速率常数

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速率常数相关的仪器

  • 光解速率在线分析仪 400-860-5168转4769
    测量原理: 光解速率在线分析仪可以准确有效地计算某些与光化学反应相关的化学物质的光解速率常数,具体包括的物质有NO2,HONO,HONO2,HCHO和H202等(可拓展)。分析仪通过主要是利用Spectralon光学材料制作的探头收集来自各个方向的太阳辐射,并将收集到的太阳光辐射通过光纤连接光谱仪,由光谱仪获取特定波长范围内实时的光谱信息,并将光谱波段及对应的光强信息传输至计算机,计算机内的程序按照植入的算法,最终获取光解速率常数。该款仪器集成化程度高、维护量小,能实时获取大气中多种提供自由基的物质的光解速率。 仪器特点: 系统集成化程度高,自主开发的软件系统; 积分时间低至可设置,有效地避免探测器饱和;采用元线性CCD阵列探测器,最新的操作软件和热交换技术。
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  • 薄膜生长速率测试仪 400-860-5168转1431
    仪器简介:全球专业的薄膜沉积生长速率监控系统,采用无损的激光技术实时原位检测薄膜沉积速率、薄膜厚度以及光学常量(n&k),可广泛的应用于金属有机化学气象沉积MOCVD、分子束外延MBE、溅射系统Sputtering和蒸发系统等薄膜沉积过程的实时原位监控。主要特点:*实时薄膜沉积速率、薄膜厚度和光学常数(n&k)分析,同时标准偏差统计分析;*自动程序化校准;*实时反馈系统;*程序控制,可实时多层薄膜沉积监控和控制;*多Wafer监控功能;*Wafer基底旋转监控和控制功能;*所有参量原位实时检测;*操作装配简单便捷;
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  • 熔体流动速率仪 400-860-5168转3024
    一、 主要 用途 及功能:熔融指数仪HRZ-400B符合 GB/T3682-2000 的标准要求,熔融指数仪HRZ-400B主要参数同时也满足 ISO1133-97、ASTM1238 标准要求可用于对可用于聚乙烯、聚丙烯、聚苯乙烯、ABS、聚酰胺、纤维树脂、丙烯酸酯、聚甲醛、氟塑料、聚碳酸脂等多种塑料材料的熔体质量流动速率(MFR)或熔体体积流动速率(MVR)来进行测定;----------------------------------------------------------------二、熔融指数仪HRZ-400B特点:1、本仪器采用微处理控制和集成化、数字化的测控技术。按标准试验流程进行程序化设定.2、升温速度快、恒温精度高;在填料之后,能迅速恢复恒温状态。3、中文彩晶显示,语音提示、触摸屏操作,方便易懂。4、采用进口双显控温表,测控精度高、控温精度稳定。5、自动切料,可切硬质塑料。6、可配位移测量装置(B 法、光偶)用体积法测量指数比较大的材料;7、微型打印机进行数据打印。8、该仪器加热体元件已经淘汰同类产品采用的普通电加热丝的方式,而采用稀有合金材料镍铬金属压铸而成,具有长时间高温状态烧不坏的使用特点。-------------------------------------------------------------------- 三、新增功能特点:1、熔融指数仪HRZ-400B升级为触摸屏控制,方式新颖,操作便捷简便,更具人性化。2、更换了原有的单色液晶显示屏,使用了大尺寸的 65535 真彩色彩屏,视觉效果更好,界面显示信息更多。3、完善了试验结果的计算功能,保留小数,将结果四舍五入,使得计算结果更精确。4、各种参数设定可以任意设定,更便于试验人员的可操作灵活性,满足更多的试验要求。5、试验中的任意步骤均可手动跳过,方便测试。6、试验结果可存储,并可倒出至 U 盘计算机进行永jiu存储数据,便于日后查看每批试样的结果,并进行比对。7、此仪器具有计算机通讯功能接口,可通过配有程序软件进行试验测量,技术性更先进。(可根据用户特殊要求配英文 操作方法)。--------------------------------------------------------------------四、熔融指数仪HRZ-400B触摸屏软件操作界面:五、 熔融指数仪HRZ-400B主要技术参数:控温范围: 室温---450 ℃控温精度: ±0.2 ℃显示分辨率: 0.1 ℃zui大功耗: ≤500 W温度恢复时间: 4 min: 活塞位置检测: ( MVR )上下环距离: 30 mm位移控制精度:±0.1 mm测试范围: 0.03- - 450g/10min 六、 熔融指数仪HRZ-400B标准件参数:料筒参数:内孔 Φ 9.55±0.025mm活塞参数:活塞头Φ =9.475±0.015mm;活塞头长度 H=6.35±0.1mm口膜参数:挤出孔Φ =2.095±0.005mm口模配置:Φ 2.095±0.005/Φ 1.18±0.01mm砝码参数:砝码精度:±0.5%基本配置: A 0.325 kg(含压料杆)B 0.875 kgC 0.960 kgD 1.200 kgE 1.640 kg注:可根据用户要求加配备砝码-------------------------------------------------------------------- 七、 熔融指数仪HRZ-400B主要配置及附件:配 件 数 量 备 注主 机 一台微型打印机 一台砝 码 一套 0.325kg、0.875kg、0.960kg、1.200kg、1.640kg(可加配)口 膜 一只 Φ 2.095±0.005mm压料杆 一只清料杆 一套加料漏斗 一只口膜通径杆 两只 大小各一接料盘 一个连接电缆 一套主机地脚 四只附件箱 一个说明书 一本八、售后服务售后内容:一、我公司派工程师负责安装调试及培训。二、产品自客户验收之日起,免费保修 3 年,终身维修。1、设备安装调试:免费为用户提供所购仪器的安装调试服务(部分产品不提供)。在进行安装调试前用户方应提供相应的准备工作,并予以提前通知,具体安装调试日期双方可以协商而定。设备安装调试由多年行业zi深工程师免费进行。保证用户可以正确使用、软件操作和一般维护以及应及故障的处理。2、培 训:我公司工程师免费为用户提供操作人员培训,直到操作人员能独立操作为止。3、设备验收标准:用户方按订货技术要求进行验收。并符合国家标准要求。设备验收在用户方进行并由我公司安装调试技术人员和用户共同在维修报告上签字以确认仪器的调试工作完成。4、设备维修服务:我公司产品自用户现场调试验收合格后 2 年内免费保修,终身维护。在2 年免费保修期内产品发生非人为质量问题,我公司为客户提供免费维修。如产品在免费保修期外出现故障,维修服务只适当收取材料成本费。5、技术支持:对于所需仪器的用户,根据用户的要求提供专业的技术方案。除了常规的仪器服务外,我公司技术部还可为用户提供各种非常规设备的技术支持。6、售后响应:在接到用户维修邀请后,2 小时内做出反应,并给予解决。如未解决,我公司指派工程师及时到达用户现场,解决问题至设备正常使用为止。 九、其他相关产品序号设备名称设备型号测试指标备注1电压击穿试验仪BDJC10KV-150KV介电强度、泄漏电流介电强度、泄漏电流2体积表面电阻测定仪BEST-121体积电阻率、表面电阻率液晶显示3体积表面电阻率测定仪BEST-212体积电阻率、表面电阻率液晶触摸、电阻率直接测试4导体电阻率测定仪BEST -19导体电阻率导电材质电阻测试6半导体电阻率测定仪BEST-300C半导体电阻率四探针 电阻率直接测试7高频介电常数测试仪GDAT--A介电常数、介质损耗测试频率50HZ-160MHZ8工频介电常数测试仪BQS-37A介电常数、介质损耗测试频率50HZ9耐电弧试验仪BDH-20KV耐电弧微机控制、触摸屏控制10高压漏电起痕试验仪BLD-6000V高压等级测试zui高电压6KV11耐电痕化指数测定仪BLD-600V漏电痕迹、电痕化CTIPTIzui高电压600V 十、公司简介 北京北广精仪公司是一家专业从事检测仪器,自动化设备生产的高新科技企业公司,拥有现代化设计开发技术和先进的生产设备。积极专注于多种高性能检测设备及非标自动化设备的生产和研制,主要研发生产的产品:绝缘材料检测仪器(电压击穿试验仪、电阻率测试仪、介电常数测试仪、漏电起痕测试仪、耐电弧测试仪等)海绵泡沫检测仪器(落球回弹测试仪、压缩变形测试仪、压陷硬度测试仪、疲劳冲击试验仪),力学设备(拉力试验机)等质量已ling先国内先进水平。
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  • 速率常数K怎么换算成时间呢?t 0.9 又是怎么得来的?

    阿伦尼乌斯方程在药剂学中阿仑尼乌斯方程可用于制剂有效期的预测。根据 Arrhenius方程以1gk对1/T作图得一直线,此图称Arrhenius图,若将直线推至室温,就可求出室温时的速度常数(k25)。由k25可求出分解10%所需的时间(即t0.9)或室温贮藏若干时间以后残余的药物的浓度。最后一句话我实在是看不懂。速率常数K怎么换算成时间呢?t 0.9 又是怎么得来的?

  • 请问如何求得NMR构型转换时得速率常数K

    有一化合物具有椅式和船式两种构型,通过变温核磁可以观察得到。我想求它们转换得活化能等数据,看文献好像都要先求得其转化时得速率常数K(s-1),根据Arrhenius 图得到上墒,焓,自有能等。请问各位,能有什么办法呢?还有别的方法吗?谢谢大家!

  • 【求助】请教大家《无机化学》反应速率常数问题?

    大家好,我在学习《无机化学》,遇到了难题,请教大家,先感谢了! 题目如下: 实验测得反应S2O82- + 3I- = 2SO42- + I3-,在不同温度下的速率常数K如下: T/K 273 283 293 303k/mol-1• dm3• s-18.2×10-4 2.0×10-3 4.1×10-3 8.3×10-3 问,该反应是吸热反应还是放热反应? 谢谢大家。 关于题目,大家可以看附件。[~113852~]

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  • 梅特勒托利多升降温速率最快的商品化DSC上市
    梅特勒托利多Flash DSC上市啦!——升降温速率最快的商品化DSC  瑞士梅特勒托利多公司于2010年9月在全球同步推出了超快速差示扫描量热仪,名称为Flash DSC 1(中文名称为闪速DSC 1)。这是目前世界上速率最快的商品化DSC仪器,升温速率达到10的7次方数量级(K/min),降温速率达到10的6次方数量级(K/min)。  差示扫描量热法DSC是热分析中最重要的分析方法。DSC测量流入和流出试样的热流与温度或时间的关系,从而可定量测试物理转变和化学反应。  Flash DSC是创新型的超高速扫描量热仪,该技术能分析之前无法测量的结构重组过程。Flash DSC与常规DSC是理想的互补工具。极快的降温速率可制备明确定义的结构性能的材料,例如在注塑过程中快速冷却时出现的结构 极快的升温速率可缩短测量时间从而防止结构改变。Flash DSC也是研究结晶动力学的理想工具,不同的降温速率的应用可影响试样的结晶行为和结构。   (闪速 DSC 1 — 闪速差示扫描量热仪)点此了解更多 传感器:Flash DSC的心脏是基于MEMS(Micro-Electro-Mechanical Systems微机电系统)技术的芯片传感器(UFS1)。MEMS芯片传感器安置于稳固的有电路连接端口的陶瓷基座上。全量程UFS1传感器有16对热电偶,试样面和参比面各8对。在常规DSC中,为了保护传感器,将试样放在坩埚内测试,坩埚的热容和导热性对测量有显著影响。在Flash DSC中,试样直接放在丢弃型芯片传感器上进行测试。 灵敏度:高灵敏度来自采用16对热电偶。热电偶星形对称排列,从而能高精确地测量温度。 分辨率:温度分辨率取决于传感器的时间常数。时间常数越小,相邻热效应的分离就越佳。UFS1芯片传感器的样品面由涂有铝薄涂层的氮化硅和二氧化硅制成,这可使传感器上的温度分布极其均匀。极小的传感器面厚约2.1 µ m,因而其时间常数主要由试样决定。Flash DSC的时间常数约为1ms,即约为常规DSC仪器时间常数的千分子一。 基线:试样温度多点测量的创新技术确保了测量的精确性。差示传感器的高度对称性可获取平坦和重复性极好的基线。 测试原理:Flash DSC基于功率补偿测试原理,专利注册的动态功率补偿电路可使超高升降温速率下的测试噪声最小化。传感器的试样和参比面各有热阻加热块,一起生成需要的温度程序。加热块由动态功率补偿控制。热流由排列于样品面和参比面的各8对热点偶测量。 只有当试样足够小并与传感器接触很好时,快速加热或冷却才有可能。在第一次升温时,试样熔融,与传感器的热接触因而改善。然后,通过有意识地改变降温速率可产生定义的试样结构。 因为升温速率快,所以试样在加热时没有时间改变结构。超高的降温和升温速率范围允许用户在一次实验中测量许多不同的试样结构。 显示终端:除了计算机,Flash DSC 1的彩色触摸终端显示屏十分清晰地指示仪器的状态。可在终端上直接输入个别程序和查询。 软件支持:在典型的Flash DSC实验中,测量结果分析为与升温速率或降温速率或等温时间的关系。通常实验进行得非常迅速。试样制备需要稍多时间。数据处理和解释费时最长,但同时是最有意义的工作部分。 STARe软件在一般热分析功能基础上扩展包含了新的要求。例如,可在几分钟内设定复杂的测量程序,可高效处理大量的曲线。 曲线段的选择:打开测量时,只选择感兴趣的曲线段。多曲线同时计算:选择多个曲线,点击计算,即可得到各个结果。 快速建立用于拟合方程的函数表:激活结果线:只需一点击,就可将所选择的结果复制进表格。选择拟合方程,计算即完成。 试样制备:试样制备可坐在仪器前进行。在置于传感器上方的显微镜载物片上切割样品,然后用一根细丝将合适的试样转移至传感器并调整好位置。 应用:Flash DSC 1是表征新材料和优化生产过程的理想新工具。聚合物、多晶型物质和许多复合材料及共混物具有亚稳结构,这些材料的结构与生产时采用的冷却条件有关。加热时,会发生不稳定微晶的熔融或再结晶或相的消除等结构改变过程。结构改变对升温曲线的影响可通过改变升温速率来分析。Flash DSC能模拟发生快速冷却的工艺过程,获得与接近工艺条件下的添加剂(例如成核剂)效应有关的信息。等温测量可获得关于几秒内发生的转变或反应的动力学的信息。快速测量可节省分析和材料开发的时间。通过获得真实冷却条件下的结构信息可实现产品质量的改进。测试数据可用于模拟计算和优化生产条件。 Flash DSC的应用包括:材料的结构形成过程的详细分析。直接测量快速结晶过程。测定快速反应的反应动力学。研究接近生产条件下的添加剂机理。在很短时间内对材料进行全面的热分析。很少量试样的分析。模拟计算用数据的测定。
  • 我国破解阿伏加德罗常数测量一大难题
    准确测量硅摩尔质量有了新判据  最新发现与创新  近日,中国计量科学研究院、中国科学院地质与地球物理研究所及香港科技大学展开的一项联合研究,完成了对单晶硅摩尔质量准确测量,并提出准确测量化学组成的基本原理——物质的量测量均匀性原理。这一结果在国际计量学权威杂志《计量学》在线发表。  物质的量是国际单位制中7个基本量之一,摩尔是其的单位。一摩尔物质中包含的实物粒子数被称为阿伏加德罗常数。准确测定阿伏加德罗常数对于用基本物理常数来重新定义国际基本单位摩尔和千克至关重要。目前,国际上阿伏加德罗常数的测定主要是根据完整晶格单晶硅球的摩尔体积和单个硅原子的体积之比(X射线晶体密度法)来实现。但用自然丰度单晶硅X射线晶体密度法和功率天平法测量阿伏加德罗常数存在1.1×10-6不一致性。  我国科学家易洪等在实验中发现原先国际阿伏加德罗常数工作组所采用的碱溶法制样过程中存在有分馏效应,并且准确测量了这一分馏效应的大小。这一偏差可用于解释两种方法产生的测量误差。针对上述问题,我国科学家在理论上提出了准确测量硅摩尔质量的新判据,即:化学反应完全转化 无分馏效应 分子水平上的均匀性 更少的污染。  准确测量物质的组成一直是化学研究的基础课题之一。物质的量测量均匀性原理支配着化学测量的采样过程、样品化学制备过程和检测过程,它对于在分子水平上最高准确度情况下测量物质的量具有普遍的指导意义。相关评审专家认为,我国科学家的最新发现解开了10年来阿伏加德罗常数测量领域的一大难题,是对阿伏加德罗常数测量非常有价值的贡献
  • 中国科学家测出国际最精确的万有引力常数
    1687年,牛顿发现了万有引力定律。p  有人说这个发现得益于一颗砸到牛顿脑袋上的苹果,也有人说这种说法纯属虚构,但无论如何,牛顿成功地让世界各地的中学课本里多了一个描述万有引力的公式:F=G(m1m2)/r2,其中G是万有引力常数。/pp  万有引力定律认为,大到宇宙天体,小到看不见的粒子,任何物体之间都像苹果和地球之间一样,具有相互吸引力,这个力的大小与各个物体的质量成正比例,与它们之间距离的平方成反比。/pp  定律虽好,要想派上实际用场,还得知道G的值。然而,这个值到底是多少,连牛顿本人都不清楚。/pp  300多年来,不少科学家在努力测量G值并让它更精确。就在8月30日凌晨,《自然》杂志发表了中国科学家测量万有引力常数的研究,测出了截至目前最精确的G值。/pp  卡文迪许的尝试/pp  G值不明确,万有引力定律就算不上完美。但是,地球上一般物体的质量太小,引力几乎为零,而宇宙里的天体又太大,难以评估其质量。于是,在万有引力定律提出后的100多年里,G值一直是个未解之谜。/pp  1798年,一位名叫卡文迪许的英国科学家,为了测量地球的密度,设计出一个巧妙的扭秤实验。/pp  他制作了一个轻便而结实的T形框架,并把这个框架倒挂在一根细丝上。如果在T形架的两端施加两个大小相等、方向相反的力,细丝就会扭转一个角度。根据T形架扭转的角度,就能测出受力的大小。/pp  接着,卡文迪许在T形架的两端各固定一个小球,再在每个小球的附近各放一个大球。为了测定微小的扭转角度,他还在T形架上装了一面小镜子,用一束光射向镜子,经镜子反射后的光射向远处的刻度尺,当镜子与T形架一起发生一个很小的转动时,刻度尺上的光斑会发生较大的移动。这样,万有引力的微小作用效果就被放大了。/pp  根据这个实验,后人推算出了历史上第一个万有引力常数G值——6.67× 10-11N· m2/kg2。/ppstrong  十年十年又十年/strong/pp  卡文迪许测出了常数值,但科学家们并不满足。在他们看来,万有引力常数G是人类认识的第一个基本常数,而G值的测量精度却是所有基本常数中最差的。/pp  而G值的精度在天体物理、地球物理、计量学等领域有着重要意义。例如,要想精确回答地球等天体有多重,就要依赖于G值 在自然单位制中,普朗克单位定义式的精度同样受G值测量精度的限制。/pp  怎么让这个数值更精确,是卡文迪许之后的科学家们努力的方向。利用现代技术完善扭秤实验,则是他们提升测量精度的办法。/pp  就在牛顿万有引力定律提出后的300年,中国科学家罗俊及其团队加入了这支寻找引力常数的队伍,此后他们几乎每十年会更新一次引力常数的测量精度。/pp  上世纪八十年代,华中科技大学罗俊团队开始用扭秤技术精确测量G值。十年后的1999年,他们得到了第一个G值,并被国际科学技术数据委员会(CODATA)录用。/pp  又十年后,2009年,他们发表了新的结果,成为当时采用扭秤周期法得到的最高精度的G值,并且又一次被CODATA收录。/pp  如今,经过又一个十年的沉淀,罗俊团队再次更新了G值。“30多年的时间里,我们不断地对完全自制的扭秤系统进行改良和优化设计。”罗俊告诉《中国科学报》记者。/pp  在精密测量领域,细节决定成败。光是为了得到一个实验球体,团队成员就手工研磨了近半年时间,最后让这个球的圆度好于0.3微米。/pp  不仅如此,论文通讯作者之一、华中科技大学引力中心教授杨山清告诉记者,实现相关装置设计及诸多技术细节均需团队成员自己摸索、自主研制,在此过程中,他们研发出一批高精端仪器设备,其中很多仪器已在地球重力场的测量、地质勘探等方面发挥重要作用。/pp  《自然》杂志发表评论文章称,这项实验可谓“精确测量领域卓越工艺的典范”。/ppstrong  G的真值仍是未知/strong/pp  为了增加测量结果的可靠性,实验团队同时使用了两种独立方法——扭秤周期法、扭秤角加速度反馈法,测出了两个不同的G值,相对差别约为0.0045%。/pp  《自然》杂志评论称,通过两种方法测出的G值的相对误差达到了迄今最小。目前,全世界很多实验小组都在测量G值,国际科技数据委员会2014年最新收录的14个G值中,最大值和最小值的相对差别约在0.05%。/pp  尽管数值的差距在缩小,但真值仍是未知。“不同小组使用相同或者不同的方法测量的G值在误差范围内不吻合,学界对于这种现象还没有确切的结论。”罗俊说。/pp  科学家推测,之所以测出不同的结果,一种概率较大的可能是,实验中可能存在尚未发现或未被正确评估的系统误差,导致测量结果出现较大的偏离,另一种概率较低但不能排除的可能是,存在某种新物理机制导致了目前G值的分布。/pp  罗俊告诉记者,要解决目前G值测量的问题,需要进一步研究国际上测G实验中各种可能的影响因素,也需要国际各个小组的共同努力和合作。/pp  “只有当各个小组实验精度提高,趋向给出相同G值的时候,人类才能给出一个万有引力常数G的明确的真值。”罗俊说。/ppbr//p