线材测试仪工作原理

粒度测试仪原理简介HMK-200空气喷射筛是一款用来测量粉体粒度分布的实验室用气流筛分仪器，由操作面板、筛盘、标准筛、喷嘴、电机及吸尘器组成。通过7寸液晶显示屏进行控制，实时显示仪器的工作状态。本仪器可以通过RS-232接口与电子称相连。内置微处理器可以对结果进行自动计算。仪器生产厂家与供应商为丹东汇美科仪器有限公司。型号为HMK-200的空气喷射筛分法气流筛分析仪采用国际先进200LS-N空气喷射筛分技术设计制造，仪器的主要参数性能与外国进口设备保持一致，而且该仪器价格合理，配套服务完善。汇美科已经成为世界实验室粒度气流筛分析及采购好品牌。工作原理具有专利技术的喷嘴将吸尘器产生的负压转化成动能，驱动粉体上升并与筛盖相碰撞，去除聚合颗粒的粉体继而被负压吸向标准筛。较大颗粒被留在筛网上面，较小颗粒被吸入吸尘器，从而实现对粉体的理想筛分。技术参数测量范围：5-5,000 um筛分量：0.1-2,000 g标准筛直径：200 mm/75 mm喷嘴旋转速度：低、中、高或者0-35 rpm无级变速可调计时范围：固定模式2-10 min任选或者持续模式切换气压范围：0-10 Kpa喷嘴间隙：2 mm仪器尺寸：58x35x35 cm电压：220 V/50 Hz/25 W重量：14.8 Kgs产品特点7寸大屏，液晶显示，触屏点击精确控制筛分操作。负气压筛前标定，筛中实时监测，并可实时调节，保证筛分精度。喷嘴转速在合理区间内可任意设定，并可选中低高速，提高效率。筛分时间在常规时间内任选，并可设定循环筛分模式，方便操作。世界先进开筛(Open Mesh)功能，有效防止近筛颗粒堵塞筛网。筛分结束后自动计算出筛下物料百分比。国际先进的样品收集装置，使筛下颗粒收集率可达99.99%应用领域常规筛析无法分析的干粉体：粉体质量轻粉体易静电颗粒易团聚被广泛应用于筛分以下粉末：医药、面粉、调味料化学物质粉末水泥、石墨、煤灰、涂料、陶土粉树脂、橡胶、塑料等空气喷射筛 200LS-N空气喷射筛 中国药典2015粒度空气喷射筛 德国alpine空气喷射筛 气流筛分仪 德国阿尔派气流筛分仪 振动筛分仪 实验筛分仪 筛分粒度仪 振荡筛分仪汇美科简介 作为中国颗粒学会的会员，汇美科一直为颗粒相关物理特性的表征而努力探索着。 汇美科自1997年以AimSizer品牌开始运作，目标瞄准国际高端粒度测试仪器市场。以AS-2011激光粒度仪(AimSizer AS-2011 Laser Particle Size Analyzer)为主打产品，目前在世界市场上激光粒度仪的保有量超过10000台。 2004年以后，随着不断接触国际客户，汇美科不断得到国际用户在粒度方面的急切诉求。因为在粒度领域，有一些粉体是激光粒度仪所无法测量的。汇美科积极参照国际标准，与国际知名专家进行合作及技术升级，又开发出适应国际高端市场的HMK-22费氏平均粒度仪、HMK-200经济型与智能触屏型空气喷射筛分仪、SIEVEA 502电磁振动筛分仪等等。国际粒度用户的一直满意是推动汇美科前行的持续力量。为了应对多品种仪器大生产的趋势，汇美科创立 HMKTest 品牌。 在满足粒度市场的同时，汇美科在流动性测试方面投入了资本进行研究，成功开发出世界第1台AS-300A全自动霍尔流速计，国际保有台数达到10000台。除此之外，汇美科又相继开发出HMKFlow 329安息角测定仪、HMKFlow 6393卡尔指数综合特性测定仪等等，更全面地满足了用户在流动性测试方面的要求。 密度仪也是汇美科擅长的领域。汇美科的密度仪涵盖振实密度仪与松装密度仪。振实密度仪方面汇美科不断推陈出新，开发出了目前世界上最.先.进的LABULK 0335四代全智能触屏振实密度仪，扭转了振实密度测试领域长期使用不符合国际标准的或长期使用简单低效振实密度仪的局面。松装密度仪方面，汇美科创立LABULK品牌，坚持质量及标准方面从高、从严要求，小仪器，大心意。汇美科所生产的松装密度仪在全世界种类最多，质量zui好，客户zui多，国际市场保有量在20000台以上。 2018是个开始，汇美科全面进军中国国内市场，在国内设立丹东汇美科仪器有限公司(Dandong HMKTest Instrument Co.,Ltd.)，开始以一般纳税人生产企业的身份为国际跨国公司在中国设立的工厂及广大国内客户提供各种仪器及产品。二十年前，汇美科走出去了，在国际市场上为中国仪器赢得了尊重，二十年后，汇美科领进来了，一大批国际专家与学者，国际先进的管理经验，完全依国际标准制做的各类仪器。 丹东汇美科仪器有限公司是一家在物质表征领域内的中国科学仪器生产商，是一家科技生产企业。是中国生产粉体物理特性测试仪器等高科技产品的科技企业之一。为了做大做强，公司的经营范围扩展到更多的粉体测试仪器。通过不断的技术研发与合作，汇美科的业务涉及到粉体工业领域的方方面面。凭着准确耐用的性能、与国际接轨的先进技术、依托诚实守信的商业操守，汇美科得到了用户的肯定和支持，使得公司业务连年持续扩展。由不知晓到初步了解，由相始之初到坦诚交流，由商业伙伴到密切合作，汇美科已经成为国内外物理特性设备采购领域中的大品牌。 汇美科生产销售粒度仪系列、流动性测定仪系列、松装密度仪系列、实验室样品制备系列、药片检测系列等五大系列近百种产品，每种产品都经国内外客户的现场检验，欢迎各界朋友前来洽谈合作。相关产品HMK-200智能型空气喷射筛分法气流筛分仪LABULK 0335智能触屏振实密度仪HMKFlow6393粉体综合特性测试仪HMKFlow329休止角测定仪与安息角测试仪HMK-2001旋转分样仪AS-300A全自动智能霍尔流速计HMK-22美国费氏法平均粒度测定仪AS-2011激光粒度分布仪

线材高低温测试需要什么设备? 线材高低温试验箱 主要是针对于电工、电子产品，以及其原器件，及其它材料在高温、低温、湿热的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。 主要用于对产品按照国家标准要求或用户自定要求，在低温、高温、高温高湿条件下，对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试，测试后，通过检测，来判断产品的性能，是否仍然能够符合预定要求，以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。主要特征:线材高低温测试需要什么设备? 线材高低温试验箱 特点：　　◆箱体内胆采用不锈钢板制成，外壳采用钢板喷塑　　◆具有随温度的设定数值自动选择运转制冷回路的功能，操作简单　　◆独特的BTC平衡调温方式，稳定平衡的加热能力，调节理想温度环境，进行高精度高稳定的温度控制　　◆设有观察窗，照明灯，可随时观察样品情况　　◆控制系统：原装进口高精密数显仪表，进口执行元器件　　线材高低温测试需要什么设备? 线材高低温试验箱 动态产品参数　　◆型号：AP-GD-80　　◆温度范围：高温:150℃/低温:（A：+25℃；B：0℃；C：-20℃；D：-40℃；E：-60℃；F：-70℃）　　◆内箱尺寸(W*H*D) 40×50×40cm　　◆外箱尺寸(W*H*D) 120×165×115cm线材高低温测试需要什么设备? 线材高低温试验箱 设备使用条件：　　◆环境温度：5℃～＋28℃(24小时内平均温度≤28℃)　　◆环境湿度：≤85%R.H　　◆操作环境需要室内通风良好,机器放置前后左右各80公分不可放置东西 　　　　售后服务　　1、安装、调试、培训：免费负责安装调试，并安排工程师对购买方相关人员进行相应产品的技术培训；　　2、保修维护：机台免费保修期为机台验收合格之日起24个月，除人为损坏外报价方对产品质量问题全部免费维修、维护；超过免费保固期,报价方提供之服务为有偿服务,收取基本零配件、人工、车马成本费；报价方为客户方提供产品终身维护服务；　　3、服务响应：在保修期内，乙方在接到甲方电话通知后，安排技术人员在24小时内上门服务，并在两天内修复，否则乙方应向甲方提供备用机。保修期内，乙方应按厂家标准保修条款执行，保修期内由乙方提供免费上门服务。

少子寿命测试仪性能参数？ 测量原理 QSSPC（准稳态光电导） 少子寿命测量范围 100 ns-10 ms 测试模式：QSSPC,瞬态，寿命归一化分析 电阻率测量范围 3&ndash 600 (undoped) Ohms/sq. 注入范围：1013-1016cm-3 感测器范围 直径40-mm 测量样品规格 标准直径: 40&ndash 210 mm （或更小尺寸） 硅片厚度范围 10&ndash 2000 &mu m 外界环境温度 20° C&ndash 25° C 功率要求 测试仪: 40 W 电脑控制器：200W 光源：60W 通用电源电压 100&ndash 240 VAC 50/60 Hz -------------------------------------------------------------------------------- 少子寿命测试仪成功使用用户？ 江苏，上海，北京，浙江，西安，四川，河北，河南等地的硅料生产企业及半导体光伏拉晶企业等等。 一、采购项目名称：硅片少子寿命测试系统、溶剂净化系统等 二、采购代理机构 ：杭州求是招标代理有限公司 三、确定成交日期：2010年11月16日 四、本项目公告日期： 2010年11月4日、11月5日 五、项目成交单位： 硅片少子寿命测试系统(z9264)：上海瞬渺光电技术有限公司 -------------------------------------------------------------------------------- 相关资料下载 少子寿命测试仪一款功能强大的少子寿命测试仪，不仅适用于硅片少子寿命的测量，更适用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1&mu s到6000&mu s，硅料电阻率下限达0.1&Omega .cm(可扩展至0.01&Omega .cm)。测试过程全程动态曲线监控，少子寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况，是原生多晶硅料及半导体及太阳能拉晶企业不可多得少子寿命测量仪器。 少子，即少数载流子，是半导体物理的概念。 它相对于多子而言。 　　半导体材料中有电子和空穴两种载流子。如果在半导体材料中某种载流子占少数，导电中起到次要作用，则称它为少子。如，在 N型半导体中,空穴是少数载流子，电子是多数载流子；在P型半导体中,空穴是多数载流子,电子是少数载流子。 　　多子和少子的形成:五价元素的原子有五个价电子，当它顶替晶格中的四价硅原子时，每个五价元素原子中的四个价电子与周围四个硅原子以共价键形式相结合，而余下的一个就不受共价键束缚，它在室温时所获得的热能足以便它挣脱原子核的吸引而变成自由电子。出于该电子不是共价键中的价电子，因而不会同时产生空穴。而对于每个五价元素原子，尽管它释放出一个自由电子后变成带一个电子电荷量的正离子，但它束缚在晶格中，不能象载流子那样起导电作用。这样，与本征激发浓度相比，N型半导体中自由电子浓度大大增加了，而空穴因与自由电子相遇而复合的机会增大，其浓度反而更小了。 　少子浓度主要由本征激发决定，所以受温度影响较大。 少数载流子寿命(简称少子寿命)是半导体晶体硅材料的一项重要参数,它对半导体器件的性能、晶体硅太阳能电池的光电转换效率都有重要的影响.分别介绍了常用的测量晶体硅和晶体硅太阳电池少子寿命的各种方法,包括微波光电导衰减法(MW-PCD),准稳态光电导方法(QSSPC),表面光电压(SPV),IR浓度载流子浓度成像(CDI),调制自由载流子吸收(MFCA)和光束(电子束)诱导电流(LBIC,EBLC) 少子寿命是描述半导体 材料特征方程的基本参数之一,对器件特性的精确描述起着重要作用,特别是对以PN结为基本结构的器件,额外载流子的产生与复合在PN结的状态转换过程中起着决定性的作用,因而少子寿命是决定PN结型器件工作特性的关键材料参数之一。 　　太阳电池的转换效率主要依赖于基区的少子寿命.少子寿命越长光照产生的过剩载流子越可能到达PN结,受PN结电场分离后对外产生光电流,同样由于暗电流的降低可增加太阳电池的开路电压,所以大部分生产商都在生产前检验原始材料的一些关键性参数,光伏工业生产中最常见的测试就是少子寿命的测试,通过对原始材料的寿命测量预测成品太阳电池的效率。 　　少子寿命测试仪采用微波光电导衰减法（ASTM国际标准-1535）的测试原理，提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试，主要是通过904nm波长的激光激发出硅片,硅棒或硅锭体内的非平衡载流子，再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化，从而判断该硅片,硅棒或硅锭的缺陷、沾污情况。该设备主要应用于硅棒，硅片的出厂、进厂检查，生产工艺过程的沾污检测等。特别是在太阳能领域，少子寿命将直接关系到成品电池的效率，是必备的检测手段。 　　少子寿命测量仪可测量半导体的少子寿命。少子寿命值反映了太阳电池表面和基体对光生载流子的复合程度，即反映了光生载流子的利用程度。少子寿命是半导体晶体硅材料的一项关键性参数，它对晶体硅太阳能电池的光电转换效率有重要的影响，可以说硅电池的转化效率和少子寿命成正向相关对应关系。 　　少子寿命测量仪采用微波光电导衰减法（SEMI国际标准-1535）的测试原理，即通过激光激发出硅体内的非平衡载流子，再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化，从而计算出少子寿命值，为半导体提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试。该仪器测量少子寿命的精度达到ns级，分辨率达1％，测试结果准确性好、重复性高，完全能满足太阳能级硅电池的少子寿命测试。目前该方法是最受市场接受的少子寿命测试方法 主要特点: 　　适应低电阻率样片的测试需要，最小样品电阻率可达0.1ohmcm 　　全自动操作及数据处理 　　对太阳能级硅片，测试前一般不需钝化处理 　　能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭 　　可以选择测试样品上任意位置 　　能提供专利的表面化学钝化处理方法 　　对各道工序的样品均可进行质量监控： 　　硅棒、切片的出厂、进厂检查 　　扩散后的硅片 　　表面镀膜后的硅片以及成品电池常见问题： WT-2000与WCT-120测少子寿命的差异？ WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC准稳态光电导）而WT2000是微波光电导。 WCT-120准稳态光电导法测少子寿命的原理？ WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC准稳态光电导） 准稳态光电导衰减法（QSSPC）和微波光电导衰减法（MWPCD）的比较？ QSSPC方法优越于其他测试寿命方法的一个重要之处在于它能够在大范围光强变化区间内对过剩载流子进行绝对测量，同时可以结合 SRH模型，得出各种复合寿命，如体内缺陷复合中心引起的少子复合寿命、表面复合速度等随着载流子浓度的变化关系。 MWPCD方法测试的信号是一个微分信号，而QSSPC方法能够测试少子寿命的真实值，MWPCD在加偏置光的情况下，结合理论计算可以得出少子寿命随着过剩载流子的变化曲线，而QSSPC直接就能够测得过剩载流子浓度，因此可以直接得出少子寿命与过剩载流子浓度的关系曲线，并且得到PN结的暗饱和电流密度；MWPCD由于使用的脉冲激光的光斑可以做到几个到十几个，甚至更小的尺寸，在照射过程中，只有这个尺寸范围的区域才会被激发产生光生载流子，也就是得到的结果是局域区域的差额寿命值，这对于寿命分布不均匀的样品来说，结果并不具备代表性。