锡膏厚度检测

仪器信息网锡膏厚度检测专题为您提供2024年最新锡膏厚度检测价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括锡膏厚度检测参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的锡膏厚度检测您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合锡膏厚度检测相关的耗材配件、试剂标物,还有锡膏厚度检测相关的最新资讯、资料,以及锡膏厚度检测相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

锡膏厚度检测相关的仪器

  • CHY-G 电子壁厚底厚测试仪适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度检测。仪器在传统的厚度测量仪基础上,增加了稳固瓶子的托盘,避免因瓶子摇摆不定带来的测量误差。产品特点◎ 7寸触控彩色液晶屏,微电脑控制,自动分组统计Z大值、Z小值、平均值。◎ 旋转角度位移实时显示,保证测量准确回位。◎ 满足玻璃瓶底厚和壁厚两种测试方式。◎ 测量平台新增托瓶装置支持上下调节,让测试轻松便捷。◎ 系统自带微型打印,上位机数据无限保存。◎ 专业电脑测试软件,曲线图显示,数据保存,EXCEL统计,打印A4试验报告。◎ 软件用户分级权限管理,数据统计及审计功能满足行业要求。 测试原理CHY-G 电子壁厚底厚测试仪采用容栅传感技术,通过测量表头接触瓶子与镖头对应。两个系统中容栅传感器采集响应的数据,进而通过系统计算出对应的瓶壁或瓶底的厚度值。 应用领域适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度。可满足测试输液瓶、啤酒瓶、口服液瓶、安瓿瓶、 西林瓶等产品壁厚底厚的测试。技术参数仪器量程:0-12.7mm/0.5″分度值:0.001mm/0.00005″样品直径:5mm-300mm (其他尺寸可定制)样品高度:5mm-330mm(其他尺寸可定制)外形尺寸:400(L)X360(W)X700(H)mm通信接口:USB接口环境温度:15-50℃电源电压:AC220V 50Hz 测试标准该仪器符合多项国家和国标标准: YBB00332002 - 2015 、 YBB00332003 - 2015 、YBB00032004-2015、GB 1241590、GB 2641-90、GB 2639-90。 售后服务承诺三月内只换不修,一年质保,终身提供。快速处理,1小时内响应问题,1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001:2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心,两条独立生产线,一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今,全球用户累计成交产品破万台,完善四大产品体系,50多种产品。
    留言咨询
  • 电池硅片厚度仪 硅片厚度测定仪 硅片厚度检测仪C640是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪,专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机,更加准确、高效的进行连续多点测量。设备技术特征:1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新,使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术,实现先进的测试稳定性、重复性及精度。2、高效——采用高效率、自动化结构设计,有效简化人员参与过程;智能的控制及数据处理功能,为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件,具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储;支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统(可选配置),为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。电池硅片厚度仪 硅片厚度测定仪 硅片厚度检测仪C640测试原理:将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上,与下测量面平行且中心对齐的上测量面,以一定的压力,落到薄型试样的另一面上,同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离,即为薄型试样的厚度。执行标准:ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中国《药品生产质量管理规范》(GMP)对软件的有关要求(可选配置)应用材料:基础应用:薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定扩展应用:金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定电池硅片厚度仪 硅片厚度测定仪 硅片厚度检测仪C640技术指标:① C640M型号参数:测试范围(标配):0~2mm分辨率:0.1μm 重复性:0.8μm测量范围(选配):0~6、0~12mm测量间距:0~1000mm(可设定)进样速度:1.5~80mm/s(可设定)附加功能:自动进样机:可选配置DataShieldTM数据盾:可选配置GMP计算机系统要求:可选配置测量方式:机械接触式测量压力及接触面积:薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2纸张:100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa(可选配置)、200 mm2电源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸:370mm(L)× 350mm(W)× 410mm(H)净重:26kg② C640H型号参数:测试范围(标配):0~2mm分辨率:0.1μm 重复性:0.4μm测量范围(选配):0~6、0~12mm测量间距:0~1000mm(可设定)进样速度:1.5~80mm/s(可设定)附加功能:自动进样机:可选配置DataShieldTM数据盾:可选配置GMP计算机系统要求:可选配置测量方式:机械接触式测量压力及接触面积:薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2纸张:100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa(可选配置)、200 mm2电源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸:370mm(L)× 350mm(W)× 410mm(H)净重:26kg
    留言咨询
  • 国nei首chuang、全qiu领xian的多导毛细管技术,轻松应对超小测量点薄涂层和极薄涂层的测量分析,在柔性电路板、芯片封装环节、晶圆微区的镀层厚度和成分自动测试分析中尽显优势主要利用X射线全反射原理,从X射线管激发出来的X射线束在毛细玻璃管的内壁以全反射的方式进行传输,利用毛细玻璃管的弯曲来改变X射线的传输方向,从而实现X射线汇聚,同时将X射线的强度增加2~3个数量级。&blacksquare 在一六仪器du创的高集成光路系统的基础上,搭配多导毛细管 实现极小面积或极薄镀层的高速、精确、稳定的测量,聚焦直径可小至10μm&blacksquare quan球qian沿的多导毛细聚焦技术,可产生比准直器机构强千倍的信号强度&blacksquare 多导毛细管将激发光束非常高强度的集中在一个的小光斑上,从而显著缩短测量时间&blacksquare 在测量纳米级Au厚度或薄膜层厚度及成分时,满足微小光斑、短测量时间的同时,测量效果接近wan美测量精度更高:新开发的du特的光学器件和全qiu领xian的多导毛细管技术可对超微小区域及纳米级薄层高精度测量超微小样品检测:精确测试最小测量点直径可达10µ m,全球测量微点技术的领xian者测量效率高:高灵敏度、高解析度X荧光检测系统搭配多导毛细管技术,测量时间更短,能够实现普通机型几倍的检测量适配性强:适用于各类样品尺寸的产品线,如600*600mm大型印刷电路板操作体验佳:高精细样品观察图像,微区小至纳米级别的分辨率,实现更快速便捷的测试自动、智能:搭载可编程全自动位移平台,无人值守、自动检测样品同时搭载影像识别功能,自动判定测试位置
    留言咨询

锡膏厚度检测相关的方案

锡膏厚度检测相关的论坛

  • 《锡膏厚度测量仪校准规范》征求意见稿发布

    [color=#444444] 10月25日,全国新材料与纳米计量技术委员会发布了《锡膏厚度测量仪校准规范》征求意见稿,并面向全国有关单位征求意见。[/color][color=#444444][/color][align=left] 锡膏厚度测量仪是一种利用光学原理,快速测量印刷电路板上的锡膏块的厚度等几何元素的非接触式测量仪器,广泛应用于SMT(Surface Mount Technology)生产贴片领域,是评价和管控锡膏印刷质量的重要测量设备。[/align][align=left] 本规范由广东省计量科学研究院、山东省计量科学研究院、苏州市计量测试院、中国计量科学研究院、广州计量检测技术研究院和天津大学负责制定。[/align][align=left] 本规范主要依据JJF1071-2010《国家计量校准规范编写规则》进行编制,JJF1001-2011《通用计量术语及定义》、JJF1059.1-2012《测量[url=http://www.jlck.net/forum-279-1.html]不确定度[/url]评定与表示》、JJF 1094-2002《测量仪器特性评定》共同构成支撑校准规范制定工作的基础性系列规范。[/align][align=left] 本规范为首次制定,主要技术内容和计量特性参考了JJF 1306-2011 《X射线荧光镀层测厚仪校准规范》和JJG 818-2005 《磁性、电涡流式覆层厚度测量仪检定规程》的部分内容。[/align][align=left] 按照JJF 1071—2010《国家计量校准规范编写规则》的要求制定锡膏厚度测量仪校准规范,在内容和格式上与JJF 1071—2010保持一致。校准规范的具体内容有范围、概述、计量特性、校准条件、校准项目和校准方法、校准结果的表达、复校时间间隔等。[/align][align=left] 本规范适用于分辨力为(0.1-1)m、测量范围不大于600m的锡膏厚度测量仪的校准。[/align][align=left] 目前使用中的锡膏厚度测量仪的测量范围大多在(20-400)μm左右,部分新的仪器最大厚度可达到1mm以上。根据查询资料及调研统计,大部分锡膏测厚仪的常用范围在(100-150)μm,极少有达到几百微米以上,实际上不可能将锡膏做到这么大的厚度。起草组经讨论后决定将规范适用范围定为(0-600)μm,最大校准点达到测量上限的2/3,故标准台阶块最大厚度达到400 μm即可。(更多详情请见附件)。[/align][align=left]附件:[u][url=http://www.zhaojiliang.cn/data/uploads/bdattachment/file/20181026/1540524700379110.docx]锡膏厚度测量仪校准规范 (征求意见稿).docx[/url][/u][/align]

锡膏厚度检测相关的耗材

  • 等厚度薄膜制样工具
    specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理,所得到样品是纯样品,谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求,提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜,还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频:http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频
  • 脆碎度检测用砝码 20g
    PTP 一、产品指南药典中检测明胶空心胶囊脆碎度专用四氟砝码,采购前必看明胶空心胶囊脆碎度检测方法取本品50粒,置表面皿中,移入盛有硝酸镁饱和溶液的干燥器内,置25±1℃恒温24小时,取出,立即分别逐粒放入直立在木板(厚度2cm)上的玻璃管(内径为24mm,长为200mm)内,将圆柱形砝码(材质为聚四氟乙烯,直径为22mm,重20±0.1g)从玻璃管口处自由落下,视胶囊是否破裂,如有破裂,不得超过5粒。二、参数说明规格:20±0.1 g,¢22mm材质:实验级高纯聚四氟乙烯,耐腐蚀耐高温,表面不粘不吸附样品应用:适用于《药典》三、此产品配套产品包括:玻璃管、镊子、木板四、说明1.此产品是2010版《药典》明胶空心胶囊脆碎度检测专用聚四氟乙烯砝码;2.严格按照2010版《药典》空心胶囊脆碎度检测要求而制作,每一枚出厂的砝码都经过全检;3.砝码材质为实验级高纯聚四氟乙烯,耐腐蚀,表面不粘,光滑、无毛刺,不会对供试品产生不良影响;规格为:重量范围20g±0.1g,直径22mm;4.是明胶空心胶囊脆碎度检测的必备仪器,五、聚四氟乙烯系列产品:烧杯、坩埚、烧瓶、药匙、镊子、培养皿、蒸发皿、表面皿、接头、阀门、酶标板、试剂瓶、离心管,漏斗、容量瓶、砝码、试管架、搅拌棒、药勺、布氏漏斗、消解瓶等其他定制产品。
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。

锡膏厚度检测相关的资料

锡膏厚度检测相关的资讯

  • 《锡膏厚度测量仪校准规范》发布实施
    近日,在广东省市场监管局指导下,由广东省计量院主持起草的JJF1965-2022《锡膏厚度测量仪校准规范》获国家市场监督管理总局批准发布实施。本规范的颁布实施,有效解决了锡膏厚度测量仪的量值一直无法获得有效溯源,不同仪器上测量结果差异较大的技术难题,进一步完善了精密几何量领域国家计量技术规范体系,促进了行业技术标准的统一,有利于集成电路产业、企业相关技术能力的提升。  据了解,锡膏厚度测量仪是一种被广泛用于检测集成电路板上锡膏印刷质量的仪器,它采用非接触式的光学测量原理,能快速、无损地测量锡膏的厚度、面积、体积等参数,其中,厚度是判断锡膏印刷质量的关键核心指标。以往由于缺乏相关的计量技术规范,各生产厂家在校正仪器时采用的方法和计量标准存在差异,导致测量结果的复现性较差,不利于产品质量的控制和不同企业间的产品验收。  针对上述问题,在广东省市场监管局的指导下,广东省计量院和国家计量院、山东院、苏州院等单位专家组成规范起草组,对目前市场上锡膏厚度测量仪的生产厂家和用户开展广泛调研,深入了解仪器技术原理、客户需求和实际使用情况,经过反复论证和实验,确定了仪器校准的主要技术指标、操作方法和计量标准器要求等,并最终由广东省计量院主持完成校准规范的起草和报批。目前,该院联合研发了配套的多种规格计量标准器,并已为香港生产力促进局等多家粤港澳大湾区的客户提供了校准服务。
  • 幕墙玻璃厚度检测仪研制
    table border=" 1" cellspacing=" 0" cellpadding=" 0" width=" 600" tbody tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 成果名称 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " 幕墙玻璃厚度检测仪 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 单位名称 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " 中国建材检验认证集团股份有限公司 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 联系人 /p /td td width=" 177" p style=" line-height: 2em " 艾福强 /p /td td width=" 161" p style=" line-height: 2em " 联系邮箱 /p /td td width=" 187" p style=" line-height: 2em " afq@ctc.ac.cn /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 成果成熟度 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " □正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 √可以量产 /p /td /tr tr td width=" 123" p style=" line-height: 2em " 合作方式 /p /td td width=" 525" colspan=" 3" p style=" line-height: 2em " □技术转让□技术入股□合作开发& nbsp √其他 /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 2em " strong 成果简介: /strong br/ /p p style=" text-align:center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/64e1b730-057a-4fac-9850-b46e628b289c.jpg" title=" 厚度检测仪.jpg" width=" 350" height=" 224" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 350px height: 224px " / /p p style=" line-height: 2em " & nbsp /p p style=" line-height: 2em " span style=" line-height: 2em " & nbsp & nbsp 幕墙玻璃厚度检测仪利用激光测距技术,通过计算光程差来获得所测玻璃的厚度,厚度检测仪不仅可以测量单层玻璃的厚度,还可以测量中空玻璃三层厚度(包括:玻璃厚度、空气层厚度),采用数字化技术,将所测结果直观的显示在液晶显示屏上,可以快速、直观的获得所需结果,并设有内部存储功能可以存储9次测量结果,方便用户使用,该仪器操作简单,携带方便,测试结果快速、准确特别适合于现场检测。& nbsp /span /p p style=" line-height: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp 主要特点 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 操作简单:只需将仪器放在待测玻璃上按测量键即可完成测量。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 测量精度高:该仪器测量精度达到微米级。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 测试速度快:测试时间1-2秒。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 便于携带:该仪器尺寸合适重量轻。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 稳定性好:多次测量结果无偏差。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 具有存储功能:可以存储9次的测量结果并查看。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 可同时测量玻璃厚度、空气层厚度。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 技术参数: br/ & nbsp & nbsp & nbsp 测量精度:微米级 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 物理尺寸:130*70*30 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 开关频率:1-2秒 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 采样频率:10Hz br/ & nbsp & nbsp & nbsp 供电电压:9v br/ & nbsp & nbsp & nbsp 重量:200g br/ & nbsp & nbsp & nbsp 使用温度:-20℃- 40℃ br/ & nbsp & nbsp & nbsp 机体重量:约1Kg /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 2em " strong 应用前景: /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该仪器操作简单,携带方便,测试结果快速、准确特别适合于玻璃幕墙的现场检测,同时也适合于工厂、建筑工程质量检测站、产品质量检测站、科研院校等玻璃的生产检测、和开发研究等领域。 /p /td /tr /tbody /table p br/ /p
  • 高光谱成像技术在薄膜厚度检测中的应用
    研究背景在薄膜和涂层行业中,厚度是非常重要的质量参数,厚度和均匀性指标严重影响着薄膜的性能。目前,薄膜厚度检测常用的是X射线技术和光谱学技术,在线应用时,通常是将单点式光谱仪安装在横向扫描平台上,得到的是一个“之”字形的检测轨迹(如下图左),因此只能检测薄膜部分区域的厚度。SPECIM FX系列行扫描(推扫式成像)高光谱相机可以克服上述缺点。在每条线扫描数据中,光谱数据能覆盖薄膜的整个宽度(如上图右),并且有很高的空间分辨率。 实验过程 为了验证高光谱成像技术在膜厚度测量上的应用,芬兰Specim 公司使用高光谱相机SPECIM FX17(935nm-1700nm))测量了4 种薄膜样品的厚度,薄膜样品的标称厚度为17 μm,20 μm,20 μm和23 μm. 使用镜面几何的方法,并仔细检查干涉图形,根据相长干涉之间的光谱位置及距离,可以推导出薄膜的厚度值。通过镜面反射的方式测量得到的光谱干涉图,可以转化为厚度图使用 Matlab 将光谱干涉图转换为厚度热图,通过SPECIM FX17相机采集的光谱数据,计算的平均厚度为18.4 μm、20.05 μm、21.7 μm 和 23.9 μm,标准偏差分别为0.12 μm、0.076 μm、0.34 μm和0.183 μm。当测量薄膜时,没有拉伸薄膜,因此测量值略高于标称值。此外,在过程中同时检测到了薄膜上的缺陷,如下图所示,两个缺陷可能是外部压力造成的压痕。结论SPECIM FX17高光谱相机每秒可采集多达数千条线图像,同时可以对薄膜进行100%全覆盖在线检测,显著提高了台式检测系统的检测速度,提高质量的一致性并减少浪费。与单点式光谱仪相比,高光谱成像将显著提高薄膜效率和涂层质量控制系统,同时也无X射线辐射风险。 理论上,SPECIM FX10可以测量1.5 μm到30 μm的厚度,而SPECIM FX17则适用于4 μm 到90 μm的厚度。如需了解更多详情,请参考:工业高光谱相机-SPECIM FX:https://www.instrument.com.cn/netshow/C265811.htm
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制