寿命可靠性

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  • 固定容量移液器4652080赛默飞经久耐用,可靠性久经考验
    4652000F2固定单道移液器1ul(微型管咀)46520105ul(微型管咀)465202010ul465213020ul465203025ul465204050ul4652050100ul4652140200ul4652060250ul4652070500ul46520801000ul46520902000ul46521003000ul46521105000ul465212010000ul4642010F2单道可调移液器0.2-2ul(微型管咀)46420200.5-5ul(微型管咀)46420301-10ul(微型管咀)46420401-10ul46420502-20ul(微型管咀)46420602-20ul46421205-50ul(微型管咀)46421305-50ul464207010-100ul464208020-200ul4642090100-1000ul46421000.5-5ml46421101-10ml4662000F2 8道可调移液器1-10ul(微型管咀)46620105-50ul466202010-100ul466203030-300ul4662040F2 12道可调移液器1-10ul(微型管咀)46620505-50ul466206010-100ul466207030-300ul4662080F2 16道可调移液器1-10ul(微型管咀)46620905-5ul(微型管咀)4700870F2单道可调套装1-1000µ l10ul、100ul、1000ul4700880F2单道可调套装0.2-1000µ l2ul、20ul、200ul、1000ul4700885F2单道可调套装10-10000µ l100ul、1000ul、10000ul4701070F2单道可调套装2-1000µ l20ul、200ul、1000ul
  • 高性能寿命长As-1-4海光空心阴极灯-元素灯Mn锰Mo钼Na钠
    重要提示:本产品网页标价为随机发布参数,产品具体准确价格请联系客服产 品 能 参 数 ★起辉电压:≦360V,起辉电压低(特别是用高频率点灯时如此),可以适用于各种不同的原子吸收光谱仪(AAS),一般原子吸收光谱仪灯的供电频率是200Hz、400Hz或更高,每秒钟灯要连续接通断开数百次。★最大工作电流:一般在10~30mA之间,AS-2型空心阴极灯略大。★超纯光谱性能:特征辐射谱线强度高而稳定,没有阴极材料杂质元素或其他元素、阳极材料、充入的惰性气体等发射谱线的重叠干扰,持续而稳定光源输出。★发射性能:独特的阴极环系统,保证达到均匀快速的发光性能。★噪 声:<0.3%,信号噪音降低到最小。★背 景:在特征谱线两侧的辐射背景低,主要分析线附近的背景强度小于分析强度的1%。 ★预热时间:<30min,一般在5-15min之间。★稳定性:≦+1%—-1%铜灯在30min内基线漂移<1%,其他元素灯在5min内基线漂移<1%。★灯体结构:基底的特殊设计保证了阴极针和接线的直接连接,结构紧凑,牢固可靠,使用方便。★寿 命:气体容量空间比其他品牌产品更大,产品使用寿命更长,一般元素灯≥5000mA.h,易熔、易挥发元素灯≥3000mA.h,可长期存放。空心阴极灯使用说明 1:灯电流的选用。用户应根据自己使用的仪器,及分析灵敏度要求选择,我们仅提供灯允许使用的最大工作电流值,用户选择使用的电流值,一般应在灯最大工作电流的1/3至1/4左右,以便延长灯的使用寿命。2:灯使用前,应将灯的输出窗擦净,以免影响发射强度。灯点亮后,避免目光直视,以防紫外光伤目。 3:低熔点易挥发元素灯,避免大电流长时间使用,用毕须待阴极灯冷却后方可移动。4:发现灯的辉光颜色变淡时,可用25—30mA反向灯电流处理,待辉光颜色恢复正常后,即可使用。5:管基为标准大八脚,1(5)脚为阴脚,3(7)脚为阳脚。 6:一般元素灯的寿命为5安时以上,易挥发,低熔点元素灯寿命3安时以上。
  • 高性能寿命长As-1-4北京普析原子吸收空心阴极灯-元素灯Mn锰Mo钼Na钠
    重要提示:本产品网页标价为随机发布参数,产品具体准确价格请联系客服产 品 性 能 参 数 ★起辉电压:≦360V,起辉电压低(特别是用高频率点灯时如此),可以适用于各种不同的原子吸收光谱仪(AAS),一般原子吸收光谱仪灯的供电频率是200Hz、400Hz或更高,每秒钟灯要连续接通断开数百次。★最大工作电流:一般在10~30mA之间,AS-2型空心阴极灯略大。★超纯光谱性能:特征辐射谱线强度高而稳定,没有阴极材料杂质元素或其他元素、阳极材料、充入的惰性气体等发射谱线的重叠干扰,持续而稳定光源输出。★发射性能:独特的阴极环系统,保证达到均匀快速的发光性能。★噪 声:<0.3%,信号噪音降低到最小。★背 景:在特征谱线两侧的辐射背景低,主要分析线附近的背景强度小于分析强度的1%。 ★预热时间:<30min,一般在5-15min之间。★稳定性:≦+1%—-1%铜灯在30min内基线漂移<1%,其他元素灯在5min内基线漂移<1%。★灯体结构:基底的特殊设计保证了阴极针和接线的直接连接,结构紧凑,牢固可靠,使用方便。★寿 命:气体容量空间比其他品牌产品更大,产品使用寿命更长,一般元素灯≥5000mA.h,易熔、易挥发元素灯≥3000mA.h,可长期存放。 空心阴极灯使用说明 1:灯电流的选用。用户应根据自己使用的仪器,及分析灵敏度要求选择,我们仅提供灯允许使用的最大工作电流值,用户选择使用的电流值,一般应在灯最大工作电流的1/3至1/4左右,以便延长灯的使用寿命。2:灯使用前,应将灯的输出窗擦净,以免影响发射强度。灯点亮后,避免目光直视,以防紫外光伤目。3:低熔点易挥发元素灯,避免大电流长时间使用,用毕须待阴极灯冷却后方可移动。4:发现灯的辉光颜色变淡时,可用25—30mA反向灯电流处理,待辉光颜色恢复正常后,即可使用。5:管基为标准大八脚,1(5)脚为阴脚,3(7)脚为阳脚。6:一般元素灯的寿命为5安时以上,易挥发,低熔点元素灯寿命3安时以上。

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  • 本试验台适用于不同规格型号继电器,接触器寿命可靠性试验,是电器检测实验室及电器制造企业对所属产品进行性能试验和科研性试验的必备设备。主要技术参数:1)设备主控为工控机系统,试验工位:16工位,可长期可靠运行。2)试品测试方式:产品手动安装、接线方式连接,自动完成试验。3)设备电源:三相AC380V/50Hz。4)可完成16台继电器试品的机械寿命试验。5)可同时对16台继电器试品共64对触头(常开32对、常闭32对)进行可靠性试验,具有试品常开、常闭触头自动对线功能,可自动识别触点类型。检测的触头类型:兼容各种不同触头组合形式。6)提供独立的线圈驱动电源,试品控制线圈额定电压为交流450V~12V或直流为250V~5V,可根据具体规格调节到位。线圈驱动交直流兼容设计。7)试品触头可靠性试验回路为直流,提供配套的阻性负载,触头开路试验电压、电流选择:电压DC6V、24V,电流为100mA、1A。8)试验中,对试品的所有触头进行监测,在每次循环的“接通”期的40%时间内与“分断”期的40%时间内,监测触头接通时其两引出端间的电压降与触头分断时触头间的电压。9)具有失效时触头电压实际值的采集记录功能,完善了失效数据,方便用户进行数据分析并进行产品改进。10)能同时对64对触头的接触压降及断开触头间电压进行监测,监测值可调。试验中当某试品出现下列情况时,即认为该试品失效:a) 触头接通时其两引出端间的电压降Uj超过触头回路电源电压的10%;b) 触头分断时触头间的电压Uf低于触头回路开路电压的90%。11)能同时对16台试品的动作时间及复位时间进行监测,监测值可调。12)能自动记录试验次数。13)能调节各监测量的整定值。14)试品最高操作频率为7200次/小时。15)当试品失效故障时,试验装置应能根据处置情况自动停机、记录失效试品编号、试品触头号和失效类型及失效发生时的操作次数,并能将故障试品进行切除,具有记录输出功能。16)完善的数据保护功能,随时监控电源变化。意外断电后数据不丢失,电源恢复后不破坏已采集的数据。17)显示界面采用TFT液晶显示屏,界面清晰直观,操作简单方便,人机交互界面友好。18)具有试验数据自动存储功能,存储为试验报告形式,EXCEL文件格式。设备组成: 1) 该设备主要由两部分组成:分别是试验控制柜和试验柜。其中,试验控制柜由工业计算机、触摸屏、PLC等控制元件组成,主要负责完成试验中的所有控制工作;试品柜中有8个试验工位、仪表、开关元件以及实现自动检测和控制功能的电气元件。2) 该设备具有操作简便,人机交互界面良好的优点,用户可由直观的控制菜单和相关对话框与计算机进行交互。系统会自动保存所有试验数据,并根据各工位的试验情况分别记录,方便以后查询,并可按用户要求提供自动试验报表。满足标准:GB14048.1-2012《低压开关设备和控制设备总则》;GB/T15510-2008《控制用电磁继电器可靠性试验通则 》;GB10963.1-2005 《家用及类似场所用过电流保护断路器》;GB16916.1-2014《家用和类似用途的不带过电流保护的剩余电流动作断路器(RCCB)》;GB16917.1-2014《家用和类似用途的带过电流保护的剩余电流动作断路器(RCBO)》;GB/T50479-2011《电力系统继电保护及自动化设备柜(屏)工程技术规范》;GB/T4205-2010《人机界面标志标识的基本和安全规则 操作规则》;GB/T15969.1-2007 《可编程序控制器 第1部分:通用信息》;GB/T15969.2-2008 《可编程序控制器 第2部分: 设备要求和测试》。
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  • 可靠性测试恒温恒湿试验机用途:适用于工业产品高、低温的可靠性试验。对电子电工、汽车摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研单位等相关产品的零部件及材料在高、低温(交变)循环变化的情况下,检验其各项性能指标。产品具有较宽的温度控制范围,其性能指标均达到国家标准GB10592-89高低温试验箱技术条件,适用于按GB2423.1、GB2423.2《电工电子产品环境试验 试验A:低温试验方法,试验B:高温试验方法》对产品进行低温、高温试验及恒定温热试验。产品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL标准。可靠性测试恒温恒湿试验机控制方式:1.可实现温度定值控制和程序控制;2.全程数据记录仪(可选功能)可以实现试验过程的全程记录和追溯;3.每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性;4.USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要;5.采用国际流行的制冷控制模式,可以自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%;6.制冷及电控关键配件均采用国际知名品牌产品,使设备的整体质量得到了提升和保证;高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;工作室材料为SUS304不锈钢- 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到小;表面喷塑处理 – 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;多种可选功能(测试孔、记录仪、净水系统等)保证了用户多种功能和测试的需要;大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;2.该系列的高低温循环试验箱是专业用于科技,通讯,导航??,数码,电子等领域产品,高低珠海 可靠性测试恒温恒湿试验机售后服务:1、设备免费送货上门、安装调试、代培操作人员(知道对方满意为止)2、设备免费保修1年,享受终身服务,非保修期适当收取材料成本费详细规格以相应规格书为准.特殊规格可定做。(欢迎致电洽谈)主营产品:恒温恒湿箱、恒温恒湿试验箱、恒温恒湿机、恒温恒湿试验机、高低温试验箱、高低温箱、高低温交变湿热试验箱、快速温变箱、高低温湿热试验箱、冷热冲击试验箱、冷热冲击试验机、步入式恒温恒湿试验箱、步入式恒温恒湿实验室、高低温循环试验箱爱佩科技售后服务 用户的满意是我们服务的宗旨,完善的售后服务使您解除一切后顾之忧,我们坚信一个好的企业卖出去的不仅仅是一台好的产品,更重要的是良好的服务。东莞市爱佩试验设备有限公司负责对本公司产品提供以下售后服务: 1.技术培训:操作使用、日常维护保养、常见故障检测和排除 2.定期回访:设备巡检,排除故障隐患,传递新消息 3.备品、备件专项储备支持 4.售后服务部提供维修服务的快速响应 5.专职维修人员确保及时、有效地排除故障
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  • ITR测量系统用于测试像增强器的可靠性参数:标准可靠性,衰老可靠性,烧伤,亮点保护等参数。实际上ITR测量系统用于测试像增强器在实际寿命内通过极亮入射光照明而产生的参数:在观察到的范围内产生不均匀的耀斑或者亮点。 ITR系统测试范围:l 烧伤-测试表征了像增强器在极端光照条件下进行相对短的持续测试时间(50小时)后的劣化特征l 标准可靠性,衰老可靠性-测试表征了像增强器在极端光照条件下进行相对长的持续测试时间(2000-10000小时)后的劣化特征l 亮点保护-测试表征了像增强器由于强烈的亮斑入射造成的损坏程度 ITR系统特征:l 测试条件:依据于MIL标准l 测试功能:烧伤,标准可靠性,衰老可靠性,亮点保护l 用户可以调整预定义测试条件l 全自动设计的可靠性测试系统,在测试过程中不需要人为参与l 多用途的测试工具既可用于实验室环境测试也可以用于生产线测试l 支持II,III,IV代已封装的像增强器测试l 用户可以使用随机软件进行设计非MIL标准测试条件l 可选择的标定设置用于生成用于对于UTS-R的重新标定 产品参数 ITR主模块BM-R模块,一组DC线缆,PS3电源,一组像增强器适配器,ITR控制软件,一组备用组件,标定部分(选配)可靠性测试光源模拟2856K色温LED光源亮度范围0.05mlx到50lx调节类型PC电控亮度调节分辨率不低于0.05mlx被测像增强器数量9亮点保护测试光源2856K色温卤素灯范围不可调节的50mlm在光阴极面亮斑区域1mm x 1mm区域被测像增强器数量1其他参数PC通信USB机械适配器MX-10160,MX-10130或者其他用户定义型号电路连接可更换管脚电缆电源DC2.7V尺寸300X370X380mm重量11kg
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  • 【分享】电子产品可靠性工程

    【分享】电子产品可靠性工程

    电子产品可靠性工程 electronics reliability engineering   研究电子产品可靠性的评价、预测、分析和提高可靠性的技术。电子产品包括电子元件、器件、设备和系统,1970年以后又包括了软件系统。可靠性工程应用概率论和数理统计方法研究产品故障时间分布、分布类型和分布参数,从而提出一系列评价产品可靠性特征的指标、计算和试验方法,解决产品在研制、设计、制造、试验和使用各阶段可靠性保证的工程应用问题。可靠性分析和预测是研究设备、系统可靠度和有效度的分析、预测理论和方法,以及应力条件等各种因素对产品可靠性的影响,对于电子元件、器件,是应用失效物理学对影响产品失效的物理、化学过程进行定性定量分析,确定这些过程与应力和时间等各种因素的依赖关系,并鉴定证实其失效模式和失效机理,为改进和提高产品可靠性提供依据。   发展过程  第二次世界大战以后开始提出可靠性问题。当时,军事装备已大量采用电子产品,但由于产品不可靠,造成重大损失。因此,50年代初人们开始有组织地、系统地研究电子产品的可靠性问题。可靠性技术的发展,大致可分为四个阶段。①调查研究阶段(1950~1957年):这一阶段主要对以电子管为重点的电子元件、器件进行现场数据收集和分析;研究寿命试验方法并成立专门的可靠性组织。②统计试验阶段(1957~1962年):主要研制环境与可靠性试验设备;开展产品统计抽样寿命试验;制订电子产品可靠性标准和可靠性组织、管理规范;建立可靠性数据收集和交换系统。③可靠性物理研究阶段(1962~1968年):这一阶段主要分析元件、器件失效机理;加强可靠性设计与工艺研究,建立高可靠元件、器件生产线;研究加速寿命试验的方法。④可靠性保证阶段(1968~  ):这一阶段的特点是建立保证产品可靠性的管理制度,形成质量保证系统 建立电子元件、器件可靠性认证制度;发展可靠性试验技术和改进可靠性标准。   产品可靠性  反映产品质量的综合性指标,是产品从出厂开始到工作寿命终结全过程的一种特性。它具有综合性、时间性和统计性的特点,有广义和狭义两种解释。广义可靠性是产品在其整个使用寿命周期内完成规定功能的能力,包括狭义可靠性和维修性;狭义可靠性是产品在某一规定时间内发生失效的难易程度。广义和狭义可靠性都是从使用角度提出的定性概念,并早已应用于工程实践。在实际需要和可靠性技术发展的条件下,50年代后期,以可靠性特征量表示产品可靠性高低的各种定量指标和方法开始应用于电子工程实践,制定出一系列可靠性标准,作为产品可靠性评价、考核的准则。可靠性特征量及其方法已为电子产品的研制、生产和使用等部门所采用。   用定量指标表示产品可靠性称为可靠度。它是产品在规定条件下和规定时间内完成规定功能的概率。所谓规定的条件是产品所处的环境条件和使用条件。所谓规定的时间是对产品规定的任何观察时间,包括连续使用、间断使用、储存和一次使用时间。按照产品的不同,时间参数可用周期、次数、里程或其他单位代替。所谓规定功能是规定产品的使命、用途、技术性能指标和失效判据。   对于可修复的产品,不仅有可靠度问题,同时也有发生故障后复原能力和修复速度的问题。与可靠度相应的是产品的维修度,即产品在规定时间内修复的概率。对于可修复产品用可靠度和维修度进行综合评价,就是产品的有效度。产品可靠性可按不同目的和要求采用相应的可靠性定量指标来表示。   ① 瞬时失效率λ(t):产品在t时刻后单位时间内失效产品数相对于t时刻还在工作的产品数的比值,习惯上简称失效率。N为产品总数,n(t)为t时刻失效产品数,即 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2006/11/200611272011_33808_1634962_3.jpg[/img]失效率单位为%/103小时=10-5/小时。对于高可靠产品采用10-9/小时单位,称非特。产品常见典型失效率曲线呈浴盆状,故又称浴盆曲线(图内实线)。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2006/11/200611272011_33809_1634962_3.jpg[/img]

  • 仪器设备可靠性指标验证方法介绍

    仪器设备可靠性指标验证方法介绍

    [align=left][b]科鉴可靠性总经理高军 原创 来源:科鉴可靠性微信公众号[/b][/align][align=left][img=,430,430]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803160947347563_8288_3163882_3.jpg!w430x430.jpg[/img][/align][align=left][b]1 目的[/b]可靠性指标验证是为考核产品[color=red]在预期销售使用的各个地域下[/color]的[color=red]各种典型工作环境条件下[/color]的可靠性指标是否达到规定的可靠性指标要求,并对出现的故障采用FRACAS系统进行归零管理,最终提供产品可靠性指标符合规定要求的证明。[b]2 适用对象[/b]在研发单位指定的研发任务书中或相关国家行业标准中规定了可靠性指标要求的产品(包括成套设备和关键部件)均应开展可靠性指标验证。[b]3 可靠性指标验证开展时机[/b]可靠性指标考核通常在正样机定型前完成,由于可靠性指标考核相对功能性能测试、安规与电磁兼容测试、环境试验等检测试验时间更长,因此,往往要求在这些(必要的)检测试验后再开展可靠性指标验证。开展可靠性指标验证前,产品之前的故障原则上应该完成了故障归零,样机和备件的技术状态应基本固化且一致。[b]4 可靠性指标的必要性[/b]以往,不少国家军工装备因为故障率高(即不可靠)导致部署后无法形成战斗力、高昂的维修保障成本、甚至在战场上掉链子。无论是世界发达国家还是我国,在军工装备可靠性方面吃过不少这样的苦头。可靠性工程主要从上世纪50年代开始,在德国、美国等军事发达国家的军工行业中得到快速发展和广泛应用,并自上世纪90年代开始被中国军工界逐步引入,经过1990年至2005年间15年的努力得到推广应用,对我国军工装备质量快速和大幅提升发挥了重大的作用。当前,[color=red]世界军事强国(包括我国)在装备研制过程中,均重点管控研发装备的可靠性水平是否达标,并严格要求无条件进行多层级、严格的可靠性指标的验证。[/color][color=red]针对民用市场,少数高安行业对可靠性也十分重视,如民用航空、高铁、电网等。[/color]对很多行业而言,产品的可靠性问题不至于造成机毁人亡,但[color=red]产品故障率高对企业品牌和信誉的侵蚀是巨大的,对售后维修保障造成的压力是巨大的,也应该高度重视产品的可靠性。特别是高端产品领域,可靠性差距是中国制造与国际先进企业的最主要的一个差距,造成了连国内的大用户对中国制造信心都不足。[/color]如截止2016年我国超过90%的医用核磁、80的医用CT/B超/放疗装备、70%工业机器人仍然依赖进口,而这些高端产品我国都有大量的供应厂商甚至不乏知名龙头企业。在不少高端装备和产品领域,这种大量依赖进口的局面虽然逐步在扭转,但仍然比比皆是。由此可见,[color=red]可靠性是我国工业产业特别是高端工业产业转型升级的一个重要抓手。[/color]因此,无论相关国家行业标准是否具有相关可靠性指标要求或其高低水平如何,鼓励研发单位特别是行业龙头企业在新产品需求分析和论证过程中,应针对国内外主要竞争对手同类产品可靠性水平(通常以平均故障间隔时间(MTBF)来衡量)和用户对产品可靠性的期望或要求,[color=red]提出具有竞争力和满足用户需求的可靠性指标要求,作为研发管控的一个重要指标,以提升产品上市后的竞争力和客户信任度。[/color][b]5 可靠性指标参数的选取[color=black]5.1 [/color]平均故障间隔时间(MTBF)[/b]通常对于可修复(能修复、值得修复、有修复价值)的产品采用。可修复的产品在寿命周期内可以发生多次故障,每次故障修复后可继续使用。电子设备是最典型的可修复产品,几乎所有组成层级较高的产品和大系统均具有可修复性,因此,MTBF使用最为广泛。当然,平均故障间隔时间的时间是指广义的时间单位,可能为小时、年、里程、次数、高压时间等单位,那么这里面涉及到一个时间转换问题。如某品牌的电饭煲要求的平均故障间隔时间为5年,在实际考核过程中通常采用小时为单位进行试验考核,如何转换呢?通常地,一个电饭煲通常一天煮2顿饭,煮一顿饭时间约2小时,一天使用约4小时,按照1年365天计算,则该电饭煲的平均故障间隔时间可以转换成365×4×5=7300小时,当然这其中包含模拟煮饭次数为365×2×5=3650次(意味着通断电和工作状态对应考核要求)。又如,某品牌分析仪器要求平均故障间隔时间为2年,如何转变成考核时间呢?我们分析下该分析仪器的典型使用场景,通常地,该仪器在实验室使用,实验室一年正常使用时间约为250天,每天工作期间开机8小时,则平均故障间隔时间2年对应的小时为250×2×8=4000小时。即该仪器可按照MTBF≥4000小时进行考核。[b][color=black]5.2 [/color]平均失效前寿命(MTTF)[/b]通常对于不可修复(不能修复、不值得修复、没有修复价值)的产品(仪器、医疗等行业通常作为耗材的一部分)采用。不可修复的产品在寿命周期内只有一次失效,一旦发生失效,该产品寿命就终结,不能再继续使用。因此,通常也可称作寿命。[b][color=black]5.3 [/color]任务可靠度(R)/成功率(P)[/b]通常对于在长期寿命历程中仅有短时间执行任务且对任务成功要求高的情况下使用,如火箭发射、导弹发射、钻探仪器钻井等适合采用任务可靠度或成功率。对于可多次重复使用的产品通常采用任务可靠度(R),而对于一次性使用的产品通常采用成功率(P)。这两个指标通常没有严格区别,随着技术的发展即便是一次性使用的产品也可以通过模拟技术实现多次重复执行任务。[b][color=black]5.4 [/color]质保期内返修率[/b]其实,在民用市场,最合理、最贴合企业需要的指标是质保期内返修率,如质保期1年内返修率要求不高于3%,意味着投出去的每100个产品在1年质保期内故障产品次数不应超过3次。笔者认为质保期内返修率指标是一个较为完美的可靠性指标,因为他有规定时间和可靠度双重约束,与售后质量统计和成本管控结合得十分紧密。但是该指标往往是一个统计指标,也就说说需要用大量在市场上用户使用的产品进行验证,才具有代表性。在研制阶段,如果只能够提供3、5个产品进行验证,似乎得不出返修率指标。为什么说是似乎呢,返修率可看成不可靠度,根据R=e^(λt)的可靠度函数关系,即t=质保期时,R=1-返修率,则可以求解出λ,而MTBF=1/λ,当然这个λ对应的故障应为不影响用户使用不会导致返修的故障。由此可见,质保期内返修率可转化成为MTBF进行考核。为什么我们看到有些产品的MTBF要求很高甚至远超出产品的使用寿命的原因,就是因为根据质保期内返修率作了MTBF转换的结果。如某品牌手机质保期2年,质保期内返修率为3%,则意味着每100个手机在2年使用期后97个仍然完好,则其MTBF=(97×2+3×1)÷3=66年,在此假定了故障服从均匀分布,故障产品的使用时间均按质保期的一半时间进行计算。因此,考核一个手机的MTBF是66年,显得似乎艰难了,当然,可以采用数台样机进行考核以缩短考核时间。[b][color=black]5.5 [/color]其它可靠性指标[/b]当然,还有一些其它的可靠性指标参数,在此不一一列出,读者如果感兴趣,推荐阅读《GJB 1909A-2009 装备可靠性维修性保障性要求论证》标准,结合自身产品特点进行参数选取。[b]6 可靠性指标考核的差异[/b]那么上述4个典型指标考核的差异在哪里呢,我们进行简单说明。[b][color=black]6.1 [/color]平均故障间隔时间(MTBF)的考核[/b]——允许拿多个产品累积时间计算MTBF,总累积时间达到事先选取的统计方案规定的时间要求(与可靠性指标相关)即可。增加产品数量可缩短试验时间。其中,统计方案的选取可以参考GJB 899A(值得一提的是该标准采用最低可接受值(下限值)进行考核,用户要求你的装备最低应满足规定的要求。而很多民用行业国家标准采用的是上限值进行考核,企业说自己的产品可靠性最好能达到什么水平。[color=red]笔者推荐采用下限值进行考核,在民用领域可靠性还在起步阶段甚至还未起步,少有企业开展严格的可靠性指标验证,先别说最好达到什么水平,先看通过严格规范的考核能否达到最低可接受值。[/color])——产品发生故障后,经过修复或采取纠正措施后可继续投入试验,接着累积试验时间。——试验中关注的故障是责任故障(发生的与研发组织提供的产品有关的故障,通常需要研发组织采取改进措施)。——产品数量的约束性没有严格的规定,但实际上提供的样机太少代表性不足,提供的样机太多每个样机试验时间短也存在考核不足。我们说的MTBF通常是指规定寿命周期内的MTBF,试验时间最好与寿命周期具有一定匹配性,避免试验时间过短产品后期故障率升高使得考核结果失真,当然试验时间也不应该超过规定的寿命周期。《GB/T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法》标准中,要求对于失效率是10[sup]-5[/sup]次方的产品,每个元器件的试验时间不应低于总试验时间要求的1/3, 失效率是10[sup]-6[/sup]次方的产品,每个元器件的试验时间不应低于总试验时间要求的1/10。这个标准提出的试验时间要求就考虑了试验时间与使用寿命之间可能存在的匹配问题。[b][color=black]6.2 [/color]平均失效前时间(MTTF)或使用寿命的考核[/b]——不允许拿多个产品累积时间计算MTTF或寿命。试验时间通常不是根据统计方案而是根据工程经验选取规定寿命值的k倍(工程经验系数,通常取K=1.0~1.5),应该将被试样机均试验至规定的K倍规定寿命时间。增加产品数量不能缩短试验时间但可以提高统计结果真实性。——产品发生失效后,产品退出试验。——试验中关注的是失效(不可修复的产品)。也有可修复的高层级产品提出使用寿命考核的情况,这个时候关注的故障是不可修复、不值得修复的故障(也有说耗损型故障,但笔者认为不严谨,比如,一个高层级整机发生故障,可能是其中一个低层级元器件发生了耗损型失效,但显然更换这个元器件后整机还是可以用的)。如在民用飞机行业有规定修理经费超过采购成本一定比例时认为不值得修理,即产品到寿报废。由此可见,寿命不只是有可靠寿命的概念,还要考虑技术寿命和经济寿命。——产品数量的约束性没有严格的规定,但如前所述,产品数量不能缩短试验时间,增加数量可以提高考核的代表性和考核结果的可信程度。MTTF验证中需要解决的一些问题与MTBF具有类似性,可参照MTBF的方法进行解决。[b][color=black]6.3 [/color]任务可靠度/成功率的考核[/b]——任务可靠度和成功率符合二项分布,通常采取模拟任务执行次数进行考核,笔者建议参考《GB/T 4087-2009 数据的统计处理和解释 二项分布可靠度单侧置信下限》国家标准,该标准给出了在要求的任务可靠度和允许失败次数下需要实施模拟任务的次数。《GB 5080.5 设备可靠性试验 成功率验证的试验方案》国家标准,尽管给出了试验方案,但[color=red]要预先给出成功率上限值,而上限值的预先给出具有主观性,因此笔者不建议采用该标准[/color]。——关注的故障主要是影响任务完成的故障,产品发生一些基本故障,只要不影响任务完成,不计入判定故障。——在模拟执行任务时,产品往往具有多种任务场景,应该考虑进行任务场景的组合,结合典型使用分配合适比例的任务场景进行模拟。[b]7 MTBF指标验证方法详细说明[/b]MTBF指标验证最值得参考的标准是《GJB 899A 可靠性鉴定和验收试验》,另外,《GB 5080.* 设备可靠性试验》系列标准也可供参考。其它军工和民用领域大量可靠性试验标准均参考这两个标准进行修改而来。[b][color=black]7.1 [/color]MTBF统计试验方案[/b]对可靠性指标(MTBF)的最低可接收值(θ[sub]1[/sub])进行验证时,无论采取哪种可靠性指标验证方式,均需选取某一个统计试验方案来确定试验时间。通常地,采取生产方和使用方风险相等的方案(即α=β),所需的有效试验时间为θ[sub]1[/sub]的倍数K,判决的责任故障数为r,常用的可靠性统计试验方案见表所示。表1 统计方案参数[/align][table=91%][tr][td=1,2][align=center]方案号[/align][/td][td=2,1][align=center]判决风险[/align][/td][td][align=center]鉴别比[/align][/td][td][align=center]有效试验时间[/align][/td][td=2,1][align=center]判决责任故障数r[sub]0[/sub][/align][/td][/tr][tr][td][align=center]生产方α[/align][/td][td][align=center]使用方β[/align][/td][td][align=center]D=θ[sub]0[/sub]/θ[sub]1[/sub][/align][/td][td][align=center](θ[sub]1[/sub]的倍数)[/align][/td][td][align=center]拒收(≥r[sub]0[/sub]+1)[/align][/td][td][align=center]接收(≤r[sub]0[/sub])[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]1[/align][/td][td][align=center]20%[/align][/td][td][align=center]20%[/align][/td][td][align=center]3.0[/align][/td][td][align=center]4.3[/align][/td][td][align=center]3[/align][/td][td][align=center]2[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]2[/align][/td][td][align=center]20%[/align][/td][td][align=center]20%[/align][/td][td][align=center]3.63 [/align][/td][td][align=center]2.99[/align][/td][td][align=center]2[/align][/td][td][align=center]1[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]3[/align][/td][td][align=center]20%[/align][/td][td][align=center]20%[/align][/td][td][align=center]7.22 [/align][/td][td][align=center]1.61[/align][/td][td][align=center]1[/align][/td][td][align=center]0[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]4[/align][/td][td][align=center]30%[/align][/td][td][align=center]30%[/align][/td][td][align=center]1.89[/align][/td][td][align=center]3.62[/align][/td][td][align=center]3[/align][/td][td][align=center]2[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]5[/align][/td][td][align=center]30%[/align][/td][td][align=center]30%[/align][/td][td][align=center]2.22[/align][/td][td][align=center]2.44[/align][/td][td][align=center]2[/align][/td][td][align=center]1[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]6[/align][/td][td][align=center]30%[/align][/td][td][align=center]30%[/align][/td][td][align=center]3.37[/align][/td][td][align=center]1.20[/align][/td][td][align=center]1[/align][/td][td][align=center]0[/align][/td][/tr][/table][align=left]举例说明:某仪器设备MTBF最低可接受值θ[sub]1[/sub]≥1000h,如选取高风险统计方案6进行可靠性指标验证试验,则所需有效试验时间应为1.2×1000=1200h,允许出现责任故障数为0个;如选取中风险统计方案2,则有效试验时间为2.99×1000=2999h,允许出现责任故障数为1个。无论采取单一评价方法,还是组合评价方法,还是综合评价方法,各部分有效试验时间之和应不低于Kθ[sub]1[/sub],MTBF应进行置信下限评估,选取的双侧置信度C不应低于40%(即单侧置信度C’=(1+C)/2不低于70%),如为寿命指标评价建议采取点估计。无论采取哪种方法进行可靠性指标验证,必须制定可靠性指标验证大纲,在第三方实验室或其现场监督下进行试验,严格管理可靠性信息,保证信息的完整、真实和准确性。[b][color=black]7.2 [/color]MTBF验证方式介绍[/b]可靠性指标验证应根据仪器设备类型、自身特点和指标特点,通常有实验室可靠性鉴定试验、现场使用可靠性指标考核、内外场结合可靠性评估、基于研制过程信息的可靠性综合评价、加速可靠性试验等多种方法进行可靠性指标验证。1) 实验室可靠性鉴定试验:在实验室模拟产品的典型使用环境条件(通常包括温度、湿度、振动、电应力)下开展可靠性指标验证。适用于体积合适、指标不高且能够在实验室可靠性试验系统中开展试验的仪器设备。实验室试验严格控制了环境应力的施加,试验集中管理和规范管理,在具备条件时应优先采用实验室可靠性试验方法。2) 现场使用可靠性指标考核:结合测试、运行、联试、试用、使用等现场使用开展可靠性指标考核。适用于体积庞大完全不具备实验室试验条件的产品,或十分贵重和精密、使用环境很好的产品。现场使用可靠性指标考核环境条件未控制,代表了部分产品可能经理的真实环境但覆盖往往不全,使用场景和出现的故障往往比较真实,但通常现场使用较为分散,不便于规范管理。因此,现场使用考核方式往往与实验室试验相辅相成,在军工装备要求两种验证考核都开展,应尽可能不因现场考核而取消实验室试验。3) 内外场结合可靠性评估:将实验室试验和现场使用两部分结合起来评估可靠性,适用于因指标高、样机数少而所需实验室试验时间长,或现场使用条件特殊不可完全依赖实验室试验进行指标考核的仪器设备。通常地,可将典型使用环境中常规的环境条件所占考核时间部分采用现场使用考核,而非常规(包括极端的非工作状态和极端的工作状态)环境条件所占考核时间部分采用实验室试验。4) 基于过程信息的可靠性综合评价:将成套仪器设备按研制特点划分为沿用、改进、新研三种状态,利用历史使用或研制过程信息,分别采取统计评估、分析评估、试验验证的方法综合评价各个部分的可靠性,得到成套仪器设备的可靠性是否满足要求的结论。适用于大型复杂、指标要求高、样机数少,但有相关可靠性信息数据的仪器设备。5) 加速可靠性试验:对于可靠性指标特别高的电子类仪器和关键部件以及部分机械机电仪器设备,如可提高施加应力量值(可能为机械载荷、电应力载荷或环境应力),可采用加速可靠性试验评价其可靠性(或寿命)。加速试验往往通过提高应力后达到1小时加速试验等效于若干小时常规试验,因而通过加速试验缩短高可靠、长寿命指标的考核时间。开展加速试验的前提是对象具有可加速性,包括能够成熟高应力,而且该高应力会带来加速效应,通常要求不因加速改变产品的失效机理。无论采取哪种可靠性指标验证方法,在试验前都应制定《可靠性指标验证大纲》,给出本次可靠性指标考核的要求和明确的方法;在大纲中都应明确统计方案,根据可靠性指标(MTBF)计算出要求的试验时间和允许的责任故障数;考核过程中,都应严格管理可靠性信息,保证信息的完整、真实和准确性。7.2.1 [b]实验室可靠性试验[/b]在开展实验室可靠性试验前,应先进行可靠性试验周期设计,根据仪器设备的典型使用环境确定试验应力时序、类型、大小及其组合。在实验室可靠性试验过程中,应严格控制试验应力的施加。根据国内外统计,温度、湿度、振动是影响绝大多数产品可靠性的典型应力,现有的可靠性试验设备通常以施加温度、湿度、振动三综合环境应力为主。对于在实验室环境条件下使用的多种类型的仪器设备(包括分析仪器、计量仪器、医学科研仪器等)主要施加温度应力,短时间施加湿度应力,不施加振动应力。在工作过程中承受振动环境条件的仪器设备则应施加振动应力。一个车载便携式仪器的典型实验室可靠性试验周期见图。[img]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img]图1 车载仪器设备可靠性试验剖面(示例)[/align][align=left][/align][align=center][img=,601,326]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803141341588589_8371_3368670_3.png!w601x326.jpg[/img][/align][align=left] [/align][align=left] [/align][align=left]通常地,在规定的总有效时间内,需要按照试验周期剖面周而复始开展若干个周期可靠性试验。如前所述,当对某个产品MTBF≥1000小时进行验证时,根据统计方案选取0故障方案试验时间不低于1200小时,按照上述试验剖面12小时一个周期试验,则需要按照试验剖面开展100个周期试验,每个周期中样机要进行5次测试功能性能测试,则整个可靠性试验中需要开展500次功能性能测试,而且500次测试均要合格,责任故障数才为0,试验结果方才被接受。[color=red]由此可见,可靠性试验远比大多数企业开展了的功能性能测试、环境试验严酷、充分得多,各种质量检测无法代替可靠性测试。[/color]7.2.2 [b]现场使用可靠性考核[/b]现场使用过程中,环境条件是不可控的,且现场使用时间分散、难于管理、数据收集困难,数据有效性难控制,评估过程中应严格规范试验数据的收集和管理。现场使用数据收集应满足以下要求:a) 收集数据应真实、完整、准确,严格进行数据管理;b) 收集数据段内,样机技术状态应基本固化,并确定抽样样机对象;c) 应制定规范的数据收集表格,用于收集时间、测试结果、故障信息;d) 收集的数据应进行汇总,提交审核确认有效时间与故障性质后,进行统计分析;e) 数据来源包括功能测试、老化测试、环境应力筛选、联试、环境试验、试用等环节;f) 数据内部确认由单位质量检验人员把关,数据的外部审核由第三方实验室进行把关。仅依赖现场使用这一方法进行可靠性评估时,现场使用时间应不低于1.2倍θ[sub]1[/sub](MTBF最低可接受值),建议事先选择统计试验方案进行有计划的现场试验。7.2.3 [b]内外场结合可靠性评估[/b]内外场结合可靠性评估根据选择的统计试验方案得到的有效试验时间与允许故障数,一部分试验安排在实验室进行,一部分试验安排在现场使用进行,两部分试验时间之和应达到统计试验方案规定的有效试验时间,两部分出现的故障数之和应不超过统计试验方案允许出现责任故障数,则试验顺利通过,说明可靠性指标达到要求。分别将两部分试验时间相加、故障数相加,可以参照统计方法进行可靠性指标评估。内外场结合可靠性评估中,现场使用作为数据来源的一部分而不是全部,通常可以常规条件部分通过现场使用运行考核,而对于严酷环境通过实验室试验考核。两部分完成后,累积试验时间和责任故障数,再进一步评估是否达到规定可靠性指标的要求。当然,任何一部分责任故障数超出允许责任故障数均可提前结束试验,或者两部分责任故障数之和超出允许责任故障数后也可提前结束试验,这两种情况都属于提前拒收。7.2.4 [b]基于过程信息的可靠性综合评价[/b]基于过程信息的可靠性综合评价方法将产品技术状态划分成沿用、改进和新研三个部分,同时将整个产品的可靠性指标分配到这三个部分。采用研制过程定性信息和定量信息分别对这三个部分采取可靠性分析、评估、试验等不同手段进行综合评价,给出仪器设备的可靠性指标,方法如下:a) 沿用部分可靠性统计评估:利用已有仪器设备技术状态固化后的试验信息、售后使用信息,评估沿用部分的可靠性指标,确认是否达到沿用部分分配的可靠性指标要求。b) 改进部分可靠性分析评估:利用改进前仪器设备售后服务信息,进行可靠性统计评估,获得改进前仪器设备的可靠性水平;并对改进前与改进后样机的技术状态差异进行比较,分析改进对可靠性的影响,并通过可靠性建模预计得到改进后的可靠性水平,确定样机改进后是否能够达到分配的可靠性指标要求。c) 新研部分实验室可靠性试验:利用新研部分研制过程技术状态基本稳定后的环境试验、联合试验、通电测试、试用等过程信息,采取贝叶斯统计分析方法,确认先验分布参数,制定贝叶斯统计试验方案,在实验室补充完成新研部分可靠性试验,评估新研部分的可靠性指标是否满足要求。当新研部分可靠性指标分配值不高时,或者基于研制过程信息得到的先验分布不理想时,也可采用全实验室试验方法评估新研部分的可靠性指标。基于过程信息的可靠性综合评价实施流程见图。图2 可靠性综合评价流程方法[/align][align=left][/align][align=center][img=,602,431]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803141345077158_2466_3368670_3.png!w602x431.jpg[/img][/align][align=left] [/align][align=left]7.2.5 [b]加速试验与快速评价[/b]对于电子类仪器或关键部件,往往具有加速模型及其参数,可采取加速可靠性试验方法。其他类型的仪器设备或关键部件,如果具有基本组成单元的加速模型及其参数数据,也可采用加速可靠性试验方法。典型的加速因子预先评估方法可以分成以下两类:a) 对于具有大量现场使用数据和故障信息的类似对象,可以充分利用加速试验与现场使用信息进行对比统计,获得初步的加速因子;b) 对于电子类仪器或关键部件,采用基于应力分析方法,可预先评估预期加速可靠性试验条件下的加速因子,加速因子预先评估流程见图。根据获得的加速因子和原有的试验方案,可确定加速试验所需时间和等效试验时间的折算关系,利用加速试验方法评估仪器设备的可靠性水平。图3 电子类仪器或部件加速因子评估方法[/align][align=left][/align][align=center][b][color=black][img=,529,594]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803141346348437_4285_3368670_3.png!w529x594.jpg[/img][/color][/b][/align][align=left] [/align][align=left] [/align][align=left]7.3[b][color=black] [/color]MTBF的统计评估方法[/b]可靠性指标(MTBF)验证合格与否,根据受试样机总有效试验时间、总的责任故障数进行判定。受试样机达到累积总有效试验时间T时,如果实际发生责任故障数小于等于统计方案允许的责任故障判定数(r[sub]0[/sub]),则接受;在累积总有效试验时间T内,如果责任故障数大于责任故障判定数(r[sub]0[/sub]),则判为拒收。进行平均故障间隔时间最低可接受值评估时,通常地,置信度C取值为C=1-β,其中,β为生产方风险。当采用的定时截尾试验方案时,采用单边置信下限评估时,平均故障间隔时间(MTBF)的最低可接受值(θ[sub]L[/sub])为:[/align][align=center][img=,297,100]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803141348199340_1786_3368670_3.png!w297x100.jpg[/img][/align][align=left] [/align][align=center][img]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img][/align][align=left]式中:T——累积总有效试验时间;r——试验中统计的责任故障数;β——统计方案中的生产方风险;r[sub]0[/sub]——统计方案中允许责任故障数;C——单边置信度,对于定时截尾试验方案,通常地,C=1-β,C不应低于70%。[color=red]笔者提醒大家,置信度C的取值值得注意,在GJB 899A《可靠性鉴定和验收试验》以及其它可靠性试验标准中,通常地,取C=1-β,对于发生责任故障数与允许责任故障数相同时,计算出的平均故障间隔时间(MTBF)最低可接受值恰好与规定可靠性指标要求一致。如果取C1-β,则计算出的平均故障间隔时间(MTBF)最低可接受值会低于规定可靠性指标要求;如果取C1- β,则计算出的平均故障间隔时间(MTBF)最低可接受值会高于规定可靠性指标要求。因此,建议最好取C=1-β。当我们觉得置信度太低时,可以调整放弃高风险统计方案,采用β值小的低风险统计方案。[/color][b]8 任务可靠度R指标验证方法详细说明[color=black]8.1 [/color]任务可靠度R验证统计方案[/b]如已知某产品的任务可靠度要求,在给定置信水平γ的情况下,可靠度考核可根据《GB/T4087-2009 数据的统计处理和解释 二项分布可靠度单侧置信下限》标准 ,要求样机执行多次任务,统计每次任务的结果(成功或失败),按照二项分布方法利用GB/T 4087进行查表,可查出满足可靠度下限值的最低执行任务次数。如A、B产品任务可靠度分别为0.95和0.90,则在置信度水平γ=0.95情况下,其任务可靠度考核所需的最低执行任务考核次数(分别在允许发生0次、1次、2次任务失败情况下)分别见下表。[/align][align=center]表2 可靠度指标验证统计方案(示例)[/align][align=left] [/align][table=586][tr][td][align=center]序[/align][align=center]号[/align][/td][td][align=center]可靠度[/align][align=center]下限值[/align][/td][td][align=center]0次失败[/align][align=center]达标试验次数[/align][/td][td][align=center]1次失败[/align][align=center]达标试验次数[/align][/td][td][align=center]2次失败[/align][align=center]达标试验次数[/align][/td][td][align=center]备注[/align][/td][/tr][tr][td=1,2][align=center]1[/align][/td][td=1,2][align=center]0.95[/align][/td][td][align=center]59[/align][/td][td][align=center]95[/align][/td][td][align=center]130[/align][/td][td=1,2][align=center]推荐采用59次任务执行,允许0次失败。[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]对应值:0.9505[/align][/td][td][align=center]对应值:0.9510[/align][/td][td][align=center]对应值:0.9523[/align][/td][/tr][tr][td=1,2][align=center]2[/align][/td][td=1,2][align=center]0.90[/align][/td][td][align=center]22[/align][/td][td][align=center]38[/align][/td][td][align=center]52[/align][/td][td=1,2][align=center]推荐采用22次任务执行,允许0次失败。[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]对应值:0.9006[/align][/td][td][align=center]对应值:0.9015[/align][/td][td][align=center]对应值:0.9009[/align][/td][/tr][/table][align=left]。[b][color=black]8.2 [/color]任务可靠度R验证方式说明[/b]任务可靠度验证最好在现场真实使用场景下进行任务执行,实验室模拟往往难以较为真实全面地模拟任务执行。如现场使用场景不足以执行那么多次任务,则采取实验室模拟任务执行进行补充。[b][color=black]8.3 [/color]任务可靠度R的统计评估方法[/b]任务可靠度合格与否,根据总任务次数(n)、总的失败次数(F)进行判定。受试样机达到规定任务次数(n[sub]0[/sub])时,如果任务失败次数小于等于允许失败次数(F[sub]0[/sub]),则判为接受;如果完成规定任务次数(n[sub]0[/sub])前,任务失败次数(F)已经大于允许失败次数(F[sub]0[/sub])则判为拒收。任务可靠度(R)置信下限的计算为:[/align][align=center][img=,347,166]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803141349157686_871_3368670_3.png!w347x166.jpg[/img][img]http://bbs.instrument.com.cn/xheditor/xheditor_skin/blank.gif[/img][/align][align=left]其中:γ——置信度;N——执行任务次数;F——任务失败次数。由此可见,当失败次数F=0时,计算十分简单;但当失败次数F≥1时,计算较为复杂,需要采用插值或逼近求解。[b]9 可靠性指标验证方法补充说明[/b]最后,笔者提醒大家,可靠性计算分析无法代替可靠性验证考核。在电网、高铁行业,笔者时常见到有供应商提供可靠性计算分析报告给总体单位,作为产品达到可靠性指标要求的证据。实际上,这样的证据是不合理和不足为信的。在方案设计阶段时没有样机供实验室试验或现场运行考核,可靠性计算分析是方案设计阶段的一个回答可靠性指标的重要手段。比如通过可靠性建模预计或通过可靠性仿真分析可以计算出产品基本失效率和任务失效率,进而可以求出产品的平均故障间隔时间和任务可靠度,这些手段成为设计方案对比、优选、改进的一个重要手段。然而,无论是可靠性预计还是仿真,采用的失效率数据等基础数据都为通用数据,并非体现每个供应商自身产品水平的真实数据。另外,可靠性预计和仿真手段,也没有考虑制造和工艺因素,得出的只是固有可靠性水平计算结果。因此,可靠性预计和仿真得出的可靠性结果只有相对可比性,并无绝对准确性可言。然而可靠性指标的验证通常发生在经过初样、正样研制和改进即将进行正样机定型阶段的一个重要工作,可靠性指标验证往往要求开展实验室试验或现场运行考核。[/align][align=center][b]获取更多资料请关注[/b][/align][align=center][img=,690,661]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/03/201803141355268147_9251_3368670_3.png!w690x661.jpg[/img][/align]

  • 液晶电视的可靠性试验研究

    液晶电视的可靠性试验研究摘 要: 本文以液晶电视产品为研究对象,在对市场同类产品失效分析的基础上对公司开发的产品进行可靠性试验方法的研究,旨在获得产品可靠性指标的同时,建立一套系统的,合理的适合公司开发的液晶电视产品的加速寿命试验方案,从而更好地对所开发的产品进行质量控制。介绍了可靠性研究的发展历史和国内外可靠性发展现状,可靠性研究的主要内容以及家用电器可靠性的发展。利用工业工程方法,通过对市场上液晶电视产品的失效情况的统计分析,结合公司产品的可靠性现状,建立液晶电视可靠性故障树,为其可靠性试验设计提供依据。为了验证所设计的加速试验方案的可行性和合理性,试验分两组同时展开。一组是在正常应力下进行的寿命试验,另一组是在加速应力下进行的寿命试验,前者是为验证后者而进行的试验。正常应力试验和加速寿命试验除了试验应力不同之外,其余完全一样:样品从同一批次产品中抽取,试验步骤和失效判据等都相同,因而,理论上每组试验样品的寿命分布类型相同。加速寿命试验采用温度加速因子,同时利用定数截尾结束试验。采用阿伦尼斯加速统计模型,首先假设产品服从指数或威布尔寿命分布,然后根据试验数据对产品进行指数分布检验和威布尔分布检验。试验数据分别采用点估计和区间估计的方法进行处理。通过对加速寿命试验数据的处理,外推其正常应力下的可靠性寿命值,然后再将其和正常应力下的试验数据进行比对,从而验证加速试验方案是否可行。关键词:可靠性,液晶电视,试验研究,加速寿命试验RESEARCH ON RELIABILITY TESTING OFLCD TVABSTRACTThis thesis takes the LCD TV products as the object of study. Based on the failure analysis of the kindred products in the market, the thesis will carry on the research of the reliability test for the products which the company currently developed. The aim for the research is to set up a reasonable, systemic solution which can accelerate the life-time testing of LCD TV products. At the same time, we can get the reliability indicators. That will better strengthen the quality control for the developed products. The thesis also introduce the history, present situation, main content & development of the reliability research for those home electric appliance. kekaoxing.com. By using the industry & engineering method, statistic analysis for those failure LCDTV products and combine the reliability situation for the company’s products, this thesis set up a fault tree for the LCD TV. That will provide the foundation of the reliability testing.So as to verify the feasibility & rationality of the accelerating test, the test will be proceeded by two groups. One is the life-time testing under the normal stress while the other one is the life-time testing under the acceleratedstress situation. The former one is performed to verify the latter one. The normal stress test is the same as the accelerated life-time test except the stress test. It is to say the samples will be taken from the same batch products. And the test procedure & the criterion of failure is the same as well. So, theoretically speaking, the life-time distribution pattern for each sample should be same.The accelerated life-time test will be finished by using the temperature accelerated factor and definite truncation. Adopting the Arlen Ness accelerating statistics pattern, firstly assume the products obey the indicator or Weibull life distribution, then start the indicator distribution test and Weibull distribution test by the test data.The test data is processed by the methods of point estimation & interval estimation. By the process of the accelerating life-time test data, we can get the reliability life-time factor under normal stress. Then compare it with the test data under normal stress, that can verify the feasibility of the acceleratedtesting project.KEY WORDS: reliability, LCD TV, test research, accelerated life-time test

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  • 江苏常州可靠性测试与寿命评估实验室建立
    日前,国家半导体照明产品质检中心(筹)可靠性测试与寿命评估实验室揭牌仪式在江苏常州市科教城举行。   该实验室是国家半导体照明产品质检中心(筹)与中科院上海技物所合作共建的。两部门将依托上海技物所在航天领域应用LED(发光二极管)取得的技术优势,在研发高端LED照明产品、开展产品工程化检测与测试等两个主要方面展开深入合作,帮助解决半导体产品生产企业发展中遇到的难题,促进LED产品性能稳定和质量可靠,进一步提升国家质检中心技术水平。
  • 国产分析仪器的可靠性研究刻不容缓——访北京航空航天大学可靠性工程研究所孙宇锋教授
    质量是分析仪器的生命线,可靠性是质量问题的核心,可靠性是分析仪器的灵魂。但是,对于当前的一些国产分析仪器来说,可靠性仍然是发展中的一大硬伤,这同时也成为国产分析仪器亟需解决的问题之一。   在今年4月份的科学仪器发展年会上,仪器信息网邀请了北京航空航天大学可靠性工程研究所孙宇锋教授作了题为《怎样提高科学仪器生产的可靠性》的报告,当时演讲台下坐了很多国产分析仪器厂商的老总,会后,也有老总希望和孙宇锋教授进一步交流。可见,提高国产分析仪器的可靠性的需求之高。   之后,仪器信息网与北京航空航天大学可靠性工程研究所展开了一系列合作。2013年10月30日,孙宇锋教授再次通过仪器信息网网络讲堂进行了题为《提高分析仪器可靠性稳定性的基本方法》的讲座。另外,孙宇锋教授主讲的&ldquo 分析仪器产品质量与可靠性&rdquo 培训班也于11月19日开班。   日前,仪器信息网采访了孙宇锋教授,请其详细讲解了可靠性系统工程的内容、应用于分析仪器的必要性、投入成本与效益的关系等。 北京航空航天大学可靠性工程研究所教授 孙宇锋   &ldquo 可靠性是设计、制造、管理出来的&rdquo   Instrument:可靠性系统工程包括哪些方面与内容呢?   孙宇锋:可靠性系统工程包括的内容非常多,可靠性是其中最重要的,也是产品质量特性中的一个重要组成部分。现代产品设计将质量定义为满足用户需求的程度。全特性质量概念中,质量特性包括了两方面,一是专门或专业特性,如分析精度、能力等功能指标 二是通用质量特性,保证功能持续有效的能力,具体又包含了可靠性、维修性、测试性、保障性、安全性环境适应性等主要特性,所有这些特性都是可设计的,在产品方案阶段就应是设计的核心目标。   可靠性是设计、制造、管理出来的。其中管理比设计更重要,因为只要在设计过程中认真实施相关准则就能发挥基本作用,但是往往在产品设计中为什么要做、怎么做才能有效达到这一目标,企业的技术和工程管理人员往往认识并不深刻。   &ldquo 可靠性工程技术在国内分析仪器行业基本属于空白&rdquo   Instrument:在您的研究工作中,可靠性系统工程之前多用于哪些方领域?   孙宇锋:我们研究所提供针对各类产品的可靠性问题的整套解决方案和相关技术方法,除航空航天外,还有通讯、高铁、核电站、重型机械、电力电子行业等行业。目前绝大多数是还是航空航天领域的,其它行业的项目所占比例较少。许多大企业已开始重视可靠性工作,对我们专业需求很大。   Instrument:目前,可靠性系统工程在分析仪器行业的应用现状如何?   孙宇锋:目前我们在国内还未看到针对分析仪器行业的可靠性典型技术案例,可以说可靠性工程技术在国内分析仪器行业基本属于空白,还处于学习、认识、尝试应用的阶段。   &ldquo 分析仪器高、精、尖的特性,要求重视可靠性研究&rdquo   Instrument:分析仪器为何必须要开展可靠性系统工程研究呢?   孙宇锋:分析仪器行业是一个技术密集、科技含量极高、结构精密、组成复杂的行业。作为一种应用遍及基础研究到生产线的基础性产品和技术,分析仪器行业对一个国家创新带动的新增价值很大。分析仪器新技术带来的附加价值占全世界每年新增价值的70%~75%。   一方面是组成复杂、精密、技术含量高的产品,越容易出现质量问题,主要原因是小批量考核不充分 另一方面,由于技术附加价值高、成本昂贵、用途特殊,许多情况下不允许出现问题,否则后果严重。   因此对于分析仪器,从可靠性角度应给与高度重视,要研究对这样特点的产品,应该采取什么设计手段来提高其可靠性水平。   对于分析仪器来说,可靠性与性能应该放在同等重要位置,没有可靠性,性能再高也没有用。对于仪器厂商来说,有时候宁愿降低产品指标,也应保证产品的高可靠水平。   &ldquo 可靠性问题已成为我国分析仪器产业化进展滞缓的一个关键因素&rdquo   Instrument:国产分析仪器行业与国外相比,可靠性研究方面有哪些差距?   孙宇锋:据了解,我国现有各类分析仪器企业6000多家,已经形成门类品种比较齐全、具有一定技术基础和生产规模的产业体系,并且每年以20%的增幅高速发展。但据海关统计,我国每年进口各类分析仪器总额接近我国分析仪器产业总产值的50%。高档、大型仪器设备几乎全部依赖进口,同时国外公司还占有国内中档产品以及许多关键零部件市场60%以上的份额。   面对这一现象,业内人士普遍认为:我国分析仪器产品跟国外的差距并不在技术的先进方面,而是在产品的稳定性和可靠性。国外产品质量稳定,用户使用放心。国内产品则稳定性和可靠性都不够,造成了业内&ldquo 产品叫好不叫座&rdquo 的情况。   目前,稳定性和可靠性问题已成为制约我国分析仪器产业创新发展的一个严重障碍,成为了产业化进展滞缓的一个关键因素。究其根本原因是行业内从业人员对产品可靠性的重要性存在观念和认识不足的问题,长期缺乏对确保产品质量的可靠性设计分析技术的研究和应用。   因此,尽快建立和形成我国分析仪器行业的可靠性工程技术体系,并尽快推广应用到全行业的企业中去,已成为了推进我国分析仪器产业快速的迫切需求。   国产分析仪器的可靠性工作应怎么做?   Instrument:可靠性系统工程中哪些是国产分析仪器厂商最迫切要做的?   孙宇锋:具体来说,仪器厂商可以从以下几方面开展工作:   首先,产品质量工作要以抓好可靠性工作为重点,应在企业文化中构建可靠性是产品核心要素的观念,使企业管理者和技术人员认识到可靠性是保证产品有效的、重要的使能技术。应该将可靠性指标与产品性能指标放在同等重要的地位加以重视,并真正落实在行动和产品研发过程里。在产品研制初期应建立可靠性工作系统,明确可靠性人员职责、将可靠性工作同步纳入产品研制计划,坚持&ldquo 预防为主、从源头抓起、全过程管理&rdquo 的可靠性工作原则。   其次,产品可靠性首先是设计出来的,因此应提出对产品的可靠性指标要求,这是推动设计人员开展可靠性工作的动力,是开展可靠性设计工作的基本依据。   第三方面,在产品研制过程中主要抓可靠性设计及其过程质量过程,必须采取一系列工程技术(包括了可靠性设计准则、分配、预计、FMEA、FTA等内容)来完成可靠性设计分析工作,并且应确保能够按照规范化的技术途径来实施。   另一方面,企业还要做好可靠性试验与验证工作。通过可靠性试验不仅能够发现产品潜在缺陷,为设计改进提供依据,还能为验证是否达到规定可靠性水平提供证据。   最后一点,企业还必须要重视元器件、原材料的质量管理工作,加强制造过程的质量控制,落实各类产品质量问题的归零工作。   简而言之就是引入管理、开展设计、实施监控、加强考核。从技术角度看,可靠性工程技术是一类具有普遍适用性的专业工程技术,并不高深,不是只有大的工程项目才能应用。因此以目前国内分析仪器行业的发展现状,应用可靠性技术是完全没有问题的。   企业可靠性工作能不能做好,我国可靠性工程技术的奠基人杨为民教授的话最具代表性:&ldquo 老板重视了,可靠性工作才能做起来&rdquo ,分析仪器企业也是一样。   &ldquo 可靠性系统工程技术的全面应用,只会降低产品全寿命周期的成本&rdquo   Instrument:可靠性系统工程应用于分析仪器,必然会增加仪器的制造成本,而目前大部分国产分析仪器的利润空间都不大,您是否算过成本与效益之间的&ldquo 经济账&rdquo ?这是否会制约国产分析仪器厂商对此的投入?   孙宇锋:这就要正确认识成本这一概念的内涵。   从厂家角度看,应用可靠性技术相当于将产品售后服务成本的一部分投入到了研发中,越早应用投入就越少,效益就越大。虽然研制成本有所增加,导致产品售价上升,但维修成本(保质期内)大大下降。从产品整个寿命周期看,可靠性工程技术会显著降低产品的寿命成本。   从用户角度看,分析仪器的购买成本较高,但如果不注意可靠性问题,其后期的维护和维修成本可能是惊人的,越是昂贵的产品,其维护成本越高,因此买高可靠产品,从整个使用期看也是省钱的。   采访编辑:刘丰秋   附录:孙宇锋教授简介   1990年本科毕业于北京航空航天大学工程系统工程系可靠性工程专业,2000年毕业于北京航空航天大学飞行器设计专业,获工学博士学位。   现任北京航空航天大学可靠性与系统工程学院系统安全与可靠性工程系主任,教授。主要从事可靠性设计分析、系统性能和可靠性综合设计与仿真、电子产品可靠性设计分析与仿真、装备可靠性维修性保障性论证与仿真、可靠性信息处理与评估等方向的研究工作。   近年来先后主持或参与973、预研、基础科研、技术基础等各类课题20余项,先后发表各类学术论文50余篇,合作出版著作2部,软件著作版权3项,专利2项。先后获得部级科技进步一等奖1次、二等奖5次,三等奖2次。
  • 工程材料疲劳可靠性有望实现高效“体检”
    作者:郝晓明 来源:科技日报疲劳失效是工程构件长期可靠服役所面临的重要问题。为了评价工程构件及各种材料的疲劳可靠性,往往采用足够数量的疲劳试样进行大量长时疲劳测试,这种既耗时又耗材的疲劳测试方法在工业界和实验室已使用了近百年。如何建立高通量即一次性对多个样本进行检测的疲劳测试方法与表征技术,实现低成本、快速评估材料疲劳可靠性是一个有待解决的关键问题。近日,中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家研究中心张广平研究员团队在前期小尺度材料疲劳行为研究的基础上,与东北大学材料科学与工程学院张滨教授团队合作,提出了一种材料疲劳性能高通量、快速评价的思想,设计并建立了一种能够同时对多个小微试样进行对称弯曲疲劳加载的测试系统,并在其上对核电、高铁、汽车等领域用的几种典型工程材料进行了高通量疲劳测试,通过对比和计算模拟进行了验证,建立了材料疲劳性能的高通量测试技术和方法。据介绍,该技术既可模拟标准规定的疲劳极限升降法快速获得材料的疲劳极限,也可一次性获得应力幅或应变幅与疲劳寿命之间的曲线;在一周内快速获得材料的疲劳数据,耗时仅为采用前述标准测试方法的1/4;基于经典的Tanaka-Mura模型,科研团队建立了该测试技术所获得的材料疲劳极限与标准试样疲劳极限间转换因子的理论预测模型。此外,利用该技术分别对经不同温度长时热暴露和经γ射线辐照的核主泵螺栓用F316不锈钢的疲劳性能进行了评价,证明了该方法在工程实际的适用性,为先进材料的疲劳性能快速评价提供了新策略。该高通量疲劳性能测试系统、技术与原理的建立,不仅为核电等在役关键工程构件疲劳性能测试提供了一种低成本、高效快速的新方法,且为增材制造复杂形性构件、材料表面涂层、腐蚀层和改性层、焊缝区以及材料结构单元和应力、应变集中区域等微小区域的本征疲劳性能评价提供了有效的评价策略,为在役工程构件疲劳可靠性“体检”提供新思路。同时,这一高通量疲劳性能测试方法和评价技术有望进一步推动材料、构件疲劳性能数据库的高效建立和物理模型-数据融合驱动的工程构件疲劳寿命的快速预测。
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