离子术的发展,从上世纪80年代初开始,Benninghoven教授和他的研究组就致力于飞行时间二次离子质谱的系统和应用研究。依托于明斯特大学和州纳米中心的技术和人才优势,TOF-SIMS已经发展成为无可替代的表面分析手段。TOF.SIMS 5从2003年定型到现在已经成为市场上相当成功的飞行时间二次离子质谱系统。到2016年,世界上已经有超过350套高性能的TOF.SIMS系统成功地应用在世界各地的公司和学术研究机构中。获取更多资讯,请访问艾飞拓官网:www.iontof.com.cn,或扫描下方二维码关注“IONTOF-CHINA”微信公众号。
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  • 400-860-5168转3314
    ULVAC-PHI是全球领先的超高真空表面分析仪器供应商。专注于研发和生产表面分析仪器,包括光电子能谱仪(XPS)、俄歇电子能谱仪(AES)、飞行时间二次离子质谱仪(Tof-SIMS)和动态二次离子质谱仪(D-SIMS)。通过提供独特的技术解决方案,帮助客户解决各种具有挑战性的问题,从而加速新产品和新技术的发展。产品应用领域包括纳米技术、太阳能技术、微电子技术、存储介质、催化、生物材料、药品以及金属、矿物、聚合物、复合材料和涂料等基础材料。作为唯一一家能够同时提供高性能XPS、AES和SIMS全系列表面分析仪器的制造商,ULVAC-PHI在全面性和完整性的表面分析解决方案领域拥有独特的地位。爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司成立于2023年11月,创办理念是为一流的商业产品提供顶级的创新市场营销和售后服务。作为ULVAC-PHI在中国区域的子公司,负责PHI产品在中国的销售和售后服务。主要客户包括清华大学,复旦大学,上海交通大学,南京大学,西安交通大学,厦门大学,山东大学,吉林大学,华南理工大学,中南大学等国内知名高校和科研院所。在全国各地都有销售合作伙伴,能够为您提供全方位的服务。技术专员具备多年超高真空和精密电子分析仪器的使用经验,致力于为合作伙伴提供最佳的产品和服务,以实现最大的效益。
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二次离子质谱探针相关的仪器

  • 岛津原位探针离子化质谱仪DPiMS-2020 是基于岛津单四极质谱分析仪LCMS-2020同时配备探针电喷雾离子源为一体的新型质谱分析仪。该仪器通过精密的探针取样式设计在无需样品制备的情况下实现快速便捷的样品分析。技术基于探针电喷雾离子化技术及原理(PESI)适用于化工领域,食品和生物制品领域中样品无样品制备条件下的快速质谱分析。 该仪器具有多项应用优势:1) 样品直接质谱分析,简化样品制备过程;2)容易氧化或讲解的化合物快速分析,分时段实时样品成分含量监测;3) 微量样品离子化能力,有效避免高浓度样品对质谱的污染。
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  • 二次离子质谱探针 400-860-5168转0702
    仪器简介:EQS 是差式泵式二次离子质谱(SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe),可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用最新技术的SIMS 探针,便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。 技术参数:应用: 静态 /动态SIMS 一般目的的表面分析 整体的前端离子源,便于RGA和 SNMS 兼容的离子枪/ FAB 枪 成分/污染物分析 深度分析 泄漏检测 与Hiden SIMS 工作站兼容主要特点: 高灵敏度脉冲离子计数检测器,7个数量级的动态范围 SIMS 成像,分辨率在微米以下 光栅控制,增强深度分析能力 45°静电扇形分析器, 扫描能量增量 0.05 eV/ 0.25eV FWHM. 所有能量范围内,离子行程的最小扰动,及恒定离子传输 差式泵3级过滤四极杆,质量数范围至2500amu 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器 Penning规和互锁装置可提供过压保护 通过RS232、RS485或Ethernet LAN,软件 MASsoft控制
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  • 飞行时间二次离子质谱(TOF- SIMS)是一种表面敏感的技术,提供表面分子,元素及其同位素前几个原子层的组成图像。所有元素和同位素,包括氢气都可以用飞行时间二次离子质谱分析。在理论上,该仪器可以在一个无限大的质量范围内提供很高的质量分辨率(在实践中通常是大约 10000amu)。PHI TRIFT V nano飞行时间质谱仪(三次对焦飞行时间)是一种高传输、并行检测仪器,其目的是由主脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子可以得到zui佳的收集状态,并可同时用于有机和无机表面特征分析。TRIFT分析仪的工作原理会把离子在光谱仪中不断的重新聚焦。使二次离子质谱允许更多重大的实验得以进行。主离子束zui先进的设计,允许经由计算机控制去同时达到高横向分辨率的成像和高质量的图谱分辨率。PHI TRIFT V nanoTOF是第五代SIMS仪器,该仪器具有独特的专利时间飞行(TOF)分析仪,它拥有市场上TOF-SIMS仪器中zui大的角度和能量接受标准,实现了高空间分辨率质量分辨率和使用具有优良离子传输能力的三重重点半球形静电分析器。PHI TRIFT V nanoTOF还具有很高的能力,可以图像具有非常复杂的几何形状的样本而没有阴影。
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二次离子质谱探针相关的资讯

  • 第六届中国二次离子质谱会议第一轮通知
    会议时间:2016 年10 月 8-11 日  会议地点:大连,中国科学院大连化学物理研究所  第六届中国二次离子质谱会议将于2016年10月8-11日在中国科学院大连化学物理研究所(地址详见附件1)举行。会议将为我国二次离子质谱界的学术研讨、技术交流与合作提供平台,推动二次离子质谱的发展,促进二次离子质谱技术在各领域的应用。会议热诚邀请中国大陆、港澳台地区以及海外从事二次离子质谱相关工作的同仁相聚美丽海滨城市大连,展示最新的研究成果,共同推动我国二次离子质谱的发展。会议热诚欢迎国内外相关厂商参展。  一、发起单位和承办、协办单位  1.发起单位:中国质谱学会  2.承办单位:中国科学院大连化学物理研究所中国科学院分离分析重点实验室  3.协办单位:清华大学分析中心、国家科技基础条件平台北京离子探针中心、中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室、中国科学院半导体研究所半导体照明联合创新国家重点实验室、中国矿业大学煤炭资源与安全开采国家重点实验室、中国科学院广州地球化学研究所同位素地球化学国家重点实验室、中国科学院活体分析化学重点实验室、中国科学院地质与地球物理研究所岩石圈演化国家重点实验室  二、会议组织机构  1. 大会主席  李海洋、凌永健  2.学术委员会  主任:凌永健、汪福意  委员:查良镇、刘敦一、周新华、李金英、翁禄涛、麦富德、赵永刚、陈焕文、梁汉东、  李海洋、曹永明、马农农、韦刚健、朱梓华、李献华  3.组织委员会  主任:李海洋  委员:张玉海、李展平、赵丽霞、李秋立、张磊、夏小平、肖国平、文彦杰、杨莉、杨蔚、  侯可勇、王卫国  4.会务组  组长:花磊、王爱博  成员:陈平、谢园园、陈创、黄卫、李金旭、鞠帮玉  联系人:王爱博、谢园园  电话:0411-84379510 0411-84379517  传真:0411-84379517  E-mail:sims_china@163.com  三、研讨专题征集  1. 二次离子质谱仪器和理论   2. 地球科学中的元素与同位素分析   3. 核科学中的微区分析和同位素分析  4. 材料的微区分析、表面分析和3D分析  5. 半导体/微电子科学中的表面分析   6. 生命科学和临床医学中质谱原位分析、质谱成像和单细胞质谱分析   7. 环境科学中的微区和原位分析  8. 微纳尺度样品的质谱分析  9. 二次离子质谱的样品前处理方法和复杂样品分析  10.原子探针/质谱原位分析新技术  11.新型离子源(纳米/团簇)和后电离技术   12.质谱成像数据分析、数据处理、数据融合和识别方法  注:论文摘要截止日期:2016年9月15日  四、会议组织方式  会议由会前课程短训、大会特邀报告、专题研讨和离子探针实验室考察参观等4部分内容组成。时间安排如下:  10月8日:会前课程短训报道  10月9日:会前课程短训 & 会议注册报到  10月10日上午:开幕式和大会报告  10月10日上午-11日上午:专题研讨、展板交流  10月11日下午:大连化物所实验室考察与交流  1. 会前课程短训  学术委员会和组织委员会邀请安排二次离子质谱领域的专家教授,为研究生和青年科研人员举行1天的二次离子质谱基础、仪器和分析应用的会前课程短训(中文授课)。  注:短训课程免费,会议为参加短训课程的成员提供免费午餐。  2. 会议报告  包括大会特邀报告和专题研讨。会议将邀请国内外知名学者做大会特邀报告。专题研讨包括口头报告和展板交流两部分,由组织委员会负责组织和安排。  3. 会后实验室考察参观  组织委员会拟安排与会代表参观中国科学院大连化学物理研究所清洁能源国家实验室分析平台、催化基础国家重点实验室、分子反应动力学国家重点实验室、大连化学物理研究所中国科学院分离分析重点实验室和化物所科技园等。  五、会议报名与注册  请拟参加会议人员填写“第六届中国二次离子质谱学会议回执”(附件2),用电子邮件方式提交给会务组 (sims_china@163.com)。  会议注册费及其缴纳方式将在第二轮通知中说明。  中国质谱学会  2016年3月30日  附件1:  中国科学院大连化学物理研究所坐落在星海湾附近,依山傍海,东邻著名的国际会展中心,西近美丽的星海公园,交通十分便利。此外,毗邻大连市高新技术园区及大连理工大学,大连海事大学,大连医科大学,东北财经大学等高等院校。这一带是大连市的一个科研、教育中心。  附件2:  第六届 中国二次离子质谱学会议——参会回执  姓名: 性别:  职称(或研究生):  单位:  地址:  邮编:  电话:  Email:  是否参加会前课程培训: □ 参加会前课程短训 □ 不参加会前课程短训  是否提交论文: □ 参会但不提交论文 □ 参会并提交论文  拟提交的论文题目:  ______________________________________________________________ ___  参会形式: □口头报告 □ 展板交流  请将本回执email到第六届中国二次离子质谱学会议会务组:  Email: sims_china@163.com
  • 第六届中国二次离子质谱会议第二轮通知
    p  第六届中国二次离子质谱会议将于2016年10月8-11日在中国科学院大连化学物理研究所(地址详见附件1)举行。会议将为我国二次离子质谱界的学术研讨、技术交流与合作提供平台,推动二次离子质谱的发展,促进二次离子质谱技术在各领域的应用。会议热诚邀请中国大陆、港澳台地区以及海外从事二次离子质谱相关工作的同仁相聚美丽海滨城市大连,展示最新的研究成果,共同推动我国二次离子质谱的发展。会议热诚欢迎国内外相关厂商参展。/pp  一、发起单位和承办、协办单位/pp  1.发起单位:中国质谱学会/pp  2.承办单位:中国科学院大连化学物理研究所中国科学院分离分析重点实验室/pp  3.协办单位:清华大学分析中心、国家科技基础条件平台北京离子探针中心、中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室、中国科学院半导体研究所半导体照明联合创新国家重点实验室、中国矿业大学煤炭资源与安全开采国家重点实验室、中国科学院广州地球化学研究所同位素地球化学国家重点实验室、中国科学院活体分析化学重点实验室、中国科学院地质与地球物理研究所岩石圈演化国家重点实验室/pp  二、会议组织机构/pp  1. 大会主席/pp  李海洋、凌永健/pp  2.学术委员会/pp  主任:凌永健、汪福意/pp  委员:查良镇、刘敦一、周新华、李金英、翁禄涛、麦富德、赵永刚、陈焕文、梁汉东、/pp  李海洋、曹永明、马农农、韦刚健、朱梓华、李献华/pp  3.组织委员会/pp  主任:李海洋/pp  委员:杨蔚、张玉海、李展平、赵丽霞、李秋立、张磊、夏小平、肖国平、文彦杰、杨莉、侯可勇,王卫国/pp  4.会务组/pp  组长:花磊、王爱博/pp  成员:陈平、谢园园、陈创、黄卫、李金旭、鞠帮玉/pp  联系人:王爱博、谢园园/pp  电话:0411-84379510 0411-84379517/pp  传真:0411-84379517/pp  E-mail:sims_china@163.com/pp  三、研讨专题征集/pp  1. 二次离子质谱仪器和理论 /pp  2. 地球科学中的元素与同位素分析 /pp  3. 核科学中的微区分析和同位素分析/pp  4. 材料的微区分析、表面分析和3D分析/pp  5. 半导体/微电子科学中的表面分析 /pp  6. 生命科学和临床医学中质谱原位分析、质谱成像和单细胞质谱分析 /pp  7. 环境科学中的微区和原位分析/pp  8. 微纳尺度样品的质谱分析/pp  9. 二次离子质谱的样品前处理方法和复杂样品分析/pp  10.原子探针/质谱原位分析新技术/pp  11.新型离子源(纳米/团簇)和后电离技术 /pp  12.质谱成像数据分析、数据处理、数据融合和识别方法/pp  strong注:论文摘要截止日期:2016年9月15日/strong/pp  四、会议组织方式/pp  会议由会前课程短训、大会特邀报告、专题研讨和离子探针实验室考察参观等4部分内容组成。时间安排如下:/pp  10月8日:会前课程短训报到/pp  10月9日:会前课程短训 & 会议注册报到/pp  10月10日上午:开幕式和大会报告/pp  10月10日上午-11日上午:专题研讨、展板交流/pp  10月11日下午:大连化物所实验室考察与交流/pp  1. 会前课程短训/pp  学术委员会和组织委员会邀请安排二次离子质谱领域的专家教授,为研究生和青年科研人员举行1天的二次离子质谱基础、仪器和分析应用的会前课程短训(中文授课)。/pp strong 注:短训课程免费,会议为参加短训课程的成员提供免费午餐。/strong/pp  2. 会议报告/pp  包括大会特邀报告和专题研讨。会议将邀请国内外知名学者做大会特邀报告。专题研讨包括口头报告和展板交流两部分,由组织委员会负责组织和安排。/pp  已确认特邀报告人:/pp  Prof. Jiro Matsuo,Quantum Science and Engineering Center, Kyoto University, Japan/pp  Prof. David G. Castner ,Director, Departments of Bioengineering & Chemical Engineering,University of Washington,USA/pp  Prof. Ian Gilmore FInstP, NPL Head of Science National Physical Laboratory, UK/pp  Prof. Zihua Zhu, Environmental Molecular Sciences Laboratory, Pacific Northwest National Laboratory,USA/pp  Prof. Xiaoying Yu, Atmospheric Sciences and Global Climate Change Division, Pacific Northwest National Laboratory,USA/pp  3. 会后实验室考察参观/pp  组织委员会拟安排与会代表参观中国科学院大连化学物理研究所清洁能源国家实验室分析平台、催化基础国家重点实验室、分子反应动力学国家重点实验室、大连化学物理研究所中国科学院分离分析重点实验室和化物所科技园等。/pp  五、会议报名与注册/pp  会议注册费金额:1200元/人,学生700元/人(2016年9月15日前)/pp  1400元/人,学生900元/人(2016年9月15日后)/pp  注册费缴纳方式:汇款或会议报到时缴纳现金(采用汇款方式可在报到领取发票,采用现金付款方式将在会议结束后,两周内统一邮寄发票)/pp  汇款账户:单位名称--中国科学院大连化学物理研究所,账号--3400200309014415739,开户行--中国工商银行大连市分行青泥洼桥支行,span style="text-decoration: underline "strong汇款后请将汇款底单以及开具发票信息发送至会议邮箱sims_china@163.com,汇款时请备注:二次离子质谱,102组。/strong/span/pp  可开具会议费发票,开具发票单位:中国科学院大连化学物理研究所/pp  六、会议住宿安排/pp  会务组可帮忙预定住宿酒店,合作酒店:大连国航酒店,协议价格:318元/间 /pp  酒店地址及电话:沙河口区中山路578号国航大厦,0411-84801188,步行至化物所约10分钟。/pp  请拟参加会议人员填写“第六届中国二次离子质谱学会议回执”(附件2),以及提交论文摘要(附件3),并用电子邮件方式提交给会务组 (sims_china@163.com)。/pp style="text-align: right "  中国质谱学会/pp style="text-align: right "  2016年8月1日/pp附件:/pp style="line-height: 16px "img src="http://www.instrument.com.cn/admincms/ueditor/dialogs/attachment/fileTypeImages/icon_doc.gif"/a href="http://img1.17img.cn/17img/files/201608/ueattachment/5ce3629a-ed91-484b-9826-71728981401b.docx"附件1.docx/a/pp style="line-height: 16px "img src="http://www.instrument.com.cn/admincms/ueditor/dialogs/attachment/fileTypeImages/icon_doc.gif"/a href="http://img1.17img.cn/17img/files/201608/ueattachment/91962b42-198d-43f7-baf8-452730f57b9b.docx"附件2.docx/a/pp style="line-height: 16px "img src="http://www.instrument.com.cn/admincms/ueditor/dialogs/attachment/fileTypeImages/icon_doc.gif"/a href="http://img1.17img.cn/17img/files/201608/ueattachment/e09127e8-bc8c-4f08-9b68-c8d9be6ef67f.docx"附件3论文摘要模板.docx/a/ppbr//p
  • 阿美特克发布两款新型二次离子质谱仪
    阿美特克子公司CAMECA发布两款新型超高灵敏度二次离子质谱仪,两款仪器均为满足环境和地质学家的分析需求而设计,满足其对小粒子、同位素等分析的高精度和高通量要求。  IMS 1300-HR3是CAMECA最新一代的大型磁质谱二次离子质谱仪,可以同时保证高重现性、高空间分辨率、高质量分辨率。KLEORA是在IMS 1300-HR3的基础上改进并同期推出的一款产品,主要是优化了离子探针而适用于地质学定年。  “我们非常自豪可以同时推出这两款新型的二次离子质谱仪,我们相信这两款仪器均代表了微量分析技术的重大进步。”CAMECA副总裁和业务部经理Jean-Charles Chen,“在引进独特的、创新的特点的同时,这两款仪器也继承了以前CAMECA大型磁质谱二次离子质谱仪产品的优点,这些产品曾被世界上顶级的实验室所选用。”  重大的突破使IMS 1300-HR3和KLEORA成为市场上最强大和灵活的离子探针,使其应用范围更加广泛,如地质年代学、细胞生物学和材料科学。  CAMECA超高灵敏度二次离子质谱仪优势明显:超大尺寸的设计保证了高质量分辨率条件下的最优敏感度,灵活多用的多接受系统保证了高准确度的同位素测量,高分辨磁场控制保证了高质量分辨率条件下的高重现性,可以实现较好的离子成像功能。除此之外,CAMECA还可以提供全球的上门售后支持。  IMS 1300-HR3和KLEORA均配有自动样品室,可实现无人值守状态下的多样品分析,使用更加方便。新的紫外灯光学系统提高了光学成像,提高了样品定位的准确度和降低了样品移动的难度。  除此之外,CAMECA在这两款仪器上实现了空间分辨率和数据重现性的较大提高,还有一大突破是使用了高亮度的射频离子源。  由于这些改进,IMS 1300-HR3可以应用于更多的分析,如硫化物中36S/32S的比率,复杂结构的高空间分辨率离子成像,复杂地质样品中低浓度微量元素的检测等。  KLEORA配有高通量、方便使用的离子探针,此离子探针专为地质年代学家而设计,为高空间分辨率和高质量分辨率的铀-钍-铅同位素分析提供了高基线敏感度。来源于希腊语的Key和Hour,KLEORA的名字代表了可以帮助科学家追踪地球的历史。  通过在高空间分辨率和高质量分辨率的前提下实现高重现性,IMS 1300-HR3和KLEORA离子探针帮助环境、地质和同位素研究者进行更多的研究。

二次离子质谱探针相关的方案

二次离子质谱探针相关的资料

二次离子质谱探针相关的试剂

二次离子质谱探针相关的论坛

  • 【分享】什么是二次离子质谱分析?

    二次离子质谱(SIMS)是一种用于分析固体材料表面组分和杂质的分析手段。通过一次离子溅射,SIMS可以对样品进行质谱分析、深度剖析或成二次离子像。SIMS具有很高的元素检测灵敏度以及在表面和纵深两个方向上的高空间分辨本领,所以其应用范围也相当广泛。涉及化学、生物学和物理学等基础研究领域及微电子、催化、新材料开发等各个领域。 二次离子质谱法对于大部分元素都有很高的探测灵敏度,其检测下限可达百亿分之几的数量级。对痕量组分能进行深度剖析,可在微观(µ m级)上观察表面的特征,也可以对同位索进行分析和对低原子序数的元素(如氢、锂、铍等)进行分析。 ①痕量分析二次离子质谱法有极高的分辨率,可以达到十亿分之几的数量级。因此,可以对痕量的物质做出定性分析以确定其在表面的存在。当然进行这种分析要求排除所有可能影响结果的干扰。防止表面吸附物污染被测试表面,测试要在高真空和高纯度的离子束条件下进行。 ②定量分析定量分析采用的是以标样为基础的分析方法。一次离子的种类、能量和电流密度、样品环境、探测器效率以及二次离子分析器的能带通道确定之后,就能使用元素的相对灵敏度系数对样品进行确切的分析。只要二次离子质谱仪的灵敏度足以探测到基体的所有主要成分,所得结果就是这种基体材料成分的原子百分比。 ③深度分析深度分析的一般方法是监控样品中某元素的二次离子信号随溅射时间的变化。对于均匀基体材料,通过适当的标定试验(已知镀层厚度、陷口深度等)就能把时间转换为深度。元素的定量可以由二次离子强度的变化及二次离子强度定量分析方法得到。

  • 【原创】二次离子质谱分类

    [size=5][b] [/b][/size]  采用脉冲一次离子源(LMIG, Cs, C60,Au,O2+,Ar+)等轰击样品,然后收集从样品表面激发出来的二次离子,采用质谱检测器(飞行时间、四极杆、扇形磁过滤、离子阱等),来收集这些二次离子,并且根据他们的质荷比(m/z)将它们分离,据此来判断分析材料的成分。     二次离子质谱仪分为静态- 二次离子质谱仪(S-SIMS) 和动态二次离子质谱仪(D-SIMS) ,其区分的标准就是根据入射的一次离子的剂量一般10^12atoms/cm2,成为静态二次离子质谱仪,一般采用飞行时间检测器,主要用于生物医药的有机物分析,半导体材料的污染物分析,存储材料分析,可以坚定有机的分子碎片。在分析过程中,材料表面的吸附物质及化学状态,对谱峰影响巨大。这也就是二次离子质谱中的“基体效应”。静态-二次离子质谱是一种无破坏的表面分析方法。最常见的静态- 二次离子质谱仪是飞行时间二次离子质谱仪。飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)利用一次脉冲离子轰击样品,通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量(m/z 100,000),以分析样品的表面组成。  动态-二次离子质谱仪,入射的一次离子的剂量一般10^15atoms/cm2,对表面形成大量的溅射作用,是一种破坏性分析,主要用于地质研究,同位素定年分析,半导体掺杂的深度分析。主要采用的一次离子源为气体等离子源(Ar/O2)或Cs离子源,一般要求样品导电性要好。

  • 二次离子质谱分析技术及其应用1

    1 二次离子质谱学发展简史... 42 SIMS的原理和仪器结构... 52.1 原理... 52.2 质谱分析器(质谱计) 62.2.1 磁质谱计... 72.2.2 四极质谱计... 72.2.3 飞行时间质谱计... 82.2.4 其他质量分析器... 102.3 SIMS仪器类型... 103 SIMS与其它表面分析技术的比较... 113.1 SIMS的主要优缺点... 113.2 与其它微分析技术比较... 134 SIMS的研究和应用... 144.1 元素及同位素分析... 144.2 颗粒物微分析研究... 164.3 团簇、聚合物分析及生物医学等方面的研究... 174.4 SIMS在化合物半导体材料分析中的应用... 194.4.1 常规分析... 204.4.2 最低测量极限... 214.4.3 高分辨率SIMS分析... 234.4.4 解剖分析... 245 SIMS的新进展... 256 几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术... 26[url=http://bbs.in

二次离子质谱探针相关的耗材

  • 配套112FR-NEPTUNE Plus多接收等离子质谱仪用PFA进样管
    CETAC ASX-112FR-NEPTUNE Plus多接收等离子质谱仪用进样瓶、进样管材料:PFA或四氟体积:10、35ml可定制型号:NJ-ZH
  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP) AFM探针
    NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP;2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP)
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