荧光铝硅分析仪

X荧光硅铝分析仪,X荧光硅铝分析仪厂家【鹤壁创新仪器】供应的X荧光硅铝分析仪可广泛用于冶金、采矿、建材等工业中。用于水泥厂中，主要测量生料、熟料中的SiO2、Al2O3的百分含量。由于它的分析速度快（1分钟），因此可实时监控生产过程中SiO2、Al2O3变化情况，便于及时调整原料的配比，为生产高合格率熟料打下坚实的基础。X荧光硅铝分析仪 性能特点：1 、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用极为方便。3、分析时间短，1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合环保节能要求。　　　6、数据存储量大，含量结果、仪器自检数据都可查询，避免了打印耗材。7、仪器执行GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》。8、可与配料系统联网，实现自动控制。 X荧光硅铝分析仪 技术指标：1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100 % 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。4、分析时间: n*60秒（n为1～5自然数）。5、使用条件: 供电AC200V～240V；环境温度0～40℃；相对湿度85%（30℃）。6、整机功耗: 30W 7、整机尺寸：468mm*368mm*136mm 8、整机重量：13.8kg尊敬的用户： 感谢您选用鹤壁市创新仪器有限公司的产品，我公司将为您提供完善、优质的技术支持与售后服务，为此，我们特做出以下承诺： 1、安装调试及现场培训： 根据用户要求的时间和地点为用户免费安装调试仪器。公司及公司授权技术人员在为用户安装调试仪器及日常维护时，对用户操作人员提供免费现场培训服务，使用户能熟练掌握仪器性能、操作使用及一般维护保养。 2、保修规定：按国家标准供货，整机保修一年（易损件除外）产品终身维护。 3、维修规定： 在正常使用情况下，仪器若出现故障，维修站保证在接到通知后24小时内响应，如需进行现场维修的，我们承诺尽快派人到达现场并在短时间内排除故障。更换配件费及维修工时费按公司规定的统一价格收取。 4、其它承诺： 我们承诺保证各型号仪器的配件供应充足，并提供产品优惠价格。鹤壁创新为您提供优质的X荧光硅铝分析仪,X荧光硅铝分析仪厂家，如果您有兴趣，请与我联系【联系人是常华,我的手机】获得更多的【仪器、仪表分析仪器】相关信息。砖厂砖坯钙含量分析仪煤矸石砖坯含钙量分析仪煤矸石土坯钙铁分析仪电厂石灰石钙铁分析仪电厂石灰石硫钙铁分析仪荧光钙铁分析仪荧光硫钙铁分析仪钙铁煤分析仪钙硫分析仪钙铁硫分析仪水泥生料硫钙铁分析仪水泥生料钙铁硫分析仪水泥硫钙铁分析仪水泥钙铁硫分析仪水泥熟料钙硫分析仪水泥熟料硫钙铁分析仪水泥氧化钙分析仪石灰石膏硫钙铁分析仪砖厂粉煤灰钙铁分析仪砖厂煤矸石钙铁分析仪

DM1230X荧光铝硅分析仪与钙铁分析仪同时使用、实现生料配料的率值控制以不到一半的投资实现X荧光多元素分析仪的功能采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术本公司专有的分谱技术、次级滤光片、超薄铍窗正比计数管、特殊的光路系统符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM1230 X荧光铝硅分析仪是本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列钙铁分析仪、X荧光多元素分析仪等的基础上研制推出的分析仪器。它采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术，薄铍窗充气正比计数管、次级滤光片、特殊的光路系统、硬质样品比例法和本公司专有的分谱技术，从而使小型仪器也能准确测量相邻的轻元素(如水泥生料中的Al、Si)，其测量准确度达到进口同类仪器的水平。其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。只要压个片就能在5分钟内测出生料、熟料或水泥中Al2O3、SiO2的浓度。图0 EDXRF分析技术原理图目前国内大多数水泥企业已使用X荧光钙铁分析仪来测量生料等物料中CaO、Fe2O3的含量，但Al2O3、SiO2含量的测量却很少是用X荧光分析仪的，而Al2O3、SiO2含量的即时准确得到与CaO、Fe2O3对水泥生产的质量控制同样重要，只有同时即时准确得到这四个氧化物的含量才能真正实现生料的率值控制。当本仪器与本公司的钙铁分析仪一起使用时可用同一个样品，且由于按本仪器要求制备出的样品比按钙铁分析仪要求的好，所以还能提高CaO、Fe2O3的含量测量准确度，与DM2100型X荧光多元素分析仪相比，虽然使用麻烦了一点，但价格不到一半，且由于结构简单可靠性更高了。DM1230 X荧光铝硅分析仪的2021款除保持了原有DM1230的优点外，还进行了以下重大改进：(1) 大屏幕彩色触摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和键盘，改善了用户的操控体验。(2) 新的大规模集成电路CPU代替原老的如80C31等CPU，没有数据总线与外部设备或外部芯片直接连接，极大地提高了系统的可靠性，基本消灭了死机现象。(3) 用贴片电路代替原立式电路，减少了电路板的面积，并能大规模机械化生产，极大地提高了硬件的可靠性，使仪器的返修率降到最底。(4) 用热敏打印机代替了原来的针打印机。(5) 用最新设计的采用CPLD，FPGA，DSP等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器代替原单道脉冲幅度分析器及固定增益放大器，极大地提高了仪器的长期稳定性。DM1230 X荧光铝硅分析仪的2021款的推出是本公司实现自我超越的成果，必将使本公司在X荧光分析仪领域保持长久的国内领先地位。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Al2O3、SiO2的浓度测量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等部门的固体、液体和粉末样品中Al2O3、SiO2的浓度测量。特点快速同时––所需测量元素同时快速分析，一般几分钟给出浓度结果。高准确度––采用EDXRF技术，低本底薄铍窗正比计数管，次级滤光片。极大地提高了仪器的灵敏度和峰背比，具出色的重复性和再现性，极高的准确度。向下照射––采用X射线向下照射系统，杜绝了样品粉末污染损坏探测系统的可能，特别适合水泥生熟料等粉末样品。长期稳定––采用可变增益数字多道，有增益调整、比率校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。使用方便––触摸屏操作。样品粉碎压片放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。高可靠性––一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。数据传存––可存储海量数据，支持掉电后保持数据，并可随时查看。并可将存储数据传输到PC机。高性价比––无需气体、真空、稀释，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1.水泥生料标准样品校准结果数据成分Al2O3SiO2系数D-2.89-3.46系数E57.1432.41系数F00相关系数γ0.99120.9980这些校准曲线的相关系数γ均大于0.99，表示DM1230 X荧光铝硅分析仪的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2.生料标准样品重复性测量数据分析（%）成分Al2O3SiO2标准值1.4610.75平均示值1.1.3510.64最大示值1.4710.72最小示值1.2410.56极差0.230.16示值标准偏差0.06500.04613倍示值标准偏差0.1950.138GB/T176的重复性限0.200.20DM1240与国标的符合性优优按国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM1230 X荧光铝硅分析仪可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤10keV，电流：≤0.5mA，功率：≤5W探测器超薄铍窗正比计数管测量范围Al2O3、SiO2分析范围均可调节，通过校准选定测量范围宽度Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2 max—SiO2 min≤7%测量精度S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.07%符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间100s、200s、300s，可选，推荐值：300s使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤50W尺寸及重量470mm（W）× 365mm（D）× 130mm（H），15kg

仪器简介： 概述DM 1230型X荧光铝硅分析仪是因水泥企业的要求而研制出的定量分析仪器，主要用于测量生料、熟料和水泥等物料中Al2O3、SiO2的含量。目前国内大多数水泥企业已使用X荧光钙铁分析仪来测量生料等物料中CaO、Fe2O3的含量，但Al2O3、SiO2含量的测量却很少是用X荧光分析仪的，而Al2O3、SiO2含量的即时准确得到与CaO、Fe2O3对水泥生产的质量控制同样重要，只有同时即时准确得到这四个氧化物的含量才能真正实现生料的率值控制。所以本公司在前几年推出了真正能在水泥企业用上的DM2100型X荧光多元素分析仪，从而解决了这一问题，可几年来只有几百家用户，虽然也不算少，但相比于钙铁分析仪的几千家用户实在相差太远。水泥企业当然知道用X荧光分析仪的好处，关键还是价格问题，虽然DM2100型X荧光多元素分析仪的价格只是进口大型仪器的十几分之一，但十几万的售价还是令国内众多中小型水泥企业望而却步,他们多次提出是否有测量CaO、Fe2O3含量的仪器。为此本公司迅速研制出本款售价不到DM 2100一半的X荧光铝硅分析仪。DM 1230型X荧光铝硅分析仪是本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM 系列钙铁分析仪、X荧光多元素分析仪等的基础上研制推出的国内首创的一种不含放射性同位素的X荧光铝硅分析仪。与传统的铝硅分析方法不同，它采用物理分析方法，具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作工劳动强度低、无污染等特点，且只需一次性投资，不需要任何化学试剂。当本仪器与本公司的钙铁分析仪一起使用时可用同一个样品，且由于按本仪器要求制备出的样品比按钙铁分析仪要求的好，所以还能提高CaO、Fe2O3的含量测量准确度，与DM 2100型X荧光多元素分析仪相比，虽然使用麻烦了一点，但价格不到一半，且由于结构简单可靠性更高了。 2014款DM 1230型X荧光铝硅分析仪除保持了原有DM系列X荧光分析仪所具有的外形美观、一体化、连续测量标准样法、数据储存能力大等优点外，还采用了大屏幕彩色触摸式液晶屏、没有数据总线与外部直接连接的CPU、贴片电路、最新设计的采用最新CPLD，FPGA等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器等高新技术。是本公司实现自我超越的最新成果。技术参数： 主要技术指标1. 分析范围： Al2O3、SiO2分析范围均可调节，通过标定工作曲线的方法选定。2. 分析范围宽度：Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2 max—SiO2 min≤7%。 3. 线性误差： Al2O3：≤0.14%， SiO2：≤0.14%。4. 系统分析时间：100秒、200秒、300秒，可选。5. 分析精度： S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.07%。6. 温度稳定性： 在5~+40℃范围内，绝对漂移：∣△Al2O3∣≤0.07%，∣△SiO2∣≤0.07%。7. 使用条件： 环境温度：5~+40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz。8. 整机功耗： ≤50W。 9. 尺寸及重量： 470mm×365mm×130mm，15kg。主要特点：与钙铁分析仪同时使用、真正实现生料配料的率值控制以不到一半的投资实现X荧光多元素分析仪的功能触摸式彩色高清屏、多道脉冲分析器等高新科技的大集成