激光对中仪的原理

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激光对中仪的原理相关的仪器

  • SJ6000中图高精度单频激光干涉仪集光、机、电、计算机等技术于一体,可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下,可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测,以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析,如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。工作原理激光干涉仪利用激光光束的干涉原理来测量物体的形状和表面的高度差异。其原理是基于两束相干光在空间交叉的地方发生干涉,形成干涉条纹,通过测量干涉条纹的变化来推断被测量物体的参数。测量原理激光干涉仪的测量原理主要包括相位测量和位移测量。相位测量是通过测量干涉条纹的相位差来计算被测量物体的形状、位置等参数;位移测量是通过测量干涉条纹的位移来确定物体的位移量。这两种测量原理在不同应用场景下有着各自的优势和适用性。产品功能(1)可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量;(2)可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等,以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等;(3)可实现对机床回转轴的测量与校准;(4)可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表,为设备误差修正提供依据; (5)具有动态测量与分析功能,包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等,可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等;(6)支持手动或自动进行环境补偿。高精度性能特点SJ6000中图高精度单频激光干涉仪以干涉技术为核心,其光波可直接对米进行定义。SJ6000中图高精度单频激光干涉仪采用激光双纵模热稳频技术,可实现高精度、抗干扰能力强、长期稳定性好的激光频率输出;采用高精度环境补偿模块,可实现激光波长和材料的自动补偿;干涉镜与主机分离设计,避免干涉镜受热影响,保证干涉光路稳定可靠。在机床领域的应用激光干涉仪是一种能够测量机床精度的高精度测量装置。它利用激光干涉现象来实现非接触式测量,具有高精度、高分辨率、快速测量等优点,在机床加工领域有着广泛的应用。1.测量机床导轨的直线度和平行度。 导轨是机床中的重要零部件,直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差,从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹,可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态,并及时进行调整和修正,确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹,可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求,从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用,激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系,从而检测和纠正机床的装配误差。此外,激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况,及时发现机床的故障和异常状态,保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿部分技术规格稳频精度0.05ppm动态采集频率50 kHz预热时间≤ 6分钟工作温度范围(0~40)℃存储温度范围(-20~70)℃环境湿度(0~95)%RH线性测量距离(0~80)m (无需远距离线性附件)线性测量精度0.5ppm (0~40)℃角度轴向量程(0~15)m角度测量精度±(0.02%R+0.1+0.024M)″平面度轴向量程(0~15)m平面度测量精度±(0.2%R+0.02M2)μm (R为显示值,单位:μm;M为测量距离,单位:m)直线度轴向量程短距离(0.1~4.0)m 长距离(1.0~20.0)m直线度测量精度短距离±(0.5+0.25%R+0.15M2) μm长距离±(5.0+2.5%R+0.015M2) μm垂直度轴向量程短距离(0.1~3.0)m 长距离(1.0~15.0)m垂直度测量精度短距离±(2.5+0.25%R+0.8M)μm/m 长距离±(2.5+2.5%R+0.08M)μm/m注意事项:平面度测量配置需求:平面度镜组+角度镜组 平行度测量配置需求:依据轴向量程范围,选择相应直线度镜组即可短垂直度测量(0.1~3.0)m配置需求:短直线度镜组+垂直度镜组长垂直度测量(1.0~20.0)m配置需求:长直线度镜组+垂直度镜组直线度附件:主要应用于Z轴的直线度测量和垂直度测量恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。
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  • 量子级联激光器的工作原理与通常的半导体激光器截然不同,它打破了传统p-n结型半导体激光器的电子-空穴复合受激辐射机制,其发光波长由半导体能隙来决定。QCL受激辐射过程只有电子参与,其激射方案是利用在半导体异质结薄层内由量子限制效应引起的分离电子态之间产生粒子数反转,从而实现单电子注入的多光子输出,并且可以轻松得通过改变量子阱层的厚度来改变发光波长。美国Pranalytica公司是杰出的中波红外(MWIR)和长波红外(LWIR)的量子级联激光器生产商,其产品主要应用于国防,军工和商用市场以及探测领域。其产品主要特点为输出功率高,性能稳定。是美国国防部指定合作厂商。产品特点 单个发光器件功率可达4W波长可选从3.6μm到12μm单激光器件宽谱输出,单激光器件窄谱单频输出,多器件多波长合束输出大范围调谐:高达6μm军工品质 产品列表 多波长合束系列多波长合束输出量子级联激光器单波长系列宽谱连续波输出量子级联激光器宽谱脉冲输出量子级联激光器单频连续波输出量子级联激光器窄谱连续波/脉冲输出量子级联激光器波长可调谐系列单波长可调谐量子级联激光器多波长可调谐量子级联激光器
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  • 详细信息一、产品描述SJ5180激光测长机采用高精度激光测量系统、精密研磨导轨、高精度温度环境补偿系统、双向恒测力系统、高性能计算机控制系统技术,实现各种长度参数的高精度测量。通过高精密研磨导轨保证测量行走的高稳定性及直线度,采用激光测量系统记录接触测量中长度方向坐标,由计算机将数据与测倾装置、测力装置、温度传感器的反馈数据进行合成,按被测件参数的相关定义及公式进行分析,计算获得相关长度参数。操作者装好被测件,在检测软件上选择被测件的标准和输入被测件的规格等参数后,移动头座接触被测件,调整五轴工件平台及头尾座找到拐点,采样完成得到当前测量数据,系统可以实时显示测量结果,自动计算出被测件的各项参数(如检测螺纹规,则可换算显示出螺纹中径),并根据系统内置的标准数据库对被测件的各项参数进行合格判定,整个测量过程不超过3分钟,检测结束后自动生成检定结果。仪器测量原理符合《GB/T28703-2012圆柱螺纹检测方法》、JJF1345-2012圆柱螺纹量规校准规范、JJG146-2011量块检定规程、JJG21-2008千分尺检定规程、JJG22-2003内径千分尺检定规程、JJF1207-2008三针/针规检定规范、JJG62-2007塞尺检定规程等长度检定规程规范。系统软件为简体中文操作系统,操作方便。二、产品功能1.检测环规、塞规、卡规、校准杆、螺纹规、花键规(选配)、尺类(选配)、表类(选配)等以及各种精密内外尺寸;2.检测各种类国标(GB)、ISO(国际)、BS(英制)、ANSI(美标)、DIN(德标)、JIS(日标)量规。国内最全面、最专业的量块、量规、螺纹规、尺类、表类、校准杆、卡规等及其它标准数据库,满足国内客户需求;3.满足多种检定规程、标准,根据规程、标准自动进行检测结果判定;4.界面友好,更符合中国用户操作习惯;5.测量记录采用集中式数据库管理,可按被测件类型、生产单位、出厂编号、检定员、送检单位、设备编号、检定日期和有效日期等查询和管理检定记录;6.可从数据库中选定多条记录成批打印检定记录或者检定证书;7.可将检定数据输出到Word、Excel、AutoCAD(选配)文档;8.具有数据备份和还原数据库功能;9.输出多种Word格式报表,并支持完全的自定义报表,定制检定记录报表和检定证书的格式,特别适合国内计量机构对报表方面的要求;10.可根据客户需求定制检定标准(选配)。三、性能特点1.全程绝对测量:采用激光作为长度方向定位,可进行高精度全行程绝对测量。2.系统符合阿贝原理,无阿贝误差:采用激光作为长度方向定位,激光与测量轴基本在同一轴线,符合阿贝原理,基本消除了阿贝误差。3.高精度、高稳定性:1)国际领先的高精度激光测量系统,线性测量精度达到0.5PPM,分辨力达到0.01μm,测量精度极高;2)国际领先的精密研磨导轨系统,导轨直线度极高,导轨材料耐磨性好、保证系统高精度稳定可靠的工作;3)进口特殊材料制作的高刚性、无变形测杆,保证测试数据的真实采集;4)采用大理石基座,保证了在头座及五轴工作台的移动过程中不会产生变形以及仪器不受外界震动干扰,保证了仪器的稳定可靠;5)采用紧凑型摩擦驱动结构,保证了头座移动过程中的稳定性。4.双向恒测力:1)双向恒测力系统,减小了测力对测量结果的影响,保证了较高的系统测量精度;2)测力手动连续可调;3)测力传感器原理避免了仪器台面不水平及周围环境振动带来的测力误差。5.智能化管理与检测软件系统:1)仪器操作界面友好,操作者很容易即可基本掌握仪器操作,使用十分简便;2)10多年积累的实用检定软件设计经验,向客户提供简洁、实用、快速的操作体验;3)集成众多长度标准、规程,功能强大、自动处理数据、打印各种格式的检定报告,自动显示、打印、保存、查询检定记录;4)测量范围广,可满足绝大多数类型的量规、量块等长度参数测量;5)软件配备快速找拐点指示功能,方便客户快速便携地找到被测件的拐点;6)纯中文操作软件系统,更好的为国内用户服务;7)打印格式正规、美观。检定数据可存档,或集中打印,不占用检定操作时间;8)本仪器采用计算机大容量数据库储存,可自动记录保存所有检定结果。6.高性能五轴工作台:1)X,Y,Z三轴采用高性能交叉滚子导轨:摩擦力极小,稳定性好,承载高;2)Y轴平移、倾斜、水平旋转设计了高调节细度的结构,方便客户更好地找到三个轴的拐点;3)Z轴可配置数显装置,用于螺距显示。7.高性能螺纹环规测量装置:配置高性能螺纹环规测量装置,可测量小螺纹环规,可完成小直径光面环规检测;测量力由软件选择可选0.3N或0.5N;、
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激光对中仪的原理相关的方案

  • 激光粒度仪在色釉料行业中的应用
    本文简述了激光粒度仪的原理和结构,指出了它的性能特点和对色釉料行业的适用性,举例说明了它在色釉料日常生产性测试和研发性测试中的作用,最后探讨实际应用中遇到的问题和及其解决办法。关键词:色釉料,激光,粒度,测试
  • 激光干涉仪精确测量的局限性
    激光干涉测试方法常用于高精度测量和定位,这是由于这种方法具有较高的测量分辨率和精度,甚至可以用于大尺寸范围的测量。本文重点讨论了外差式和单频式干涉仪的基本原理,并进行了相应的计量分析来描述激光干涉法的优势和局限性。本文还讨论了光纤耦合式微型干涉仪的设计和功能,以及在显微技术、纳米技术和高精度机电一体化等方面的广泛应用。
  • 用激光粒度仪测量D0和D100的讨论
    D0表示粉体粒度的最小粒径,D100表示粉体粒度的最大粒径,这两个值是粉体粒度的两端极限边界值——极值。对粉体粒度分布规律来看,极值颗粒是最少的,可能只有几个甚至1个。那么激光粒度仪能不能测量测粉体粒度的极值呢?答案是否定的,一是取样代表性上受到限制,二是激光粒度测量原理上不可行。在激光粒度仪中测出的D0或D100不具有真实意义,也不具有比较意义。一般用D3和D97来代表粉体的粒度极值。

激光对中仪的原理相关的论坛

  • 激光粒度仪的测试原理

    激光粒度仪一般采用米氏散射原理。米氏散射理论是对处于均匀介质中的各向均匀同性的单个样品,在单色平行光照射下的Maxwell方程边界条件的严格数学解;当微粒半径的大小接近于或者大于入射光线的波长时,大部分的入射光线会沿着前进的方向进行散射,这种现象被称为米氏散射。与其他光学散射理论相比,米式散射的程度跟波长是无关的,而且光子散射后的性质也不会改变,因此在测量精度要求高的测试仪器中应用广泛。济南微纳等激光粒度仪生产厂家都是采用的这种原理~

  • 【资料】激光测距的测量原理

    1.利用红外线测距或激光测距的原理是什么? 测距原理基本可以归结为测量光往返目标所需要时间,然后通过光速c = 299792458m/s 和大气折射系数 n 计算出距离D。由于直接测量时间比较困难,通常是测定连续波的相位,称为测相式测距仪。当然,也有脉冲式测距仪,典型的是WILD的DI-3000需要注意,测相并不是测量红外或者激光的相位,而是测量调制在红外或者激光上面的信号相位。建筑行业有一种手持式的测距仪,用于房屋测量,其工作原理与此相同。2.被测物体平面必须与光线垂直么? 通常精密测距需要全反射棱镜配合,而房屋量测用的测距仪,直接以光滑的墙面反射测量,主要是因为距离比较近,光反射回来的信号强度够大。与此可以知道,一定要垂直,否则返回信号过于微弱将无法得到精确距离。3.若被测物体平面为漫反射是否可以? 通常也是可以的,实际工程中会采用薄塑料板作为反射面以解决漫反射严重的问题。4.超声波测距精度比较低,现在很少使用。

激光对中仪的原理相关的耗材

  • LMP激光雨滴谱仪
    LMP激光雨滴谱仪可以用来测量降雨和降雪。不仅对降雨降雪过程进行监测而且对降雨降雪的特性可以进行详细分析。可以监测区分下落中的毛毛雨、大雨、冰雹、雪花、雪球以及各种介于雪花和冰雹之间的降水。可以计算各种降雨类型的强度、总量、能见度,所有的数据都以RS485协议传输,再通过协议转换器转接到其它设备。 LMP激光雨滴谱仪广泛应用于交通控制、气象监测与服务、科学研究、机场观测、公路气象监测、水文地理学、气象雷达数据校正等应用领域。LMP激光雨滴谱仪几乎不需要保养,它的光学配件性能优越,可以工作在各种恶劣的环境中。激光发射器可以保证长时间的正常使用。特殊的工艺设计排除了外在光源对测定的影响,通过多方面的精心设计对环境的温度和尘土对测定带来的误差作了可靠的补偿。系统具有额外接口,还可以连接风速传感器、风向传感器、温湿度传感器等,所有的数据可通过激光雨滴谱仪的数据接口一起输出。测量原理:应用激光原理对高速运动物体进行测定。可测定运动物体的总量,大小,强度,和运动速度。它的优越性能尤其表现在对微小物体的测定,测定对象最小直径达到0.16mm。 技术参数LMP激光雨滴谱仪技术参数主要输出数据降雨量,降雨速度,降雨粒径大小,降雨强度,降雨等级(synop/r),雷达校正(z/r ratio),能见度(mor)可选输出数据风速,风向,空气温度,相对湿度(需单独订购传感器)操作原理785nm激光,最大0.5mw ,激光等级1m测定区域 46 cm2 (23 x 2.0 cm)操作环境-40~+70度; 0~100%相对湿度防护等级IP65供电24 v ac/dc /750 ma,或230 vac(可选12vdc)外箱不锈钢制,270x 170x 540 mm重量4.8 kg数据输出RS485双路输出 1200~115200波特率,全双工/半双工粒子速度范围0.2 ~20 m/s粒子等级440种(22种直径x 20种速度) 降雨降雪等级区分度 97%最小强度0.005 mm/h 毛毛雨最大强度250 mm/h雨中能见度0 ~99999m雷达反射率-9.9 ~99.9dbz 产地:中国
  • 中红外激光器QCL
    中远红外量子级联激光器mirSense 14 pins butterfly package Fibered 14 pins butterfly package (on request) HHL package(collimation on request)产品介绍:量青光电致力于高性能化学分析提供商用的和紧凑的解决方案,积极引进法国mirSense公司的波长可提供4-10μm大多数QCL激光器,可分为mirSense 4-10μm 量子级联激光器激光器;uniMir™ 系列单波长量子级联激光器;multiMir™ 系列宽调谐范围量子级联激光器;multiSense™ 系列多组分光谱分析模块;powerMir™ 系列高功率量子级联激光器。产品应用:红外对抗、安全防卫爆炸物检测环境污染监测痕量气体检测汽车尾气检测超低排放检测基础光谱研究太赫兹成像血糖检测、呼气检测生物医疗卫生检测mirSense 4-10μm 量子级联激光器激光器mirSense致力于高性能化学分析提供商用的和紧凑的解决方案,波长可提供4-10μm大多数QCL激光器,可分为4种量子级联激光器(QCL)产品系列分别为uniMir、multiMir、multiSense、powerMir。uniMir™ 系列单波长量子级联激光器DFB结构 QCL激光器,标准型量子级联激光器,属于单波长QCL产品,具有线宽窄,功耗低优点,封装有蝶形和HHL型,输出方式有CW和QCW两种,CW应用于各种高精度和单一气体光谱分析,QCW应用于低功耗和光声检测。下列主要可以做的气体: S02 Wavelenght (μm)7.6574.2324.6026.2387.5765.2717.2738.681 Gas H2S N2OH2CO NH3SF6Wavelenght (μm)7.7344.477.7825.7278.0068.5696.1510.6注:Typ linewidth in QCW 2 cm-1 Typ linewidth in CW 0,01cm-1multiMir™ 系列宽调谐范围量子级联激光器基于Si和III-V技术和QCL技术可实现宽扫描范围(±40 cm-1),通过量子级联激光芯片阵列集成到一个器件中,具有结构紧凑、高稳定和低功耗的优点,单一激光器完美支持实现多组分气体同时检测。multiSense™ 系列多组分光谱分析模块该一体化激光检测模块基于光声光谱技术,通过将光源、探测器、光声池,麦克风等关键部件集成到一个紧凑型模块中,可直接输出气体浓度值,大大降低了客户开发技术门槛和成本,可直接输出结果。由于采用了多芯片集成技术,该款检测模块可根据客户要求支持检测多种气体种类。powerMir™ 系列高功率量子级联激光器powerMi是单芯片FP 结构QCL激光器,输出功率高(1.6W),M21.5,可提供4μm、4.4-4.6μm以及8-9μm高功率QCL,主要用于安全防卫以及红外对抗等高功率应用场合,非常适合功率型应用。
  • 激光晶圆划片机配件
    激光晶圆划片机配件是专业为太阳能电池激光加工开发的小型太阳能电池激光划片机和晶圆切割机,它具有较小的尺寸,安装操作非常简单,比较适合小型的太阳能光伏产业用户和科研用户实验室使用。激光晶圆划片机配件使用了高精度的扫描振镜,可以加工5' ' 和6' ' 的晶圆硅片,太阳能电池激光划片机机配备的软件能够精确探测晶圆边缘,控制XYZ三维的光束定位,并监控激光功率等参数,为大学或科研院所提供了一种多功能,高精度的太阳能电池晶圆的加工设备,可以广泛用于晶圆激光打标,晶圆边缘隔离,晶圆背向接触烧结(Back contact laser fireing,BCLC)已经晶圆切割。激光晶圆划片机配件原理在制造晶体硅太阳能电池过程中通常使用p型晶圆,通过磷扩散形成n型层。这种n型层形成于太阳能电池表面,被称作发射极,当然此时也形成了p-n结。在对边缘未隔离之前,边缘电流会减少太阳能电池的效率。 现在通常使用激光晶圆划片机超快激光进行边缘隔离, 使用激光对距离上表面150-300微米的区域进行激光切割。太阳能电池激光划片机,这种切割深度不得小于发射极的深度(2-10微米)。我们在这套激光晶圆划片机配件中使用高精度的扫描振镜控制激光光束进行切割,并配备了一流的机械视图功能,可以实时探测到晶圆位置以及边缘隔离的精度, 配备的软件可以让用户在“科学研究“和”工业应用“两种模式下选择使用。

激光对中仪的原理相关的资料

激光对中仪的原理相关的资讯

  • 手持式LIBS激光诱导击穿光谱仪原理和不同领域中的应用
    激光诱导击穿光谱(Laser Induced Breakdown Spectroscopy,简称LIBS)是一种原子发射光谱。它利用高能量聚焦脉冲激光光束激发样品表面,对产生的原子光谱进行分析得到对应元素成分及含量。是一种快速、定性的分析手段。随着激光器以及光谱仪小型化技术的发展,轻便的手持LIBS光谱仪成为现实。其优势在于能将精密的分析仪器带到生产的一线,主要用于铁基、铝基、铜基、镍基等金属合金材料的现场牌号鉴别及合金元素成分的快速鉴定。手持LIBS光谱仪能对生产过程进行高速,高效的监控,完善企业质量管理体系,提高生产效率,是工业生产过程中的一个不可或缺的环节。 手持式LIBS激光诱导击穿光谱仪,它利用高能量聚焦脉冲激光光束激发样品表面,对产生的原子光谱进行分析得到对应元素成分及含量。是一种快速、定性的分析手段。随着激光器以及光谱仪小型化技术的发展,轻便的手持式光谱仪成为现实。其优势在于能将精密的分析仪器带到生产的一线,主要用于铁基、铝基、铜基、镍基等金属合金材料的现场牌号鉴别及合金元素成分的快速鉴定。手持LIBS光谱仪能对生产过程进行高速,高效的监控,完善企业质量管理体系,提高生产效率,是工业生产过程中的一个不可或缺的环节。 手持式LIBS激光诱导击穿光谱仪,其工作原理是利用脉冲激光产生的等离子体烧蚀并激发样品中的物质,并通过光谱仪获取被等离子体激发的原子所发射的光谱,以此来识别样品中的元素组成成分,进而可以进行材料的识别、分类、定性以及定量分析。LIBS作为一种新的材料识别及定量分析技术,既可以用于实验室,也可以应用于工业现场的在线检测。在检测领域中,传统的原子吸收和发射光谱仍然占据主导地位,但其存在试剂消耗量大、检测元素受限,不能便携,难用于现场检测等缺点。由于LIBS技术具有快速直接分析,几乎不需要样品制备,可以检测几乎所有元素、同时分析多种元素,对样品表面风化、尘土层形成清洁,可实现逐层分析且可以检测几乎所有固态样品,远距离探测,适用于现场分析等,因而LIBS弥补了传统元素分析方法的不足,尤其在微小区域材料分析、镀层/薄膜分析、缺陷检测、珠宝鉴定、法医证据鉴定、粉末材料分析、合金分析等应用领域优势明显,同时,LIBS还可以广泛适用于石油勘探、水文和地质勘探、冶金和燃烧、制药、环境监测、科研、军事及国防、航空航天等不同领域的应用。
  • 激光粒度原理及应用
    p   粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器。根据测试原理的不同分为沉降式粒度仪、沉降天平、激光粒度仪、光学颗粒计数器、电阻式颗粒计数器、颗粒图像分析仪等。 /p p   激光粒度仪是通过激光散射的方法来测量悬浮液,乳液和粉末样品颗粒分布的多用途仪器。具有测试范围宽、测试速度快、结果准确可靠、重复性好、操作简便等突出特点,是集激光技术、计算机技术、光电子技术于一体的新一代粒度测试仪器。 /p p    strong 激光粒度仪的光学结构 /strong /p p   激光粒度仪的光路由发射、接受和测量窗口等三部分组成。发射部分由光源和光束处理器件组成,主要是为仪器提供单色的平行光作为照明光。接收器是仪器光学结构的关键。测量窗口主要是让被测样品在完全分散的悬浮状态下通过测量区,以便仪器获得样品的粒度信息。 /p p    strong 激光粒度仪的原理 /strong /p p   激光粒度仪是根据颗粒能使激光产生散射这一物理现象测试粒度分布的。由于激光具有很好的单色性和极强的方向性,所以在没有阻碍的无限空间中激光将会照射到无穷远的地方,并且在传播过程中很少有发散的现象。 /p p   米氏散射理论表明,当光束遇到颗粒阻挡时,一部分光将发生散射现象,散射光的传播方向将与主光束的传播方向形成一个夹角θ,θ角的大小与颗粒的大小有关,颗粒越大,产生的散射光的θ角就越小 颗粒越小,产生的散射光的θ角就越大。即小角度(θ)的散射光是有大颗粒引起的 大角度(θ1)的散射光是由小颗粒引起的。进一步研究表明,散射光的强度代表该粒径颗粒的数量。这样,测量不同角度上的散射光的强度,就可以得到样品的粒度分布了。 /p p   为了测量不同角度上的散射光的光强,需要运用光学手段对散射光进行处理。在光束中的适当的位置上放置一个富氏透镜,在该富氏透镜的后焦平面上放置一组多元光电探测器,不同角度的散射光通过富氏透镜照射到多元光电探测器上时,光信号将被转换成电信号并传输到电脑中,通过专用软件对这些信号进行数字信号处理,就会准确地得到粒度分布了。 /p p    strong 激光粒度仪测试对象 /strong /p p   1.各种非金属粉:如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等。 /p p   2.各种金属粉:如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。 /p p   3.其它粉体:如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各种乳浊液。 /p p    strong 激光粒度仪的应用领域 /strong /p p   1、高校材料 /p p   2、化工等学院实验室 /p p   3、大型企业实验室 /p p   4、重点实验室 /p p   5、研究机构 /p p   文章来源:仪器论坛(http://bbs.instrument.com.cn/topic/5163115) /p p br/ /p
  • 张福根专栏|激光粒度仪应用导论之原理篇
    p style=" text-indent: 2em " strong 编者按: /strong 如今激光粒度的应用越来越广泛,技术和市场屡有更迭,潮起潮落,物换星移,该如何全方位掌握激光粒度仪的技术和应用发展,如何更好地让激光粒度仪成为我们科研、检测工作中的好战友呢?仪器信息网有幸邀请在中国颗粒学会前理事长,真理光学首席科学家,从事激光粒度仪的研究和开发工作近30年的张福根博士亲自执笔开设专栏,以渊博而丰厚的系列文章,带读者走进激光粒度仪的今时今日。 /p p style=" text-indent: 2em text-align: center " strong 激光粒度仪应用导论之原理篇 /strong /p p style=" text-indent: 2em " 当前,激光粒度仪在颗粒表征中的应用已经非常广泛。测量对象涵盖三种形态的颗粒体系:固体粉末、悬浮液(包括固液、气液和液液等各类二相流体)以及液体雾滴。应用领域则包含了学术研究机构,技术开发部门和生产监控部门。第一台商品化仪器诞生至今已经50年,作者从事该方向的研究和开发也将近30年。尽管如此,由于被测对象——颗粒体系比较抽象,加上激光粒度仪从原理到技术都比较复杂,且自身还存在一些有待完善的问题,作者在为用户服务的过程中,感觉到对激光粒度仪的科学和技术问题作一个既通俗但又不失专业性的介绍,能够帮助读者更好地了解、选择和使用该产品。本系列文章的定位是通俗性的。但为了让部分希望对该技术有深入了解的读者获得更多、更深的有关知识,作者在本文的适当位置增加了“进阶知识”。只想通俗了解激光粒度仪的读者,可以略过这些内容。 /p p style=" text-indent: 2em " 首先应当声明,这里所讲的激光粒度仪是指基于静态光散射原理的粒度测试设备。当前还有一种也是基于光散射原理的粒度仪,并且也是以激光为照明光源,但是称为动态光散射(Dynamic light scattering,简称DLS)粒度仪。前者是根据不同大小的颗粒产生的散射光的空间分布(认为这一分布不随时间变化)来计算颗粒大小,而后者是在一个固定的散射角上测量散射光随时间的变化规律来分析颗粒大小;前者适用于大约0.1微米以粗至数千微米颗粒的测量,而后者适用于1微米以细至1纳米(千分之一微米)颗粒的测量。激光粒度仪在英文中又称为基于激光衍射方法(Laser diffraction method)的粒度分析技术。 /p p style=" text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 【进阶知识1】严格地说,把激光粒度仪的原理说成是“衍射方法”是不准确,甚至带有误导性的。从物理上说,光的衍射和散射是有所区别的。“光的衍射”学说源自光的波动性已经被实验所证实,但是还没从理论上认识到光是一种电磁波这一时期,大约是19世纪上半叶。在更早的时候,人们认为光的行进路线是直线,就像一个不受外力作用的粒子作匀速直线运动那样。这一说法历史上被称为“光的粒子说”。后来人们发现光具有波动形。那个时候人们所知道的波只有水波,所以“衍”字是带水的。“光的衍射”描述的是光波在传播过程中遇到障碍物时,会改变原来的传播方向绕到障碍物后面的现象,故衍射又称做“绕射”。描述衍射现象的理论称为衍射理论。衍射理论在远场(即在远离障碍物的位置观察衍射)的近似表达称为“夫朗和费衍射(Fraunhofer diffraction)”。衍射理论不考虑光场与物质(障碍物)之间的相互作用,只是对这一现象的维像描述,所以是一种近似理论。它只适用于障碍物(“颗粒”就是一种障碍物)远大于光的波长(激光粒度仪所用的光源大多是红光,波长范围0.6至0.7微米),并且散射角的测量范围小于5° 的情形。 /span /p p style=" text-indent: 2em " 麦克斯韦(Maxwell)在19世纪70年代提出电磁波理论后,发现光也是一种电磁波。光的衍射现象本质上是电磁场和障碍物的相互作用引起的。衍射理论是电磁波理论的近似表达。严谨的电磁波理论认为,光在行进中遇到障碍物,与之相互作用而改变了原来的行进方向。一般把这种现象称作光的散射。用电磁波理论能够描述任意大小的物体对光的散射,并且散射光的方向也是任意的。不论是早期还是现在,用激光粒度仪测量颗粒大小时,都假设颗粒是圆球形的。如果再假设颗粒是均匀、各向同性的,那么就能用严格的电磁波理论推导出散射光场的严格解析解(称为“米氏(Mie)散射理论”)。 /p p style=" text-indent: 2em " 现在市面上的激光粒度仪绝大多数都采用Mie散射理论作为物理基础,因此把现在的激光粒度仪所用的物理原理说成是衍射方法是不准确的,甚至会被误认为是早期的建立在衍射理论基础上的仪器。 /p p style=" text-indent: 2em " 世界上第一台商品化激光粒度仪是1968年设计出来的。尽管当时Mie理论已经被提出,但是受限于当时计算机的计算能力,还难以用它快速计算各种粒径颗粒的散射光场的数值。所以当时的激光粒度仪都是用Fraunhofer衍射理论计算散射光场,这也是这种原理被说成激光衍射法的缘由。这种称呼一直延用到现在。不过现在国际上用“光散射方法”这个词的已经逐渐多了起来。 /p p style=" text-indent: 0em text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201808/insimg/d07b19f0-4c57-4748-9d53-229c65c56d4e.jpg" title=" 图1:颗粒光散射示意图.jpg" / /p p br/ /p p style=" text-indent: 0em text-align: center " 颗粒光散射示意图 /p p style=" text-indent: 2em " 激光粒度仪是基于这样一种现象:当一束单色的平行光(激光束)照射到一个微小的球形颗粒上时,会产生一个光斑。这个光斑是由一个位于中心的亮斑和围绕亮斑的一系列同心亮环组成的。这样的光斑被称为“爱里斑(Airy disk)”,而中心亮斑的尺寸是用亮斑的中心到第一个暗环(最暗点)的距离计算的,又称为爱里斑的半径。爱里斑的大小和光强度的分布随着颗粒尺寸的变化而变化。一种传统并被业界公认的说法是:颗粒越小,爱里斑越大。因此我们可以根据爱里斑的光强分布确定颗粒的尺寸。当然,在实际操作中,往往有成千上万个颗粒同时处在照明光束中。这时我们测到的散射光场是众多颗粒的散射光相干叠加的结果。 /p p style=" text-indent: 2em " strong & nbsp 编者结: /strong 明了内功心法,下一步自然会渴望于掌握武功招式。本文深入浅出地介绍激光粒度仪的原理,激光粒度仪的结构自然是读者们亟待汲取的“武功招式”。欲得真经,敬请期待张福根博士系列专栏——激光粒度仪应用导论之结构篇。 /p p style=" text-indent: 0em text-align: right " (作者:张福根) /p
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