二维色彩分析仪

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二维色彩分析仪相关的厂商

  • 400-809-9576
    联系我们:400-887-8280。Sievers分析仪(原GE分析仪器)是威立雅水务技术与方案下属的一个分部。作为世界领先的总有机碳(TOC)分析仪的制造商之一,我们提供卓越的技术、设计、质量和服务。我们已经获得30多项水质分析技术创新专利——包括Sievers膜电导法和集成在线取样(iOS)系统。Sievers TOC分析仪的动态分析范围从0.03 ppb到50,000 ppm,可为不同行业和应用提供解决方案,广泛应用在医药/生物制药、半导体和微电子、发电、太阳能电池制造、化工、石化、环保、食品和饮料、医学研究等众多领域。除了您可以信赖的仪器外,Sievers的认证服务、标准品和样品瓶以及应用方面的专业知识也是无与伦比的。除总有机碳TOC分析仪外,Sievers分析仪还生产细菌内毒素检测仪和超纯水硼分析仪。sievers.china@veolia.comcn.sieversinstruments.com微信公众号:Sievers分析仪
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  • 400-827-8086
    上海仪真分析仪器有限公司(仪真分析)是专业从事于仪器研发、生产、销售、服务于一体的现代化企业,为环境监测、食品安全、石油化工、地质调查、能源材料和临床检测等分析实验室提供样品前处理到分析测试全方位解决方案。仪真分析拥有一流的由多位留学博士、硕士和具备专业技能的技术开发及服务团队,为中国客户提供多方位的技术服务。我们致力于市场研究与应用开发,将世界领先的分析技术及行业标准与中国发展相结合,开发出本土化的解决方案。我们的解决方案包括:水质及土壤烷基汞全自动分析系统重金属湿法消解全自动石墨消解平台挥发性有机物全自动水土吹扫捕集系统全自动LC-GC二维在线检测食品中矿物油全自动食品中新型污染物监测平台对3-氯丙醇酯、缩水甘油酯、塑化剂、二噁英等实现样品前处理和检测ICP-MS仪器高端进样器及激光剥蚀系统基于XRF的便携式、实验室及在线石油化工产品的元素分析水质及土壤合规监测常规参数的全自动分析系统环境空气/固定污染源、土壤水质,氢气杂质,臭氧消耗层物质/温室气体和食品安全/风味领域VOCs的分析检测等公司的管理理念、研发实力、销售网络和技术支持得到多个全球仪器生产商的广泛认可。仪真分析得到知名仪器公司Brooks Rand Inc., Seal Analytical,Entech,Spark Holland , Axel Semrau , LCTech , XOS , Teledyne Cetac 等公司在大中国区的独家授权,做为其增值供应商,负责集成与中国分析应用相关的仪器以及整体解决方案。 目前公司总部设在上海,在香港,北京设有办事处,为国内广大客户提供优质的服务,位于上海的实验室,为国内广大客户提供专业的全自动检测应用方案及培训基地。
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  • 北京强盛分析仪器有限责任公司是一家集研发、生产、销售、服务为一体的现代化企业。公司成立于1994年,是由中国共青团中央华青科技中心于1989年发起,中国农科院与团中央华青联营电子仪器厂合作创建成立,并于1996年全面参与团中央书记李克强批准的首批农业服务万村项目。公司得到了团中央、农业部、全国供销合作总社、科技部等部委联合发文的大力支持。 北京强盛依托多年农业领域的技术基础优势,专注农业物联网的建设。将物联网核心技术与移动互联网、无线通信、云计算、二维码等技术高度融合,构建了智慧农业物联网系统,在农产品质量安全溯源监管、农业投入品监管、设施农业自动化控制、智能节水灌溉、水肥一体化等方面得到广泛应用,并且成功过参与了农业农村部农产品质量安全监管中心,在全国搭建的农产品监管系统建设工作。
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二维色彩分析仪相关的仪器

  • 产品介绍GC 1212全二维气相色谱仪深度整合了全新气流调制技术和成熟气相色谱技术,形成一体化全二维气相色谱平台,配合专用的全二维色谱软件,显著提升分析效率和用户体验,可广泛应用于石油化工、煤化工、香精香料和风味、食品安全、环境污染物等复杂样品的分析检测。主要特点调制功能集成- 无需额外安装调制器,简化系统安装、配置和使用。呼吸式气流调制技术- 无任何制冷剂和消耗品,维护要求低,运行稳定可靠。气相色谱功能组件升级- 满足全二维分析对采集速度、信号处理和流量控制精度的特殊要求。“连接为中心”的柱系统布局- 创新色谱柱布局方式和连接元件,便于多维色谱的柱连接。高效便捷的全二维色谱软件- 集成系统配置、方法参数设置、仪器状态监控和全二维色谱数据处理功能。技术参数项目指标参数流量控制电子流量和压力控制柱温箱温度设定 室温+4 ℃—450 ℃;精度 0.01℃“日晷”型柱系统布局,便于色谱柱拆装和连接进样口分流/不分流进样口(S/SL),压力设定:0~100psi;精度:0.001psi;另外可适配挥发性有机物进样口(VI)和冷柱头进样口(PCOC)检测器FID检测器,最高温度:450℃;最高采集频率:500Hz;检出限:1.5pg C/s(正十六烷);动态线性范围:107;另外可适配u-ECD、FPD等其他检测器调制周期1~18 s (常规参数范围,该范围以外应用请联系厂家)调制方式气流调制色谱工作站支持Windows 7/10;图形化用户界面(支持中英文);包含针对全二维色谱的系统配置、方法参数设置、状态监控、数据处理功能;采集过程实时显示全二维谱图;自动积分和定量功能通讯连接以太网连接(LAN)
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  • 岛津全二维GCMS (GC×GC-qMS)系统适用于多种应用,包括复杂基质的分离分析,例如传统GC或GC-MS难以分析的天然产物。 应用实例:食品、香精香料、环境、石油化学等。GC×GC是什么?GC×GC色谱技术将两根色谱柱以特定方式连接于调制解调器,通过设置一定的调制时间(调制周期)将一维流出物捕集、聚焦后释放至二维色谱柱。通过专用软件将色谱峰转化成为全二维谱图。特点重叠峰的分离以往的一维色谱无法充分分离具有相似沸点的峰,而今可以在极性差异的基础上实现分离。这意味着在具有复杂基质的样品中进行组分分离不再是一件难事。Image图像显示化合物结构通过GC×GC的Image 图像,可以判断化合物分布,该功能对于含有较多组分的混合物的分组分析尤为有效。柴油分析Image图像可以显示出不同苯环数量及碳数的分布。数据分析软件,GC ImageGC Image*是一款专用于GC×GC定性定量分析的软件,用于GC×GC的数据分析。GC Image能够直接加载通过GCsolution或GCMSsolution获取的原始数据,并将其转化为GCxGC图像以进行定性定量分析。分组分析和报告生成亦可轻松实现。* GC×GC热调制器及GC Image都是美国Zoex公司的产品。
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  • 技术指标◆调整维数:XY二维◆行程: Tx,Ty:25mm 组合用产品TSM25R-1A平移台 二个特点:采用交叉滚柱轴承,高承载,负载最小10Kg,稳定性好,且间隙小。
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二维色彩分析仪相关的资讯

  • “二维电子材料及纳米量子器件的研究和原位分析仪器 ”启动会召开
    3月17日,国家重大科研仪器研制项目&ldquo 二维电子材料及纳米量子器件的研究和原位分析仪器 &rdquo 启动会在中国科学院微电子研究所召开。国家自然科学基金委相关领导、项目专家组成员、项目科研及管理人员共60余人参加了会议。会议由基金委信息科学部常务副主任秦玉文主持。  &ldquo 二维电子材料及纳米量子器件的研究和原位分析仪器 &rdquo 由中科院微电子所牵头,北京大学、中山大学、复旦大学、浙江大学、中科院半导体研究所联合承担。  微电子所副所长刘新宇代表研究所对与会领导和专家表示欢迎。微电子所八室主任夏洋等项目及课题负责人从二维电子材料及纳米量子器件的研究和原位分析仪器,二维材料的物理性质及纳米电子器件的理论模拟,二维半导体与绝缘体、金属的界面研究与原位分析,高性能、可器件化的ZnO半导体材料制备,石墨烯生长及原位拉曼表征平台研发,碳基纳米电子器件研究和E-PEALD/SPM/R仪器系统集成七个方面汇报了项目的进展情况、研制内容、研制计划和研制难点。与会专家认真听取汇报,建议项目组在做好科研工作的同时,要注重技术转移转化,提升产品的实用性,并针对项目可能存在的困难和问题提出了宝贵的意见和建议。  会后,与会领导、专家实地参观了微电子设备工艺研发实验平台和净化工艺线。会议现场参观微电子设备工艺研发实验平台
  • 二维微机电(MEMS)阵列为移动光谱分析仪打下基础
    近日,德州仪器 (TI) DLP® 产品部的业务拓展经理 Mike Walker和 Optecks 的首席技术官 Hakki Refai 博士发表文章:二维微机电(MEMS)阵列为移动光谱分析仪打下基础,如下是文章全文。  在近红外 (NIR) 光谱分析领域中,一个将便携性与高性能实验室系统的准确性和功能性组合在一起的系统将极大地改进实时分析。由一块电池供电的小型手持式光谱分析仪的开发可以实现对工业过程、或食品成熟度的评估在现场进行更有效的监控。  大多数色散光谱分析测量在一开始采用的都是同样的方式。被分析的光通过一个小狭缝 这个狭缝与一个光栅组合在一起,共同控制这个仪器的分辨率。这个衍射光栅专门设计用于以已知的角度反射不同波长的光。这个波长的空间分离使得其它系统可以根据波长来测量光强度。  传统光谱测量架构的主要不同之处在于散射光的测量方式。两种常见的方法有(1)与散射光物理扫描组合在一起的单元素(或单点)探测器,以及(2)将散射光在一组探测器上成像。  使用 MEMS 技术的方法  使用具有一个单点探测器、基于光学微机电系统 (MEMS) 阵列技术的全新方法可以克服传统光谱分析方法中的很多限制。在基于单点探测器的系统中,一个固态光学 MEMS 阵列用简单、空间波长滤波器取代了传统的电动光栅。这个方法可以在消除精细控制电动系统中问题的同时,利用单点探测器的性能优势。近些年,此类系统已经投入生产,其中,扫描光栅被取代,并且 MEMS 器件过滤每一个特定波长进入单点探测器。这个方法在实现更加小巧和稳健耐用光谱分析仪的同时,也表现出很高的性能。  相对于线性阵列探测器架构,光学 MEMS 阵列的使用具有数个优势。首先,可以使用更大的单元素探测器,以提高采光量,并极大降低系统成本和复杂度,这对于红外系统更是如此。此外,由于不使用阵列探测器,像素到像素噪声被消除了,而这可以极大地提升信噪比 (SNR) 性能。SNR 性能的提高可以在更短时间内获得更加准确的测量结果。  在一个使用 MEMS 技术的光谱分析系统中,衍射光栅和聚焦元件的功能与之前一样,但来自聚焦元件的光在 MEMS 阵列上成像。要选择一个用于分析的波长,一个特定的光谱响应波段被激活,这样的话,就可以将光引入到单点探测器中进行采集和测量。  如果 MEMS 器件高度可靠,能够生成可预计的滤波器响应,并且在不同的时间和温度下保持恒定,那么这些优势就可以实现。  将一个 DLP® 芯片或数字微镜器件 (DMD) 用作一个空间光调制器,并且在一个光谱分析仪系统架构中将其用作 MEMS 器件的话,可以克服数个难题。首先,使用一组铝制微镜来接通和关闭进入单点探测器的光,这在广泛的波长范围内是光学有效的。其次,数字微镜的打开和关闭状态由机械止动装置和互补金属氧化物半导体 (CMOS) 静止随机访问存储器 (SRAM) 单元的锁存电路控制,从而提供固定的电压镜控制。这个固定电压、静止控制意味着这个系统不需要机械扫描或模拟控制环路,并且能够简化校准。它还使得光谱分析仪设计更能免受温度、老化或振动等错误源的影响。  DMD 的可编程属性具有很多优势。其中某项优势会在进行光谱分析仪架构设计时显现 -- 如果以被用作滤波器的微镜的寻址列为基础。由于 DMD 分辨率通常高于所需的光谱,DMD 区域会出现欠填充的情况,并且会对光谱过采样。这使得波长选择完全可编程,并且在光引擎出现极端机械位移的情况下,将额外微镜用作重新校准列。  此外,DMD 是一个二维可编程阵列,这为用户提供高度的灵活性。通过选择不同的列数量,可以调节分辨率和吞吐量。扫描时间可动态调整,如此一来,用户可对所需波长进行更长时间、更加详细的检查,从而更好地使用仪器时间和功能。此外,相对于固定滤波器器具1,诸如采用的 Hadamard 图形等高级孔径编码技术,可实现高度的灵活性和更高性能。  总之,与目前的光谱分析系统相比,使用 DMD 的光谱分析器件可实现更高分辨率、更高灵活性、更加稳健耐用、更小的外形尺寸和更低的成本,从而使得它们对于广泛的商业和工业应用更有吸引力。  单探测器架构消除噪声  目前基于线性阵列的光谱分析仪主要受到两个因素的限制。首先,探测器的波长选择受到像素孔径的限制。探测器的尺寸决定了采集到的光量,从而影响SNR。诸如Hamamatsu G9203-256的常见磷化砷镓铟 (InGaAs) 256像素线性阵列的尺寸为50微米 x 500微米。相反地,一个数字微镜阵列是一个完全可编程的矩阵,可以针对应用来配置列的数量和扫描技术。这可以将更大的信号呈现给通常与DMD一同使用的更大的1毫米或2毫米的单点探测器。将窄带光过滤到一个线性阵列中 -- 通常是50微米宽像素 -- 也许会出现串扰的问题。像素到像素干扰会成为读取过程中产生噪声的主要原因。这些干扰可通过单探测器架构消除。此外, 通过利用1kHz至4kHz的数字微镜扫描速度,单点探测器可以达到与平行多点采样相类似的驻留时间。对于基于MEMS -- 或基于DMD -- 的紧凑型光谱分析仪引擎,结果显示SNR的范围大于10000:1。  对于超级移动光谱分析仪十分关键的小型、高分辨率2D MEMS阵列  为了尽可能地提高性能,用户需要考虑可被用于将光线反射至探测器的MEMS总面积。然后,将这个面积与可用单点探测器孔径尺寸仔细匹配。  一个采用5.4微米微镜的DMD具有超过40万个可用像素,并且可以针对700纳米至2500纳米的波长进行优化。该款DMD是DLP2010NIR,它采用一个被称为TRP的全新像素架构。如图1中所见,这个像素提供17度的倾斜角。DLP2010NIR在一个评估模块中运行 这个评估模块提供针对光谱分析应用场景的独特光学架构。一个利用17度接通和关闭角度的光学路径可以用一个尽可能减少散射光的小巧引擎实现高性能感测分辨率。  图2中显示了这个针对光谱分析使用情况的独特光学引擎。这个系统优化了整个光路径中光学信号。来自样本的响应在DMD上成像,从而实现对每个波长的空间控制。这个评估模块的目的在于,通过将高效MEMS用作光谱分析中的高速2D滤波器,来获得设计优势。它是一款小巧、结实耐用且高度自适应系统,能够使光谱分析走出实验室,直接应用于现场测量或含光源测量。与传统光谱分析仪相比,同一个器件中的透射和反射测量头互换功能可以实现性能基准测试。  一个利用DLP2010NIR芯片的光谱分析光引擎有数个照明模块,并且每个模块的工作方式稍有不同。在一个传输模块中,光源、比色皿支架、高精度比色皿和和其它安装硬件被用于完成透射样本的吸收量和散射属性的测量。NIR透射测量值可用于液体样本,诸如果汁的水含量或出现的气体特征。这些数据能够提供与果汁原产地有关的很多信息。在固体样本中,NIR透射可以测量塑料管的不透光度,而这是观察气体和液体在传送线路中流动的重要参数。线路内的透射测量也被用于分析黄油在生产过程中的水含量,这样可以及时调整黄油制作工艺,从而节省了时间、尽可能降低成本,并且增加最终产品的质量。  或者,在样本无需与光谱分析仪窗口接触的测量中,反射模块是一个选择。它可以在几厘米的距离之外灵活地执行扫描操作,比如肉品被包装在塑料薄膜后监测肉品质量。诸如血糖预测等健康应用方面,也可以使用皮肤的漫反射来成为NIR区域内特色应用。  最后,在光纤耦合模块中,不论是透射测量,还是反射测量,它们都是通过光纤实现。这样可以在光谱分析仪与样本无法直接接触时实现测量。此类采样示例包括监视工业过程、测量导管中流动的液体、分析鸡肉、牛肉和猪肉中的湿度、脂肪和蛋白质含量。这些模块极大地扩展了应用范围,并且提供更高的测量性能。Optecks具有能够实现所有这些采样方法的照明模块解决方案。  正如之前讨论过的那样,使用DMD的光谱分析器件将功能拓展至对多个物质的分析、测试和测量。它们为实现更加准确的性能、更高分辨率、更大灵活性、更好的稳健耐用性和更小外形尺寸光感侧解决方案提供一个途径。此外,使用DMD的光谱分析仪还带来了更高的测量可靠性,而这在之前使用的传统光谱分析系统中,这也许是无法实现的。不论用户是打算用它测量农田中的庄稼需要的灌溉量,或是想要预测食物中的腐败程度,光谱分析都在不断成为准确、实时分析的强大方法。  参考书目  1 Pruett, E.,“德州仪器 (TI) DLP® 近红外光谱分析仪的最新发展可实现下一代嵌入式小巧、便携式系统”SPIE 9482-13 2015年4月  作者简介  Mike Walker先生是德州仪器 (TI) DLP® 产品部的业务拓展经理,负责这个部门的光谱分析业务。在过去几年中,Walker始终致力于将这项突破性架构引入到IR感测领域。在此之前30年间,Mike领导了TI的多个技术和业务团队。  Hakki Refai博士是Optecks的首席技术官。他在针对基于DLP系统的光学、电子和软件系统的设计和开发方面拥有10几年的经验。Refai博士在先进电子设备的设计、生产和分销方面具有5年多的领导经验。
  • μ -X360s便携式全二维面探X射线残余应力分析仪于神华国华(北京)电力研究院成功安装验收
    2019年4月19日,神华国华(北京)电力研究院顺利完成由Quantum Design中国(以下简称QDC)提供的μ-X360s残余应力分析仪的安装验收,QDC工程师紧接着对用户进行了相关知识和设备操作的全面培训。这是继华北电力科学研究院和南方电网贵州电力科学研究院之后,QDC交付验收的中国电力行业的三套μ-X360s便携式全二维面探X射线残余应力分析仪。 图1:QDC工程师对μ-X360s便携式全二维面探X射线残余应力分析仪进行安装调试 残余应力往往在金属构件的冷、热加工过程中形成,对构件的屈服限、疲劳寿命、构件变形及金属脆性破坏有很大的影响。残余应力会影响到机械构件和工程的质量、使用寿命及其安全保障,尤其近几年人们对高铁、航空航天、船舶海洋、石油化工、民用基础设备设施、国防等部门的安全和防护愈加关注,准确测定残余应力越来越受到科研单位和公司企业的高度重视,比如:航空领域的涂层残余应力检测,基础建设领域的钢结构残余应力检测,冶金领域的铸造、切割和轧制残余应力检测,机械加工领域的钢轨残余应力检测,等等。 图2:μ-X360s便携式全二维面探X射线残余应力分析仪X射线衍射残余应力测试方法为无损检测残余应力方法,且理论成熟、完善,因而成为当前应用范围较为广泛的测量结构表面残余应力的方法。蒙国内专家和学者的认可,该技术方法近被列入由“中国质检出版社”和“中国标准出版社”新联合出版的《材料质量检测与分析技术》专业书籍中。 相应的X射线衍射测残余应力设备也成为被较为广泛使用的设备。μ-X360s便携式全二维面探X射线残余应力分析仪可以在实验室内或户外现场对不同样品、构件实现快速、的残余应力测试,得到残余应力结果、半峰宽结果,定性分析晶粒大小、织构、取向信息,同时还以用来测试残余奥氏体含量(选配功能)。

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  • 【资料】二维色彩亮度分析仪DA-3000

    Planar Luminance & Chroma Analyser 二 维 亮 度 色 彩 分 析 仪 DA-3000[size=3][B]资料来源: http://www.fstarchina.com/products.asp?id=45[/B][/size] [IMG]http://www.fstarchina.com/images/da-3000/image002.jpg[/IMG]   DA-3000特点 高分辨率.分析图象象素为2048*1536. 测量速度快:1秒钟即可分析整个图象所有象素的亮度色彩数据. 测量尺寸:直径0.1mm -无穷大(需配合相应的光学镜头,在合适的测量距离下) 亮度分析范围:0.1-100,000cd/m2(针对不同量程需配合相应的光学测量镜头) 操作简易:仅需几步,即可得到所需的数据和图表.自动EXCEL输出. 快速测量模式:仅需3步,即可得到所需的EXCEL分析报表,主要用于产线上的在线快速测量 可设置产品的亮度色彩合格范围.测量完成后软件自动做OK或NG判定 测量亮度色彩结果以CIE1931的Lxy,CIE1976 Lu’v’,以及RGB坐标来表示 支持用户自定义校正服务. 软件语言:包括英文,繁体中文和简体中文. DA-3000应用 小型发光物体亮度色彩检测行业 例如:手机屏,PDA屏/背光模组,发光LED灯 可以做多点亮度色彩测量,整个 发光物体的亮度分布,发光LED灯在空间上的亮度分布  不规则的发光物体的亮度色彩分析例如:如手机键盘,汽车仪表等.可以屏蔽不发光区域的数据,仅分析每个按键上发光区域的最大亮度,最小亮度以及平均亮度及色度值   大型发光面的全面亮度色彩分析 例如:液晶显示器,背光模组,CCFL等  发光产品在线亮度色彩快速高效测量 例如背光模组,LCM模组,CCFL在线快速测量       显示器亮度色度分析 [IMG]http://www.fstarchina.com/images/da-3000/image038.jpg[/IMG]  应用行业包括 背光模组,扩散片,增亮膜,导光片,液晶显示器,液晶电视,CCFL灯管等. 从小尺寸手机屏到70英寸液晶电视,背光模组均可以测量 测量速度快,几秒即可完成对整个发光屏幕的亮度色度分析最大可分析2048*1536个点的亮度色度值 自动生成EXCEL报表,自动统计最大值,最小值,平均值,均齐度(Uniformity). 可以多幅图象对比,观察几个发光面板与标准片之间的差异 自动角度调整:在一些特殊的测试环境下,液晶面板不能很好地水平放置时,可以通过”自动角度调整”功能,使液晶面板在软件中自动调整到水平状态 快速测量模式.自动分析一片产品仅需数秒,自动生成EXCEL报表保存.可应用于产线上的亮度色度全检测量.  [IMG]http://www.fstarchina.com/images/da-3000/image042.jpg[/IMG][IMG]http://www.fstarchina.com/images/da-3000/image046.jpg[/IMG][IMG]http://www.fstarchina.com/images/da-3000/image048.jpg[/IMG][IMG]http://www.fstarchina.com/images/da-3000/image052.jpg[/IMG][IMG]http://www.fstarchina.com/images/da-3000/image054.jpg[/IMG][IMG]http://www.fstarchina.com/images/da-3000/image056.jpg[/IMG][IMG]http://www.fstarchina.com/images/da-3000/image058.jpg[/IMG]  获取被测LCD或BLU等发光物体的图象 点击”图象分析”按钮,即可以得到整个发光面板的亮度分布图象. 通过鼠标的移动可以观察各象素点的亮度色度值.   LCD表面的亮度分布图,中心最亮,四周较暗   LCD平面沿横轴和纵轴的亮度分布曲线   9点亮度色度均齐度测量   13点亮度色度均齐度测量   100点亮度色度测量   100点亮度位置分布图   多幅图象直观对比功能   100点亮度色度测量EXCEL报表.包括测量品信息,测量点的亮度色度值,最大值,最小值,平均值,均齐度统计,被测物体的图象,亮度分布与取点图,CIE1931色坐标分布,100点亮度2D分布图   快速测量功能   仅需点击”测量”按钮即可以完成整个测量过程,包括自动获取当前被测量图象,图象亮度分布分析,多点亮度色度分析,EXCEL报表输出.整个过程仅需几秒钟. 非常适用于产线全检测量       汽车仪表盘的亮度色彩分布测量[IMG]http://www.fstarchina.com/images/da-3000/080815/image002.jpg[/IMG][IMG]http://www.fstarchina.com/images/da-3000/080815/image006.jpg[/IMG][IMG]http://www.fstarchina.com/images/da-3000/080815/image008.jpg[/IMG][IMG]http://www.fstarchina.com/images/da-3000/080815/image014.jpg[/IMG][IMG]http://www.fstarchina.com/images/da-3000/080815/image022.jpg[/IMG][IMG]http://www.fstarchina.com/images/da-3000/080815/image026.jpg[/IMG] 汽车内的不规则发光体有很多,包括车速和转速指示灯,车载空调背景灯,车载CD/DVD背影灯,各按钮(如双跳指示灯按钮,雾灯按钮), 车载DVD/VCD,车载电话等. 用传统的单点亮度色彩计测量时,会有发光物体小,测量定位不精确,测量效率慢等问题,不能很好地了解发光物体的亮度分布. DA-3000可以完美地解决以上问题,几秒针即可得到整个发光物体的亮度分布(整个发光面的亮度色彩值), 并提供几种数据分析方法,导入EXCEL测量结果和图表        通过DA-3000先获取要分析的发光物体的图象.再选择”分析”功能,即可得到以色彩柱来表示的亮度平面分布图.冷色彩代表低亮度,暖色彩代表高亮度.即用右侧色柱来表示亮度    汽车仪表盘-发光区域亮度色度分析如左图所示 选中要分析的发光字体区域(如图中区域1选中”4”,区域2选择”5”,软件自动计算每个区域发光物体的发光象素数量,位置,最大亮值,最小亮度值,平均值,以及色坐标(x,y)以 及三色刺激值(X,Y,Z)下图为各区域的亮度色度值统计    汽车仪表盘-多点亮度色度分析可以选择要测量亮度色度的点的位置和大小,如左图所示选择了11个点.下左图为11个点的色彩和亮度分布,下右图为11个点的测量数据       EXCEL报表生成   车载发光(透光)物体的亮度色彩值可以对车载所有的发光物体进行亮度色彩的分析,在获取图象后,可以输出亮度分布图,多点亮度色度值,区域最大最小平均亮度值,并可自动生成EXCEL报表.           CCFL灯管测量分析 CCFL灯管,具备亮度高,寿命长,节能的特点,目前在液晶显示器行业被广泛使用,并且向民用照明的领域发展. CCFL灯管一般较细(约1mm-4mm左右),长度长,发光亮度高(40000-70000cd/m2),在使用传统的SR-3A进行测量时,必须使SR-3A的测量点对准灯管的中心位置,如发生0.5mm的偏差,则亮度测量结果往往会相差几千cd/m2.同时单独使用SR-3A测量灯管效率太低,每取一个测量点位置都非常耗时.如果SR-3A配套自动测量台使用,虽可提高测量的效率,但耗资昂贵. DA-3000二维色彩分析仪可以很好地解决这些问题.仅需数秒,即可同时得到数十根灯管的亮度分布图,以及几万点的亮度色度数据,并自动做合格或不合格的判定,生成EXCEL报表.  此为成品的Philip CCFL灯管.中间是单根CCFL,外壳为铝合金金属外壳         CCFL灯管亮度色彩分析-横纵亮度分布取一条横线穿越灯管中心,取一条纵线垂灯管中心,分析两条线经过的点的亮度分布2D图.(在图的下侧和左侧显示)  CCFL灯管亮度色彩分析-多点测量             CCFL多灯管同时在线测量制作一个灯管固定座,中间用挡板隔开,可放置多根灯管同时测量.从测量到生成EXCEL报表仅需3秒钟可以应用到产线上,做灯管的在线全检测量

  • 【求助】求助二维光谱分析

    求助Noda小组在Internet上提供的进行二维相关性计算的MatlbaM语言源程序,或是其它的进行二维相关性分析的MATLAB程序也行。在一篇论文上看到过说是Noda小组在网上提供了二维相关性计算的matlab源代码,但找不着,哪位大侠可以指点一下?pocha软件画图能力太差了。

  • 传统点/线探测技术和全二维面探测器技术的残余应力分析仪比较

    X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之一,是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的,至今仍然是研究得最为广泛、深入、成熟的内应力测量方法,被广泛的应用于科学研究和工业生产的各领域。然而长期以来,大家使用的都是基于一维探测器的测量方法。Pulstec公司开发出世界首款基于全二维探测器技术的新一代X射线残余应力分析仪——μ-X360n,将利用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了一个全新的高度,设备推出不久便得到业界的广泛好评。 相较于传统的X射线残余应力测定仪,新一代μ-X360n具有以下优点: 更快:二维探测器一次性采集获取完整德拜环,单角度一次入射即可完成测量,全过程平均约90秒。 更精确:一次测量可获得500个数据点进行残余应力数据拟合,结果更精确。 更轻松:无需测角仪,单角度一次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。 更方便:测量精度高,无需冷却水,野外工作无需外部供电。 更强大:具备区域应力分布测量成像(Mapping)功能,晶粒大小、材料织构、残余奥氏体分析等功能。应用领域: 1. 机械加工领域:测量机床、焊接、铸造、锻压、裂纹等构件的残余应力。 2. 冶金行业:测量热压、冷压、炼铁、炼钢、炼铸等工业生产构件的残余应力。 3. 各种零配件制造:测量电站汽轮机制造、发动机制造、油缸、压力容器、管道、陶瓷、装配、螺栓、弹簧、齿轮、轴承、轧辊、曲轴、活塞销、万向节、机轴、叶片、刀具等工业产品的残余应力。 4. 表面改性处理:测量渗氮、渗碳、碳氮共渗、淬火、硬化处理、喷丸、振动冲击、挤压、滚压、金刚石碾压、切削、磨削、车(铣)、机械抛光、电抛光等工艺处理后构件中的残余应力。 5. 民生基础建设领域: (1)海洋领域 :测量船舶、海洋、石油、化工、起重、运输、港口等领域设备和设施的残余应力 (2)能源领域:测量核工业、电力(水利水电、热电核电)、水利工程、天然气工程等领域的设备和设施的残余应力。 (3)基础建设工程领域:测量挖掘、桥梁、汽车、铁路、航空航天、交通、钢结构等工程领域所用材料、构件及其它相关设备设施的残余应力。 6. 国防军工领域:测量武器装备、重型装备等军工产品的残余应力。http://sciaps.gz01.bdysite.com/upload/201703/1490338019181409.jpg传统的点/线探测器技术 全二维面探测器技术——通过测量应力引起的衍射角偏移,从而算出应力大小。测量时需要多次(一般5-7次)改变X射线的入射角,并且调整一维探测器的位置找到相应入射角的衍射角——施加应力后,通过测角仪得到衍射角发生变化的角度,从而计算得到应力数据——单角度一次入射后,利用二维探测器获得完整德拜环。通过比较没有应力时的德拜环和有应力状态下的变形德拜环的差别来计算应力下晶面间距的变化以及对应的应力——施加应力后,分析单次入射前后德拜环的变化,即可获得全部残余应力信息http://sciaps.gz01.bdysite.com/upload/201703/1490338058206908.gif应用软件:http://sciaps.gz01.bdysite.com/upload/201703/1490338117148580.gif二维探测器获取完整德拜环,单角度入射,一次测量 全自动软件测量残余应力,半峰宽,残余奥氏体等数据内在定位标记和CCD相机方便样品定位,操作极其简单快捷快捷进入预设各种材料测量条件,一键执行测量

二维色彩分析仪相关的耗材

  • 色彩分析仪配件
    欧洲进口的色彩分析仪配件类似测量探针或测量计,测量RGB值,HSL值45/0颜色测量几何,色彩分析仪使用光谱分析方法确定样品的颜色。色彩分析仪配件特点:类似测量探针或测量计45/0颜色测量几何,测量RGB值,HSL值(色调,饱和度,亮度)使用光谱分析方法确定样品的颜色.色彩分析仪配件包括:测量探头显示器色彩分析仪配件由中国领先的进口精密仪器和实验室仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售!孚光精仪精通光学,服务科学,欢迎垂询!孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商,产品技术和性能保持全球领先,拥有包括比色箱,色彩分析仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类,世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系,确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库,可在下单后12小时内从国外直接空运发货,我们位于天津保税区的进口公司众邦企业(天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。关于色彩分析仪配件特点的更多消息,孚光精仪将在第一时间更新并呈现,想了解更多内容,关注孚光精仪等你来体验!
  • 二维位移平台
    电动XY位移台和电动二维位移台由中国领先的进口光学精密仪器旗舰型服务商-孚光精仪进口销售,精通光学,服务科学,先后为北京大学,中科院上海光机所,中国工程物理研究院,航天3院,哈工大,南开,山东大学等单位提供优质进口电动XY位移台,电动二维位移台,XY二维位移台。这款电动XY位移台是美国制造的高精度电动二维位移台,采用了XY双轴组合型设计,可以设计成实心顶部,也可设计成开放的框架结构,同时满足超净工作间和真空环境的使用要求。主要特色电动XY位移台超薄设计,3层结构;电动二维位移台直线伺服或滚轴丝杆驱动系统XY二维位移台集成的非接触式位置编码器电动XY位移台分辨率高达1纳米电动二维位移台内部预加载的辊导向系统XY二维位移台可集成伺服控制功能这款电动XY位移台采用特殊的3层结构设计,保证了最小的形变和最高的精度,电动二维位移台的刚度和稳定性也得到了最大化,从而保证了XY二维位移台的最佳支撑和完整性. 无空回(backlash-free)的预装引导系统保证了电动XY位移台实现平稳,低摩擦,高精度地定位,无故障长期使用。应用这款电动XY位移台,电动二维位移台具有广泛的应用,比如,可用于计量和制造领域,半导体封装,测试和制造领域,视频检测,微细加工,激光加工,告诉加工,激光和检测等领域。也有许多用户把这套电动XY二维位移台用于显微镜上,替代精度不足的传统显微镜载物台。配置行程范围100x100mm到300x300mm位移台高度最低可达60mm开放框架或固体顶部适合超净间使用真空兼容,适合真空环境使用非磁性主要参数:行程范围:100x100mm, 150x150mm, 200x200mm, 300x300mm驱动系统;步进电机,伺服电机,直线伺服电机,陶瓷伺服电机最大加速度:由负载决定最大速度:直线电机驱动:500mm/s,滚珠螺杆:250mm/s,滚柱丝杠驱动:40mm/s最大负载:15kgTTL分辨率:50nm重复精度:≤1μm构造:铝合金主体,灰色硬质涂层MS-100 STMS150-STMS200-STMS300-STMS-OFTTravel Length (mm)100x 100150x 150200x200300x300100x150Trajectory ControlAccuracyStandard Precision SP± 7.5µ m± 10µ m± 15µ m± 20µ m± 15µ /mHigh Precision HP± 5µ m± 7.5µ m± 10µ m± 10µ mn/aExtra High Precision XHP± 3µ m± 4µ m± 6µ m± 6µ mn/aStraightness/FlatnessStandard SP± 8 µ m± 10 µ m± 12 µ m± 20 µ m± 20 µ mHigh Precision HP± 3µ m± 4 µ m± 6 µ m± 10 µ mn/aExtra High Precision XHP± 3µ m± 4 µ m± 5 µ m± 7 µ mn/aYaw/Pitch/RollStandard SP20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec20 arc-sec30 arc-secHigh Precision HP10 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec10u arc-secn/a2 axis system all OrthogonalityStandard SP10 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec10 arc-sec20 arc-secHigh Precision HP5 arc-sec5 arc-sec5 arc-sec5 arc-sec10 arc-secExtra High Precision XHP3 arc-sec3 arc-sec3 arc-sec3 arc-secna
  • 转移二维晶体材料的高纯聚合物
    1、企业介绍泰州巨纳新能源有限公司:巨纳集团(Sunano Group)是能源行业的知名品牌。泰州巨纳新能源有限公司(Sunano Energy)是国内最早的从事石墨烯制备、性能检测及应用产品开发的公司之一,注册资本11000万元,有办公用房300多平方米,厂房和洁净室3000多平方米。核心研发团队主要由国内外知名高校博士组成,部分成员来自于2010年诺贝尔物理学奖小组,项目技术处于国际领先地位,在石墨烯领域拥有专利30余项。企业管理团队有丰富的成功创业经验,创新意识强,公司客户遍布全球。2、高质量二维晶体材料简介:二维晶体材料指的是以石墨烯为代表的单原子层及少数原子层厚度的晶体材料。巨纳集团除了提供石墨烯材料、设备、检测等一体化服务外,还联合荷兰HQ Graphene为全球客户提供高质量的类石墨烯二维晶体材料,并提供定制服务,以满足客户的不同需求。转移二维晶体材料的高纯聚合物
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