织物厚度测试仪

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

产品介绍:泰思泰克垂直方向多功能燃烧测试仪整合国际国内多项纺织品垂直燃烧测试标准而设计研发及生产；该测试仪可实现垂直方向底部点火燃烧及侧面表面点火等点火方式；适用于通过对垂直竖向纺织品及组件边缘及底边点火检测其易燃性能、还可检测睡衣用面料和面料组合，帷幕及窗帘、防护服织物的阻燃性能； 产品型号：TTech-ISO6940-M 符合标准：ISO 6940：2004 垂直竖向试样易燃性能 ISO 6941：2003 垂直竖向试样火焰蔓延性能 ISO 10047：1993 织物表面燃烧时间确定 BS 5438：1989 垂直竖向纺织品及组件底边及边缘点火阻燃性能 BS 5722：1991 睡衣用面料和面料组合的阻燃性能 BS EN1103：2005 服用面料燃烧性能 BS EN 13772：2003 帷幕及窗帘火焰蔓延性能 ISO 15025：2002 防护服隔热及阻燃性能 AS 2755.1、2、3 澳大利亚及新西兰垂直竖向试样易燃性能 GB/T 8745、GB/T 8746、GB/T 5456 等中国国家标准技术参数：1、 不锈钢箱体结构，美观大方，耐腐蚀；2、 结构设计融入人体工学，各种实验方便操作；3、 试样夹持方式柔性设计，可自由安装各种标准测试试样，并配有各标准规定试样夹；4、 各种实验时间自由设定；焰燃时间、续燃时间、引燃时间等系统自动保存；5、 高压自动点火；打火时间自由设定；6、 配备各种实验火焰高度尺；7、 燃烧器电机驱动自动进退；8、 进口流量计，精确控制气体流量；9、 进口压力表及调压阀精确控制燃气压力；10、 精密针阀精确控制燃气流量及火焰高度；11、 进口燃烧器高度可调；燃气流量可调；空气流量可调；12、 火焰角度指示盘可显示操作角度 13、 喷灯角度可自动调整，精确定位；14、 PLC及触摸屏智能 控制系统，实验方便、简捷；15、 实验数据自动存储，自由调取；16、 实验数据自由打印； 织物垂直方向多功能燃烧测试仪主要功能特色： 1、落地式机座，无须置于操作台上，方便操作人员使用 2、大型燃烧机架，可悬挂多种测试针框，满足不同测试标准所需 3、配备7种测试针框以及1套不锈钢试样夹，满足各国测试标准 4、滚轴丝杆调节燃烧器前进及后退，燃烧器高度可通过旋钮调节 5、一键式点火方式，采用电火花点火 6、丁烷及丙烷燃烧气体可程序切换 7、火焰角度指示盘可显示操作角度 8、主机自带火焰高度量尺，探测垂直火焰高度 9、步进电机驱动方式，可驱动燃烧器运动 10、点火装置角度精度为0.18度，精准定位 13、触摸屏操作方式，便于操作人员使用 14、人机界面及PLC控制模式，预制各国测试标准

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

HL-6301 土壤湿度测试仪HL-6301 土壤湿度测试仪本款仪器是园艺的好帮手,可以测试土壤的湿度,无需电池.工作原理: 通过土壤中有机营养物质的电解值测出植物土壤水份情况, 把探针插入根部就可读出,无需电池.精确有效的测出植物土壤里的湿度；准确掌握各种植物生长的适宜条件；把探针插入根部土壤中就可读出准确的土壤湿度,MOIST是水份键,对应表上的是MOIST, DRY是干, WET是湿,数值1-3(红色部分)说明需要浇水, 4-7(绿色部分)是合适的,请根据植物的品种调整浇水时间, 8-10(蓝色部分)说明太湿了. 使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极.用完后把电极洗干净.如何测量湿度1．将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时，不要使探棒离植物过近，以免伤及植物根系；2．在探棒插入被测土壤的过程中，你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定，这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果；3．读取结果；4．将探棒从被测土壤中取出，请不要拉、拽白色连接线，以免使用时出现接触不良等故障；5．用棉布将探棒完全擦净，以备下次使用。如何读取结果1．湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求，在此情况下您不需继续浇水；若结果低于规定要求，提醒您应立即浇水。2．浇灌次数（参考说明书）：&mdash * 1周需检查一次&mdash ** 每4到5天需检查一次&mdash *** 3天需检查一次仪器读数表3．特殊水分要求以下数字代表：i 每天向叶面洒水；ii 不要让土壤变干；iii 保持土壤湿润，但不应过于潮湿；iv 土壤应始终保持湿润；v 在浇灌间隙可令土壤变干；vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干；vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量；viii 将水倒入盆栽托盘中；不需洒水在叶子表面。

HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪 HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪是园艺的好帮手,可以测试土壤的PH值(酸碱度),土壤湿度以及光照度.无需电池. 使用方法: 测土壤PH值和湿度时,先将探头尽量深地插到土里,探头上面部分留大约1厘米. 拨动笔上的按键到MOIST, MOIST是水份键,对应表上的是MOIST, DRY是干, WET是湿,数值1-3(红色部分)说明需要浇水, 4-7(绿色部分)是合适的,请根据植物的品种调整浇水时间, 8-10(蓝色部分)说明太湿了. 拨动笔上的按键到PH, PH是酸碱度键,对应表上的是8-3.5数值, ALKALINE是碱, ACDIC是酸,数值7基本是中性,数越小说明酸度越大,请根据植物的品种调整土壤酸碱度. LIGHT键是光照度,测量范围0-2000流明,数值越大,说明光照越强,请根据植物的品种来决定是否需要遮阴. 使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极.用完后把电极洗干净.如何分析植物光照强度1. 将功能键拨至左起第二个档位上。2. 手持装置，使装置顶端的细长蜂巢状紫色小窗置于植物顶端叶面位置，将小窗朝向最亮的光源方向。在测试过程中，请避免身体和叶子的阴影遮挡小窗。3. 请记录测试结果（× 1000）及测试时间。4. 请选择上午、中午、下午的中间时刻测试，所得出的数据就是这一时间段的平均光照强度。例如：上午9:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（上午7:00到11:00间的平均光照强度）下午1:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（11:00到下午3:00间的平均光照强度）下午5:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（下午5:00到7:00间的平均光照强度）一天的总日照强度= 以上数据之和。单位：Foot-candle hours (烛光距) 1 Foot-candle = 10.7639 Lux (勒克斯)请查阅说明书后的光照要求表。如何分析湿度1. 将功能键拨至左起第三个档位上。2. 将探棒完全插入被测土壤。在测试盆栽土壤时，将探棒插于植物干茎与花盆的中间位置，请不要离植物过近，以免伤及植物根系。3. 读取数据。4. 将探棒从土壤中取出，在进行下一次测试或存贮之前，请用棉布将探棒完全擦净。5. 请不要将探棒长时间插于土壤中，也不要用此装置测试液体，以免对其造成损害。如何分析土壤的pH值1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等。2. 将土壤用水浸透，成泥状。（最好使用雨水或蒸馏水）3. 将功能键拨至最右边的档位上。4. 湿润探棒。用购买时随附的特殊清洁棉片将三个探棒中的最右边一根擦净。5. 将探棒完全插入被测土壤中。6. 等待1分钟即可读取数据。7. 测试结束后，将探棒擦净并晾干。如何使用你的土壤pH值分析计1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等；将土壤用水浸透，调匀成泥状。（最好使用雨水）为了达到较准确的分析结果，你可以从被测土壤中采集一部分土，清除石子及有机碎屑物，然后把土壤碾碎成粉末状，并从中取出2杯的样土；准备一个干净的玻璃或塑料容器，倒入2杯蒸馏水或去离子水，再加入样土，搅拌使他们充分混合并压实，倒掉多余的水。2. 使用购买时随附的清洁棉擦拭探棒约10-12厘米。应小心避免探头接触其它金属表面；再使用棉制品或纸将探棒抹净，每次应从探头擦至探棒尾部。3．将探棒垂直插入湿润的土壤约10-12厘米深；若探棒不容易插入，请换一个新位置重试。任何情况下都不应强行插入探棒，以免损伤探头。4．在指间按顺时针、逆时针方向转动探棒若干次，确认潮湿的土壤表土已在探棒周围分布好；5．等待60秒后读取数据。6．如果测试结果大于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。擦拭探棒后，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次，30秒后读取数据7．如果测试结果小于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。不要擦拭探棒，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次，60秒后读取数据。仪器注意事项- 探棒插在土壤中的时间不宜过长，以免损坏探棒金属表面；- 确认在存放仪器前，探棒应干燥、干净；- 应使探棒远离其他金属物质；此仪器只用于测试土壤，请不要将探棒插入水中。问题及解决方法指针摇摆不定* 石子或有机质影响仪器电极* 土壤样土未完全压实（盆栽和重量较轻的土壤）* 清洁探棒后，有金属颗粒附着探棒* 土壤在探棒周围分布不均匀* 探棒距盆壁或盆底过近* 测试时间离重新装土入盆的时间太近* 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒指针迟钝或没有反映* 需要清洁探棒* 样土过干* 探棒受损极端pH值状态（仅限于盆栽土壤）* 因过量施肥而带来的养分增加* 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 如何测量湿度1．将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时，不要使探棒离植物过近，以免伤及植物根系；2．在探棒插入被测土壤的过程中，你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定，这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果；3．读取结果；4．将探棒从被测土壤中取出，请不要拉、拽白色连接线，以免使用时出现接触不良等故障；5．用棉布将探棒完全擦净，以备下次使用。如何读取结果1．湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求，在此情况下您不需继续浇水；若结果低于规定要求，提醒您应立即浇水。2．浇灌次数（参考说明书）：&mdash * 1周需检查一次&mdash ** 每4到5天需检查一次&mdash *** 3天需检查一次仪器读数表3．特殊水分要求以下数字代表：i 每天向叶面洒水；ii 不要让土壤变干；iii 保持土壤湿润，但不应过于潮湿；iv 土壤应始终保持湿润；v 在浇灌间隙可令土壤变干；vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干；vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量；viii 将水倒入盆栽托盘中；不需洒水在叶子表面。

HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪 HL-6322 土壤湿度/酸度/光度测试仪是园艺的好帮手,可以测试土壤的PH值(酸碱度),土壤湿度以及光照度.无需电池. 使用方法: 测土壤PH值和湿度时,先将探头尽量深地插到土里,探头上面部分留大约1厘米. 拨动笔上的按键到MOIST, MOIST是水份键,对应表上的是MOIST, DRY是干, WET是湿,数值1-3(红色部分)说明需要浇水, 4-7(绿色部分)是合适的,请根据植物的品种调整浇水时间, 8-10(蓝色部分)说明太湿了. 拨动笔上的按键到PH, PH是酸碱度键,对应表上的是8-3.5数值, ALKALINE是碱, ACDIC是酸,数值7基本是中性,数越小说明酸度越大,请根据植物的品种调整土壤酸碱度. LIGHT键是光照度,测量范围0-2000流明,数值越大,说明光照越强,请根据植物的品种来决定是否需要遮阴. 使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极.用完后把电极洗干净.如何分析植物光照强度1. 将功能键拨至左起第二个档位上。2. 手持装置，使装置顶端的细长蜂巢状紫色小窗置于植物顶端叶面位置，将小窗朝向最亮的光源方向。在测试过程中，请避免身体和叶子的阴影遮挡小窗。3. 请记录测试结果（× 1000）及测试时间。4. 请选择上午、中午、下午的中间时刻测试，所得出的数据就是这一时间段的平均光照强度。例如：上午9:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（上午7:00到11:00间的平均光照强度）下午1:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（11:00到下午3:00间的平均光照强度）下午5:00的读数× 4小时= 这一时间段的光照强度（下午5:00到7:00间的平均光照强度）一天的总日照强度= 以上数据之和。单位：Foot-candle hours (烛光距) 1 Foot-candle = 10.7639 Lux (勒克斯)请查阅说明书后的光照要求表。如何分析湿度1. 将功能键拨至左起第三个档位上。2. 将探棒完全插入被测土壤。在测试盆栽土壤时，将探棒插于植物干茎与花盆的中间位置，请不要离植物过近，以免伤及植物根系。3. 读取数据。4. 将探棒从土壤中取出，在进行下一次测试或存贮之前，请用棉布将探棒完全擦净。5. 请不要将探棒长时间插于土壤中，也不要用此装置测试液体，以免对其造成损害。如何分析土壤的pH值1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等。2. 将土壤用水浸透，成泥状。（最好使用雨水或蒸馏水）3. 将功能键拨至最右边的档位上。4. 湿润探棒。用购买时随附的特殊清洁棉片将三个探棒中的最右边一根擦净。5. 将探棒完全插入被测土壤中。6. 等待1分钟即可读取数据。7. 测试结束后，将探棒擦净并晾干。如何使用你的土壤pH值分析计1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等；将土壤用水浸透，调匀成泥状。（最好使用雨水）为了达到较准确的分析结果，你可以从被测土壤中采集一部分土，清除石子及有机碎屑物，然后把土壤碾碎成粉末状，并从中取出2杯的样土；准备一个干净的玻璃或塑料容器，倒入2杯蒸馏水或去离子水，再加入样土，搅拌使他们充分混合并压实，倒掉多余的水。2. 使用购买时随附的清洁棉擦拭探棒约10-12厘米。应小心避免探头接触其它金属表面；再使用棉制品或纸将探棒抹净，每次应从探头擦至探棒尾部。3．将探棒垂直插入湿润的土壤约10-12厘米深；若探棒不容易插入，请换一个新位置重试。任何情况下都不应强行插入探棒，以免损伤探头。4．在指间按顺时针、逆时针方向转动探棒若干次，确认潮湿的土壤表土已在探棒周围分布好；5．等待60秒后读取数据。6．如果测试结果大于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。擦拭探棒后，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次，30秒后读取数据7．如果测试结果小于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。不要擦拭探棒，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次，60秒后读取数据。仪器注意事项- 探棒插在土壤中的时间不宜过长，以免损坏探棒金属表面；- 确认在存放仪器前，探棒应干燥、干净；- 应使探棒远离其他金属物质；此仪器只用于测试土壤，请不要将探棒插入水中。问题及解决方法指针摇摆不定* 石子或有机质影响仪器电极* 土壤样土未完全压实（盆栽和重量较轻的土壤）* 清洁探棒后，有金属颗粒附着探棒* 土壤在探棒周围分布不均匀* 探棒距盆壁或盆底过近* 测试时间离重新装土入盆的时间太近* 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒指针迟钝或没有反映* 需要清洁探棒* 样土过干* 探棒受损极端pH值状态（仅限于盆栽土壤）* 因过量施肥而带来的养分增加* 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 如何测量湿度1．将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时，不要使探棒离植物过近，以免伤及植物根系；2．在探棒插入被测土壤的过程中，你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定，这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果；3．读取结果；4．将探棒从被测土壤中取出，请不要拉、拽白色连接线，以免使用时出现接触不良等故障；5．用棉布将探棒完全擦净，以备下次使用。如何读取结果1．湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求，在此情况下您不需继续浇水；若结果低于规定要求，提醒您应立即浇水。2．浇灌次数（参考说明书）：&mdash * 1周需检查一次&mdash ** 每4到5天需检查一次&mdash *** 3天需检查一次仪器读数表3．特殊水分要求以下数字代表：i 每天向叶面洒水；ii 不要让土壤变干；iii 保持土壤湿润，但不应过于潮湿；iv 土壤应始终保持湿润；v 在浇灌间隙可令土壤变干；vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干；vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量；viii 将水倒入盆栽托盘中；不需洒水在叶子表面。

偏振测试仪确定线偏振片和圆偏振片的偏振方向方便轻巧的手持式设计验证偏振片校准的理想选择在确定 LCD 的偏振方向方面表现出众TECHSPEC® 偏振测试仪适用于确定未知偏振片的不同特性，如线性偏振片的偏振方向和圆形偏振片的旋转方向。这款易于使用的手持式紧凑型工具兼容所有已安装和未安装的偏振片，其中包含设计用于测试线性偏振光，以及左旋和右旋的圆形偏振光的区域。对于圆形偏振片，本测试仪可识别偏振旋转方向，以及延迟器和线性偏振片的位置。TECHSPEC® 偏振测试仪适用于识别正确偏振片，或验证应用中是否精确对准。为获得优良效果，请确保在测试之前将所有保护膜从偏振片上取下。注意:安装偏振测试仪时，建议使用#54-997.产品信息类型波长范围(nm)厚度(mm)透射率(%)长度 (mm)宽度 (mm)产品编码Polarization Tester400 - 7000.7542200.0020.00#37-699

溶出度测试仪配件是一款自动药物溶出度仪,用于测量药物或化学物质在设定温度下的溶解情况，溶出度测试仪配备了蠕动泵和分光光度计，是领先的进口自动溶出度测试仪。溶出度测试仪配件特点六杯六杆,桨杆等采用进口SUS316不锈钢。数字读取提供连续更新的精确轴速度。水浴温度可设定到所需温度。旋转度可无限变化，可设定到任意所需速度。水浴温度均匀。全自动智能化控制温度、转速及时间三个参数。可以随意预置参数；分时显示预置值和实时值。溶出度测试仪配件应用用于药片，胶囊，药丸，固体剂型以及各种药品的溶出度测试，药品质量控制，研发。适合科研院所和制药企业的实验室使用。溶出度测试仪配件参数转速：10-250rpm电力：220V/50Hz安全功能：低水位，过热，防漏电温度：数字温度控制系统加热器：900W重量：62kg孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括溶出度测试仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品.我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务,确保中国用户以极低的成本享受进口优质产品的良好体验。关于溶出度测试仪参数,溶出度测试仪应用,溶出度测试仪特点的更多消息，孚光精仪将在第一时间更新并呈现，想了解更多内容，关注孚光精仪等你来体验！

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Mylar® 迈拉、ROHS测试膜--美国Chemplex-3015# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：3015产品信息：Mylar® 迈拉，厚度6.0μm，直径63.5mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/卷3015 Mylar® 迈拉 6.0 μ 0.00024” 0.24 mil 0.00610 mm 2.5”(63.5mm) 100片

迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、EDX样品膜、X-ray样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、美国Chemplex样品膜-100# 品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO：100产品信息：Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜），卷轴，厚度2.5 μm，宽7.62cm x 长91.4m，1卷/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。一、简介美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性好，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。 二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 三、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/盒Rolls连续卷轴，宽7.6cm x长91.4 m：100 Mylar® 迈拉 2.5 μ 0.00010” 0.10 mil 0.00254mm 7.6cm x91.4 m 1卷

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-3026# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的*球知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性*佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国*利商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号：CAT. NO：3026产品信息：Etnom® ，厚度3.0μm，直径76.2mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/盒 CAT. NO：3026：Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 3.0”(76.2mm) 100片

美国XOS定硫仪Sindie样品杯1850现货耗材删除X荧光分析仪XOS薄膜200335-02耗材删除美国Chemplex XRF薄膜样本支撑窗CAT. No.3014（美国XOS适用）耗材删除XOS定硫仪样品杯200334-1耗材删除XOS定硫仪样品膜200335-1和XOS定硫仪样品杯膜200335-2耗材删除牛津OXFORDx射线光谱仪LAB-X & TWIN-X & X-Supreme样品杯54-CK100耗材删除现货供应日本岛津ROHS环保测试仪器专用迈拉膜（mylay膜）日本进口产品品质保证价格优惠！货号：202-86501-56规格：70mm（直径）6u (厚度）

北京朋利驰科技有限公司生产产品：可燃气体测试仪，接地电阻测试仪，大地网测试仪，土壤电阻率测试仪，等电位测试仪，环路电阻测试仪，回路电阻测试仪，直流电阻测试仪，防雷元件测试仪，浪涌保护器安全巡检仪，智能高压绝缘电阻测试仪，压敏电阻测试仪，标准电阻，感烟探测器功能试验器，感温探测器功能试验器，数字照度计，线型光束感烟探测器滤光片，超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程：0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量，超声波3. 经纬仪√√量程：0-360°，分辨率：2″4. 拉力计√√量程：0-40kgf；指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体：可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流：20mA（正弦波），分辨率：0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流：3A，分辨率：0.001～99.999Ω，频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量，测试电流：20mA（正弦波）分辨率：0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A，四线法测试，分辨率：0.001Ω，具备大容量锂电池；10.环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率：0.001Ω，电流测量分辨率：1μA 11.防雷元件测试仪√√测试器件：MOV，具备大容量锂电池。12.绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13.表面阻抗测试仪√√测量范围：103-1010Ω14.静电电位测试仪√√测量范围：±20kv15.数字万用表√√电压、电流、电阻测量，分辨率：3位半16.防爆对讲机√防爆对讲17.标准电阻√√10-3~105欧姆，功率1/2w，线绕型18.钢卷尺√√分辨率：0.01m19.游标卡尺√√量程：0-150mm20.防雷检测仪器携带箱（选配）●●用于上述设备的存放和携带，内衬激光开模高倍海绵：对仪器提供坚实保护。

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北京朋利驰科技有限公司生产产品：可燃气体测试仪，接地电阻测试仪，大地网测试仪，土壤电阻率测试仪，等电位测试仪，环路电阻测试仪，回路电阻测试仪，直流电阻测试仪，防雷元件测试仪，浪涌保护器安全巡检仪，智能高压绝缘电阻测试仪，压敏电阻测试仪，标准电阻，感烟探测器功能试验器，感温探测器功能试验器，数字照度计，线型光束感烟探测器滤光片，超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程：0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量，超声波3. 经纬仪√√量程：0-360°，分辨率：2″4. 拉力计√√量程：0-40kgf；指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体：可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流：20mA（正弦波），分辨率：0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流：3A，分辨率：0.001～99.999Ω，频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量，测试电流：20mA（正弦波）分辨率：0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A，四线法测试，分辨率：0.001Ω，具备大容量锂电池；10.环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率：0.001Ω，电流测量分辨率：1μA 11.防雷元件测试仪√√测试器件：MOV，具备大容量锂电池。12.绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13.表面阻抗测试仪√√测量范围：103-1010Ω14.静电电位测试仪√√测量范围：±20kv15.数字万用表√√电压、电流、电阻测量，分辨率：3位半16.防爆对讲机√防爆对讲17.标准电阻√√10-3~105欧姆，功率1/2w，线绕型18.钢卷尺√√分辨率：0.01m19.游标卡尺√√量程：0-150mm20.防雷检测仪器携带箱（选配）●●用于上述设备的存放和携带，内衬激光开模高倍海绵：对仪器提供坚实保护。

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、mylar膜、XRF样品膜、迈拉膜、麦拉膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜--美国Chemplex 156#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO：156产品信息：Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜），厚度3.6μm，直径63.5mm，500片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。产品详细信息：SpectroCertified® Thin-Film Sampel SupportsMYLAR® POLYESTER FILMCAT. NO：156Gauge：0.00014”，3.6 μm；0.14mil，35,560ATypical Impurities，PPM：Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex® INDUSTRIES，INC.Contents：500Circles； Lot No：110777。现货供应：XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-425# 品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：425产品信息：polypropylene膜，卷轴，厚度6.0 μm，宽7.6cm x长91.4m，1卷/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性极佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国专利商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/卷 CAT. NO：425：polypropylene 6.0 μ 0.00024” 0.24mil 0.006105 mm 91.4m(76.2mm) 1卷/盒 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

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北京朋利驰科技有限公司生产产品：可燃气体测试仪，接地电阻测试仪，大地网测试仪，土壤电阻率测试仪，等电位测试仪，环路电阻测试仪，回路电阻测试仪，直流电阻测试仪，防雷元件测试仪，浪涌保护器安全巡检仪，智能高压绝缘电阻测试仪，压敏电阻测试仪，标准电阻，感烟探测器功能试验器，感温探测器功能试验器，数字照度计，线型光束感烟探测器滤光片，超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程：0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量，超声波3. 经纬仪√√量程：0-360°，分辨率：2″4. 拉力计√√量程：0-40kgf；指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体：可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流：20mA（正弦波），分辨率：0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流：3A，分辨率：0.001～99.999Ω，频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量，测试电流：20mA（正弦波）分辨率：0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A，四线法测试，分辨率：0.001Ω，具备大容量锂电池；10.环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率：0.001Ω，电流测量分辨率：1μA 11.防雷元件测试仪√√测试器件：MOV，具备大容量锂电池。12.绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13.表面阻抗测试仪√√测量范围：103-1010Ω14.静电电位测试仪√√测量范围：±20kv15.数字万用表√√电压、电流、电阻测量，分辨率：3位半16.防爆对讲机√防爆对讲17.标准电阻√√10-3~105欧姆，功率1/2w，线绕型18.钢卷尺√√分辨率：0.01m19.游标卡尺√√量程：0-150mm20.防雷检测仪器携带箱（选配）●●用于上述设备的存放和携带，内衬激光开模高倍海绵：对仪器提供坚实保护。

北京朋利驰科技有限公司生产产品：可燃气体测试仪，接地电阻测试仪，大地网测试仪，土壤电阻率测试仪，等电位测试仪，环路电阻测试仪，回路电阻测试仪，直流电阻测试仪，防雷元件测试仪，浪涌保护器安全巡检仪，智能高压绝缘电阻测试仪，压敏电阻测试仪，标准电阻，感烟探测器功能试验器，感温探测器功能试验器，数字照度计，线型光束感烟探测器滤光片，超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程：0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量，超声波3. 经纬仪√√量程：0-360°，分辨率：2″4. 拉力计√√量程：0-40kgf；指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体：可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流：20mA（正弦波），分辨率：0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流：3A，分辨率：0.001～99.999Ω，频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量，测试电流：20mA（正弦波）分辨率：0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A，四线法测试，分辨率：0.001Ω，具备大容量锂电池；10.环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率：0.001Ω，电流测量分辨率：1μA 11.防雷元件测试仪√√测试器件：MOV，具备大容量锂电池。12.绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13.表面阻抗测试仪√√测量范围：103-1010Ω14.静电电位测试仪√√测量范围：±20kv15.数字万用表√√电压、电流、电阻测量，分辨率：3位半16.防爆对讲机√防爆对讲17.标准电阻√√10-3~105欧姆，功率1/2w，线绕型18.钢卷尺√√分辨率：0.01m19.游标卡尺√√量程：0-150mm20.防雷检测仪器携带箱（选配）●●用于上述设备的存放和携带，内衬激光开模高倍海绵：对仪器提供坚实保护。

北京朋利驰科技有限公司生产产品：可燃气体测试仪，接地电阻测试仪，大地网测试仪，土壤电阻率测试仪，等电位测试仪，环路电阻测试仪，回路电阻测试仪，直流电阻测试仪，防雷元件测试仪，浪涌保护器安全巡检仪，智能高压绝缘电阻测试仪，压敏电阻测试仪，标准电阻，感烟探测器功能试验器，感温探测器功能试验器，数字照度计，线型光束感烟探测器滤光片，超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程：0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量，超声波3. 经纬仪√√量程：0-360°，分辨率：2″4. 拉力计√√量程：0-40kgf；指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体：可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流：20mA（正弦波），分辨率：0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流：3A，分辨率：0.001～99.999Ω，频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量，测试电流：20mA（正弦波）分辨率：0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A，四线法测试，分辨率：0.001Ω，具备大容量锂电池；10.环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率：0.001Ω，电流测量分辨率：1μA 11.防雷元件测试仪√√测试器件：MOV，具备大容量锂电池。12.绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13.表面阻抗测试仪√√测量范围：103-1010Ω14.静电电位测试仪√√测量范围：±20kv15.数字万用表√√电压、电流、电阻测量，分辨率：3位半16.防爆对讲机√防爆对讲17.标准电阻√√10-3~105欧姆，功率1/2w，线绕型18.钢卷尺√√分辨率：0.01m19.游标卡尺√√量程：0-150mm20.防雷检测仪器携带箱（选配）●●用于上述设备的存放和携带，内衬激光开模高倍海绵：对仪器提供坚实保护。

迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、EDX样品膜、X-ray样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、美国Chemplex样品膜-100#一、品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO：100产品信息：Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜），卷轴，厚度2.5 μm，宽7.62cm x 长91.4m，1卷/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性 ，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/盒Rolls连续卷轴，宽7.6cm x长91.4 m：100 Mylar® 迈拉 2.5 μ 0.00010” 0.10 mil 0.00254mm 7.6cm x91.4 m 1卷

迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X射线荧光膜、土壤样品杯膜、mylar膜--美国Chemplex 250#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO：250产品信息：Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜），卷轴，厚度6.0 μm，宽7.6cm x 长91.4m，1卷/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。产品详细信息：SpectroCertified® Thin-Film Sampel SupportsMYLAR® POLYESTER FILMCAT. NO：250Gauge：0.00024”，6.0 μm；0.24mil，60,960ATypical Impurities，PPM：Ca, P, Sb, Fe, ZnChemplex® INDUSTRIES，INC.ROLL：3” x 300’ (7.6cm x 91.4m)； Lot No：030975。现货供应：XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

XRF样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、Polypropylene聚丙烯-477#现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。品名：XRF样品膜Sample Film型号： CAT. NO：477#产品信息：Polypropylene聚丙烯，厚度12.0 μm，直径63.5mm，1000片/盒 品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性 ，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/盒 Pre-Cut Circles预裁好的圆片,直径63.5mm：477 Polypropylene聚丙烯 12.0 μ 0.00050” 0.50 mil 0.0127mm 直径63.5mm 1000片

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-3026# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。美国Chemplex Industries有限公司从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性极佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号：CAT. NO：3026产品信息：Etnom® ，厚度3.0μm，直径76.2mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/盒 CAT. NO：3026：Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 3.0”(76.2mm) 100片

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-425# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的 知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性ji佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国 商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：425产品信息：polypropylene膜，卷轴，厚度6.0 μm，宽7.6cm x 长91.4m，1卷/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/卷 CAT. NO：425：polypropylene 6.0 μ 0.00024” 0.24mil 0.006105 mm 91.4m(76.2mm) 1卷/盒

北京朋利驰科技有限公司生产产品：可燃气体测试仪，接地电阻测试仪，大地网测试仪，土壤电阻率测试仪，等电位测试仪，环路电阻测试仪，回路电阻测试仪，直流电阻测试仪，防雷元件测试仪，浪涌保护器安全巡检仪，智能高压绝缘电阻测试仪，压敏电阻测试仪 ，标准电阻，感烟探测器功能试验器，感温探测器功能试验器，数字照度计，线型光束感烟探测器滤光片，超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程：0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量，超声波3. 经纬仪√√量程：0-360°，分辨率：2″4. 拉力计√√量程：0-40kgf；指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体：可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流：20mA（正弦波），分辨率：0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流：3A，分辨率：0.001～99.999Ω，频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量，测试电流：20mA（正弦波）分辨率：0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A，四线法测试，分辨率：0.001Ω，具备大容量锂电池；10.环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率：0.001Ω，电流测量分辨率：1μA 11.防雷元件测试仪√√测试器件：MOV，具备大容量锂电池。12.绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13.表面阻抗测试仪√√测量范围：103-1010Ω14.静电电位测试仪√√测量范围：±20kv15.数字万用表√√电压、电流、电阻测量，分辨率：3位半16.防爆对讲机√防爆对讲17.标准电阻√√10-3~105欧姆，功率1/2w，线绕型18.钢卷尺√√分辨率：0.01m19.游标卡尺√√量程：0-150mm20.防雷检测仪器携带箱（选配）●●用于上述设备的存放和携带，内衬激光开模高倍海绵：对仪器提供坚实保护。

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Prolene膜、ROHS测试膜、XRF有方形托架的圆片薄膜--美国Chemplex--3019# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性好，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：3019产品信息：polypropylene膜，厚度6.0μm，直径63.5mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/卷 CAT. NO：3019polypropylene 6.0 μ 0.00024” 0.24mil 0.00610 mm 63.5mm 100片/盒

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Etnom® 、ROHS测试膜--美国Chemplex-425# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性极佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：425产品信息：polypropylene膜，卷轴，厚度6.0 μm，宽7.6cm x 长91.4m，1卷/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/卷 CAT. NO：425：polypropylene 6.0 μ 0.00024” 0.24mil 0.006105 mm 91.4m(76.2mm) 1卷/盒