微米电位测定仪

美国Micronix 公司成立于2006 年，总部位于美国加州圣塔安那市，专注于微米和纳米定位机构的生产和研发，主要产品包括压电马达微位移平台，步进电机驱动位移台和直线电机驱动位移台。产品种类丰富，满足不同客户的需求， 特别是生物医学领域得到广泛应用。可以提供整套的解决方案，所有位移机构都有配套的控制系统。压电马达微米级位移平台特点： 超大行程 超高稳定性 超高精密，纳米级精度 可以使用在真空和无磁的环境中（需要发货前特殊处理）

Litesizer DLS 系列只需一键触摸即可表征纳米和微米粒子。借助这些动态光散射仪器，您可以在较宽的浓度范围内测定分散体中的颗粒以及溶液中的肽或大分子，从而缩短样品制备时间。关键功能得益于完美的角度选择 - 无论您的样品如何通过多角度粒度测定 (MAPS) 确保实现不同大小群体的高分辨率从三个检测角度（侧向、后向或前向散射）中进行选择，以实现最佳参数设置手动选择最适合的动态光散射仪器角度或使用自动角度选择 得益于多功能后向散射角，这对于浊度样品较理想，其减少了多个散射事件，确保优秀的数据质量。依靠我们的 cmPALS 技术进行 zeta 电位测量通过 Litesizer DLS 700 和 Litesizer DLS 500 您可以通过电泳光散射法执行 zeta 电位测量。在低样品浓度（低至 0.1 mg/mL） 下采用我们的 cmPALS 专利技术（欧洲专利 2 735 870） 使用 cmPALS 享受更短的测量时间和极低的样品降解使用我们 zeta 电位样品池独特 Ω 形毛细管完成高度可重复的 zeta 电位测量在颗粒浓度测量中模式保持灵活性使用 Litesizer DLS 700 对一个样品中高达三种不同大小的粒子群进行免校准颗粒浓度测量使用这种基于单角度 DLS 或多角度粒度分析 (MAPS) 的模式可确保适用于较宽浓度范围内的单分散和多分散样品实现样品监测的持续的透光率测量享受样品的即时反馈 — 动态光散射仪器能够连续测量透射率充分利用自动优化测量参数（如测量角度、焦点位置和持续时间） 在一系列测量中获取有关沉积或聚集开始的数据使用同一仪器测定折射率使用 Litesizer DLS 700 和 Litesizer DLS 500 在 DLS 或 ELS 测量的精确波长和温度下测量溶剂的折射率（欧洲专利 3 023 770） 确保在所有试验条件下，获得出色的粒径和 zeta 电位值。借助 Litesizer DLS 700 和 Litesizer DLS 500 测定 ±0.5% 以内的折射率只需点击几下即可掌控您的测量使用我们简便易用的粒度软件 Kalliope 管理数据通过我们独特的单页工作流程，一目了然地了解您的输入参数、测量信号和结果 得益于预定义标准报告和结构化结果概览，快速查看您的测量结果 通过分析功能、Excel 报告，和自定义报告模板来深入挖掘您的数据符合 21 CFR Part 11 规定

更大的仪器化压入（IIT）测试范围根据仪器化压入测试 (IIT) 的要求，微米压痕仪非常适合于对硬度和弹性模量等机械性能的测量。它适用于块状样品和薄膜，从软材料到硬材料（金属、陶瓷、聚合物），可以进行大位移测量（最大 1 mm）。可以根据需求添加划痕测试模式。主要特点仪器化压入测试 (IIT) 用于测量硬度和弹性模量位移-仪器化压痕：持续测量与施加的载荷和相关的位移，获得材料硬度和弹性模量一台仪器即可进行从纳米到宏观尺度的压痕从小位移（几纳米）到大位移（最大 1 mm）的压痕大载荷范围（从10 mN 到 30 N）以满足样品特性的要求大载荷范围 对测量粗糙表面尤为有用高精度的位移和载荷可进行精确的微米压痕测量两个独立的传感器：一个用于载荷，一个用于位移，来进行准确的计量测量高框架刚度：2 x 108 N/m，更高的位移准确度材料性能的位移曲线连续多周期 (CMC) 的位移曲线：硬度和弹性模量与压入位移的关系压入载荷和位移控制模式可视点阵模式通过显微镜观察对样品进行多点定位测试通过多个测试模式：可使用用户自定义程序根据需要设置测试参数载荷最大载荷30 N分辨率6 μN本底噪音100 [rms] [μN]*位移最大位移1000 μm分辨率0.03 nm本底噪音1.5 [rms] [nm]*载荷框架刚度 107 N/m国际标准ISO 14577, ASTM E2546, ISO 6507, ASTM E384