织物厚度测试仪

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织物厚度测试仪相关的仪器

  • DRK141A 数字式织物厚度仪 纺织品厚度测试仪,用于各种材料包括薄膜、纸张、纺织品的厚度测定,亦可用于其它均匀薄料的厚度测定。符合标准:DRK141A 数字式织物厚度仪 纺织品厚度测试仪,产品符合GB/T3820,GB/T24218.2、FZ/T01003、ISO5084:1994、ASTMD5729:97(2004)等标准。技术参数:1、测定厚度范围:0.01~10.00mm;2、最小分度值:0.01mm;3、压脚面积:50mm2、100mm2、500mm2、1000mm2、2000mm2 4、压重砝码:25cN×2、50cN、100cN×2、200cN;5、压重时间:5s、10s;6、压脚下降速度:1.72mm/s;7、压重时间:10s±1s、30s±1s;8、外形尺寸:200×400×400mm(L×W×H);9、仪器重量:约25Kg;配置清单:1、主机 1 台2、压脚 5只:50mm2、、100mm2、500mm2、1000mm2、2000mm2;3、压重砝码 6只:25cN×2、50cN、100cN×2、200cN;4、产品合格证 1张5、产品使用说明书 1份6、送货单 1张7、验收单 1张8、产品画册 1份选配清单:1、压脚 1只:2500mm2、 注:因技术进步更改资料,恕不另行通知,产品以后期实物为准。
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  • TTM150纺织物厚度测试仪技术参数:1.符合标准:《GB3820纺织品和纺织制品厚度测试》;《FZT60004-1991非织造布厚度的测定》、《ISO5084-1996纺织品和纺织制品厚度的测定》;2.用于各种普通类织物、非织造布、毛绒类、疏软类织物的厚度测定3.自动测定厚度,厚度测量范围0-50mmm,厚度测量精度0.01mm;4.自动加压,测量过程中仪器自动向检品施加压力,默认压力选项1.00±0.01kpa,0.5±0.01kpa,0.1±0.01kpa,0.02±0.005kpa;5.自动平移控制,压脚和参考板之间的距离仪器自动控制移动,移动范围0-50mm,移动控制精度±0.01mm;移动过程中压脚和参考板保持平行;6.可调换的压脚,通用压脚面积(20000±20)mm2,相应于圆形压脚面积(50.5±0.2)mm2;备用压脚板(10000±10)mm2,(40000±50)mm2,(1000±2)mm2;7.参考板,面积为50000mm2;8.自动计时功能,系统内部设定有高精度计时器,计时范围0-9999s/min/h;精度0.1s;系统智能识别分配多段独立计时;9.仪器采用7寸真彩触摸屏显示和控制,中文菜单,显示清晰明了,触摸按键操作快捷方便;10.设备自动储存检测数据,检测数据可打印,可查阅;11.设备电源:AC220V,50Hz,功率460W;12.设备尺寸420*380*360mm;13.设备重量28kg
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  • 纸张厚度仪_纸板厚度测试仪_纸板厚度检测仪 型号C640是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪,专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机,更加准确、高效的进行连续多点测量。设备技术特征:1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新,使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术,实现先进的测试稳定性、重复性及精度。2、高效——采用高效率、自动化结构设计,有效简化人员参与过程;智能的控制及数据处理功能,为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件,具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储;支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统(可选配置),为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。纸张厚度仪_纸板厚度测试仪_纸板厚度检测仪 型号C640测试原理:将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上,与下测量面平行且中心对齐的上测量面,以一定的压力,落到薄型试样的另一面上,同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离,即为薄型试样的厚度。执行标准:ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中国《药品生产质量管理规范》(GMP)对软件的有关要求(可选配置)纸张厚度仪_纸板厚度测试仪_纸板厚度检测仪 型号C640应用材料:基础应用:薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定扩展应用:金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定纸张厚度仪_纸板厚度测试仪_纸板厚度检测仪 型号C640技术指标:① C640M型号参数:测试范围(标配):0~2mm分辨率:0.1μm 重复性:0.8μm测量范围(选配):0~6、0~12mm测量间距:0~1000mm(可设定)进样速度:1.5~80mm/s(可设定)附加功能:自动进样机:可选配置DataShieldTM数据盾:可选配置GMP计算机系统要求:可选配置测量方式:机械接触式测量压力及接触面积:薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2纸张:100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa(可选配置)、200 mm2电源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸:370mm(L)× 350mm(W)× 410mm(H)净重:26kg② C640H型号参数:测试范围(标配):0~2mm分辨率:0.1μm 重复性:0.4μm测量范围(选配):0~6、0~12mm测量间距:0~1000mm(可设定)进样速度:1.5~80mm/s(可设定)附加功能:自动进样机:可选配置DataShieldTM数据盾:可选配置GMP计算机系统要求:可选配置测量方式:机械接触式测量压力及接触面积:薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2纸张:100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa(可选配置)、200 mm2电源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸:370mm(L)× 350mm(W)× 410mm(H)净重:26kg
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织物厚度测试仪相关的方案

织物厚度测试仪相关的论坛

  • 【原创】天瑞仪器Thick800镀层厚度测试仪全国路演

    天瑞仪器Thick800镀层厚度测试仪全国路演为了答谢新老客户对天瑞仪器公司的支持,天瑞仪器特隆重推出新一代产品——Thick800镀层厚度测试仪,为进一步向大家介绍该仪器的非凡功能和领先科技,并为新老客户提供仪器、技术、服务方面的全套解决方案,增进天瑞仪器公司与新老客户的交流。天瑞仪器有限公司(中国)特举办—— 注:1.本次会议我们将提供午宴及精美礼品一份。 2.本次活动的最终解释权归天瑞仪器有限公司(中国)所有。 天瑞仪器公司总部2008-5-4

织物厚度测试仪相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 织物垂直方向多功能燃烧测试仪
    产品介绍:泰思泰克垂直方向多功能燃烧测试仪整合国际国内多项纺织品垂直燃烧测试标准而设计研发及生产;该测试仪可实现垂直方向底部点火燃烧及侧面表面点火等点火方式;适用于通过对垂直竖向纺织品及组件边缘及底边点火检测其易燃性能、还可检测睡衣用面料和面料组合,帷幕及窗帘、防护服织物的阻燃性能; 产品型号:TTech-ISO6940-M 符合标准:ISO 6940:2004 垂直竖向试样易燃性能 ISO 6941:2003 垂直竖向试样火焰蔓延性能 ISO 10047:1993 织物表面燃烧时间确定 BS 5438:1989 垂直竖向纺织品及组件底边及边缘点火阻燃性能 BS 5722:1991 睡衣用面料和面料组合的阻燃性能 BS EN1103:2005 服用面料燃烧性能 BS EN 13772:2003 帷幕及窗帘火焰蔓延性能 ISO 15025:2002 防护服隔热及阻燃性能 AS 2755.1、2、3 澳大利亚及新西兰垂直竖向试样易燃性能 GB/T 8745、GB/T 8746、GB/T 5456 等中国国家标准技术参数:1、 不锈钢箱体结构,美观大方,耐腐蚀;2、 结构设计融入人体工学,各种实验方便操作;3、 试样夹持方式柔性设计,可自由安装各种标准测试试样,并配有各标准规定试样夹;4、 各种实验时间自由设定;焰燃时间、续燃时间、引燃时间等系统自动保存;5、 高压自动点火;打火时间自由设定;6、 配备各种实验火焰高度尺;7、 燃烧器电机驱动自动进退;8、 进口流量计,精确控制气体流量;9、 进口压力表及调压阀精确控制燃气压力;10、 精密针阀精确控制燃气流量及火焰高度;11、 进口燃烧器高度可调;燃气流量可调;空气流量可调;12、 火焰角度指示盘可显示操作角度 13、 喷灯角度可自动调整,精确定位;14、 PLC及触摸屏智能 控制系统,实验方便、简捷;15、 实验数据自动存储,自由调取;16、 实验数据自由打印; 织物垂直方向多功能燃烧测试仪主要功能特色: 1、落地式机座,无须置于操作台上,方便操作人员使用 2、大型燃烧机架,可悬挂多种测试针框,满足不同测试标准所需 3、配备7种测试针框以及1套不锈钢试样夹,满足各国测试标准 4、滚轴丝杆调节燃烧器前进及后退,燃烧器高度可通过旋钮调节 5、一键式点火方式,采用电火花点火 6、丁烷及丙烷燃烧气体可程序切换 7、火焰角度指示盘可显示操作角度 8、主机自带火焰高度量尺,探测垂直火焰高度 9、步进电机驱动方式,可驱动燃烧器运动 10、点火装置角度精度为0.18度,精准定位 13、触摸屏操作方式,便于操作人员使用 14、人机界面及PLC控制模式,预制各国测试标准
  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型,不同光谱范围和光源,满足各种测量应用

织物厚度测试仪相关的资料

织物厚度测试仪相关的资讯

  • 岛津SPM石墨烯厚度测试——应对GB/T 40066—2021
    近期,国家标准化管理委员会发布了《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》,这一方面意味着石墨烯材料的产业化工作向前迈进了一步,另一方面也表明原子力显微镜开始逐步被标准化工作认可和接受。 为此,作为有着三十年原子力显微镜/扫描探针显微镜设计、开发、销售经验的岛津,按照新发布标准的流程进行了产品验证。结果表明,岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合标准的要求。 本次分析流程完全参照《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》附录A方法一实例进行。 01测试仪器:岛津SPM-9700HT02图像分析软件:WSxM 5.0 Develop 8.403图像处理过程经SPM-9700HT扫描获得的原始图像如下:利用WSxM软件Flatten功能处理后图像如下按标准利用软件的Profile功能选取不同位置三条轮廓线,轮廓线方向为SPM-9700HT快速扫描方向(X轴)。将3条轮廓线数据导出,利用EXCEL软件进行处理,分别拟合3条轮廓线的上台阶拟合直线和下台阶拟合直线。厚度计算:利用标准中的公式计算公式图片来源:《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》结论(1)、按照标准计算得知该片氧化石墨烯厚度为0.630±0.039nm,由此可推测这片氧化石墨烯为单层石墨烯。 (2)、岛津的原子力显微镜/扫描探针显微镜产品完全符合《GB/T40066-2021纳米技术氧化石墨烯厚度测量原子力显微镜法》的要求。
  • 高阻隔材料测试中厚度对渗透率的影响
    当天气变冷时,我们马上就知道多穿几层衣服会让我们更暖和。简单地说,如果你想要更多的保护,你就增加更多的厚度。同样的原理也适用于气体透过率测试。经验法则是,如果你将材料的厚度增加一倍,阻隔水平也会增加一倍,相应的透过率将减少一半。厚度对渗透率的影响有多大?很少有人去了解的是,较厚的样品渗透达到平衡所需的测试时间。典型的假设是,厚度加倍就需要测试时间加倍。这是不正确的。通常情况下,每次材料厚度增加一倍,渗透率达到平衡需要4倍的时间。下面是厚度1mil和5mil PET薄膜及其渗透率水平的比较。选择这些薄膜是因为它们在短时间内WVTR达到平衡。在此示例中,1mil PET薄膜的水蒸气透过率 (WVTR) 为10.1 g/(m2 x day)。达到该值95%所需的时间不到30分钟。5mil PET薄膜的WVTR为2.17 g/(m2 x day),需要近450分钟才能达到最终值的95%。我们通常看到,对于厚样品特别是在测量更高阻隔材料时,最后5%~10%的渗透率平衡可能需要相对较长的时间。通过测试得出结论当测试较厚材料的阻隔时,整体渗透率会成比例下降。材料厚度增加5倍,测得的WVTR从10.1 g/(m2 x day)下降至 2.17 g/(m2 x day)。 随着材料厚度的增加,需要更多的时间(超过5倍)来测试样品以达到平衡。如图所示,渗透率水平和达到平衡的时间都受到材料厚度的影响。当您优化测试条件(例如WVTR和CO2TR的流速)和测试持续时间以确保平衡值时,需要牢记这一点。适用于薄样品的标准测试设置可能会为厚样品产生不准确或过早的结果。
  • 扫描电镜测试法:我国首个光学功能薄膜微观结构厚度测试标准正式实施
    近日,由中国航天科技集团有限公司中国乐凯研究院起草的国家标准GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》正式实施。(文末附下载链接)该标准规定了通过扫描电子显微镜(SEM)检测光学功能薄膜横截面微结构厚度的方法,适用于微米、纳米级光学功能薄膜各功能层微观结构测试。这是我国首个覆盖光学功能薄膜全领域的微米-纳米级各功能层微观结构的测试标准。该标准的制定与实施,对于准确测定光学功能薄膜微结构厚度、规范行业测定方法、促进行业发展具有重要意义。GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》详细内容标准下载链接:https://www.instrument.com.cn/download/shtml/1198352.shtml

织物厚度测试仪相关的试剂

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