油膜厚度仪原理

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油膜厚度仪原理相关的仪器

  • 油膜厚度测量仪/EHD 400-860-5168转1329
    油膜厚度测量仪全自动化EHL模块允许在广泛的速度、载荷和温度 范围内研究油膜厚度。此外,高精度的干涉光学和 易用性使其能够以nm级精度测量油膜厚度。
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  • 英国PCS公司生产的EHD2油膜厚度测定仪基于超薄膜光干涉原理,可用于测定润滑油在弹性流体动压状态下的油膜厚度,并且可以测量其牵引力系数(摩擦系数)。这两项测试均可在滑动摩擦/滚动摩擦比例0%至100%的条件下进行。 EHD2油膜厚度测定仪由伦敦帝国大学研制,随后由PCS公司进行商业化的发展,目前在全世界已有60台仪器在使用。技术参数膜厚范围 1至1000 nm 负荷范围0至50 N 接触压力范围0至0.7 GPa (钢球-玻璃盘) 0至3 GPa (钨碳球-蓝宝石盘)速度0至4 m/s 温度范围 室温至150 ° C 测试样品体积120 ml
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  • JH0105溶剂稀释剂型防锈油油膜厚度测定仪 适用标准SH/T0105《溶剂稀释型防锈油油膜厚度测定法》GB/T2540《石油产品密度测定法(比重瓶法)》 产品简介本仪器适用于溶剂稀释型防锈油油膜厚度的检测。其实验原理是将试片放入500mL试样中浸1min,然后提起。垂直悬挂24h后测定试片涂膜质量。由油膜的密度和质量计算出涂膜厚度。 功能特点密度仪:1、透明浴体,观察方便,有机玻璃制作,易清洁2、分体式结构,无噪音3、微电脑处理及PID控制,数字显示设定和实际温度,精度0.1℃ 4、压缩机制冷,保证足够的冷量5、磁力泵循环冷却介质,温度均匀6、不锈钢加热器7、仪器带有超温报警功能 恒温水浴:1、产品性能优异,外观美观,可靠性好,是实验室环境试验设备的理想选择2、 箱体内胆采用不锈钢板制成,外壳采用宝钢钢板喷塑3、微电脑控制器, PID功能,数字显示温度(测试时连续显示),精度0.1℃4、箱内密封条采用耐高式低温的硅橡胶制成,密封保温性能优良。 防爆空气浴:1、采用一体化设计,操作维护简单方便2、仪器外壳一般采用薄钢板制作,表面烤漆,3、工作室采用优质的结构钢板制作。4、外壳与工作室之间填充硅酸铝纤维。5、温度控制仪表采用数显智能表,PID调节仪器参数防爆空气浴:1、 恒定温度范围:恒温范围50~110℃2、 工作电源: AC220V±10% 50HZ 密度测定器:1、适用标准:GB/T25402、加热方式:电热管加热3、制冷方式:压缩机制冷4、控温方式:数显PID温度控制器5、控温精度:±0.1℃6、控温范围:常温~20℃7、循环方式:磁力泵8、工作电源: AC220V±10% 50HZ 恒温水浴: 1、制冷方式:压缩机制冷 2、控温方式:进口PID数显温控器 3、控温范围、精度:常温~23℃±0.1℃ 4、工作电源:AC220V±10% 50HZ
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油膜厚度仪原理相关的方案

油膜厚度仪原理相关的论坛

  • 塑料上面的油墨厚度

    请问一下大侠,塑料上面的油墨厚度,用什么仪器可以测,精度要求0.1um,塑料上面是很薄的铜,铜上面是油墨,油墨有磁性,进口测厚仪只能测到1微米。

  • XRF测量薄膜厚度的原理是什么?

    听说可以用XRF来测量薄膜厚度,并且可以测多层膜的厚度,但是不知道原理是什么。请版上的各位老师介绍一下技术原理与操作时注意要点。 万分感谢!

油膜厚度仪原理相关的耗材

  • 等厚度薄膜制样工具
    specac_迷你等厚度薄膜制样套装等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理,所得到样品是纯样品,谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求,提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜,还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。视频:http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 高精度膜厚仪|薄膜测厚仪A3-SR光学薄膜厚度测量(卤素灯)
    目标应用: 半导体薄膜(光刻胶) 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜(光刻胶) ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*(H90+H140)测试支架(配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘)测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm(标配,可以根据用户要求配置)样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标(THICKNESS SPECIFICATION):产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1(厚度要求)N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量,实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅(500纳米)测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

油膜厚度仪原理相关的资料

油膜厚度仪原理相关的资讯

  • 爱色丽支持光学可变防伪油墨标准制定及油墨色彩测量仪器
    防伪油墨作为一种防伪产品的基材,已经广泛应用于国家有价证券、证件证书、普通印刷品和商品包装等领域,其应用范围非常广泛。为了进一步规范防伪油墨的生产、使用及检测,保障国门安全、社会金融安全和产品监督管理的稳定性,爱色丽全力支持将于2023年12月实施的【光学可变防伪油墨】国家标准。这一标准的实施对于保障生产厂商、使用厂商和消费大众的合法权益,维护国家的安全和稳定,具有重要意义。爱色丽的参与和支持,旨在提升产品质量的稳定性和可控性,使得防伪油墨在多领域的应用更加规范和安全。一、测量参数光学可变防伪油墨通过光学原理,使印样随观察角度不同而呈现不同颜色。这一特定材料制作的油墨需要通过以下几个参数来进行测量和评估:外观色:使用单角度色差仪测量颜色差异。同角最大反射波长:标准和样品在波峰位置的匹配度。同角色差:标准和样品分别在30°和90°观察角度的颜色差异值。异角色差:同一试样在30°和90°观察角度的颜色差异值。二、防伪油墨标准制定具体方案参数:外观色试验步骤:1. 均匀取标样墨和试样墨,各自调适均匀,以相同条件用250目丝网版在无荧光印样纸上分别制作印样,墨层厚度为10μm~20m,干燥后待用。2. 将上述印样裁切成50mmX60mm的长方形,分别取标样1份,试样3份。3. 按GB/T19437-2004中4.1的规定进行仪器校准,检测标样色值,包括亮度L、绿色到红色的分量a、蓝色到黄色的分量b,作为颜色标准。在试样中选取避免透印干扰的测量点进行测量,得到ΔE,测量3次取平均值。测量设备:eXact系列色差仪。eXact系列色差仪是印刷和包装应用中用于测量色彩数据的行业标杆。其作为45:0便携式分光测色仪具有简单的用户界面和直观的触摸屏显示,因此是繁忙印刷车间的理想印刷机工具。通过无线操作以及不受限制的校准、规格和数据捕获,操作人员可以在车间内的任意地方使用eXact来测量和存储数据,无需电源。由于存储位于设备上,因此可以快速访问作业预设置和色彩库。参数:技术指标和耐性指标指标要求:- 技术指标:达到油墨的基本要求。- 耐性指标:符合各种耐受测试性能。测量参数:光谱和DE*。试验步骤(以耐性试验为例):1. 均匀取标样墨和试样墨,各自调适均匀,以相同条件用250目丝网版在无荧光印样纸上分别制作印样,墨层厚度为10μm~20m,干燥后待用。2. 将上述印样裁切成50mmX60mm的长方形,抽取4份样品,其中1份作为标样,3份作为试样。3. 将试样和GB/T730-2008规定的1级蓝色羊毛标样用黑色板纸衬白色书写纸各遮盖一半,放入日晒仪中,根据所使用的日晒仪要求确定环境温度和环境相对湿度,进行暴晒。当1级蓝色羊毛标样的变化程度相当于GB/T250-2008中“评定变色用灰色样卡”的3级时停止暴晒,取出试样放入暗处30分钟后,使用多角度分光光度计,测量试样30°、90°观察角度下的色值L、a、b,与标样30°、90°观察角度下的色值进行对比,记录试样ΔE1、ΔE2及异角色差,计算3份试样平均值,记录试验结果。测量设备:MAT系列多角度色差仪。爱色丽MA-T系列多角度色差仪包含6、12个测量角度,而且该色差仪价格实惠,是一款适用于特殊效果涂料的汽车测色仪,兼具彩色成像和多角度测量,体现完整色彩、光亮和粗糙特性。EFX QC是爱色丽MA-T系列汽车测色仪中附带的一个软件包,基于云计算的软件简化了各个分布式供应链交流容差和测量的过程。新的可视化工具支持实时性能监控,并为故障排除提供可行性建议,从而减少浪费和返工。通过严格的检测和标准化流程,光学可变防伪油墨将更好地服务于各类防伪需求。爱色丽将继续在这一领域发挥重要作用,为维护国家和社会的安全与稳定贡献力量。三、关于爱色丽“爱色丽彩通 ”总部位于美国密歇根州,成立于1958年。作为全球知名的色彩趋势、科学和技术公司,爱色丽彩通提供服务和解决方案,帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。如果您需要更多信息,请关注官方微信公众号:爱色丽彩通
  • ADVANCE RIKO发布聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d新品
    聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d日本ADVANCE RIKO公司塞贝克系数与电阻测量系统ZEM系列在全球销售量超过300台,广获全球科研及工业用户的赞誉,成为热电材料领域“标杆型”测试设备。2019年,在此前的成功基础上,ADVANCE RIKO公司推出了专门用于评价聚合物厚度方向上热电性能的全新设备ZEM-d。与之前ZEM系列产品(ZEM-3/ZEM-5)不同,新型号ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品最薄为10μm。此外,ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致,其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。ZEM-d测量原理现存测试方法ZEM-d(厚度方向测量)电阻率测量原理塞贝克系数测量原理ZEM-d技术参数测量参数 塞贝克系数,电阻率温度范围 最高200℃(样品表面)样品尺寸 截面:Φ20mm(Max),长度:0.01-20mm测量氛围 空气或惰性气体软件界面创新点:ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品最薄为10μ m。此外,ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致,其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d
  • 高阻隔材料测试中厚度对渗透率的影响
    当天气变冷时,我们马上就知道多穿几层衣服会让我们更暖和。简单地说,如果你想要更多的保护,你就增加更多的厚度。同样的原理也适用于气体透过率测试。经验法则是,如果你将材料的厚度增加一倍,阻隔水平也会增加一倍,相应的透过率将减少一半。厚度对渗透率的影响有多大?很少有人去了解的是,较厚的样品渗透达到平衡所需的测试时间。典型的假设是,厚度加倍就需要测试时间加倍。这是不正确的。通常情况下,每次材料厚度增加一倍,渗透率达到平衡需要4倍的时间。下面是厚度1mil和5mil PET薄膜及其渗透率水平的比较。选择这些薄膜是因为它们在短时间内WVTR达到平衡。在此示例中,1mil PET薄膜的水蒸气透过率 (WVTR) 为10.1 g/(m2 x day)。达到该值95%所需的时间不到30分钟。5mil PET薄膜的WVTR为2.17 g/(m2 x day),需要近450分钟才能达到最终值的95%。我们通常看到,对于厚样品特别是在测量更高阻隔材料时,最后5%~10%的渗透率平衡可能需要相对较长的时间。通过测试得出结论当测试较厚材料的阻隔时,整体渗透率会成比例下降。材料厚度增加5倍,测得的WVTR从10.1 g/(m2 x day)下降至 2.17 g/(m2 x day)。 随着材料厚度的增加,需要更多的时间(超过5倍)来测试样品以达到平衡。如图所示,渗透率水平和达到平衡的时间都受到材料厚度的影响。当您优化测试条件(例如WVTR和CO2TR的流速)和测试持续时间以确保平衡值时,需要牢记这一点。适用于薄样品的标准测试设置可能会为厚样品产生不准确或过早的结果。
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