颗粒粒度分析仪

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    普洛帝(简称:PULUODY)是流体监测技术商,1970年7月由PULUODY本人创立于英国诺福克,致力于向人们 “精准、可信赖”的颗粒监测技术。普洛帝颗粒监测技术延续并持续创新了50余年,现已成为流体颗粒监测技术及设备的专业 商。普洛帝公司在全球范围内研发、生产、销售各类工业测量&监测产品,并致力于提高生产质量、节能降耗、加强环境保护以及安全高效经济的工业测控。普洛帝公司的主要客户群为世界各国的石油、化工、能源、民航、国防、铁路、机械等组织,以及各研究机构、监督商检、公用事业以及各种工业领域,其石流体测技术及设备居于 。普洛帝/PULUODY为PULUODY ANALYSIS & TESTING GROUP LTD.的流体监测技术核心产业集群品牌,经过40多年的研究深化,现今普洛帝/PULUODY的流体监测技术已在全球得到广泛应用,普洛帝测控是PULUODY ANALYSIS & TESTING GROUP LTD.在中国区的重要组成部分。普洛帝在中国随着普洛帝在中国服务的不断提升,能更好地为客户各类服务,并加强本土化运作的能力,普洛帝目前在西安航天城建有研发&生产基地。为中国及东南亚广大客户 普洛帝精湛的测控技术,解决各类客户的测控难题!普洛帝测控于2000年7月在西安成立,公司面积12000平方,它是PULUODY ANALYSIS & TESTING GROUP LTD.公司在中国 具有组装机测试能力的企业,负责普洛帝/PULUODY产品和技术在中国地区的销售、推广和升级,并 全范围的技术及售后服务。以其产品优良的性价比及优秀的售前、售中、售后服务被用户广泛接受,是用户可值得信赖的技术型合作伙伴。普洛帝分布普洛帝测控一直是研究所、实验室及工业小试、中试等产业化前端设备和技术的专业商,卡尔德建立起了强大的销售网络:在全国拥有6个办事处和销售点,4个维保中心,1个样机实验室,70多名雇员,以及众多的分销商。客户应用普洛帝测控服务于特种军工、生命科学、航空航天、交通机械、制造业、制药、政府、教育、石化、电子以及商业实验室等众多领域。凭借精湛的技术研发能力与世界知名企业形成良好的战略合作关系,不断优化公司自身运作和服务质量,为广大客户 各类专业的流体监测优化方案和实验室整体解决方案,包括流体监测设备的选型、安装、培训、保养、评价、计量、校准、维保等一站式技术服务。普洛帝测控每年都为数以万计的客户 优良的技术和产品。优势能力:颗粒计数器,油液颗粒度分析仪,油液粒子计数器,颗粒度计数器,油液颗粒度分析仪,粘度分析仪,溶解氧,电导率,石油仪器,实验室设施关键词:颗粒计数器|颗粒计数仪|颗粒计数系统|颗粒度专用取样瓶|液化气采样钢瓶|石油仪器|重油取样器|底部取样器|量油尺|普洛帝测控|颗粒度瓶|采样钢瓶|石油仪器备件!服务领域:颗粒计数器,颗粒计数仪,颗粒计数系统,油液清洁度检测仪,颗粒度检测仪,油液污染度检测,颗粒度瓶,油液取样器,液化气采样钢瓶,颗粒度专用取样瓶,采样钢瓶,颗粒度计数器,油液颗粒度分析仪,粘度分析仪,溶解氧,电导率,酸度计,闭口闪点,开口闪点,凝点,馏程,密度,残炭,铜片腐蚀,倾点,运动粘度,实际胶质,水分,银片腐蚀,雷德法饱和蒸气压,燃灯法硫含量,硫含量测定仪(管式炉法),机械杂质(重量法),氧化安定性(诱导期法),旋转氧弹法,抗乳化性,蒸发损失,(诺亚克法),锈蚀,破乳化值,灰分,泡沫倾向性,沸点,冰点,锥入度,针入度,滴点,水解安定性,密封适应性指数,热氧化安定性,铅含量(铬酸盐容量法),盐含量,色度,抗氨性能,光安定性,熔点(冷却曲线),沉淀物,空气释放值,曲轴箱模拟,万次剪切试,酸值、酸度,漏失量,抗水淋性能,防腐蚀性,平衡回流沸点,钢网分油(静态法),减压馏程,石油仪器,实验室设施
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  • 中国第一台激光粒度仪、中国第一台干法激光粒度仪、中国第一台动态颗粒图像仪、中国第一台纳米激光粒度仪、中国第一台在线测试粒度仪在颗粒测试领域我们不但技术遥遥领先,而且引领着中国颗粒测试技术的发展方向企业简介   济南微纳颗粒仪器股份有限公司是专门研发、生产、销售颗粒测试相关仪器设备的高科技企业。公司的前身为山东建材学院颗粒测试研究所,研究激光粒度测试技术自上世纪80年代承担国家七五科技攻关项目开始,至今已有近30年的历史。微纳一直以“普及当代最先进的颗粒测试技术”为己任,研制的便携式、台式、干粉等类型的激光粒度仪均代表了国内最高水平,进入新世纪,更相继推出了“动态颗粒图像仪”“在线激光粒度仪”“光相关纳米粒度仪”等产品,引领中国颗粒测试的技术发展方向。将中国颗粒测试水平推向一个全新的高度。 济南微纳公司以高校为依托,培养了一流的技术开发团队,其中包括光学、电子、计算机、化工、材料各方面的专家和教授。公司的首席专家任中京教授是我国激光粒度分析技术的开创者,在颗粒测试领域享有极高声誉。微纳公司还与国内许多大学、研究机构建立了良好的合作关系,经常进行新技术的交流并合作进行大型科研项目的开发,增强了技术实力。以激光粒度仪为代表的微纳品牌颗粒测试系列仪器分为7大类近三十种产品可以满足各种用户的测试需求。不但畅销国内,还大量销往海外,以其过硬的质量和坚强的技术支持与服务获得广大用户的好评。获得中国业内最具创新实力的企业、中国颗粒测试技术的领航者等荣誉称号。被国际权威组织排入亚洲粉体企业50强。---------------------------------------------------------------------------专家介绍: 微纳公司董事长、首席专家任中京教授,1982年毕业于中国海洋大学物理系光学专业。1986年任山东建材学院颗粒测试研究所所长。从事激光颗粒分析理论与技术研究工作20余年间,主持并完成国家省部科技攻关项目4项。发表论文60余篇,其中收入美国工程索引(EI)研究论文20余篇,在国际颗粒学研究领域享有很高声誉。参与创建中国粉体技术杂志,任《中国粉体技术》常务副主编。中国颗粒学会务理事,颗粒测试专业委员会主任,历任山东颗粒学会理事长。并成为国际光学工程学会(SPIE)会员。1996年被授予国家有突出贡献专家称号。主要国家级成果: 国家七五科技攻关项目“水泥颗粒级配在线分析仪”负责人 山东八五科技攻关项目“JL9200便携式高分辨激光粒度分析仪”负责人 山东九五科技攻关项目“JL9300干粉激光粒度仪”负责人 国家教委仪器研究项目“YP750空间频谱演示仪”负责人---------------------------------------------------------------------------发展历史:1986年 济南微纳的前身“山东建材学院颗粒测试研究所”成立。 1990年 承担国家七五科技攻关项目,研制成功国内第一台激光粒度分析设备“水泥颗粒级配在线分析仪”。 1993年 “水泥颗粒级配在线分析仪”获得中国首届科技博览会金奖。 1994年 承担山东省八五科技攻关项目,研制成功“JL9200便携式高分辨率激光粒度分析仪”,同年获得国家专利。 1995年 “JL9200便携式激光粒度分析仪”列为国家级重点新产品 1996年 承担山东省九五科技攻关项目,研制成功“JL9300干法激光粒度分析仪” 该产品获得山东省科技进步三等奖。2000年 济南微纳公司正式成立。 2002年 微纳激光粒度分析仪产品通过国家标准物质研究中心定型鉴定。 2003年 微纳激光粒度分析仪获得山东省质量技术监督局计量器具新产品证书 2004年 全面通过中华人民共和国制造计量器具许可证CMC认证。 2005年 微纳公司搬迁至济南高新技术开发区。 2006年 微纳公司获得济南高新技术企业称号 2007年 微纳公司通过ISO9001:2000国际质量管理体系认证。2007年 研制成功我国第一台动态颗粒图像分析仪,通过济南市科技局的鉴定,专家评价为国内首创,达到国际先进水平 2008年 微纳研制的数字相关器CR128取得重大突破2009年微纳推出中国第一台使用数字相关器的“光相关纳米激光粒度分析仪”。销售热线:济南总部:0531-88873312、0531-88870139北京办事处:010-80767402 13683140751 公司网站:www.jnwinner.com 联系地址:济南总部:济南市高新区大学科技园北区F座东二单元 北京办事处:昌平区发展路8号中天科技园9号楼203
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  • 济南微纳颗粒仪器股份有限公司是集研发、生产、销售颗粒测试相关仪器设备于一体的高新技术企业。 公司的前身为山东建材学院颗粒测试研究所,研究激光粒度测试技术自1982年承担国家七五科技攻关项目开始,至今已有30余年的历史。 微纳一直以“发展与普及当代先进的颗粒测试技术”为己任,研制的便携式、台式、干粉等系列的激光粒度仪均代表了国内行业高水平,并于2006年推出国内首台在线测试激光粒度仪,2007年推出国内首台动态颗粒图像分析仪,2009年推出国内首台动态光散射原理的光相关纳米粒度仪,将中国颗粒测试技术推向一个全新的高度。 为追求公司的长远战略,实现更大空间的跨越式发展。我公司于2014年作为中国颗粒测试行业的首支上市企业,证券名称为:“微纳颗粒”,证券代码为:430410;微纳公司成功登陆新三版,实现了中国颗粒仪器界在股市上零的突破,代表着一个行业走向成熟的里程碑。 微纳公司将秉承自身作为中国颗粒测试技术牵头者的职责,再接再厉为中国粒度测试技术赶超世界主流水平做出不懈努力。
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颗粒粒度分析仪相关的仪器

  • 仪器简介:BioDLS高通量粒度分析仪基于动态光散射原理,具有自动高效高通量测量粒度及其分布的功能,并具有极高的重复性和稳定性,是药物药物研究的理想工具。动态光散射原理 :由于颗粒在悬浮液中的布朗运动,使得光强随时间产生脉动。采用数字相关器技术处理脉冲信号,可以得到颗粒运动的扩散信息后,进而利用Stokes-Einstein方程计算得出颗粒粒径及其分布。技术参数:1. 粒度范围: 0.5nm~3&mu m(与样品有关) 2. 适用分子量范围: 0.4× 103~2× 107Dalton(与样品有关) 3. 浓度范围: 0.1mg/ml ~ 100mg/ml(与样品有关) 4. 样品池体积: 2&mu L(与样品有关) 5. 样品模式: 标准12, 48, 96和384 多孔板 或 HPLC 样品瓶 6. 样品通量: 768个/次,2 x 384个 7. 样品池温控范围: 5℃~90℃ 8. 储存板温控范围: 环境温度~4℃ 9. 激光源: 35mW、635 nm固体激光器(可选30mW、850 nm固体激光器), 10. 散射角: 90° 11. 检测器: APD 12. 相关器: 522个物理通道,1010个线性通道,25nS-1310S动态采样时间及延迟时间分配 13. 计算机接口: USB 2.0 & 1.1 14. 系统软件 兼容Windows XP或Vista 15. 大小及重量: 300mm (W) x 510 mm (D) x 630 mm (H),28kg(不包含储存板温控) 300mm (W) x 575 mm (D) x 630 mm (H),30kg(包含储存板温控) 16. 室温操作情况: 10° C ~ 75° C,湿度 0% ~95%, 无冷凝主要特点:1. 自动高效高通量测量粒度及其分布的功能,并具有极高的重复性和稳定性。 2. 数据输出:粒度及其分布、正态分布和多峰分布图 3. 最高一次可处理768个样品。 4. 自动进样、回收样品、清洗、保温、用惰性气体密封(防止氧化); 5. 自动化测量,减少有毒化学制品泄露; 6. 高效率:36个样/小时 7. 高灵敏性,粒度测量范围:0.5nm~3&mu m 8. 低样品消耗,样品体积2&mu L 9. 专利样品池设计,样品池体积2&mu L。 10. 样品模式:标准12, 48, 96和384 多孔板 或 HPLC 样品瓶,无需昂贵耗材。 11. 样品池温控范围:5℃~90℃。 12. 储存板温控范围:环境温度~4℃
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  • 仪器简介:仪器介绍 NanoDLS高灵敏在线粒度分析仪基于动态光散射原理,可在流动状态下实时测量粒度及其分布的功能。 动态光散射原理 由于颗粒在悬浮液中的布朗运动,使得光强随时间产生脉动。采用数字相关器技术处理脉冲信号,可以得到颗粒运动的扩散信息后,进而利用Stokes-Einstein方程计算得出颗粒粒径及其分布。技术参数:1.粒度范围:0.5nm~3&mu m(与折射率有关) 2.样品体积:2.5&mu L样品池 3.最大压力:400 bar (5,880 psi) 4.浓度范围:0.1mg/ml ~ 100mg/ml 5.典型精度: 1% 6.温控范围:25℃~80℃ 7.激光源:35mW、638nm固体激光器 8.检测器:APD 9.散射角:90° 10.计算机接口:USB 2.0 & 1.1 12.数据输出:粒度及其分布、正态分布和多峰分布图 12.操作模式:自动进样或手动进样主要特点:高灵敏性,粒度测量范围:0.5nm~6&mu m 微量体积2.5&mu L,专利样品池设计,最大可耐受400 bar 压力 样品池和管道可兼容生物样品 流动模式测量 可连续测量,用于在线检测样品的聚集行为 NanoDLS可以附加BI-MwA配置,可用于联机,即作为凝胶色谱的一个在线检测器,可以测定聚合物各个分布的Mw和Rg,并提供支化信息;
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  • 颗粒表征分析颗粒表征分析从纳米至微米范围通过动态光散射在三个不同的测量角度下测量粒径大小利用获得zhuan利的 cmPALS 测定 zeta 电位分子量和折光率测量Litesizer 可为样品选择较理想的测量角度,以确保zui高的数据质量Litesizer 500 有三个用于 DLS 测量的检测角度(侧散射、向后散射或向前散射),允许zui优参数设置。仪器带有自动角度选择功能,可以为您的样品确定zui合适的角度。Litesizer 100 使用通用的后向散射角,这对于浊度样品较理想,因为它减少了多个散射事件,实现zui佳的数据质量。您可以对样品进行完整的分析,因为 Litesizer 系列能够在一次测量中溶解多达三种不同的粒度等级。zeta 电位测量降至 0.1 mg/mL,实现zui高的灵敏度利用 Litesizer 500,您可以通过电泳光散射法执行 zeta 电位测量。cmPALS专li技术(欧洲zhuan利 2 735 870)允许在样品浓度zui低的情况下进行高灵敏度测量,获得有意义的结果,测量时间显著缩短,样品降解程度zui大程度降低。这对肽溶液特别有帮助。此外,独特的安东帕 Ω 型毛细管 zeta 电位的比色皿在测量位置创建一个完全稳定的电场,促使 zeta 电位测量具有高度可重复性。用于样品监测的持续的透光率测量持续测量的透射率可以给您提供样品的即时反馈。它进一步允许自动优化测量参数,如测量角度、焦点位置和持续时间。透光率也提供在一系列测量中有关沉积或聚集开始的数据。一体机-测量折光率样品溶剂的折光率是 DLS 和 ELS 测量所需的输入参数。 对于大多数粒度分析仪来说,这些指数必须由外部来源确定,Litesizer 500 可以在 DLS 或 ELS 测量的精确波长和温度下测量折光率(欧洲zhuan利 3 023 770)。这确保了在所有试验条件下,获得zui高精确度的粒径和 zeta 电位值。Litesizer 500 确定的折光率的误差在 ±0.5% 之内,符合 ISO 22412:2017 规定的 DLS 所需折光率精度。使用 Kalliope 软件可以清楚地了解您的测量结果Litesizer 系列的测量软件,Kalliope, 提供直观的单页工作流.输入参数、测量信号和结果都触手可及。单页工作流还允许您只需单击三次就可以开始测量。 预定义的标准报告和结构化的结果概览对测量结果提供快速访问路径。 您还可以通过分析功能、Excel 导出和定制化报表模板来更深入地查看数据。Kalliope 完全符合 FDA 的 21 CFR Part 11 法规要求技术规格Litesizer 500Litesizer 100粒度测试规格测量原理动态光散射 (DLS)测量范围0.3 nm 至 10 μm(颗粒直径)测量角度15°、90°、175°175°zui小浓度0.1 mg/mL(溶菌酶)zui大浓度50 %w/v(取决于样品)zui少样品用量12 μL准确度优于溯源标准的 +/-2 %重复性优于溯源标准的 +/-2 %Zeta 电位规格测量原理电泳光散射 (ELS)/cmPALS-测量范围= +/ -1000 mV-运动范围10-11 m2/V.s 至 2 x 10-7 m2/V.s-尺寸范围3.8 nm 至 100 μm(直径)-zui小样品浓度0.1 mg/mL(溶菌酶)-zui大样品浓度70 %w/v(取决于样品)-zui大样品电导率200 mS/cm-zui少样品用量50 μL(取决-于样品-黏度)-准确度优于 +/-10 %-重复性+/-3 %-分子量规格测量原理静态光散射 (SLS)-测量范围(质量)980 Da 至 20 MDa-测量范围(颗粒尺寸)可达 40 nm(颗粒直径)-测量角度90°-zui小样品浓度0.1 mg/mL(溶菌酶)-准确度+/-10 %-重复性+/-5 %-透光率规格测量范围0 % 至 100 %zui少样品用量15 μL准确度优于 +/-1 %折光率规格测量范围1.28 到 1.50-zui少样品用量1 mL-准确度+/-0.5 %-基本信息光源半导体激光器二极管/ 40 mW,658 nm激光预热时间6 min温控范围0 °C 至 90 °C使用环境温度10 °C 至 35 °C湿度高达 80 %,无冷凝尺寸(宽、深、高)460 mm、485 mm、135 mm重量大约 18 kg(40 磅)大约 16.3 kg (36 lb)
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  • 美国麦克新型颗粒粒形分析仪面世
    美国麦克公司推出颗粒分析新产品:Particle Insight颗粒粒形分析仪  Particle Insight 是一台先进的颗粒粒形分析仪,不仅分析颗粒的粒径,还可以分析选择不同形状的分布区,捕获图像后即刻进行分析,这对分析原材料是非常重要的。此外,Particle Insight能够最终提供多达28种不同的颗粒形状参数,为用户提供了灵活的形状参数来量化颗粒,对最终产品可产生非常关键的影响。  Particle Insight 的另一个重要特点是对无论是水相的还是有机溶液相的所有样品都能进行实时分析,瞬间给出分析结果,快速、即时反馈实验进程。  Particle Insight 广泛适用于工业、生物、地质领域,测量颗粒范围为0.8-300μm。其独特设计的循环抽样模块和光学元件可在很短的时间内统计有效的测量数据,这一特点在以质量控制为目的的许多制造工艺领域是必不可少的。  美国麦克公司现有的三款颗粒分析仪器,分别采用不同的颗粒分析原理,对颗粒粒度及数量进行分析,极大的满足了不及类型用户的需求  Saturn DigiSizer 5200 全自动激光粒度分析仪,采用全米氏(Mie)散射定律,并配有专利技术的样品处理单元(liquid sample handling unit,LSHU)对所分析的样品进行制备。其粒径分析范围为0.02微米至2000微米。由于此仪器配备多达130万个检测元素的专利高精度航天级 CCD检测器,因此Saturn DigiSizer 5200 是目前世界上最先进的全自动激光粒度分析仪。仪器的操作软件为先进的“Windows”软件,可以提供多种多样的数据和图形报告。Saturn DigiSizer 5200适合于各种材料的颗粒大小及分布的分析研究。  SediGraph Ⅲ 5120 全自动Χ-光透射沉降粒度分析仪,是一台集高精度、良好的重复性和快速分析于一身的全自动粒度分析仪。该仪器采用沉降式原理,粒径分析范围为300微米至0.1微米,仪器的操作软件为先进的“Windows”软件。SediGraph Ⅲ 5120可以提供多至十一种分析报告,适合于各种无机材料颗粒大小的分析研究,尤其是非金属矿物,如:高岭土、重钙、轻钙、粘土、泥浆等材料的分析,是高岭土,重钙,轻钙粒径的标准分析仪器。  Elzone II 5390全自动颗粒尺寸与颗粒计数分析仪,是一台快速、准确、具有良好重现性的颗粒大小及颗粒计数分析仪。该仪器采用电敏感区原理作为颗粒分析方法。 可用于分析各种有机和无机颗粒,典型的应用领域包括生物细胞、研磨剂、乳剂、调色剂和墨水、颜料。 与其他检测方法不同的是,运用电敏感区原理可分析不同光学性质,密度,颜色和形状的样品混合物时,Elzone II 5390可实现对样品颗粒的尺寸、数量和浓度的快速准确测量,其测试范围为1200微米至0.4微米。仪器软件采用先进的“Windows”视窗软件,符合中国用户的电脑操作习惯。  Particle Insight 颗粒粒形分析仪的推出,丰富了美国麦克公司颗粒分析仪器,为用户提供更加全面的颗粒分析服务。目前,北京DEMO实验中心有各种颗粒分析仪器,诚挚欢迎广大用户参观测样。详细情况可拨打样品分析DEMO实验中心电话:010-51906026 、010-68489403 如果您需要更详细的资料,请向美国麦克公司中国区办事处索取。 美国麦克仪器公司 地址:北京市海淀区紫竹院路31号华澳中心嘉慧苑1025室[100089] 电话:010-68489371,68489372 传真:010-68489371 E-Mail:miczhuhz@yahoo.com.cn,micling@yahoo.com.cn -------------------------------------------------------------------------------- 美国麦克仪器公司上海办事处 地址:上海市静安区新闸路831号丽都新贵15-M[200041] 电话:021-62179208,021-62179180 传真:021-62179180 E-Mail:zhuhongzhen@mic-instrument.com.cn sales@mic-instrument.com.cn -------------------------------------------------------------------------------- 美国麦克仪器公司广州办事处 地址:广州市天河区中山大道华景路华晖街四号沁馥佳苑B3-1301[510630] 电话:020-85560307,020-85560317 传真:020-85560317 E-Mail:fanrun@mic-instrument.com.cn
  • 【好书推荐】《颗粒粒度测量技术及应用》(第2版)出版
    自然界中很多物质属于颗粒,例如黏土、沙子和灰尘;人类的食物也往往是颗粒,例如谷粒、豆子、盐和蔗糖;很多加工物,例如煤炭、催化剂、水泥、化肥、颜料、药物和炸药也大多属于粉体或颗粒。颗粒学是一门多交叉学科,由多基础科学和大量相关的应用技术组成,涉及化学、物理、数学、生物、医学、材料等若干基础科学,与工艺、工程应用技术密切相关。颗粒(包括固体颗粒、液滴、气泡)与能源、 动力、环境、机械、医药、化工、轻工、冶金、材料、食品、集成电路、气象等行业密切相关,同时也会影响到人们的日常生活。据文献介绍,70% 以上的工业产品都涉及颗粒,近年来经常出现的沙尘暴、冬季大范围的浓雾等都与空气中的颗粒物有关。颗粒粒径和形貌是颗粒的最重要参数。上海理工大学颗粒与两相流测量研究所所长蔡小舒教授及课题组成员长期从事颗粒粒度测量方面的研究和教学工作,先后得到国家自然科学基金重点项目和面上项目、国家 863计划项目、国家 973计划项目、上海市“科技创新行动计划”纳米科技项目等多个项目的支持,开展光散射理论、基于光散射原理的多种颗粒测量方法、基于超声的多种颗粒测量方法、纳米颗粒测量方法、图像法、颗粒在线测量等方面的研究,在颗粒测量基础理论和测量方法及技术方面取得多项成果。《颗粒粒度测量技术及应用》(第一版)左图:蔡小舒教授;右图:《颗粒粒度测量技术及应用》(第一版)《颗粒粒度测量技术及应用》(第一版)是蔡小舒教授等从 20 世纪 80 年代到 2010 年二十多年在颗粒测量理论、方法、技术和应用研究的总结,反映了我国和国际上当时颗粒测量的技术水平。第一版系统介绍了颗粒的基础知识以及颗粒粒径分布的表征方法,全面系统地讨论了有关光散射颗粒粒径测量方面的基础知识,归纳总结基于散射光能测量和透射光能测量的多种颗粒测量方法、纳米颗粒粒度的测量方法以及蔡小舒教授等开展在线颗粒测量应用研究的具体例子。成为从事颗粒测量技术研究和仪器开发的研究人员和工程技术人员的最主要参考书,也是众多涉及颗粒制备与应用的科技人员的重要参考书。时任中国颗粒学会名誉理事长的郭慕孙院士对该书的出版表示肯定,并为该书作序,推荐给从事颗粒研究、加工、应用的科技人员。随着科技的发展,颗粒测量技术也在不断迎来新的挑战、迈向新的高度。颗粒测量方法、技术和仪器有了很大的发展进步,出现了不少新的技术和仪器,远心镜头、液体变焦镜头、各种新型激光光源和发光二极管(LED)光源等光电子技术和计算机技术等硬件技术的发展,以及金属氧化物半导体器件(CMOS)技术的发展推动了各种数字相机技术的飞速发展。颗粒粒度涉及的范围也越来越广泛:▪ 大气环境污染,雾霾使得 PM2.5 成为家喻户晓的名词,新冠病毒的传播更使气溶胶这样的专业词汇得到普及。▪ 纳米颗粒、生物颗粒、微泡、药物颗粒、能源颗粒等新的颗粒应用以及越来越广泛的在线测试需求促进了颗粒测试技术的快速发展。高浓度纳米颗粒粒度测量探针▪ 大数据分析、人工智能算法等手段被引入到测量数据的处理中。众多领域对颗粒测试的需求、软硬件技术的发展等诸多因素,催生出许多新的颗粒测量方法和技术手段。例如,图像测量方法不再局限于对微米级以上颗粒的成像测量,也应用于纳米颗粒的粒度测试;又如,将图像测量方法与光散射等其他方法融合,形成了多种包括气溶胶等在内的在线颗粒测量新方法。纳米颗粒粒度仪 很显然,颗粒测量技术的飞速发展使得 2010 年出版的《颗粒粒度测量技术及应用》一书已不能满足当前颗粒研究者的需要,内容亟需更新。经典再版 全面更新为此,在化学工业出版社的支持下和国家科学技术学术著作出版基金的再次资助下,第二版图书于2023年1月正式出版了。第二版图书在保持上一版结构框架的基础上,对图书内容进行了重新撰写,主要体现在以下几方面:▪ 对部分章节结构作了调整,如将原第 7 章“纳米颗粒的测量”中,有关动态光散射原理的纳米颗粒测量内容并入第 5 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0232.1.1 惠更斯-菲涅耳原理 / 0232.1.2 巴比涅原理 / 0252.1.3 衍射的分类 / 0262.1.4 夫琅和费单缝衍射 / 0262.1.5 夫琅和费圆孔衍射 / 0282.2 光散射基本理论 / 0302.2.1 光散射概述 / 0302.2.2 光散射基本知识 / 0322.2.3 经典Mie光散射理论 / 0352.2.4 Mie散射的德拜级数展开 / 0522.3 几何光学对散射的描述 / 0562.3.1 概述 / 0562.3.2 几何光学近似方法 / 0572.4 非平面波的散射理论 / 0642.4.1 广义Mie理论 / 0642.4.2 波束因子的区域近似计算 / 0692.4.3 高斯波束照射 / 0702.4.4 角谱展开法 / 071参考文献 / 076第3章 散射光能颗粒测量技术 / 0813.1 概述 / 0813.2 基于衍射理论的激光粒度仪 / 0843.2.1 衍射散射式激光粒度仪的基本原理 / 0843.2.2 多元光电探测器各环的光能分布 / 0863.2.3 衍射散射法的数据处理方法 / 0893.3 基于Mie散射理论的激光粒度仪 / 0933.3.1 基于Mie理论激光粒度仪的基本原理 / 0933.3.2 粒径与光能变化关系的反常现象 / 0963.4 影响激光粒度仪测量精度的几个因素 / 0993.4.1 接收透镜焦距的合理选择 / 0993.4.2 被测试样的浓度 / 1003.4.3 被测试样轴向位置的影响 / 1023.4.4 被测试样折射率的影响 / 1043.4.5 光电探测器对中不良的影响 / 1043.4.6 非球形颗粒的测量 / 1063.4.7 仪器的检验 / 1063.5 激光粒度仪测量下限的延伸 / 1063.5.1 倒置傅里叶变换光学系统 / 1083.5.2 双镜头技术 / 1093.5.3 双光源技术 / 1103.5.4 偏振光散射强度差(PIDS)技术 / 1113.5.5 全方位多角度技术 / 1123.5.6 激光粒度仪的测量上限 / 1143.5.7 国产激光粒度仪的新发展 / 1153.6 角散射颗粒测量技术 / 1203.6.1 角散射式颗粒计数器的工作原理 / 1213.6.2 角散射式颗粒计数器的散射光能与粒径曲线 / 1223.6.3 角散射式颗粒计数器F-D曲线的讨论 / 1243.6.4 角散射式颗粒计数器的测量区及其定义 / 1283.6.5 角散射式颗粒计数器的计数效率 / 1323.6.6 角散射式颗粒计数器的主要技术性能指标 / 1323.7 彩虹测量技术 / 1353.7.1 彩虹技术的原理 / 1363.7.2 彩虹法液滴测量 / 1373.8 干涉粒子成像技术 / 1413.8.1 干涉粒子成像技术介绍 / 1413.8.2 干涉粒子成像法颗粒测量 / 1423.9 数字全息技术及其应用 / 1443.9.1 数字全息技术介绍 / 1443.9.2 数字全息技术的应用 / 146参考文献 / 151第4章 透射光能颗粒测量技术 / 1584.1 消光法 / 1584.1.1 概述 / 1584.1.2 消光法测量原理 / 1584.1.3 消光系数 / 1604.1.4 消光法数据处理方法 / 1634.1.5 消光法颗粒浓度测量 / 1704.1.6 消光法粒径测量范围及影响测量精度的因素 / 1704.1.7 消光法颗粒测量装置和仪器 / 1724.2 光脉动法颗粒测量技术 / 1744.2.1 光脉动法的基本原理 / 1754.2.2 光脉动法测量颗粒粒径分布 / 1784.2.3 光脉动法测量的影响因素 / 1834.3 消光起伏频谱法 / 1854.3.1 数学模型 / 1854.3.2 测量方法和测量原理 / 1884.3.3 消光起伏频谱法的发展现状 / 197参考文献 / 198第5章 动态光散射法纳米颗粒测量技术 / 2025.1 概述 / 2025.2 纳米颗粒动态光散射测量基本原理 / 2045.2.1 动态光散射基本原理 / 2045.2.2 动态光散射纳米颗粒粒度测量技术的基本概念和关系式 / 2075.2.3 动态光散射纳米颗粒测量典型装置 / 2115.2.4 数据处理方法 / 2135.3 图像动态光散射测量 / 2205.3.1 图像动态光散射测量方法(IDLS) / 2205.3.2 超快图像动态光散射测量方法(UIDLS) / 2225.3.3 偏振图像动态光散射法测量非球形纳米颗粒 / 2245.4 纳米颗粒跟踪测量法(PTA) / 2295.5 高浓度纳米颗粒测量 / 231参考文献 / 234第6章 超声法颗粒测量技术 / 2376.1 声和超声 / 2376.1.1 声和超声的产生 / 2376.1.2 超声波特征量 / 2386.2 超声法颗粒测量基本概念 / 2426.2.1 声衰减、声速及声阻抗测量 / 2446.2.2 能量损失机理 / 2486.3 超声法颗粒测量理论 / 2506.3.1 ECAH 理论模型 / 2516.3.2 ECAH理论模型的拓展和简化 / 2626.3.3 耦合相模型 / 2776.3.4 蒙特卡罗方法 / 2836.4 超声法颗粒测量过程和应用 / 2886.4.1 颗粒粒径及分布测量过程 / 2886.4.2 在线测量 / 2986.4.3 基于电声学理论的Zeta电势测量 / 2996.5 超声法颗粒检测技术注意事项 / 3006.6 总结 / 301参考文献 / 301第7章 图像法颗粒粒度测量技术 / 3047.1 图像法概述 / 3047.2 成像系统 / 3057.2.1 光学镜头 / 3057.2.2 图像传感器 / 3087.2.3 照明光源 / 3107.3 显微镜 / 3117.4 动态颗粒图像测量 / 3177.5 颗粒图像处理与分析 / 3187.5.1 图像类型及转换 / 3187.5.2 常用的几种图像处理方法 / 3207.5.3 颗粒图像分析处理流程 / 3237.5.4 颗粒粒径分析结果表示 / 3237.6 图像法与光散射结合的颗粒测量技术 / 3277.6.1 侧向散射成像法颗粒测量 / 3277.6.2 后向散射成像法颗粒测量 / 3307.6.3 多波段消光成像法颗粒测量 / 3317.7 彩色颗粒图像的识别 / 3347.7.1 彩色图像的色彩空间及变换 / 3347.7.2 彩色颗粒图像的分割 / 3367.8 总结 / 338参考文献 / 339第8章 反演算法 / 3418.1 反演问题的积分方程离散化 / 3418.2 约束算法 / 3438.2.1 颗粒粒径求解的一般讨论 / 3438.2.2 约束算法在光散射颗粒测量中的应用 / 3458.2.3 约束算法在超声颗粒测量中的应用 / 3548.3 非约束算法 / 3628.3.1 非约束算法的一般讨论 / 3628.3.2 Chahine算法及其改进 / 3658.3.3 投影算法 / 3678.3.4 松弛算法 / 3688.3.5 Chahine算法和松弛算法计算实例 / 371参考文献 / 372第9章 电感应法(库尔特法)和沉降法颗粒测量技术 / 3759.1 电感应法(库尔特法) / 3759.1.1 电感应法的基本原理 / 3769.1.2 仪器的配置与使用 / 3779.1.3 测量误差 / 3809.1.4 小结 / 3839.2 沉降法 / 3849.2.1 颗粒在液体中沉降的Stokes公式 / 3849.2.2 颗粒达到最终沉降速度所需的时间 / 3869.2.3 临界直径及测量上限 / 3879.2.4 布朗运动及测量下限 / 3889.2.5 Stokes公式的其它影响因素 / 3899.2.6 测量方法及仪器类型 / 3919.2.7 沉降天平 / 3949.2.8 光透沉降法 / 396参考文献 / 399第10章 工业应用及在线测量 / 40110.1 喷雾液滴在线测量 / 40110.1.1 激光前向散射法测量 / 40210.1.2 消光起伏频谱法测量 / 40410.1.3 图像法测量 / 40510.1.4 彩虹法测量 / 40610.1.5 其它散射法测量 / 40810.2 乳浊液中液体颗粒大小的测量 / 41010.3 汽轮机湿蒸汽在线测量 / 41110.4 烟气轮机入口颗粒在线测量 / 41410.5 烟雾在线测量探针 / 41510.6 动态图像法测量快速流动颗粒 / 41710.7 粉体颗粒粒度、浓度和速度在线测量 / 41910.7.1 电厂气力输送煤粉粒径、浓度和速度在线测量 / 41910.7.2 水泥在线测量 / 42110.8 超细颗粒折射率测量 / 42310.9 超声测量高浓度水煤浆 / 42410.10 结晶过程颗粒超声在线测量 / 42510.11 含气泡气液两相流超声测量 / 42610.12 排放和环境颗粒测量 / 42810.12.1 PM2.5测量 / 42810.12.2 图像后向散射法无组织排放烟尘浓度遥测 / 43010.12.3 图像侧向散射法餐饮油烟排放监测 / 43210.13 图像动态光散射测量纳米颗粒 / 43510.13.1 纳米颗粒合成制备过程原位在线测量 / 43510.13.2 非球形纳米颗粒形貌拟球形度Ω测量 / 43810.13.3 纳米气泡测量 / 439参考文献 / 440附录 / 443附录1 国内外主要颗粒仪器生产厂商 / 443附录2 颗粒表征国家标准和国际标准 / 445附录3 国内外标准颗粒主要生产厂商 / 453附录4 液体的黏度和折射率 / 455附录5 固体化合物的折射率 / 458附录6 分散剂类别 / 473
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