全自动织物厚度仪

仪器信息网全自动织物厚度仪专题为您提供2024年最新全自动织物厚度仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括全自动织物厚度仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的全自动织物厚度仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合全自动织物厚度仪相关的耗材配件、试剂标物,还有全自动织物厚度仪相关的最新资讯、资料,以及全自动织物厚度仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

全自动织物厚度仪相关的厂商

  • 留言咨询
  • 留言咨询
  • 400-860-5168转3858
    杭州厚泽生物科技有限公司于2013年成立,是一家集科学仪器、耗材、试剂的销售、推广和售后服务为一体的高科技生物企业。公司成立之初,致力推广NGS质检的国产化仪器——Qsep全自动核酸蛋白分析系统,后与中国台湾光鼎在江苏成立合资公司江苏光鼎,完成了NGS质检仪器国产化生产。又先后与多个著名生物技术产品制造商达成合作,提高了代理产品丰富度,建立了完整的产品体系与服务体系。公司主要代理的产品包括:1. Qsep系列全自动核酸蛋白分析系统2. LightBench全自动核酸电泳分析回收系统3. iCATCHER 12全自动核酸提取仪(大体积样本游离核酸富集系统)4. EzDrop 1000/1000C超微量/比色皿分光光度计5. CS系列非接触式聚焦超声样本系统6. INB-D200 生物标志物检测分析仪7. EzMate自动移液工作站欢迎联系我们,电话: 0571-81060645,Email: hz@houzebio.com
    留言咨询

全自动织物厚度仪相关的仪器

  • n产品简介: SemDex A32型全自动晶圆厚度测试系统是德国SENTRONICS公司一款高性能的半导体用全自动晶圆表面检测系统,该系统可集成红外光谱干涉测量技术,光学干涉技术及光学反射技术,广泛用于半导体Wafer Manufacturing, FEOL, BEOL 及Wafer Level Packaging领域,SENTRONICS以其精准的测量能力,非接触的测量方式,快速的测试速度,上下双探头符合SEMI标准的测试方式,使得该设备在半导体,MEMS,在化合物外延领域拥有很高的市场占有率,全球半导体行业已有120多个Fab工厂已安装该系统。 n主要功能: 1、红外光谱技术:采用专利的光谱相干干涉技术,该技术可用于测量最小厚度为1um的wafer, 分辨率可达纳米量级,主要用于测量晶圆的厚度、TTV、Bow、Warp、RST、wafer上薄膜厚度。 可以测量背面研磨减薄和刻蚀后的晶圆,也可测量粘附在薄膜或者其他载体上的有图形或凸起的晶圆,可应用于堆叠芯片和微机电系统。 配置单探头系统,可以测量一些对红外线透明的材料,例如Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英和一些聚合物,还可以测量常规有图形、有胶带、凸起或者键合在载体上晶圆的衬底厚度。 配置双探头系统时,还提供晶圆整体厚度测量(包括衬底厚度和在光不能穿透的情况下的图形高度厚度)。 还可以测量沟槽深度和通孔深度(包括微机电中的高深宽比的沟槽和通孔),微机电应用中薄膜厚度测量和凸块高度测量。2、白光干涉技术:采用白光干涉技术,可得到wafer表面的3D形貌,表面粗糙度,TSV等关键尺寸,测量范围为0-100um,分辨率为亚纳米水平。3、光学反射技术:采用光学反射技术,可得到wafer表面涂层或薄膜的厚度,可测量最小厚度5nm的薄膜,分辨率为亚纳米量级。 n产品特点: - 兼容4,6,8,12寸样品;- 所有检测数据,一步同时完成测量;- 可在一台仪器上搭配不同技术的测量探头,用于测量晶圆的厚度、TTV、Bow、Warp、RST、wafer上薄膜厚度,3D形貌,TSV,关键尺寸,粗糙度等参数。- 符合SEMI S2和S8标准; - 最多可加载4个8寸片Load Port或者3个12寸片Load Port;- 两个可翻转的机械手臂,吞吐量最高达100 wafers /h;- 旋转台用于晶圆全尺寸快速测量;- SECS/GEM软件包,可以根据用户提供定制化需要;- 用户界面友好的WaferSpect 软件; n选配件 1、真空吸盘;2、高分辨率HD CMOS相机及图像识别的软件;3、集成OCR、条形码或QR码识别的摄像头;4、区分不同Cassette类型的阅读信息板;5、通过测试数据自动进行分拣 n应用行业: - 化合物半导体:研磨芯片厚度控制GaAs,InP, SiC,GaN - 硅基器件前段:功率器件,MEMS,射频MEMS- 硅基器件后段:8”和12”的封装及bumping线,TSV(硅通孔技术)- LED:可用作检测蓝宝石或碳化硅片厚度及TTV- 光通讯:石英材料类 n典型应用案例:
    留言咨询
  • n产品简介: SemDex A32型全自动晶圆厚度测试系统是德国SENTRONICS公司一款高性能的半导体用全自动晶圆表面检测系统,该系统可集成红外光谱干涉测量技术,光学干涉技术及光学反射技术,广泛用于半导体Wafer Manufacturing, FEOL, BEOL 及Wafer Level Packaging领域,SENTRONICS以其精准的测量能力,非接触的测量方式,快速的测试速度,上下双探头符合SEMI标准的测试方式,使得该设备在半导体,MEMS,在化合物外延领域拥有很高的市场占有率,全球半导体行业已有120多个Fab工厂已安装该系统。 n主要功能: 1、红外光谱技术:采用专利的光谱相干干涉技术,该技术可用于测量最小厚度为1um的wafer, 分辨率可达纳米量级,主要用于测量晶圆的厚度、TTV、翘曲度(Bow、Warp)、RST、wafer上薄膜厚度。 可以测量背面研磨减薄和刻蚀后的晶圆,也可测量粘附在薄膜或者其他载体上的有图形或凸起的晶圆,可应用于堆叠芯片和微机电系统。 配置单探头系统,可以测量一些对红外线透明的材料,例如Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英和一些聚合物,还可以测量常规有图形、有胶带、凸起或者键合在载体上晶圆的衬底厚度。 配置双探头系统时,还提供晶圆整体厚度测量(包括衬底厚度和在光不能穿透的情况下的图形高度厚度)。 还可以测量沟槽深度和通孔深度(包括微机电中的高深宽比的沟槽和通孔),微机电应用中薄膜厚度测量和凸块高度测量。2、白光干涉技术:采用白光干涉技术,可得到wafer表面的3D形貌,表面粗糙度,TSV等关键尺寸,测量范围为0-100um,分辨率为亚纳米水平。3、光学反射技术:采用光学反射技术,可得到wafer表面涂层或薄膜的厚度,可测量最小厚度5nm的薄膜,分辨率为亚纳米量级。 n产品特点: - 兼容4,6,8,12寸样品;- 所有检测数据,一步同时完成测量;- 可在一台仪器上搭配不同技术的测量探头,用于测量晶圆的厚度、TTV、翘曲度、Bow、Warp、RST、wafer上薄膜厚度,3D形貌,TSV,关键尺寸,粗糙度等参数。- 符合SEMI S2和S8标准; - 最多可加载4个8寸片Load Port或者3个12寸片Load Port;- 两个可翻转的机械手臂,吞吐量最高达100 wafers /h;- 旋转台用于晶圆全尺寸快速测量;- SECS/GEM软件包,可以根据用户提供定制化需要;- 用户界面友好的WaferSpect 软件; n选配件 1、真空吸盘;2、高分辨率HD CMOS相机及图像识别的软件;3、集成OCR、条形码或QR码识别的摄像头;4、区分不同Cassette类型的阅读信息板;5、通过测试数据自动进行分拣 n应用行业: - 化合物半导体:研磨芯片厚度控制GaAs,InP, SiC,GaN - 硅基器件前段:功率器件,MEMS,射频MEMS- 硅基器件后段:8”和12”的封装及bumping线,TSV(硅通孔技术)- LED:可用作检测蓝宝石或碳化硅片厚度及TTV- 光通讯:石英材料类 n典型应用案例:
    留言咨询
  • TTM150纺织物厚度测试仪技术参数:1.符合标准:《GB3820纺织品和纺织制品厚度测试》;《FZT60004-1991非织造布厚度的测定》、《ISO5084-1996纺织品和纺织制品厚度的测定》;2.用于各种普通类织物、非织造布、毛绒类、疏软类织物的厚度测定3.自动测定厚度,厚度测量范围0-50mmm,厚度测量精度0.01mm;4.自动加压,测量过程中仪器自动向检品施加压力,默认压力选项1.00±0.01kpa,0.5±0.01kpa,0.1±0.01kpa,0.02±0.005kpa;5.自动平移控制,压脚和参考板之间的距离仪器自动控制移动,移动范围0-50mm,移动控制精度±0.01mm;移动过程中压脚和参考板保持平行;6.可调换的压脚,通用压脚面积(20000±20)mm2,相应于圆形压脚面积(50.5±0.2)mm2;备用压脚板(10000±10)mm2,(40000±50)mm2,(1000±2)mm2;7.参考板,面积为50000mm2;8.自动计时功能,系统内部设定有高精度计时器,计时范围0-9999s/min/h;精度0.1s;系统智能识别分配多段独立计时;9.仪器采用7寸真彩触摸屏显示和控制,中文菜单,显示清晰明了,触摸按键操作快捷方便;10.设备自动储存检测数据,检测数据可打印,可查阅;11.设备电源:AC220V,50Hz,功率460W;12.设备尺寸420*380*360mm;13.设备重量28kg
    留言咨询

全自动织物厚度仪相关的资讯

  • 全自动涂层测厚仪|涂魔师非接触无损测厚仪FLEX新功能介绍网络研讨会
    涂魔师全自动涂层测厚仪是一款非接触无损涂层测厚的仪器,采用先进的光热红外法(ATO)对涂层进行非接触测量,实时得出涂层厚度。在工艺早期在线测量涂层厚度是记录和监控涂装工艺的关键,不仅能起到节省涂装材料成本、提高产品质量,而且能减少滞后时间和降低废品率的作用。环境条件的变化容易影响涂装工艺,因此在工业环境中使用操作简易的测厚仪是至关重要的。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX采用的是非接触无损测厚专利技术,而不是基于磁感应或超声波原理。因此它能精准测量湿漆、固化前的粉末涂料来得出干膜厚度和直接测量固化后的涂层厚度,适合各种涂料类型和颜色(包括白色)。与电磁感应测厚设备相比,涂魔师能精准测量金属、木材、塑料和橡胶等基材上的涂层厚度。与其他光热法、基于激光和超声波原理的设备不同的是,它具有安全可靠、使用方便、精度高和重复性好、校准简便并无需严格控制测试距离和角度等优势。使用涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX有以下的优势:①节省10%-30%的涂料②减少测量湿膜涂层厚度的时间③操作简单,方便新员工学习④可以在生产线早期进行涂层厚度测量,降低成本和返工率⑤绿色环保⑥帮助企业建立工业4.0的标准⑦支持与企业ERP直连,数据实时传输2021年9月22号网络研讨会将由联合首席官Andor Bariska介绍涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX的详细产品信息和新功能,帮助企业优化喷涂工艺。马上发邮件到marketing@hjunkle.com申请网络研讨会视频和资料,邮件主题【9月22号涂魔师研讨会】我们将在研讨会结束后给您发送资料和视频。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX工作原理ATO光热红外法介绍涂魔师全自动涂层测厚系统使用光热红外法ATO原理,通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层,其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX是一款功能齐全的高精准的非接触式无损测厚系统,无需进行整合,操作方便,校准简单,无需严格控制测试距离和角度,无需等到涂层固化后才进行涂层厚度测量,能有效节省材料和避免涂层缺陷问题,十分适用于生产车间现场,且自动记录数据及生产全过程。翁开尔是涂魔师中国总代理,欢迎致电咨询关于涂魔师全自动涂层测厚仪更多产品信息、技术应用和客户案例。
  • 德国 AIM Systems发布德国AIM Systems全自动涂层测厚仪CoatPro新品
    德国AIM Systems公司简介 德国AIM Systems有限责任公司一家是专注于工业涂布涂覆无损检测技术的光电科技公司。公司集研发、生产、销售与服务为一体,拥有无接触无损涂层检测的国际领先专利技术和产品,可为客户提供定制化的涂层测厚系统解决方案和专属产品。公司由Stefan Boettger博士在德国萨尔州圣英贝特市创立。公司顺利通过了国际质量管理体系ISO9001认证。 Boettger博士及其领导的核心技术团队,多年来一直致力于利用光热红外法对涂层无损检测的技术研发和工业应用,具有丰富的工业项目实践经验,曾为众多包括大众、奥迪、戴姆勒、采埃孚、蒂森克虏伯、特瑞堡集团、奥钢联、杜尔集团、ABB等几十家全球知名企业成功地提供过定制化的涂层测厚系统解决方案和产品,获得了用户的广泛认可。 北京东方德菲仪器有限公司是德国AIM System公司在中国区的指定代理商,作为AIM Systems公司在中国区的授权代理商,东方德菲将继续秉承“Leading by Professional因专业而领先”的理念,与AIM Systems公司一起用我们严谨的产品研发理念、深厚的工业应用经验、精湛的无损检测技术、卓越的产品、和真诚的服务为您的智能制造助力,我们期待与您的合作!德国AIM System全自动涂层测厚仪CoatPro 德国AIM System全自动涂层测厚仪CoatPro由德国AIM Systems公司研发生产,采用光热红外法技术原理,可被固定安装在机器臂或其他横动装置上,与电脑及配套测量软件组成实时在线涂层测厚系统,在涂装线上对涂层的湿膜或干膜厚度进行实时无损无接触在线测量,为客户提升涂装质量和优化控制涂装工艺提供重要的检测手段和数据支持。 一、全自动涂层测厚仪CoatPro基本原理---光热红外探测技术原理 待测样品在调制光源的激励下吸收了光辐射的能量,产生红外热辐射即热波,由于待测样品内部的多层结构或者自身缺陷而存在分界面特性的差异,导致红外热波在通过分界面时波形发生变化,不同层状结构厚度以及样品缺陷形貌对热波波形变化有不同的影响,通过探测反射热波形的随时间变化及相对激发光信号的延迟可以分析得到待测样品层状结构以及缺陷形貌尺寸的信息。二、CoatPro技术参数:测量精度:±0.5微米或更优测量范围:3-300微米工作距离:100± 30 毫米距离容差:±50毫米允许探测角度:±60°测量时间:1-2秒/点 三、CoatPro技术优势:无损无接触式测量适用范围广: 适用于不同材料上的不同涂层的干膜和湿膜厚度测量, 可测量的基材材质不限(金属、塑料、橡胶、复合材料等), 可测量的涂料种类不限(油漆、粉末涂料、粘胶剂、润滑涂层等) 可测量的涂装工艺不限可在曲面、粗糙表面和各种厚度的基底上测量高精度,通常在±0.5μm或更小LED光源,使用安全,无辐射和激光危害满足工业防爆安全区要求可自动生成检测报告和数据统计可在线实时测量, 适配于涂装机器人设备维护成本低四、CoatPro典型应用领域全自动涂层测厚仪CoatPro的应用领域极其广泛,不受限于涂层的基材材质,也不受限于涂装材料以及涂装工艺,典型应用领域如下:油漆涂装领域(例如汽车车身漆层、机车车身漆层以及零部件漆层的厚度量)塑料涂装领域(例如塑料外壳、电路板、汽车内饰/外饰上的涂层厚度测量)卷材涂装领域(例如钢卷和铝卷表面镀膜厚度的测量)粉末涂装领域(例如在粉末涂装加热烘烤前对膜厚进行测量)其他涂装领域(例如橡胶或者复合材料上的涂层厚度测量) 用于实验室检测 创新点:1.采用了独特的采用光热红外法技术原理 2.适用范围广:适用于不同材料不同涂层的干、湿膜厚度测量,且基材材质不限、涂料种类不限 3.高精度,通常在?0.5µ m或更小 4.LED光源,使用安全,无辐射和激光危害 德国AIM Systems全自动涂层测厚仪CoatPro
  • 探伤仪软件WeldSight更新!自动分析腐蚀,厚度C扫描可导出!
    什么是WeldSight?WeldSight是Tomoview和FocusPC的继任者,用于Focus PX和未来的Olympus PA采集装置。同时,WeldSight也是一个焊接检验专家,包含符合ISO、API、ASME和类似制造规范和工作程序的工具和特性,WeldSight和Focus PX专为工厂或大批量工作场所(包括机器人和集成系统)的重复焊接检查而设计。 FocusPC,一种强大的数据采集和分析软件程序;两个软件开发包(SDK):FocusControl和FocusData,可使用户基于自己的应用自行定制软件界面,并通过FocusPC控制检测过程,实现全自动检测操作。 WeldSight的重要功能 3D显示板材、管道、容器等进行体积合并后,可一键实现含PA数据的三维构件图像。组件设计和探头偏移在ESBT中管理,对于支持的配置,在WeldSight中无需配置即可实现。管道极坐标视图管道的一键式B扫描极坐标视图允许在多探头体积合并和单独跳跃中实现深度校正长度尺寸缺陷可视化。管道设计和探头偏移在ESBT中进行管理,并在weldsight实现配置。WeldSight本次升级核心自动腐蚀分析在腐蚀管理器下,设定需要分析的最大厚度以及缺陷在扫查轴和步进轴上的最小长度,点击run。操作界面:软件自动框选符合条件的缺陷并排序,在缺陷列表,可自动得出位置,长度,面积等信息。厚度C扫描在分析-corrosion下,可显示厚度C扫描,调节调色板,改变C扫的颜色。 C扫描导出:可在Export功能下,点击Cscan,可获取两种格式的数据:Excel,CSV,以下是Excel中视图的还原:生产力及便利性历史上,PA检查的许多技能和专业知识都是在复杂的软件导航和复杂的工作流程中完成的。而奥林巴斯的WeldSight软件,通过ESBT 设置扫查计划,且具有简单直观的用户界面和工作流程,非但可以显著的提升工作效率,同时也为高级焊接检验提供短期培训增添了更多可能性。WeldSight 软件集成Eclipse Scientific Beam Tool,集成了ESBT的所有探头、楔块、结构、校准试块、声束设置;简化设置复杂性和缩短创建时间,可一键创建扫查计划. 使用ESBT可减少培训和经验跟踪,并简化设置、获取和分析工作流程。WeldSight TCG带来了市场上非常好的校准速度和可重复性,包括同时或连续点创建、12位振幅分辨率和400%饱和极限。

全自动织物厚度仪相关的方案

全自动织物厚度仪相关的资料

全自动织物厚度仪相关的试剂

全自动织物厚度仪相关的论坛

  • 对“国产全自动透气仪”中的“全自动”的理解差异

    一.什么叫做透气仪? 透气性测试仪,行业又称为压差法气体渗透仪。透气性测试是指包装材料对气体等渗透物的阻隔作用,透气性能测试是从包装的角度上分析产品货架期的重要指标。用于塑料薄膜、复合膜、高阻隔材料、片材、金属箔片在各种温度下的气体透过率、溶解度系数、扩散系数、渗透系数的测定。透气性测试仪(参考:YG461E-Ⅱ型透气性测试仪)用于测试特定条件压力下单位面积的空气流速,用户只需设定标准测试压力,仪器会自动探测测试头面积、自动选定测试孔大小、自动控制风机抽力大小。二.透气仪的适用范围 透气性测试仪适用于各种织物,包括机织物、非机织物、气囊织物、毯子、绒毛织物、针织物、多层织物及棉绒织物,这些织物可以是为竞争力的、大面积的、涂层、经过树脂处理的或任何其他处理过的。透气性测试仪还能测试通过黏厚、弹性多孔物件的气流,比如聚氨酯泡沫。影响织物舒适性的一个重要因素是织物的透气性。运动服、防风防寒服均对织物透气性有较高要求。有些工业纺织品如飞机降落伞、滤布等对织物透气性有特殊要求。织物透气性决定于织物中经纬纱线间以及纤维间空隙的数量与大小,亦即与经纬密度、经纬纱线特数、纱线捻度等因素有关。此外还与纤维性质、纱线结构、织物厚度和体积重量等因素有关。三.透气仪的设计原理 织物透气性测试原理:所谓织物透气性,是指织物两面存在压差的情况下,织物透过空气的性能。习惯上用透气量表示,即织物两面在规定的压差下,单位时间内垂直通过织物单位面积空气体积,单位为L/m2.s。因为压差是空气赖以流动的必要条件,只有在被测织物两面保持一定的压差,才能在织物中产生空气流动。 四.透气仪的结构 仪器外部构造由机架、试样固紧装置、流量装置、显示面板等部分组成;仪器的内部构造由压力传感器、CPU数据处理器、吸风机、反馈调节装置等部分组成。按规定的方法和试验参数,将试样夹持在织物透气仪的进气孔上,然后调节风机速度,使织物两面达到规定的压差,根据喷嘴孔径和二侧压差大小测定织物的透气率其中透气率指:织物两面在规定的压差下,单位时间内,垂直流过织物单位面积的气流量,单位(mm/s),而织物在两面存在压差的情况下,透通空气的性能,即称为透气性。 五.对“国产全自动透气仪”中的“全自动”的理解差异 仅仅自动更换喷嘴的并非全自动透气仪!目前,国内生产透气量仪(或称织物透气性测试仪)厂家越来越多,技术水平参差不齐,厂家宣传几乎大同小异,都在宣传为---全自动织物透气仪。但是,对于客户而言,到底该产品达到什么样的技术水平,才能称作--全自动织物透气仪。市场上很多厂家,都把自动更换喷嘴作为产品的最大卖点,声称只要是自动更换喷嘴的透气仪,就是全自动透气量仪。其实,这是一种技术误导!专家指导:仅仅自动更换喷嘴的并非全自动透气仪!真正的全自动透气仪,不仅仅是自动更换测试喷嘴,更关键的是测试过程的快捷,全智能,无人工辅助,无人为干扰!国内很多厂家的所谓自动更换喷嘴,完全是人工辅助干预的,整个测试过程,如果没有人为操作,根本无法完成实验。即通过单片机程序控制机械旋转动作,再反馈到仪器屏幕上,显示喷嘴大小是否合适,进而人为的点击操作屏幕,选择机械动作来达到更换喷嘴的目的;测试过程,需要多次的人工操作才能完成一次实验;不但测试效率低下,费事费时,关键是人工干预的误差较大,测试数据失真。--这种方式,完全是技术误导,只能称之为半自动型透气测试仪。通过人工操作屏幕来更换喷嘴的并非全自动透气仪!际高技术研发中心,通过多年技术攻关,推出的真正全自动织物透气仪,摒弃这一技术误区,从而一举打破这一宣传误导。际高YG461E系列全量程自动透气性测试仪,不但是自动更换喷嘴,而是整个测试过程全自动化,无需人为干扰,无需人工操作屏幕,无需人为值守,真正通过程序控制机械动作自动更换喷嘴,测试效率提高至少10倍以上。

  • 全自动固体密度仪是什么仪器

    [size=16px][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &][color=#05073b]全自动固体密度仪是什么仪器[/color][/font]全自动固体密度仪是一种能够准确测量固体样品密度的计量仪器。它的工作原理基于阿基米德原理,也被称为浮力原理,即当一个物体完全或部分浸没在液体中时,所受到的浮力等于所排开的液体的重量。全自动固体密度仪通过使用气体置换法或膨胀曲线法等方法,可以快速、准确地测量固体物质的密度。全自动固体密度仪在科研、生产、质量控制和环保等领域都有广泛的应用,为相关领域提供了重要的数据支持。其测量范围广泛,可以测量各种固体材料的密度,并且可以根据需要选择不同的测量方法,以获得最准确的密度值。总之,全自动固体密度仪是一种先进的测量设备,具有广泛的应用前景,其性能和应用范围还将不断扩大。如需更多信息,可以查阅相关领域的专业书籍或咨询相关领域的专家。[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/03/202403291031309114_1105_6098850_3.jpg!w690x690.jpg[/img][/size]

  • 咨询全自动液液萃取仪?或者全自动红外法测油仪

    实验室按照红外法测定水中总油(不需要区分植物油、动物油),现在使用振荡器萃取,手工转移到红外检测。想进一步解放劳动力,特咨询路过大侠使用全自动液液萃取仪或者使用全自动红外法测油仪的经验?(ps:初步网搜了下,为啥进口的少见呢?)

全自动织物厚度仪相关的耗材

  • 全自动旋光仪配件
    全自动旋光仪配件是领先的全自动旋光计,用于测量旋转角,样品旋光,通过计算进而得到浓度,纯度等物理量,全自动旋光仪配件非常适合在医药,科研,制药和化妆品研发领域使用。 全自动旋光仪配件特点 包括内置peltier精密温度控制系统,自动光电检测技术 和Windows系统, 具有超高精度和可靠性,方便操作使用。 通过检测偏振态旋转,可以分析获得密度,含量和纯度等物质特性。 广泛用于医药,石化,食品,化学,制糖业等各种工业,也适合大学和研究所使用。全自动旋光仪配件特色 大尺寸触摸屏显示,Windows界面,方便操作 高亮度LED灯寿命达到5000小时 极大的存储能力,可存储超过1000组数据信息 农业应用:农业抗生素,农用激素,微生物农业,农药的分析; 医药应用:抗生素,葡萄糖,维生素和制药的检测; 食品应用:糖,味精,酱油等的糖度检测; 石化应用:石油或石油发酵过程中的测量; 健康:糖尿病患者的尿液分析; 全自动旋光仪配件参数 测量范围: +/-89.99度; 精度: 0.001度; 重复精度:0.0002度; 测量样品最小透过率:1% 工作波长:589.3nm 光源:钠灯; 控制温度:15~30摄氏度 温度控制精度:0.1摄氏度 接口:USB或RS232 数据存储能力:1000条 显示:5.6' ' 显示屏,触摸屏 电源:220V/50Hz 尺寸:L708xW330xH287mm 重量:26kg 自动旋光仪用于测量旋转角,样品旋光,通过计算进而得到浓度,纯度等物理量.非常适合在医药,科研,制药和化妆品研发领域使用.尺寸小,高灵敏度,适合所有的有机化学领域应用,并且无人工误差。孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商,产品技术和性能保持全球领先,拥有折光仪,折光计,refractometer在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类,世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系,确保每个产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库,可在下单后12小时内从国外直接空运发货,我们位于天津保税区的进口公司众邦企业(天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。更多关于全自动旋光仪价格,全自动旋光仪参数等诸多消息,孚光精仪将在官网更新并呈现出来,想了解更多,请关注孚光精仪官方网站哦!
  • 全自动酶标仪配件
    全自动酶标仪配件是一款光吸收酶标仪,提供光度吸收范围为0.000-4.000Abs,全自动酶标仪配件是用途广泛的酶联免疫分析仪器,根据酶标记原理,根据呈色物的有、无和呈色深浅进行定性或定量分析。 全自动酶标仪配件可应用于单克隆抗体筛分、凝血分、抗生素灵敏度检验,以及其它需要进行比色的分析工作中,适用于临床检验、微生物学、流行病学、免疫学、 内分泌学以及农林科学等领域。 全自动酶标仪配件特色: * 计算机控制操作, Windows Xp系统 *8通道光纤系统可读取5个参数 *双向彩色测量,计算模式包括: ABS, Cut off, Curve, Linear-log, exponential regression. * 一个微板可做高达12种不同测试 *强大的实验室管理软件,可存储100种程序命令和100,000测试结果 *强大的质量控制(QC)功能:Westguard多规则,自动报警等; 全自动酶标仪配件参数 型号:FP-UT6100, 标准产品容纳96孔微板 测量原理:吸收光谱法 光度范围:0.000-4.000Abs 分辨率:0.001Abs(显示),0.0001Abs(计算) 精度: +/-0.5% or +/-0.005Abs 微板类型: 标准96孔板或其它类型 波长: 405nm,450nm,492nm,630nm 测量范围: 0.0000-2.5000Abs 光学系统:8 通道光学系统 光源:汞灯 波长精度: +/-1nm 宽带:8nm 计算方法:ABS,cut off, curve, multi-percent, percent log, linear, exponential, power, 4PL regression 读取速度:5秒,96孔板,单波长 摇板: 摇晃时间和速度可调 内存: 100测试协议,100000个测试结果 接口:RS-232, USB 读取速度: 单波长,5秒钟测96孔试管 输出:外置打印机(可选) 重量: 7kg 尺寸:L454xW295xH146mm 电力供应:AC110-240V,50-60Hz 孚光精仪是全球领先的进口精密科学仪器领导品牌服务商,拥有包括酶标仪,洗板机在内的齐全精密科学仪器品类,具有全球领先的制造工艺和质量控制体系。 我们国外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库,可在下单后12小时内从国外直接空运发货,我们位于天津保税区的进口公司众邦企业(天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。 更多关于全自动酶标仪价格等诸多信息,孚光精仪会在第一时间更新并呈现出来,了解更多内容请关注孚光精仪官方网站方便获取!
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制