表面阻抗测试仪适用于哪个标准

各台仪表的输入阻抗特性相差很大，但通常可把它们分为两类：高阻抗和系统阻抗。 1、离阻抗输入 设计高阻抗输入，可将负载影响减至最小，使被测电路至测量仪表的电压转移最大，这可使仪表的输入阻抗远大于电路的阻抗来达到。仪表输入阻抗的典型值在10kΩ和1MΩ之间。对于用在高频下的仪表，输入两端的电容很重要，通常仪表的使用手册会加以说明。 2、系统输入阻抗 许多电子系统有特定的系统阻抗，如50Ω（下图）假设系统的全部输入、输出、电缆和负载具有相同的电阻阻抗，那么，总能传送最大的功率。在高頻条件下（约大于300MHz），杂散电容和输送线的影响使得这样才是唯一的一类实用系统，系统阻抗常称恃性阻抗，并用符号Z。[align=center][img=gooxian-阻抗系统-1]http://www.gooxian.com/Storage/master/gallery/201710/20171010112137_1290.jpg[/img][/align] 在音频条件下，恒定的系统阻抗不是必需遵循的条件，但也常常遵循。许多应用中，使源电路为低阻抗（低于100Ω）、全部负载电路为高阻抗（大于1kΩ）就足够了。这样可获得最大输出电压（这里讲的是将功率输出放在其次）。某些音频系统保持系统阻抗为600Ω，这种系统用于实验为多，电话中也使用。 对于射频，50Ω是用得最多的通用阻抗。这一阻抗可易于保持，且不受分布电容影响。50Ω是容易实现的，诸如业余的和商业射频发射机、发射天线、通信滤波器[url=http://www.hyxyyq.com][color=#ffffff].[/color][/url]以及射頻测试设备通常都有50Ω的输入和输出阻抗。在射頻范围，居50Ω之次的就是75Ω阻抗。在射频范围，这一阻抗也用得很广泛，特别是与视频有关的应用中，如电视电缆就是用75(1阻抗。当进行电子测量时，作为特殊需要还可能遇到其他系统阻抗。 当测量这类系统时，系统中许多可测点都以系统阻抗（Z0）为负载。因此，许多仪表有标准的输入阻抗值（标准的为50Ω）。当测量时，这种仪表可与系统相接，起着50Ω负载的作用。

比表面是比表面积的简称。根据实际需要，比表面积分为内比表面积、外比表面积、和总比表面积；通常未注明情况下粉体的比表面积是指单位质量粉体颗粒外部表面积和内部孔结构的表面积之和，单位m2/g。粉体材料越细，表面不光滑程度越高，其比表面积越大。由于纳米材料细度很高，一般具有比较大的比表面积；吸附剂催化剂炭黑等材料的效能与比表面积关系密切，一定效能需要一定范围的比表面要求；但并不是比表面积越大，就粉体质量越好。例如在要求粉体球形度的情况下，粒度相当的粉体材料，比表面越大，球形程度就越差。比表面积和粒径（粒径一般用中位径或目数来表示）是两个概念，没有必然联系，同样目数的两个产品不等于他们拥有相同的比表面积，也依赖与其表面光滑程度和孔结构。比表面积研究和相关数据报告中，只有采用BET方法检测出来的结果才是真实可靠的，因为国内外制定出来的比表面积标准都是以BET测试方法为基础的。(GB.T 19587-2004)-气体吸附BET原理测定固态物质比表面积的方法，而通过粒度仪估算出的比表面积通常差距都很大，无法反映实际情况。比表面积测试有专用的比表面积测试仪。 比表面分析仪是用来检测颗粒物质比表面积的专用设备，目前在高校、科研单位及生产企业中被广泛实用，比表面积是衡量物质特性的重要参量，其大小与颗粒的粒径、形状、表面缺陷及孔结构密切相关；同时，比表面积大小对物质其它的许多物理及化学性能会产生很大影响，特别是随着颗粒粒径的变小，比表面积成为了衡量物质性能的一项非常重要参量，如目前广泛应用的纳米材料。比表面积大小性能检测在许多的行业应用中是必须的，如电池材料，催化剂，橡胶中碳黑补强剂，纳米材料等。 目前国内外比表面积测试统一采用多点BET法，国内外制定出来的比表面积测定标准都是以BET测试方法为基础的，请参看我国国家标准（GB/T 19587-2004）-气体吸附BET原理测定固态物质比表面积的方法。比表面积检测其实是比较耗费时间的工作，由于样品吸附能力的不同，有些样品的测试可能需要耗费一整天的时间，如果测试过程没有实现完全自动化，那测试人员就时刻都不能离开，并且要高度集中，观察仪表盘，操控旋钮，稍不留神就会导致测试过程的失败，这会浪费测试人员很多的宝贵时间。真正完全自动化智能化比表面积测试仪产品，才符合测试仪器行业的国际标准，同类国际产品全部是完全自动化的，人工操作的仪器国外早已经淘汰。真正完全自动化智能化比表面积分析仪产品，将测试人员从重复的机械式操作中解放出来，大大降低了他们的工作强度，培训简单，提高了工作效率。真正完全自动化智能化比表面积测定仪产品，大大降低了人为操作导致的误差，提高测试精度。 精微高博(JWGB)是当代中国著名的粉体表面特性测试技术的开创者。十年来，精微高博(JWGB)的科学家革新了测试技术并设计发明了相应的物性测试仪器，使粉体及多孔材料的测试更精确、更精密、更可靠。这包括： • 比表面测试• 吸附/脱附等温线• 孔隙度、介孔与微孔孔径分布•粉体真密度•精微高博(JWGB)具有代表性的仪器： -连续流动色谱法智能型比表面分析仪 ---- JW-DA -多站静态容量法比表面及孔隙度分析仪 ---- JW-BK -静态容量法超微孔孔径分布测试仪—— JW-BK-F