卤素无卤检测系统

RoHs/卤素（无卤）检测系统型号X-5600产品概述：X-5600型RoHS测试仪是一种体现X射线荧光分析技术最新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率水制冷小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的独特分析方法的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方， 正是它大有作为之处。主要应用于电子 、五金、包装等行业材料中的有害元素检测、玩具、PVC、陶瓷等行业的卤素（即无卤检测）和RoHS检测；也可用于电镀行业的镀层分析、玻璃、皮革等行业及质检商检机构。产品特点：1.无损检测：无需制样，无损、快速分析2.仪器双箱体结构：有效屏蔽干扰，增加仪器整体稳定性,保障测量结果的准确3.三重防辐射系统：样品仓打开，X光管快门自动闭锁；更换样品时X光管自动切断电压电流；仪器多层屏蔽舱盖，有效防止X射线外溢4.银铜双峰位自调系统：银、铜双峰位同时自动校准，当仪器峰位发生偏移时，随时修正工作曲线，软件可自动调整并恢复仪器到正常测量状态，避免系统偏差带来误差，随时保证测量数据精准（同行业中唯一采取软件双峰位全自动调整系统）；5.温度控制系统：内部采用风冷、水冷，油冷三重冷却系统，最大限度降低X光管工作温度，有效延长X光管使用寿命，且保证仪器长时间工作稳定，测量精度更准确；6.操作软件：开放式操作软件，用户可根据自己的需求进行二次开发，实现仪器的最大效用，使一机多能；7.报告格式：输出报告格式可根据用户要求独立设计，用户也可以自行二次开发8.定量分析方法：基本参数法、理论Alpha系数法、经验系数法、多元回归法等（国内同行业唯一采取此类综合计算方法）；9.定性分析方法：元素自动寻峰、Kl谱线标记法、谱峰比对法等10.分析强度计算方式采用，毛强度、净强度、解谱、峰背比及内标比，根据不同条件可选择最适当的强度计算方式。11.镀层检测功能：可对不同基体上的不同金属镀层进行多层检测12.选配：可选配移动平台，方便物体移动，多点检测 技术参数：1、元素分析范围：从铝（13号元素）—铀（92号元素）；2、含量分析范围：1mg/Kg - 10^6mg/Kg（1ppm=1 mg/Kg）3、测量样品型态多样：固体、粉末、液体；4、测量时间:快速检测模式2秒，正常检测模式30-180秒，可由用户自由选择5、分析检出限：铬Cr的检出限是2.1ppm；汞Hg的检出限是3.2ppm；铅Pb的检出限是1.2ppm；溴Br的检出限是0.3ppm；镉Cd的检出限是5.8ppm氯Cl的检出限是12.6ppm针对三星内部标准，加测锑Sb元素，检出限4.3ppm6、激发源：采用低能耗大功率 X 射线管，最高电压50kV，最大电流1mA；7、滤波系统+准直器：10种滤波片与5种准直器自动切换组合系统，提升检测范围和精度，并对不同元素采用有针对性的检测条件8、高压电源：最大50W，50KV，1mA；9、探测器：美国原装进口Amptek公司电制冷X-123 SIPIN半导体探测器；10.探测面积：6mm211、分辨率：55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于129eV；对于12us的形成时间，半高宽为129eV12.硅活化区厚度：500μm 13.探测器窗口：铍窗，12.5μm厚14.重复测量稳定性：10次连续测量的标准偏差小于0.05%15、多道分析器：2048道；16、摄像头：CCD光学镜头；17、样品成像定位系统：内置自感光500万像素摄像头及定位软件，方便样品的局部定位测量；18、工作电源：交流 220V/50Hz19、样品仓尺寸：345×335×120（mm）20、外型尺寸：600×520×370（mm）21、仪器重量：约39公斤22、工作环境温度：18℃—28℃23、工作环境相对湿度：≤70% 安全对比数据说明：比对数据：表一、欧标EC681K测试数据对比： （单位：mg/Kg）元素镉（Cd）Pb(铅)汞（Hg）总铬（Cr）总溴(Br)单位： mg/Kg（1ppm=1mg/Kg)欧标EC681K1379823.7100770博智X-5600135.6101.7121.36103.8775.6与欧标误差值-1.43.71-2.343.85.6进口公司仪器146.45121.4531.9575.25882.35与欧标误差值9.4523.458.25-24.75112.35 表二、欧盟标样EC681K、EC680K测量结果： （单位：mg/Kg）元素镉（Cd）Pb(铅)汞（Hg）总铬（Cr）总溴(Br)单位：mg/Kg（1ppm=1mg/Kg)EC681K(第一次)138.66109.0426.64102.08777.33EC681K(第二次)138.45108.7425.33109.75775.72EC681K(第三次)136.46108.9127.53104775.64EC681K标准数据1379823.7100770EC680k(第一次)18.0613.577.5518.61101.51EC680k(第二次)17.1312.456.3420.57103.15EC680k(第三次)18.5615.976.6917.67105.75EC680k标准数据19.613.64.6420.296 辐射安全报告 测量点空气比释动能率测值（μSv/h）仪器前表面5cm小于0.6仪器后表面5cm小于0.6仪器左表面5cm小于0.6仪器右表面5cm小于0.6仪器上表面5cm小于0.6仪器下表面5cm小于0.6操作位小于0.6 依据《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准》GBZ115-2002，空气比释动能率低于2.5μSv/h对人体不够成伤害。

水质 可吸附有机卤素（AOX）测定 离子色谱法 （购买仪器负责上门培训，指导实验操作）水质可吸附有机卤素AOX测定仪符合“中华人民共和国环境保护行业标准（HJ/T83-2001） 水质 可吸附有机卤素(AOX)的测定” 该仪器的操作方法和“ISO 9562:1989及GB/T 15959-1995《 水质 可吸附有机卤素(AOX)的测定 微库伦法》基本相同，但检测方法不同。用离子色谱法检测有机卤素转化生成的无机卤素离子，不但可以测定水中可吸附有机卤素（AOX）的总量（以氯计）。也可以同时测定水中的可吸附有机氯（AOCI）、有机氟（AOF）、和有机溴（AOBr）AOX测定仪分析原理：活性炭填装在吸附柱中通过氮气加压后，利用活性炭吸附水中的有机卤素化合物，然后将吸附有机卤素化合物的活性炭放入高温中燃烧、分解转化为卤化氢（氟、氯和溴的氢化物），经碱性水溶液吸收，用离子色谱法分离测定应用领域：饮用水，地表水，地下水，污水，流出水，废水，自来水，盐水，处理水，纸浆排出水，土壤，沉积物，淤泥和废油脂 AOX有机卤素分析仪符合：H/JT 83 -2001中国环保行业标准《水质 可吸附有机卤素(AOX)的测定 离子色谱法》

使用加热法水份测定仪的好处就是除了用电，不需要使用其它的辅助试剂，安装和操作也相对简单，但是检测结果的准确度和检测效率则不如卡尔费休法水份测定仪。深圳市冠亚水分仪是一家专业从事快速水分仪器研制、开发、制造以及销售的高新技术集团公司。 集团公司主导的两大系列水分检测仪分别是SFY系列红外线快速水分检测仪，SFY卤素快速水分检测仪，从1998年开始投入大量人力,物力致力于高端水分仪的研发,拥有自主知识产权已达几十项,同时拥有10项专利。深圳冠亚SFY系列红外线水分检测仪,卤素快速水分测定仪是由深圳市冠亚公司研发并生产，该仪器具有温度设定、微调温度补偿及自动控制等功能, 采用目前国际通用的热解原理研制而成的新一代卤素线快速水分测定仪器。其检测的结果可以和国际烘箱法的结果保持一致，但是操作使用方面却方便快捷很多！深圳冠亚SFY系列红外线水分检测仪,卤素快速水分测定仪仪器原理引进进口自动称重显示系统，人性化系统操作, 无需特殊培训，自动校准功能、自动测试模式，取样、干燥、测定一机化操作。应变式混合气体加热器，短时间内达到加热功率，在高温下样品快速被干燥，测定精度高、时间短、无耗材、操作简便，不受环境、时漂、温漂因素影响，无需辅助设备等优点。深圳冠亚SFY系列红外线水分检测仪,卤素快速水分测定仪仪器专利资质1.SFY系列红外线|卤素快速水份仪器(专利号：2005301013706)2.《中华人民共和国制造计量器具许可证》 MC 粤制 03000235号；3.目前行业中通过ISO 9001:2008质量管理体系认证的产品深圳冠亚SFY系列红外线水分检测仪,卤素快速水分测定仪技术参数:　　 1、称重范围：0-150g　　★★可调试测试空间为3cm、5cm、10cm　　 2、水分测定范围：0.01-**　　 3、 净重：3.7Kg　　★★JK称重系统传感器　　 4、样品质量：0.5-150g　　 5、加热温度范围：起始-250℃　　★★加热方式：应变式混合气体加热器　　★★微调自动补偿温度15℃　　 6、水分含量可读性：0.01%　　 7、显示7种参数：　　★★ 水分值，样品初值，样品终值，测定时间，温度初值，终值，恒重值　　★★红色数码管独立显示模式　　 8、双重通讯接口：RS 232（打印机）　　 RS 232（计算机）　　 9、外型尺寸：380×205×325(mm)　　 10、电源：220V±10%/110V±10%(可选)　　 11、频率：50Hz±1Hz/60Hz±1Hz(可选)深圳冠亚SFY系列红外线水分检测仪,卤素快速水分测定仪仪器特点:提高生产效率即装即用,一键按式操作测试结果和国际公认的烘箱法的结果相符标配打印机和连接电脑的软件一套快速,专业,环保