荧光铝硅分析仪

天瑞仪器公司是全球专业生产高性能X荧光光谱仪(XRF)的公司。2011年推出的高性能、台式X荧光合金分析仪EDX3600H,融汇合金分析技术，配备智能真空系统，利用低能光管配合真空测试，可以有效的降低干扰，提高轻元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等轻元素的检测效果。EDX3600H合金光谱仪是天瑞仪器公司为合金测试专门开发的仪器类型。具有测试精度高、测试速度快、测试简单等特点。同时具有合金测试、合金号分析、有害元素分析，土壤分析仪、贵金属分析等功能。检测样品包括从钠至铀的所有合金、金属加工件、矿物、矿渣、岩石等，形态为固体、液体、粉末等。性能特点:超薄窗X光管针对合金的测试而开发的专用配件FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Pb、S等微含量元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性；高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制；内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然标准配置：合金测试超薄窗X光管FAST-SDD探测器光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序整体钢架结构，力度可靠的保证90mm×70mm的液晶屏外形尺寸：660mm×510mm×350mm样品腔体积：Φ320mm×100mm重量：65Kg技术指标：测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：60秒-200秒能量分辨率为：125eV应用领域：检测以铜合金、铁合金、镍合金为主的任何合金类产品

X荧光硅铝分析仪,X荧光硅铝分析仪厂家【鹤壁创新仪器】供应的X荧光硅铝分析仪可广泛用于冶金、采矿、建材等工业中。用于水泥厂中，主要测量生料、熟料中的SiO2、Al2O3的百分含量。由于它的分析速度快（1分钟），因此可实时监控生产过程中SiO2、Al2O3变化情况，便于及时调整原料的配比，为生产高合格率熟料打下坚实的基础。X荧光硅铝分析仪 性能特点：1 、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用极为方便。3、分析时间短，1分钟能测出SiO2%、Al2O3%。4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电，符合环保节能要求。　　　6、数据存储量大，含量结果、仪器自检数据都可查询，避免了打印耗材。7、仪器执行GB/T19140《水泥X射线荧光分析通则》。8、可与配料系统联网，实现自动控制。 X荧光硅铝分析仪 技术指标：1、分析范围: SiO2、Al2O3 0.01%～100 % 2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%3、分析宽度: SiO2(Al2O3) max—SiO2(Al2O3)min≤5%,例如生料中SiO2:10%～15%，通过标定工作曲线选定。4、分析时间: n*60秒（n为1～5自然数）。5、使用条件: 供电AC200V～240V；环境温度0～40℃；相对湿度85%（30℃）。6、整机功耗: 30W 7、整机尺寸：468mm*368mm*136mm 8、整机重量：13.8kg尊敬的用户： 感谢您选用鹤壁市创新仪器有限公司的产品，我公司将为您提供完善、优质的技术支持与售后服务，为此，我们特做出以下承诺： 1、安装调试及现场培训： 根据用户要求的时间和地点为用户免费安装调试仪器。公司及公司授权技术人员在为用户安装调试仪器及日常维护时，对用户操作人员提供免费现场培训服务，使用户能熟练掌握仪器性能、操作使用及一般维护保养。 2、保修规定：按国家标准供货，整机保修一年（易损件除外）产品终身维护。 3、维修规定： 在正常使用情况下，仪器若出现故障，维修站保证在接到通知后24小时内响应，如需进行现场维修的，我们承诺尽快派人到达现场并在短时间内排除故障。更换配件费及维修工时费按公司规定的统一价格收取。 4、其它承诺： 我们承诺保证各型号仪器的配件供应充足，并提供产品优惠价格。鹤壁创新为您提供优质的X荧光硅铝分析仪,X荧光硅铝分析仪厂家，如果您有兴趣，请与我联系【联系人是常华,我的手机】获得更多的【仪器、仪表分析仪器】相关信息。砖厂砖坯钙含量分析仪煤矸石砖坯含钙量分析仪煤矸石土坯钙铁分析仪电厂石灰石钙铁分析仪电厂石灰石硫钙铁分析仪荧光钙铁分析仪荧光硫钙铁分析仪钙铁煤分析仪钙硫分析仪钙铁硫分析仪水泥生料硫钙铁分析仪水泥生料钙铁硫分析仪水泥硫钙铁分析仪水泥钙铁硫分析仪水泥熟料钙硫分析仪水泥熟料硫钙铁分析仪水泥氧化钙分析仪石灰石膏硫钙铁分析仪砖厂粉煤灰钙铁分析仪砖厂煤矸石钙铁分析仪

DM1230X荧光铝硅分析仪与钙铁分析仪同时使用、实现生料配料的率值控制以不到一半的投资实现X荧光多元素分析仪的功能采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术本公司专有的分谱技术、次级滤光片、超薄铍窗正比计数管、特殊的光路系统符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM1230 X荧光铝硅分析仪是本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列钙铁分析仪、X荧光多元素分析仪等的基础上研制推出的分析仪器。它采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术，薄铍窗充气正比计数管、次级滤光片、特殊的光路系统、硬质样品比例法和本公司专有的分谱技术，从而使小型仪器也能准确测量相邻的轻元素(如水泥生料中的Al、Si)，其测量准确度达到进口同类仪器的水平。其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。只要压个片就能在5分钟内测出生料、熟料或水泥中Al2O3、SiO2的浓度。图0 EDXRF分析技术原理图目前国内大多数水泥企业已使用X荧光钙铁分析仪来测量生料等物料中CaO、Fe2O3的含量，但Al2O3、SiO2含量的测量却很少是用X荧光分析仪的，而Al2O3、SiO2含量的即时准确得到与CaO、Fe2O3对水泥生产的质量控制同样重要，只有同时即时准确得到这四个氧化物的含量才能真正实现生料的率值控制。当本仪器与本公司的钙铁分析仪一起使用时可用同一个样品，且由于按本仪器要求制备出的样品比按钙铁分析仪要求的好，所以还能提高CaO、Fe2O3的含量测量准确度，与DM2100型X荧光多元素分析仪相比，虽然使用麻烦了一点，但价格不到一半，且由于结构简单可靠性更高了。DM1230 X荧光铝硅分析仪的2021款除保持了原有DM1230的优点外，还进行了以下重大改进：(1) 大屏幕彩色触摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和键盘，改善了用户的操控体验。(2) 新的大规模集成电路CPU代替原老的如80C31等CPU，没有数据总线与外部设备或外部芯片直接连接，极大地提高了系统的可靠性，基本消灭了死机现象。(3) 用贴片电路代替原立式电路，减少了电路板的面积，并能大规模机械化生产，极大地提高了硬件的可靠性，使仪器的返修率降到最底。(4) 用热敏打印机代替了原来的针打印机。(5) 用最新设计的采用CPLD，FPGA，DSP等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器代替原单道脉冲幅度分析器及固定增益放大器，极大地提高了仪器的长期稳定性。DM1230 X荧光铝硅分析仪的2021款的推出是本公司实现自我超越的成果，必将使本公司在X荧光分析仪领域保持长久的国内领先地位。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Al2O3、SiO2的浓度测量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等部门的固体、液体和粉末样品中Al2O3、SiO2的浓度测量。特点快速同时––所需测量元素同时快速分析，一般几分钟给出浓度结果。高准确度––采用EDXRF技术，低本底薄铍窗正比计数管，次级滤光片。极大地提高了仪器的灵敏度和峰背比，具出色的重复性和再现性，极高的准确度。向下照射––采用X射线向下照射系统，杜绝了样品粉末污染损坏探测系统的可能，特别适合水泥生熟料等粉末样品。长期稳定––采用可变增益数字多道，有增益调整、比率校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。使用方便––触摸屏操作。样品粉碎压片放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。高可靠性––一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。数据传存––可存储海量数据，支持掉电后保持数据，并可随时查看。并可将存储数据传输到PC机。高性价比––无需气体、真空、稀释，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1.水泥生料标准样品校准结果数据成分Al2O3SiO2系数D-2.89-3.46系数E57.1432.41系数F00相关系数γ0.99120.9980这些校准曲线的相关系数γ均大于0.99，表示DM1230 X荧光铝硅分析仪的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2.生料标准样品重复性测量数据分析（%）成分Al2O3SiO2标准值1.4610.75平均示值1.1.3510.64最大示值1.4710.72最小示值1.2410.56极差0.230.16示值标准偏差0.06500.04613倍示值标准偏差0.1950.138GB/T176的重复性限0.200.20DM1240与国标的符合性优优按国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM1230 X荧光铝硅分析仪可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤10keV，电流：≤0.5mA，功率：≤5W探测器超薄铍窗正比计数管测量范围Al2O3、SiO2分析范围均可调节，通过校准选定测量范围宽度Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2 max—SiO2 min≤7%测量精度S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.07%符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间100s、200s、300s，可选，推荐值：300s使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤50W尺寸及重量470mm（W）× 365mm（D）× 130mm（H），15kg

仪器简介： 概述DM 1230型X荧光铝硅分析仪是因水泥企业的要求而研制出的定量分析仪器，主要用于测量生料、熟料和水泥等物料中Al2O3、SiO2的含量。目前国内大多数水泥企业已使用X荧光钙铁分析仪来测量生料等物料中CaO、Fe2O3的含量，但Al2O3、SiO2含量的测量却很少是用X荧光分析仪的，而Al2O3、SiO2含量的即时准确得到与CaO、Fe2O3对水泥生产的质量控制同样重要，只有同时即时准确得到这四个氧化物的含量才能真正实现生料的率值控制。所以本公司在前几年推出了真正能在水泥企业用上的DM2100型X荧光多元素分析仪，从而解决了这一问题，可几年来只有几百家用户，虽然也不算少，但相比于钙铁分析仪的几千家用户实在相差太远。水泥企业当然知道用X荧光分析仪的好处，关键还是价格问题，虽然DM2100型X荧光多元素分析仪的价格只是进口大型仪器的十几分之一，但十几万的售价还是令国内众多中小型水泥企业望而却步,他们多次提出是否有测量CaO、Fe2O3含量的仪器。为此本公司迅速研制出本款售价不到DM 2100一半的X荧光铝硅分析仪。DM 1230型X荧光铝硅分析仪是本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM 系列钙铁分析仪、X荧光多元素分析仪等的基础上研制推出的国内首创的一种不含放射性同位素的X荧光铝硅分析仪。与传统的铝硅分析方法不同，它采用物理分析方法，具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作工劳动强度低、无污染等特点，且只需一次性投资，不需要任何化学试剂。当本仪器与本公司的钙铁分析仪一起使用时可用同一个样品，且由于按本仪器要求制备出的样品比按钙铁分析仪要求的好，所以还能提高CaO、Fe2O3的含量测量准确度，与DM 2100型X荧光多元素分析仪相比，虽然使用麻烦了一点，但价格不到一半，且由于结构简单可靠性更高了。 2014款DM 1230型X荧光铝硅分析仪除保持了原有DM系列X荧光分析仪所具有的外形美观、一体化、连续测量标准样法、数据储存能力大等优点外，还采用了大屏幕彩色触摸式液晶屏、没有数据总线与外部直接连接的CPU、贴片电路、最新设计的采用最新CPLD，FPGA等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器等高新技术。是本公司实现自我超越的最新成果。技术参数： 主要技术指标1. 分析范围： Al2O3、SiO2分析范围均可调节，通过标定工作曲线的方法选定。2. 分析范围宽度：Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2 max—SiO2 min≤7%。 3. 线性误差： Al2O3：≤0.14%， SiO2：≤0.14%。4. 系统分析时间：100秒、200秒、300秒，可选。5. 分析精度： S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.07%。6. 温度稳定性： 在5~+40℃范围内，绝对漂移：∣△Al2O3∣≤0.07%，∣△SiO2∣≤0.07%。7. 使用条件： 环境温度：5~+40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz。8. 整机功耗： ≤50W。 9. 尺寸及重量： 470mm×365mm×130mm，15kg。主要特点：与钙铁分析仪同时使用、真正实现生料配料的率值控制以不到一半的投资实现X荧光多元素分析仪的功能触摸式彩色高清屏、多道脉冲分析器等高新科技的大集成

国内数百个石化企业、质检部门经过反复论证并强烈推荐使用。样品检测范围：汽油、柴油、石脑油、航空煤油、航空汽油、原油、渣油、水、聚丙烯、石油焦、催化剂等液体及固体样品。波长X荧光分析标准： 硫S：GB/T111140， 氯Cl+硅Si：SH/T6083， 铅Pb：ASTM D5059 检测下限: 硫S：0.15ppm；氯Cl：0.1ppm； 硅Si：0.5ppm；铅Pb：0.2ppm； 检测范围：0-99.99%X射线光管：靶材：Pd；50KV – 4mA；200W；分光晶体：多块晶体自动转换。 分析仪特点:1. 检测汽油、柴油、石脑油、原油、水(包括污水)等样品，也可测量催化剂等粉末和固体样品。灵敏度高，重复性好。2. 相比传统单波长检测单元素分析仪功率只有75W，四合一分析仪光源的功率为200W，检测下限更低、重复性更加优异。3. 划时代的将四组单波长X荧光技术集合到一台分析仪，运用到石油产品多元素检测中， 且采用特殊晶体RX4和RX9，分辨率更高。尤其检测高硫低氯的样品，分别率更加清晰。4. 外形小巧，可放置于任何实验室，即插即用。5. 仪器标配12位自动进样器，真正提高分析效率。6. 全中文软件，操作简便。7. 可快速进行定性分析、定量分析、无标样近似定量分析。8. 具有光路校正、薄膜校正、匹配数据库等功能。

国内数百个石化企业、质检部门经过反复论证并强烈推荐使用。样品检测范围：汽油、柴油、石脑油、航空煤油、航空汽油、原油、渣油、水、聚丙烯、催化剂等液体及固体样品。单波长X荧光分析标准： 硫 S：SH/T0842 氯Cl：SH/T0977 硅Si：SH/T0993 检测下限: 硫S：0.1ppm；氯Cl：0.1ppm； 硅Si：0.5ppm；砷As：0.2ppm 检测范围：0-99.99% X射线光管：靶材：Pd；50KV – 4mA；200W； 分光晶体：多块晶体自动转换。 分析仪特点:1. 检测汽油、柴油、石脑油、原油、水(包括污水)等样品，也可测量催化剂等粉末和固体样品。灵敏度高，重复性好。2. 相比传统单波长检测单元素分析仪功率只有70W，四合一分析仪光源的功率为200W，检测下限更低、重复性更加优异。3. 划时代的将四组单波长X荧光技术集合到一台分析仪，运用到石油产品多元素检测中， 且采用特殊晶体分光，分辨率更高。尤其检测高硫低氯的样品，分别率更加清晰。4. 外形小巧，可放置于任何实验室，即插即用。5. 仪器标配12位自动进样器，真正提高分析效率。6. 全中文软件，操作简便。7. 可快速进行定性分析、定量分析、无标样近似定量分析。8. 具有光路校正、薄膜校正、匹配数据库等功能。

国内数百个石化企业、质检部门经过反复论证并强烈推荐使用。样品检测范围：汽油、柴油、石脑油、航空煤油、航空汽油、原油、渣油、水、聚丙烯、催化剂等液体及固体样品。单波长X荧光分析标准： 硫 S：SH/T0842 氯Cl：SH/T0977 硅Si：SH/T0993 铅Pb：ASTM D5059 检测下限: 硫S：0.1ppm；氯Cl：0.1ppm； 硅Si：0.5ppm；铅Pb：0.2ppm； 检测范围：0-99.99%X射线光管：靶材：Pd；50KV – 4mA；200W；分光晶体：多块晶体自动转换。 分析仪特点:1. 检测汽油、柴油、石脑油、原油、水(包括污水)等样品，也可测量催化剂等粉末和固体样品。灵敏度高，重复性好。2. 相比传统单波长检测单元素分析仪功率只有70W，四合一分析仪光源的功率为200W，检测下限更低、重复性更加优异。3. 划时代的将四组单波长X荧光技术集合到一台分析仪，运用到石油产品多元素检测中， 且采用特殊晶体分光，分辨率更高。尤其检测高硫低氯的样品，分别率更加清晰。4. 外形小巧，可放置于任何实验室，即插即用。5. 仪器标配12位自动进样器，真正提高分析效率。6. 全中文软件，操作简便。7. 可快速进行定性分析、定量分析、无标样近似定量分析。8. 具有光路校正、薄膜校正、匹配数据库等功能。

EDX9000B能量色散荧光光谱仪-硅铁粉分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。产品特点&bull 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果&bull 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响&bull 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率&bull 能同时进行元素和氧化物成分分析&bull 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全&bull 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高&bull 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像&bull 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差&bull 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位

EDX9000B能量色散荧光光谱仪-粘土分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。产品特点&bull 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果&bull 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响&bull 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率&bull 能同时进行元素和氧化物成分分析&bull 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全&bull 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高&bull 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像&bull 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差&bull 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位

单波长色散X荧光总氯分析仪技术指标产品名称：单波长色散X荧光总氯分析仪 产地：整机原装进口型号：Micro-Z Cl厂家名称：Rigaku理学公司分析标准：符合SH/T0977重复性和再现性：SH/T0977检测下限: 0.11ppm检测范围：0-5%分析时间： 300秒气体：无需气体消耗，仅需抽真空光源功率：80W电源： AC，200-240V 主机功率： 200W环境温度：10-40°C，湿度：小于80%重量： 40Kg尺寸： 45x41x43cm (宽x深x高) 分析仪特点:1. 检测下限：0.11ppm, 分析仪曲线稳定，一年标定一次。2. 检测汽油、柴油、石脑油、原油、航煤等样品。3. 光源的分辨率更高，检测下限更低4. 整机外形小巧，可放置于任何实验室，即插即用5. 采用抽真空技术，节省气体消耗费用6. 软件界面友好，样品准备快速7. 无接触，无裁剪的样品杯膜，线性好、维护量超低8. 维修情况：未来使用过程中如遇到重要部件维修（如X光源、高压电源等），可在中国境内完成部件更换及维修，无需返厂处理。

X荧光钙铁分析仪、X荧光硫钙铁分析仪（水泥硫钙铁分析仪/x荧光多元素分析仪KL6800型） 请认准鹤壁创新仪器 国内知名品牌 五星级服务 让您用的放心 联系人：常经理 电话： 手机： 网址： KL6800型X荧光多元素分析仪是一种微机化的新型台式分析仪器，它突破了国产普通多元素分析仪只分析Al2O3、SiO2、CaO、Fe2O3四种元素成分，还可分析SO3、混合材掺入量，是一款综合了X荧光钙铁仪、硅铝仪、测硫仪分析功能的五元素分析仪；并自动计算出KH、SM、IM三率值。和国外进口大型X荧光光谱分析仪进行分析对比，分析结果都在误差范围内。使用厂家都说，早知这样，购置一台KL6800型X荧光多元素分析仪能省下近百万人民币，运行成本、维修成本都很低，维修又方便。 荧光多元素分析仪以液晶大屏幕显示，中文菜单提示操作，使用简便；仪器采用一体化设计，集成化程度高，可靠性好，维修方便。采用大容量电子记录本，可翻阅2000多个含量分析数据，又避免了打印耗材。不破坏样品，样品可以重复测量。不用任何化学试剂、无三废排放、不含放射源、低耗电，符合环保、节能、辐射安全要求。 X荧光多元素分析仪 用途：主要用于检测生料、熟料、水泥、石灰石、粘土、石膏等中CaO%、Fe2O3%、SiO2%、Al2O3%、SO3%；检测水泥中SO3%、CaO%和混合材掺入量。在水泥工业中通过RS232串行通讯口直接与生料率值配料控制系统联机。 X荧光多元素分析仪 技术指标：1. 分析范围：CaO、Fe2O3、SiO2、Al2O3、SO3：0.01%~100 % 2. 分析宽度：CaO、Fe2O3、SiO2、Al2O3、SO3成分均为≤15%，通过标定工作曲线选定工作范围；3. 分析精度：标准偏差SCaO≤0.10%；SFe2O3≤ 0.05%；SSiO2≤0.07%；SAl2O3≤0.07%；SSO3≤0.05%4. 允许误差：ΔCaO %≤0.25%；ΔFe2O3%≤0.10%；ΔSiO2%≤0.20% ΔAl2O3%≤0.20% ΔSO3%≤0.15%5. 分析时间：n * 180秒（n=1、2、3，通常取2） 6. 稳定性：绝 对漂移ΔCaO %≤0.15%；ΔFe2O3%≤0.10%；ΔSiO2%≤0.10%；ΔAl2O3% ≤0.10%； ΔSO3%≤0.10% 7. 使用条件：供电AC200V~240V ,50Hz；整机功耗≤30W ；环境温度5~40℃；相对温度≤85%（30℃） 8. 尺寸与重量：468mm * 368mm * 136mm , 13.8Kg 。我们致力于为煤质分析仪器领域提供具有国内先进水平的高性价比的煤炭检测设备和煤质化验室整体解决方案，拥有多项煤质分析仪器方面的关键技术和高素质科研专家及生产技术人员，具有强大的开发能力与完善的质量监控体系，并建立了完善的销售和售后服务体系。 鹤壁市创新仪器仪表有限公司（总部） 地址：河南省鹤壁市山城区朝阳街19号 邮编：458000 电话： 手机：（0)（24小时） 传真： Q Q： e-mail： web：www.chuangxinyiqi. com 水泥生料硫钙铁分析仪水泥生料钙铁硫分析仪水泥硫钙铁分析仪水泥钙铁硫分析仪水泥熟料钙硫分析仪水泥熟料硫钙铁分析仪水泥氧化钙分析仪石灰石膏硫钙铁分析仪砖厂粉煤灰钙铁分析仪砖厂煤矸石钙铁分析仪砖厂砖坯钙含量分析仪煤矸石砖坯含钙量分析仪煤矸石土坯钙铁分析仪电厂石灰石钙铁分析仪电厂石灰石硫钙铁分析仪荧光钙铁分析仪荧光硫钙铁分析仪钙铁煤分析仪钙硫分析仪钙铁硫分析仪鹤壁市创新仪器仪表有限公司专业从事燃料检测仪器的生产，主要有：水泥硫钙铁分析仪/x荧光多元素分析仪KL6800型，量热仪，测硫仪，全自动工业分析仪，灰熔点测定仪，自动测氢仪，制样机，颚式破碎机，锤式破碎机，湿煤破碎机等。技术先进，保证质量，诚信经营 。

Metorex C100型X射线荧光光谱法总硫分析仪基于成熟的元素分析技术(EDXRF)在线检测柴油和汽油中的超低硫含量。成熟的能量色散X射线荧光技术(EDXRF)使得C100型总硫分析仪的检测下限为0.5ppm,检测范围从0到10%。简捷而成熟的测量技术，无需对样品进行气化，无需分光晶体及复杂的机械运动装置，使得用户通过使用最简单而精准的仪器，得到优越的准确度和超低的维护量及操作成本。分析方法：ASTM-D4294 (能量色散X射线荧光光谱法) ASTM-D7212 (低硫EDXRF分析法，使用低背景比例计数器) Metorex C100 X射线荧光光谱法总硫分析仪是世界上最早发明在线X射线荧光光谱法总硫分析仪的制造厂-Metorex公司的第四代产品。C100型X射线荧光光谱法总硫分析仪由控制单元（PES）和分析单元（MHA）两部分组成。样品流经位于分析单元的流通池，样品中的硫原子受到X射线照射发出二次光被探测器所检测，二次光的强度与样品中的硫含量成正比。在整个分析过程中，被测样品既不会与任何分析部件接触，也不会发生任何转换，因而操作简单，维护量低。同时在分析过程中不需要任何辅助的燃烧气体，因此分析过程更安全，操作成本更低。应用石油精炼工业领域：燃油和原油中总硫的测定，或炼油催化剂中杂质和微量金属的测定。 化学工业领域：石化工艺中催化剂的测定，例如测定催化剂中的Co、Mn、Br、V和K等元素。 电镀工业领域：测定电镀槽中的金属元素。 污水处理工业领域：测定污水中的痕量金属，例如Pb、Mo和Cu。 特殊应用探头 Metorex系列专利探头在许多应用场合表现出无与伦比的分析性能，各种针对特殊应用设计的专利探头可以使其性能发挥趋于完美。Metorex的专利探头不仅具有极好的分辨率和极高的信噪比，还具有很长的使用寿命。当一个专用探头和理想的X射线管采样系统完美配合时，就可以实现最低的浓度下限和最高的精度。 早期的EDXRF分析仪，检测器背景噪声是检测轻元素浓度的限制因素。Metorex专利技术的制造的一款新的探测器，通过检测和拒绝不完全电荷收集，来抑制背景噪声。 这把应用在检测轻元素(硅Si，磷P，硫S，氯Cl，钾K，钙Ca)的灵敏度提高到了一个新水平。全新高速计数电子装置 C100的脉冲处理电子装置还包含全新的高速正比计数电路，这使得C100在一个相当高的速度下(高达50,000 cps)进行测量，相对于传统的EDXRF仪器来说，其测量结果的精准度得到进一步的提高，高速电子计数器和专用探头的组合为EDXRF测量技术带来新的突破。比如C100测量柴油中硫的标准偏差为0.35 ppm。 技术特点使用EDXRF技术，C100可以测量从硅(原子数14)到铀(原子数92)之间的任何元素，浓度范围从次ppm水平到%水平。检测限：0.5 ppm长期测量的稳定性，通过内标消除检测器和电子漂移。直接测量法，无需高温转换。 样品池窗口和第二个保护窗保护检测器免受样品污染。 特殊涂层的测量池窗口不易被污染，决定了它可以长时间操作而无需维护配置检漏仪，如果遇到检测窗破裂，可切断安全阀门。 检测源是一个X射线管，意味着切断电源时，将停止辐射。测量池自动清洗/校准 可选加热测量池，可将粘度高达100 cSt的高粘样品加热至80℃。 宽量程测量，测量范围从ppm到%水平测量过程不受样品密度和C/H比变化的影响 友好的用户界面作为世界上最早开发和应用在线X射线荧光分析技术的厂家，Metorex 同时可以提供元素分析仪并以全球超过450套的业绩而深受广大用户的喜爱。

国内数百个石化企业、质检部门经过反复论证并强烈推荐使用。样品检测范围：汽油、柴油、石脑油、航空煤油、航空汽油、原油、渣油、水、聚丙烯、催化剂等液体及固体样品。单波长X荧光分析标准： 硫 S：SH/T0842 氯 Cl：SH/T0977 硅 Si：SH/T0993 铅 Pb：ASTM D5059 检测下限: 硫S：0.1ppm；氯Cl：0.1ppm； 硅Si：0.5ppm；铅Pb：0.2ppm； 检测范围：0-99.99%X射线光管：靶材：Pd；50KV – 4mA；200W；分光晶体：多块晶体自动转换。 分析仪特点:1. 检测汽油、柴油、石脑油、原油、水(包括污水)等样品，也可测量催化剂等粉末和固体样品。灵敏度高，重复性好。2. 相比传统单波长检测单元素分析仪功率只有70W，四合一分析仪光源的功率为200W，检测下限更低、重复性更加优异。3. 划时代的将四组单波长X荧光技术集合到一台分析仪，运用到石油产品多元素检测中， 且采用特殊晶体分光，分辨率更高。尤其检测高硫低氯的样品，分别率更加清晰。4. 外形小巧，可放置于任何实验室，即插即用。5. 仪器标配12位自动进样器，真正提高分析效率。6. 全中文软件，操作简便。7. 可快速进行定性分析、定量分析、无标样近似定量分析。8. 具有光路校正、薄膜校正、匹配数据库等功能。

产品简介A-550型X荧光分析仪是佳谱仪器多年研发，专为有色金属、黑色金属、选矿及冶炼、地质行业定制的一款高端分析仪器。技术规格测量元素范围从钠（Na）到铀（U）测量浓度范围ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）测量对象状态粉末、固体、液体元素分析能力一次性可测从钠（Na）到铀（U）之间几十种元素分辨率129eV±5eV分析精度RSD≤0.1%（国标标样）分析时间单次测试时间可调制冷方式电制冷，无需任何耗材大样品腔尺寸400mm x 340mm x 80mm抽真空样品腔尺寸φ100mm×h75mm外观尺寸700mmx510 mmx336mm工作电源AC 220V ±5V、50Hz工作环境室内温度 15～30℃；相对湿度 ≤80% （不结露）整机重量56KG性能特点分析效率速度快、精度好、效率高，采用自主研发的分析软件能在1-120秒内同时完成从11钠（Na）至92铀（U）之间几十种元素的同步准确分析功能优势1. 外形设计：大方美观、坚固耐用、多重安全防护模式。2. 准直滤光系统：准直器+多组合滤光片，软体自动切换，满足各种测试应用。3. 采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更精确。4. 多维散热系统：优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全5. 辐射安全系统：多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品高级6. 真空系统：选择抽真空系统，优化测试环境，提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度，大大扩展A-550型分析仪的分析能力。7. 独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本硬件优势核心部件整套进口1. 探测器：原装美国Amptek硅漂移SDD探头，分辨率低至129eV±5eV，能量线性和能量分辨率俱佳，高峰背比。2. X射线管：功率50W、管电压5-50KV 、管电流0-1000uA；长寿命X射线管。3. 高压电源：功率50 W、电压0 -50 KV、电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。4. 信号处理器：采用进口信号处理器，适应高分辨率和高计数率，自调放大倍数，道数： 4096。软件优势美国丹纳赫和我司共同研发的X荧光分析软件中文版，该软件融合经验系数法、理论α系数法、线性拟合、二次曲线、强度校正、含量校正等多种分析方法，全面保证测试数据的准确性。仪器配置系统标配1. 数字多道型SDD探测器2. X射线源3. 高压电源4. 性噪比电子线路系统5. 光路增强系统6. 8准直+5滤光片7. 数字多道分析器8. 抽真空系统9. 品牌喷墨打印机10. 品牌计算机11. X荧光全元素分析软件12. 样品杯、保险丝13. 光谱专用稳压电源（选配）系统选配1. 光谱专用研磨机（选配）2. 光谱专用熔样机（选配）3. 光谱专用制粉机（选配）4. 熔样铂金坩埚（选配）5. 光谱仪专用压片机（选配）产品应用A-550光谱仪可分析以下样品及元素（氧化物）：样品类别元素类别烧结矿/球团矿TFe 、Si、Ca、Mg、Al、Mn、Ti、P、S、K、V等高炉渣/转炉渣TFe 、Si、Ca、Mg、Al、Mn、Ti、P、S、K、V等精炼渣Al、Ca、Si、Mg、Fe、Ti等预熔渣Ca、Mg、Al、Si、Fe、P、S等铝酸钙Si、Al、Fe、Ca、Mg等铁酸钙Fe、Al、Ca、Si、S、P等富锰渣Mn、Fe、P、S、Si、Al、Ca等元素铁精粉/铁矿石TFe 、Si、Ca、Mg、Al、Mn、Ti、P、S、K、V等赤铁矿/磁铁矿TFe、K、Na、S、P、Al、Si、Mg、Ca、Mn、Zn、Cu、Ti等铅锌矿Pb、Zn、Ag、Cu、Sn、Fe、S、Cd、Mo、As等锰矿Mn、Si、P、S、Al、Ti、K、Zn、Ca、Mg等钛矿Ti、Mn、Fe、Si、P、S、Al、K、Zn、Ca、V、Cu、Mg等铜矿Mn、Fe、S、Cu、Pb、As、Au、Cd、Zn、Ag、Mg等铬铁矿Fe、P、S、Al、Cr、Ca、Mg、Si等耐火材料高硅质粘土Si、Al、Fe、Ca、Mg、K、Na、S、P等高铝质矾土Al、Fe、Ti、Na、K、Mn、Ca、Mg、Si、P等高镁质镁砂Mg、Ca、Si、Al、Fe等刚玉白刚玉Al、Na、Si、Ca、Fe等棕刚玉Al、Si、Ti、Fe等黑刚玉Al、Si、Ti、Fe等铬刚玉Al、Na、Cr、Fe等锆刚玉Zr、Si、Al、Na、Fe、Ti、Ca、Mg、K等水泥生料/熟料Si、Al、Fe、Ca、Mg、K、Na、 S、Cl-等石灰石S、P、Al、Si、Fe、Ti、Mn、Sr、Ca、Mg等白云石S、P、Al、Si、K、Na、Fe、Ti、Mn、Sr、Ca、Mg等硅灰石Si、Ca、Fe、Al、Ti、Mg等蛇纹石Mg、Si、K、Na、Ca、Fe、Ti、Mn、Al、S、P等莫来石Al、Si、Fe、Ti、Ca、Mg、K、Na等镁铝尖晶石Al、Mg、Ca、Si、Na、Fe等萤石Ca、P、S、Si、Al、Fe、Mg、Ti、Mn、K、Na等煤矸石Si、Al、Fe、Ca、Mg、Ti、P、V等石英砂Zr、Si、Fe、P、S 、Al、Ti等金红石Ti、S 、P 、Fe、Nb、Ta、Cr、Sn等石榴石Ca、Mg、Fe、Mn、Al、Cr等生铁Si、Mn、P、S、Ti、Cr、V等元素高锰生铁Fe、Mn、P、S、Si、Cr等元素硅铁合金Al、Si、Ca、Na、Mg、P、S、Fe、Cr、Mn、Cu、Ba等硅锰合金Mn、P、S、Si等硅锆合金Si、Ca、Al、Ba、ZR、Mn等硅铝钡钙Si、Al、Ba、Ca等硅钡钙/硅钙/硅钡Si、Ba、Ca、Ba 、Fe等镍铁Ni、Mn、Si、Cu、Co、Cr、V、S、P等钒铁V、Mn、Si、P、S等铬铁Cr、Si、P、S、V、Fe、Mn、Ti等锰铁Mn、Si、P、S、Cr、Ni、V、Fe等铌铁Nb、Al、Si、S、P等冶炼铅铅Pb、锑Sb、锡Sn、铋Bi、铁Fe、硅Si、钙Ca、硫S等电解锰锰Mn、硫S、磷P等元素锡渣锡Sn、Fe铁、Si硅、Ca钙等钒渣钒V、锰Mn、铬Cr、钛Ti、钙Ca、硅Si等玻璃Si、Al、Fe、Ca、Mg、K、Na 等粉煤灰（火电厂）Si、Al、Fe、Ca、Ti、Mg、K、Na、S、Mn等球化剂（稀土镁硅合金）Mg、RE、Si、Ca、Al等孕育剂Si、Ba、Ca、Al等蠕化剂Mg 、Re 、Ca 、Si 、Al 等覆盖剂Ca 、Si、Mg、Al、Fe等管模粉Si、Ca、Al、Ba、ZR、Mn等除渣剂Ca 、Si、Al等烧结焊剂Si、Ti、Ca、Mg 、Al、Mn、S、P等钎焊粉Ti、Zr、Ni、Cu、Ag、Zn、Sn、Si、Mn、Ni、Cr、P等氧化铝Si、Fe、Ca、Mg等工业硅Al、Ca、Fe、Ti、Mn、Ni等SCR脱硝催化剂Ca、Na、K、As、W、V等土壤重金属Pb，As，Cd，Hg，Cu，Ni，Zn，Cr等

DM1240X荧光硫钙铁分析仪高准确度、高性价比获辐射豁免证书的绿色环保产品采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术低本底薄铍窗正比计数管，次级滤光片触摸式彩色高清屏、多道脉冲分析器等符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM1240 X荧光硫钙铁分析仪是本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列钙铁分析仪、X荧光测硫仪等的基础上研制推出的全球首创的一种硫钙铁分析仪。它采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术、小型X光管做激发源、薄铍窗充气正比计数管、次级滤光片、特殊的光路系统和硬质样品比例法，从而达到很高的准确度。其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准 JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。只要压个片就能在30秒内测出生料、熟料或水泥中SO3、CaO、Fe2O3的浓度。它可代替原来的钙铁分析仪和测硫仪二台仪器，从而使仪器更便宜，使用更方便。图0 EDXRF分析技术原理图DM1240 X荧光硫钙铁分析仪的2021款除保持了原有DM1240的优点外，还进行了以下重大改进：(1) 大屏幕彩色触摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和键盘，改善了用户的操控体验。(2) 新的大规模集成电路CPU代替原老的如80C31等CPU，没有数据总线与外部设备或外部芯片直接连接，极大地提高了系统的可靠性，基本消灭了死机现象。(3) 用贴片电路代替原立式电路，减少了电路板的面积，并能大规模机械化生产，极大地提高了硬件的可靠性，使仪器的返修率降到最底。(4) 用热敏打印机代替了原来的针打印机。(5) 用最新设计的采用CPLD，FPGA，DSP等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器代替原单道脉冲幅度分析器及固定增益放大器，极大地提高了仪器的长期稳定性。DM1240 X荧光硫钙铁分析仪的2021款的推出是本公司实现自我超越的成果，必将使本公司在X荧光分析仪领域保持长久的国内领先地位。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中SO3、CaO、Fe2O3的浓度测量，并通过测量生料中SO3、CaO、Fe2O3的浓度来控制熟料的质量，通过测量熟料和水泥中CaO的浓度来确定混合材的参杂量，通过测量水泥中SO3的浓度来控制水泥的质量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等部门的固体、液体和粉末样品中SO3、CaO、Fe2O3的浓度分析。特点快速同时––所需测量元素同时快速分析，一般几十秒给出浓度结果。高准确度––采用EDXRF技术，低本底薄铍窗正比计数管，次级滤光片。极大地提高了仪器的灵敏度和峰背比，具出色的重复性和再现性，极高的准确度。向下照射––采用X射线向下照射系统，杜绝了样品粉末污染损坏探测系统的可能，特别适合水泥生熟料等粉末样品。长期稳定––采用可变增益数字多道，有增益调整、比率校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。使用方便––触摸屏操作。样品粉碎压片放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。高可靠性––一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。数据传存––可存储海量数据，支持掉电后保持数据，并可随时查看。并可将存储数据传输到PC机。高性价比––无需气体、真空、稀释，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。校准 X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC 为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1. 水泥生料标准样品校准结果数据成分SO3CaOFe2O3系数D-8.37-18.970.08系数E12.9945.404.35系数F000相关系数γ0.99970.99600.9987这些校准曲线的相关系数γ均大于0.995，表示DM1240 X荧光硫钙铁分析仪的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2. 生料标准样品重复性测量数据分析（%）成分SO3CaOFe2O3标准值2.2556.202.82平均示值2.2556.302.83最大示值2.2956.452.83最小示值2.2256.212.82极差0.070.240.01示值标准偏差0.02380.07650.00473倍示值标准偏差0.0710.230.014GB/T176的重复性限0.150.250.15DM1240与国标的符合性远优优远优按国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM1240 X荧光硫钙铁分析仪可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤10keV，电流：≤0.5mA，功率：≤5W探测器超薄铍窗正比计数管测量范围SO3、CaO、Fe2O3分析范围均可调节，通过标定工作曲线的方法选定测量范围宽度SO3 max—SO3 min≤5%，CaOmax—CaOmin≤7%， Fe2O3 % max—Fe2O3 % min ≤5%。测量精度S SO3≤0.05%，SCaO≤0.09%，S Fe2O3≤0.05%。符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间1～999s，推荐值：60s使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤50W尺寸及重量470mm（W）× 365mm（D）× 130mm（H），15kg

XRF工作原理是用X射线轰击样品，样品 受激发后产生X射线荧光。X射线通常把元素原子K层和L层的内层电子打出原子，产生的空穴被高能量的外层电子填补。补充到低能量轨道上的高能量电子把多余的能量以X射线荧光辐射出来。这些辐射出来的谱线中含有各种元素的特征。像指纹一样，并且独立于原子的化学价态。辐射的强度与样品中该元素的浓度成正比。ScopeX桌面式XRF分析仪采用了先进的工业设计及人工工程学理念，精致美观。仪器整体拥有更小的机身体积和更大的样品仓，节约空间的同时，带来了更高的样品兼容性。不论是不同形态（固、液、气、薄膜等）还是不同形状（块状、片状、线状）的样品，均可被准确分析。适用于大规模连续分析、过程控制、产品质量检验等环节，是石油、镀层、贵金属、水泥、矿物、金属材料和塑料等多种行业的理想工具。使用优势高性能配置低能X射线搭配智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点元素进行分析。多种准直器、滤光片自动切换5mm，3mm，1mm，0.5mm四种准直器，准直器和滤光片均可由软件自动切换，省时省力，通过合适的准直器和滤光片或无滤光片组合可提升检测准确度及灵敏度。无损检测在不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织，整个测试过程无任何损伤。Peltier制冷先进Peltier电制冷方式，无需液氮，降低设备使用复杂度，节约人力和设备维护成本。数据传输USB、WIFI、无线蓝牙等多种方式进行数据传输。用户自定义文件可采用EXCEL，PDF等格式，用户可自定义创建测试报告：包括公司标志、光谱谱图及其他样品信息。安全性全封闭式金属机箱及防泄漏保护开关，设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全符合国标GB18871-2002、GBZ115-2002要求。规格参数元素范围Na(钠)—U(铀)样品室尺寸ScopeX 980CS/ScopeX 980CSR：304×368×78mm（L×W×H）ScopeX 980/ScopeX 980S：365×300×78mm（L×W×H） 样品重量范围0-2.5KG开盖方式自动控制主机尺寸570×400×400mm（L×W×H）主机重量ScopeX 980CS/ScopeX 980CSR：64KGScopeX 980/ScopeX 980S：47KGX射线发生器大功率侧窗X射线管，50W，管压管流可自由调节，W/Ag/Rh靶材(可选配)电压上限50kV电流上限1mA冷却方式空冷探测器大面积SDD探测器测定环境空气模式、氦气模式、真空模式进样方式手动进样、自动进样样品观察500万像素高清工业摄像头PC处理器(CPU)i3-7100同等主频或以上内存（RAM）DDR4 4G内存或以上硬盘容量(ROM)1TB HDD或256GB SSD或以上温度条件10°C~35°C相对湿度40~70%(不结露)电源220VAC额定功率ScopeX 980/ScopeX 980S：100WScopeX 980CS/ScopeX 980CSR：600W

产品介绍：FEDX-B800型X荧光分析仪是丹仕通DSTT公司经过多年研发，专为有色金属、黑色金属、选矿及冶炼、地质行业定制的一款高端分析仪器。产品参数：测量元素范围从钠（Na）到铀（U）测量浓度范围ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）测量对象状态粉末、固体、液体元素分析能力一次性可测从钠（Na）到铀（U）之间几十种元素分辨率130eV±5eV分析精度标准偏差≤0.1%（国标标样）单样品分析时间1秒-600秒（可调）制冷方式电制冷，无需任何耗材分析仓尺寸Φ200 mm×70mm外观尺寸W*D*H 550mm*600 mm*1050 mm工作电源AC 220V～240V、50Hz工作环境室内温度 15～35℃；相对湿度 ≤80% （不结露）额定功率800W整机重量约80KG应用领域：样品类别元素类别烧结矿/球团矿TFe 、Si、Ca、Mg、Al、Mn、Ti、P、S、K、V等高炉渣/转炉渣TFe 、Si、Ca、Mg、Al、Mn、Ti、P、S、K、V等精炼渣Al、Ca、Si、Mg、Fe、Ti等预熔渣Ca、Mg、Al、Si、Fe、P、S等铝酸钙Si、Al、Fe、Ca、Mg等铁酸钙Fe、Al、Ca、Si、S、P等富锰渣Mn、Fe、P、S、Si、Al、Ca等元素铁精粉/铁矿石TFe 、Si、Ca、Mg、Al、Mn、Ti、P、S、K、V等赤铁矿/磁铁矿TFe、K、Na、S、P、Al、Si、Mg、Ca、Mn、Zn、Cu、Ti等铅锌矿Pb、Zn、Ag、Cu、Sn、Fe、S、Cd、Mo、As等锰矿Mn、Si、P、S、Al、Ti、K、Zn、Ca、Mg等钛矿Ti、Mn、Fe、Si、P、S、Al、K、Zn、Ca、V、Cu、Mg等铜矿Mn、Fe、S、Cu、Pb、As、Au、Cd、Zn、Ag、Mg等铬铁矿Fe、P、S、Al、Cr、Ca、Mg、Si等耐火材料高硅质粘土Si、Al、Fe、Ca、Mg、K、Na、S、P等高铝质矾土Al、Fe、Ti、Na、K、Mn、Ca、Mg、Si、P等高镁质镁砂Mg、Ca、Si、Al、Fe等刚玉白刚玉Al、Na、Si、Ca、Fe等棕刚玉Al、Si、Ti、Fe等黑刚玉Al、Si、Ti、Fe等铬刚玉Al、Na、Cr、Fe等锆刚玉Zr、Si、Al、Na、Fe、Ti、Ca、Mg、K等水泥生料/熟料Si、Al、Fe、Ca、Mg、K、Na、 S、Cl-等石灰石S、P、Al、Si、Fe、Ti、Mn、Sr、Ca、Mg等白云石S、P、Al、Si、K、Na、Fe、Ti、Mn、Sr、Ca、Mg等硅灰石Si、Ca、Fe、Al、Ti、Mg等蛇纹石Mg、Si、K、Na、Ca、Fe、Ti、Mn、Al、S、P等莫来石Al、Si、Fe、Ti、Ca、Mg、K、Na等镁铝尖晶石Al、Mg、Ca、Si、Na、Fe等萤石Ca、P、S、Si、Al、Fe、Mg、Ti、Mn、K、Na等煤矸石Si、Al、Fe、Ca、Mg、Ti、P、V等石英砂Zr、Si、Fe、P、S 、Al、Ti等金红石Ti、S 、P 、Fe、Nb、Ta、Cr、Sn等石榴石Ca、Mg、Fe、Mn、Al、Cr等生铁Si、Mn、P、S、Ti、Cr、V等元素高锰生铁Fe、Mn、P、S、Si、Cr等元素硅铁合金Al、Si、Ca、Na、Mg、P、S、Fe、Cr、Mn、Cu、Ba等硅锰合金Mn、P、S、Si等硅锆合金Si、Ca、Al、Ba、ZR、Mn等硅铝钡钙Si、Al、Ba、Ca等硅钡钙/硅钙/硅钡Si、Ba、Ca、Ba 、Fe等镍铁Ni、Mn、Si、Cu、Co、Cr、V、S、P等钒铁V、Mn、Si、P、S等铬铁Cr、Si、P、S、V、Fe、Mn、Ti等锰铁Mn、Si、P、S、Cr、Ni、V、Fe等铌铁Nb、Al、Si、S、P等玻璃Si、Al、Fe、Ca、Mg、K、Na 等粉煤灰（火电厂）Si、Al、Fe、Ca、Ti、Mg、K、Na、S、Mn等球化剂（稀土镁硅合金）Mg、RE、Si、Ca、Al等孕育剂Si、Ba、Ca、Al等蠕化剂Mg 、Re 、Ca 、Si 、Al 等覆盖剂Ca 、Si、Mg、Al、Fe等管模粉Si、Ca、Al、Ba、ZR、Mn等除渣剂Ca 、Si、Al等烧结焊剂Si、Ti、Ca、Mg 、Al、Mn、S、P等钎焊粉Ti、Zr、Ni、Cu、Ag、Zn、Sn、Si、Mn、Ni、Cr、P等氧化铝Si、Fe、Ca、Mg等工业硅Al、Ca、Fe、Ti、Mn、Ni等SCR脱硝催化剂Ca、Na、K、As、W、V等土壤重金属Pb，As，Cd，Hg，Cu，Ni，Zn，Cr等

仪器简介： 专门针对RoHS/ELV/玩具/包装/首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量 能同时测量Cl/Cr/As/Se/Br/Cd/Sb/Ba/Hg/Pb等元素 DM2300型X荧光分析仪（或称X荧光光谱仪）(英文名为DM2300 EDXRF Analyzer)是由上海爱斯特电子有限公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的分析仪器。仪器采用了能量色散X射线荧光（Energy Disperse X Ray Fluorescence）（EDXRF）分析技术，能分析从铝(原子序数13)到铀(原子序数92)的所有元素，对大多数元素分析的含量可低至1ppm高至100%，还能进行镀层厚度测量。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作简便、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于电子电气、建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。 对于RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量，目前有多种方法，但绝大部分的测量方法都非常烦琐，特别是制样那更是复杂，且时间很长，又污染环境。而X荧光分析法虽然准确度较差，但它分析速度快、操作简单、无污染、制样方便或根本无需制样，能对绝大部分产品作出正确判定，而少量不能判定的产品再用其他方法，从而达到先筛选的目的，使测量方便了许多。所以X荧光分析法作为RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素测量的筛选法，得到全世界所有国家的确认。如我国国家质量监督检验检疫总局最近颁布了六个有关RoHS的检测方法标准，其第一个标准就是：SN/T 2003.1-2005 《电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第一部分：X射线荧光光谱定性筛选法》。对每一个需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位，X荧光分析仪是不可缺少的。 DM2300型X荧光分析仪是本公司诸多X荧光分析仪中一款专门针对RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量而设计开发的产品。它采用X光管激发，光管高压的电压和电流连续可调，具有多个滤色片和准直器并可自动转换，能使仪器达到最高的激发效率、最佳的计数率和最高的峰背比，从而有极高的精度和很小的检出限；它采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰；它采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品；它的样品室体积达480 mm×350 mm×125mm，能测量大件物品；它的设计对屏蔽防护极好，无三废公害；其测量准确度及检出限达到进口同类仪器的水平，而价格只是进口同类仪器的几分之一，特别适合我国国情。凭借着本公司数十年X荧光分析仪的研究经验，凭借着本公司数十年在X荧光分析领域的良好口碑和重要地位，我们相信：DM2300型X荧光分析仪定将得到广大需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位的认可，成为国外同类产品的替代品，为我国的检测事业和环境保护作出一定的贡献。技术参数： (1) 分析元素种类：Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等。(2) 有害元素及卤素含量分析范围： 5～3000ppm。(3) 系统分析时间： 300s (典型值)。(4) 分析精度： 理想状态下，测量绝对精度为2～3ppm； 一般状态下，测量相对误差为10%。(5) 检出限： ≤2 ppm。(6) X射线光管： 高压：≤50kV， 电流：≤1mA，均连续可调。(7) 准直器： Ф1mm、Ф3mm、Ф5mm、Ф7mm共4个可自动切换。(8) 系统能量分辩率： 对于MnK5.9keV的X射线，其半高宽：≤155 eV。(9) 长时间稳定性： 开机1小时后，整机8小时稳定性：峰位和峰面积相对标准偏差均小于0.1%。(10) 样品室体积： 长×宽×高：480 mm×350 mm×125mm。(11) 使用条件： 环境湿度：5～30℃，相对湿度≤80%(25℃)，供电电源：220±20V，50Hz。(12) 整机功耗： ≤150W。(13) 尺寸与重量： 长×宽×高：503 mm×412 mm×478mm；重量：45Kg。主要特点： (1) 采用EDXRF物理分析方法，分析中不接触、不破坏样品，无需化学试剂等其他辅助材料。(2) 多元素同时快速分析，一般几分钟给出Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等元素的ppm含量结果。(3) 采用X光管激发，光管高压的电压和电流可调，使仪器达到最高的激发效率和最佳的计数率。。(4) 具有4个滤色片和4个准直器，可任意自动转换组合，使仪器达到最佳的计数率和最高的峰背比，从而有极高的精度和很小的检出限。(5) 采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰。(6) 采用高分辨率的CCD摄像头，样品平台可移动，从而保证测量目标位置的准确。(7) 由计算机进行显示、操作和数据处理，从而使操作简便，分析快速准确。(8) 仪器集成化程度高，可靠性好，维修方便。环境适应能力强，长期稳定性好。(9) 采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品。(10) 样品室体积大，能测量大件物品。(11) 价格功能比低，适合我国国情。(12) 设计对屏蔽防护极好，无三废公害，射线防护安全可靠。

仪器简介：专门针对RoHS/ELV/玩具/包装/首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量能同时测量Cl/Cr/As/Se/Br/Cd/Sb/Ba/Hg/Pb等元素 DM2300型X荧光分析仪（或称X荧光光谱仪）(英文名为DM2300 EDXRF Analyzer)是由上海爱斯特电子有限公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的分析仪器。仪器采用了能量色散X射线荧光（Energy Disperse X Ray Fluorescence）（EDXRF）分析技术，能分析从铝(原子序数13)到铀(原子序数92)的所有元素，对大多数元素分析的含量可低至1ppm高至100%，还能进行镀层厚度测量。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作简便、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于电子电气、建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。对于RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量，目前有多种方法，但绝大部分的测量方法都非常烦琐，特别是制样那更是复杂，且时间很长，又污染环境。而X荧光分析法虽然准确度较差，但它分析速度快、操作简单、无污染、制样方便或根本无需制样，能对绝大部分产品作出正确判定，而少量不能判定的产品再用其他方法，从而达到先筛选的目的，使测量方便了许多。所以X荧光分析法作为RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素测量的筛选法，得到全世界所有国家的确认。如我国国家质量监督检验检疫总局最近颁布了六个有关RoHS的检测方法标准，其第一个标准就是：SN/T 2003.1-2005 《电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第一部分：X射线荧光光谱定性筛选法》。对每一个需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位，X荧光分析仪是不可缺少的。DM2300型X荧光分析仪是本公司诸多X荧光分析仪中一款专门针对RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量而设计开发的产品。它采用X光管激发，光管高压的电压和电流连续可调，具有多个滤色片和准直器并可自动转换，能使仪器达到最高的激发效率、最佳的计数率和最高的峰背比，从而有极高的精度和很小的检出限；它采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰；它采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品；它的样品室体积达480 mm× 350 mm× 125mm，能测量大件物品；它的设计对屏蔽防护极好，无三废公害；其测量准确度及检出限达到进口同类仪器的水平，而价格只是进口同类仪器的几分之一，特别适合我国国情。凭借着本公司数十年X荧光分析仪的研究经验，凭借着本公司数十年在X荧光分析领域的良好口碑和重要地位，我们相信：DM2300型X荧光分析仪定将得到广大需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位的认可，成为国外同类产品的替代品，为我国的检测事业和环境保护作出一定的贡献。技术参数：(1) 分析元素种类：Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等。(2) 有害元素及卤素含量分析范围： 5～3000ppm。(3) 系统分析时间： 300s (典型值)。(4) 分析精度： 理想状态下，测量绝对精度为2～3ppm； 一般状态下，测量相对误差为10%。(5) 检出限： &le 2 ppm。(6) X射线光管： 高压：&le 50kV， 电流：&le 1mA，均连续可调。(7) 准直器： Ф1mm、Ф3mm、Ф5mm、Ф7mm共4个可自动切换。(8) 系统能量分辩率： 对于MnK5.9keV的X射线，其半高宽：&le 155 eV。(9) 长时间稳定性： 开机1小时后，整机8小时稳定性：峰位和峰面积相对标准偏差均小于0.1%。(10) 样品室体积： 长× 宽× 高：480 mm× 350 mm× 125mm。(11) 使用条件： 环境湿度：5～30℃，相对湿度&le 80%(25℃)，供电电源：220± 20V，50Hz。(12) 整机功耗： &le 150W。(13) 尺寸与重量： 长× 宽× 高：503 mm× 412 mm× 478mm；重量：45Kg。主要特点：(1) 采用EDXRF物理分析方法，分析中不接触、不破坏样品，无需化学试剂等其他辅助材料。(2) 多元素同时快速分析，一般几分钟给出Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等元素的ppm含量结果。(3) 采用X光管激发，光管高压的电压和电流可调，使仪器达到最高的激发效率和最佳的计数率。。(4) 具有4个滤色片和4个准直器，可任意自动转换组合，使仪器达到最佳的计数率和最高的峰背比，从而有极高的精度和很小的检出限。(5) 采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰。(6) 采用高分辨率的CCD摄像头，样品平台可移动，从而保证测量目标位置的准确。(7) 由计算机进行显示、操作和数据处理，从而使操作简便，分析快速准确。(8) 仪器集成化程度高，可靠性好，维修方便。环境适应能力强，长期稳定性好。(9) 采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品。(10) 样品室体积大，能测量大件物品。(11) 价格功能比低，适合我国国情。(12) 设计对屏蔽防护极好，无三废公害，射线防护安全可靠。

DM1200钙铁分析仪不含放射源的钙铁分析仪，最快仅15秒获全国首张辐射豁免函是真正的绿色环保产品采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术铍窗充气正比计数管，硬质样品比例法触摸式彩色高清屏、多道脉冲分析器等符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM1200 钙铁分析仪是本公司的第四代钙铁分析仪。它与前三代最大的不同在于它不含同位素放射源。它采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术、小型X光管做激发源、薄铍窗充气正比计数管、特殊的光路系统和硬质样品比例法，从而达到很高的准确度。其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。只要压个片就能在30秒内测出生料、熟料或水泥中CaO、Fe2O3的浓度。图0 EDXRF分析技术原理图DM1200 钙铁分析仪是本公司的拳头产品，在国内市场占据70%以上的份额，行销全球各地水泥企业。从三十几年前第一代的DM1001、到第二代的DM1010、再到第三代的DM1010A，直至第四代的DM1200，DM系列钙铁分析仪已销售一万多台，用户三千多家。DM1200 钙铁分析仪的2021款除保持了原有DM1200的优点外，还进行了以下重大改进：(1) 大屏幕彩色触摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和键盘，改善了用户的操控体验。(2) 新的大规模集成电路CPU代替原老的如80C31等CPU，没有数据总线与外部设备或外部芯片直接连接，极大地提高了系统的可靠性，基本消灭了死机现象。(3) 用贴片电路代替原立式电路，减少了电路板的面积，并能大规模机械化生产，极大地提高了硬件的可靠性，使仪器的返修率降到最底。(4) 用热敏打印机代替了原来的针打印机。(5) 用最新设计的采用CPLD，FPGA，DSP等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器代替原单道脉冲幅度分析器及固定增益放大器，极大地提高了仪器的长期稳定性。DM1200 钙铁分析仪的2021款的推出是本公司实现自我超越的成果，必将使本公司在X荧光分析仪领域保持长久的国内领先地位。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中CaO、Fe2O3的浓度测量，并通过测量生料中CaO、Fe2O3的浓度来控制熟料的质量，通过测量熟料和水泥中CaO的浓度来确定混合材的参杂量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等部门的固体、液体和粉末样品中SO3、CaO、Fe2O3的浓度分析。特点快速同时––所需测量元素同时快速分析，一般几十秒给出浓度结果。高准确度––采用EDXRF技术，低本底薄铍窗正比计数管，次级滤光片。极大地提高了仪器的灵敏度和峰背比，具出色的重复性和再现性，极高的准确度。向下照射––采用X射线向下照射系统，杜绝了样品粉末污染损坏探测系统的可能，特别适合水泥生熟料等粉末样品。长期稳定––采用可变增益数字多道，有增益调整、比率校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。使用方便––触摸屏操作。样品粉碎压片放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。高可靠性––一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。数据传存––可存储海量数据，支持掉电后保持数据，并可随时查看。并可将存储数据传输到PC机。高性价比––无需气体、真空、稀释，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1.水泥生料标准样品校准结果数据成分CaOFe2O3系数D-18.970.08系数E45.404.35系数F00相关系数γ0.99600.9987这些校准曲线的相关系数γ均大于0.995，表示DM1200 钙铁分析仪的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2.生料标准样品重复性测量数据分析（%）成分CaOFe2O3标准值56.202.82平均示值56.302.83最大示值56.452.83最小示值56.212.82极差0.240.01示值标准偏差0.07650.00473倍示值标准偏差0.230.014GB/T176的重复性限0.250.15DM1240与国标的符合性优远优按国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM1200 钙铁分析仪可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤10keV，电流：≤0.5mA，功率：≤5W探测器薄铍窗正比计数管测量范围CaO、Fe2O3分析范围均可调节，通过标定工作曲线的方法选定测量范围宽度CaOmax—CaOmin≤7%， Fe2O3 % max—Fe2O3 % min ≤5%。测量精度SCaO≤0.09%，S Fe2O3≤0.05%。符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间1～999s，推荐值：30s使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤50W尺寸及重量470mm（W）× 365mm（D）× 130mm（H），15kg

真空型X荧光光谱古董分析仪EDX 9900 plus美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率真空测试环境提供最优轻元素检测效果超宽元素分析范围，涵盖11Na to92U超大型抽真空样品腔，满足不同大小、器形的陶瓷样品无损检测大功率真空泵，缩短测量时间，极大提高检测效率多滤光片自动切换，提高微量元素检出限多准直孔，可测试不同大小样品点位内置高清摄像头EDX9900 plus能量色散荧光光谱仪-古董分析专家古陶瓷、古青铜器、古金器等金属文物和是古代文明的瑰宝，对世界文化和现代文明都具有重要的影响。现行的古器鉴定工作中,如何精确探究文物所藏成为最有待解决的问题。断源与断代是古陶瓷科学技术研究中的两个重要方面，其中必定要使用到对古陶瓷标本的化学组成以及记录其年代信息的载体进行测定的科学方法。测定古陶瓷标本与各地制陶原料的化学组成可以确定古陶瓷的产地，并可在一定程度上帮助判断古陶瓷的烧造年代；而通过检测保留在古陶瓷内部的记录其年代信息的各种载体，则可以较准确的进行断代。能量色散X荧光能谱(EDXRF) 是以X射线照射到样品表面，利用能谱仪测定各种元素的特征X射线光子的能量和强度，以此来进行定性和定量分析。作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9900 plus古董分析仪配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂古董样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体或者粉末，EDX9900 plus古董分析仪都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9900 plus光谱仪在古器、古文物鉴定科学领域中，快速无损的鉴别陶器，油画，影印制品，玉石、玻璃制品，宝石，青铜及铜合金真伪和年代，对文物、艺术品的修复起到了重要的作用英飞思EDX9900 plus古董分析光谱仪可以一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份；也能对青铜器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、贵金属（Au、Pt、Ag、Cu、Ni、Zn等）的化学成份含量进行检测，再对照中国古陶瓷数据库便可以达到断代断源的功效。EDX9900 plus古董分析仪专注于对古董陶瓷或金属材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：测定青铜器中的元素成分测定瓷器的元素成分测定金银器中的元素成分测定铁器等元素成分产品特点作为一款专业为古董元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9900 plus古董分析测试光谱仪兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：• 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果• 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响• 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率• 能同时进行元素和氧化物成分分析• 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全• 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高• 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像• 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位古董元素检测专家EDX9900 plus仪器参数仪器外观尺寸: 880×750×1280 mm超大样品腔：665×580×980mm仪器重量: 315Kg元素分析范围：Na11-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样古董陶瓷标准样真空泵交流净化稳压电源USB数据线电源线测试薄膜仪器出厂和标定报告保修卡功能强大而界面友好的测试软件EDX9900 plus已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了一键初始化仪器，基体自动匹配自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度可实时刷新测量结果简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线可定制化测试报告，一键打印陶瓷样品10次测试稳定性报告样品名称Na2OMgOAl2O3SiO2PK2OTiO2Fe2O3陶瓷4-10.15300.358219.250868.41180.14034.84630.15180.9259陶瓷4-20.16000.310219.226068.19610.13204.86340.15690.9184陶瓷4-30.16770.349819.070968.29300.13114.85110.15060.9249陶瓷4-40.17210.339919.145368.15050.13384.84300.14970.9216陶瓷4-50.15900.319019.187568.34850.13044.85860.15350.9108陶瓷4-60.15870.356819.153068.28220.13704.85590.14670.9171陶瓷4-70.15030.313219.124368.36570.13264.85930.14520.9267陶瓷4-80.16420.318219.137168.30770.12694.85180.14140.9182陶瓷4-90.15050.331019.147168.32040.13734.85690.15720.9221陶瓷4-100.15640.300319.111968.24440.13604.84060.14930.9244陶瓷4-110.16220.334519.053768.28050.13474.85070.15260.9175平均值0.15950.330119.146168.29100.13384.85250.15040.9207标准偏差0.00690.01960.05920.07470.00380.00710.00480.0048相对标准偏差4.32%5.94%0.31%0.11%2.81%0.15%3.18%0.52%

袖珍植物叶绿素荧光仪/植物效率分析仪产品介绍： 袖珍植物叶绿素荧光仪/植物效率分析仪可准确记录叶绿素荧光诱导动力学曲线的快相部分，每秒钟可以连续记录10万次荧光踪迹数据，能在1秒钟内完整测定叶绿素的OJIP 荧光诱导曲线，测定的基本参数为：Fo，Fm，Fv，Fv/Fm，Tm（Fm出现的时间），Fo与Fm曲线之间的面积（该面积反映PSII电子受体库的大小），PI（光合性能指数），以及由OJIP荧光诱导曲线计算出来的全部参数，屏幕直接显示Fv/F及PI参数。技术参数：1.每秒钟连续记录10万次荧光踪迹数据， 1秒钟内完整测定叶绿素的O J I P 荧光诱导曲线。2.存储200个1秒钟的荧光动力学曲线的全数据。3.光源：红色二极管聚光光源，波长峰在650nm，谱线半宽22纳米，叶片表面光强度为3500 μmolm-2s-1, 记录时间有1秒和10秒2个选择档次。4.内置锂电池，连续使用时间长达4小时。5.测定参数：FO， Fm，Fv，Fv/Fm，Ft ，FJ ，FI，FP ，Tm, ψO，φEo，φDo，Vt，VJ，WK，PIABS，PICS，ABS/RC，TRO/RC，ETO/RC，DIO/RC，RC/CSO，RC/CSM等五十多个OJIP荧光诱导曲线计算出来的荧光参数。产品特点：具有单键操作的快速筛选功能板载存储多达 200 个完整数据集自动计算参数，包括 Fv/Fm 和 OJIP 分析带有密封高强度光学器件的坚固外壳100kHz 采样频率，16 位分辨率标配 Bluetooth? 无线数据传输包含强大的 Windows数据传输和分析软件技术参数：尺寸：175毫米(长)x 75 毫米(宽)x 35 毫米(深)重量：250g通信：Bluetooth? 无线通信运行条件：0°C – 40°C、非冷凝湿度。电池：环保(0%铅、镉汞)锂聚合物3.7V，570 mAhr充电器：一体式开关模式充电器输入电压 100V – 240V 50Hz – 60Hz输出电压 12V DC输出电流 3 安培。显示：2 行 x 12 字符 LCD 显示屏照明：具有 NIR 短通截止滤光片的光学稳定、聚焦、亮红色 LED峰值波长 627nm。*大限度、叶面强度：高达 3,500 μmol m -2 s -1检测器：具有 RG9 长通滤波器的快速响应 PIN 光电二及管电子产品：高性能16位微控制器16位分辨率 A/D 10微秒采集速率用于光源控制的8位 DAC实时时钟。记录长度：1、3 或 10 秒记忆：512 Kbits 非易失性存储器足以进行多达 200 次、时长10秒的完整跟踪数据记录。

品牌介绍：美国伊诺斯(Innov-X System)公司位于波士顿，美国纽约证券交易所上市企业，是全球最专业的微型X荧光光谱技术研发商，生产的Innov-X系列便携式X射线荧光光谱分析仪占据全球微型X荧光分析仪近70%市场份额。伊诺斯是全球首家通过ISO9001质量体系认证的微型X荧光分析仪器的生产厂商，同时通过了NATO AQAPI标准 (该标准为北大西洋公约组织对精密武器及其零件供应商的最高品质要求)。 伊诺斯凭借其卓越的品质和严谨的服务理念，已经被广泛应用于地质、矿产、金属、土壤、环境、考古、木材、电子、医药、环保、啤酒、电力、石化、玩具、大型工程、锅炉制造、再生资源金属、玻璃的回收、刑事证据鉴定等各种不同领域的日常分析。并被联合国国际原子能机构作为指定产品，多次在中东多国武器核查中发挥重要作用。 地矿应用：1、地质普查、详查/找矿●简易化探扫面； ●测试钻探岩心，初步确定矿体厚度以及规模； ●矿脉追踪 ；2、化探●化探扫面；●化探填图；●土壤测试（适用于ppm模式）； 3、区域地质调查（区调）●剖面、路线中采样；4、矿山生产●品位控制，测试矿粉，按照品位分类，使用非常方便，但是需要将单元素调得很准；●圈定矿体，三维模型等；5、矿产投资●快速同时多元素分析，不漏矿；6、环保监测●土壤污染，重金属原位快速检测；7、宝石鉴定领域 8、冶炼●矿业模式与合金模式结合使用很方便。 标配清单：1.Delta DPO-6000主机 (X射线元素分析仪)1台；2.用户化Windows CE 6.0操作系统1套；3.土壤专用测试软件Soil Beam11套；4.土壤专用测试软件Soil Beam1套；5.土壤专用测试软件Soil Beam1套；6.百分比含量专用测试软件Mining1套；7.专用地球化学元素测试GeoChem模式1套；8.数据传输线USB1条；9.7.2V高容量锂电池2块；10. 智能接驳座1个；11.充电系统1套；12.Kapton Window备件薄膜1套；13.防水运输胶箱1个；14.U盘(内含用户手册,软件备份,PC软件等)1个；15.快速操作指南1份；16.校准证明1张。 技术参数：外形尺寸245mm x 250mm x 88mm重量1.5Kg环境工作温度-20℃ ~50℃环境湿度0~95%激发源大功率微型直板电子X射线管，内置10kV~40kV多段可选择的电压靶材Ag靶探测器高性能，高精度超大型SDD硅漂移探测器，探测面积高达25mm2滤波器滤波器8个,可根据不同的电压自动切换；具有8个滤波器，不同的元素采用不同的滤波器，产生最好的分析效果电压，电流电压10~40kv,电流100uA多光束三个光束段，不同的元素采用不同的电压与电流，产生最好的分析效果操作系统用户化Windows CE 6.0操作系统测试软件土壤专用测试软件Soil Beam1、Soil Beam2、Soil Beam3设计超过1/3的机体采用铝合金外壳设计，仪器顶部有专用的槽式散热装置，整个体系使散热非常有效，延长机器寿命, X射线分析仪工作更加更稳定，从而故障率极低气压内置的气压计可以纠正气压加速器内置的加速器可探测运动和震动，使仪器不用时待机，拿起时工作电池仪器更换电池无需关机，在系统运作中拔掉电池，有超过90秒的时间可以插入一个新电池按钮一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感元素分析范围镁（Mg ）到铀（U）之间的所有元素显示器整机一体化设计，工业级高分辨率TFT QVGA卡西欧 BlanView 触摸显示彩屏，带LED背光数据存储可存储205000组数据与光谱；22.辐射全球最低, 美国原厂辐射报告.国家计量研究所报告

仪器介绍： MX-1型X荧光手持式金属分析仪是我公司为金属材料的可靠性鉴别和合金牌号快速识别等行业专业设计的。具有体积小、重量轻、携带方便、可手持、无需制样，对准即测、精度高、检测速度快、性价比高的特点。广泛应用于各类合金样品的分析和金属牌号检测及金属矿产快速分析等领域。一．仪器特点 1．测量元素范围：同时分析钛（Ti）到铀（U）之间的元素。 2．检测样品形态：固体、碎屑等各类有型的合金物体。 3. 无需精密制样，即可对原样品进行直接测试，方便快速。 4．检测样品种类：不锈钢、合金钢、铜合金、镍合金、钛合金、金属矿等。 5．检测时间：2-60s。 6．检测元素含量范围：ppm-100%。 7．美国原装高分辨率Si-PIN电制冷探测器，分辨率145eV，探测效率高。 8．信号处理：进口原装数字脉冲放大器，计数率高。 9．滤光片：软件自动组合6种滤光片和2种准直器，提高最低检测限。可以使用微小准直孔进行微区分析。 10．外形小巧，方便易用。 11．采用多参数线性拟合方法，强度去干扰校正模式，提高分析精确度；基本参数法、理论α系数法和经验系数法以及多种拟合方法，完成未知样品分析。 12. 强大的软件功能：采用新型算法，使微量元素的测量效果达到最佳，可以对多点或多次测量进行平均值计算。支持多种语言（简体中文、英文等）。 13．配备蓝牙、USB通讯，方便实现仪器、PDA、计算机之间的互联和数据传输。 14. 配有PC端软件，可在普通电脑上处理数据和标定。 15．防水防尘，可在恶劣环境下连续工作。 16．配备大容量储存卡，可存储海量数据。 17. 安全系统：独特的隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统，保障安全。 18. 完美的散热腔体设计，保证了工作的稳定性和可靠性，有效延长使用寿命。 19. 采用触控式分析界面，操作简单方便。 20. 仪器可选配自旋功能的测试支架，使得测试更方便，结果更可靠。二．技术参数 检测范围：同时分析钛（Ti）到铀（U）之间的元素。 检测时间：2-60s。 激发系统：一体化微型高压电源和X光管，使用寿命长，最大功率4W 。 探 测 器 Si-PIN电制冷探测器，分辨率145eV，检测速度快。 信号处理：进口原装微型数字脉冲多道放大器，计数效率高。 操作语言 多种语言选择。 操作系统 掌上电脑：Windows，Jingpu系列专用软件。 冷却系统 Peltier 恒温冷却系统，保证仪器的精度，延长使用寿命。 供电电源 充电锂电池,每节电池连续工作8小时以上。也可以使用交流220V,50/60HZ； 显 示 器 240x320彩显 65,536 像素；背景光可调；触摸屏。 测量模式 定性识别、定量分析，显示测量谱线和加亮区。 数据传输 USB、存储卡、无线蓝牙。 数据存储 8G 闪存卡。 安全设置 密码保护。 工作温度 -10--50℃。 相对湿度 ≤85%。 分析精度 ≤0.3%。 重 量 1.9 kg（含电池） 尺 寸 29cm(L) x 9cm(W) x 29cm(H)三、仪器应用 1、金属材料检测及合金材料鉴别（PMI） 合金牌号分析：2-5秒对样品进行快速分析，直接显示合金牌号。内置合金牌号250余种，用户可自定义1000种合金牌号，能分析的合金高达数千种。 金属成分测试：10-30秒对样品进行准确的分析，结果显示为百分比含量。 可以分析不锈钢、合金钢、铜合金、锌合金、锡合金、镍合金、钛合金、铝合金（重合金元素）等样品中Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、W、Hf、Ta、Re、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Sn、Sb等元素。 金属冶炼、压力容器、电力电站、石油化工、精细化工、制药、航空航天等行业中，使用MX-1型X荧光手持式金属分析仪，可以确保使用的合金零部件与设计要求的规格完全一致，保障产品质量，避免混料或使用不合格的材料而产生严重的安全事故。是质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的首选仪器。 金属废料回收与再利用 MX-1型X荧光手持式金属分析仪，可以为废旧金属的回收、再利用行业进行现场快速准确的分析检测。确保对大量繁杂多样的合金种类及材料做出迅速、可靠的判定。 分析实例：合金牌号为316L不锈钢样品。分析时间为10秒。 分析图谱： Fe元素的工作曲线： 不锈钢测试结果：样品名称分析方法Fe（%）Ni（%）Cr（%）Cu（%）1#化学44.624.2828.240.69荧光44.224.2428.480.71误差-0.4-0.040.240.022#化学69.74.1624.100.060荧光69.54.1324.150.048误差-0.2-0.030.05-0.0123#化学64.619.9011.593.12荧光64.719.6711.613.14误差0.1-0.230.020.02 2、各种金属矿石成分分析 应用于各种矿石中钛（Ti）到铀（U）之间的成分快速检测，如铜矿、铁矿、铅矿、钨矿、矾矿、锡矿、钼矿等金属矿，5-30秒可得到满意结果。 A.锰矿的工作曲线 Mn元素测试结果：样品名称分析方法Mn（%）1#化学9.58荧光9.54误差-0.042#化学21.72荧光21.69误差-0.033#化学34.56荧光34.43误差-0.13 B.铜矿的工作曲线 Cu元素测试结果：样品名称分析方法Cu（%）1#化学1.47荧光1.42误差-0.052#化学8.28荧光8.36误差0.083#化学14.17荧光14.05误差-0.12 C.钨矿选矿分析 钨矿选矿过程中的钨含量，利用MX-1型X荧光手持式金属分析仪可以快速测定。 分析测试结果如下：样品名称方法WO3（%）24化 学42.92荧 光42.68误 差-0.24212化 学47.88荧 光48.03误 差0.15118化 学42.68荧 光43.01误 差0.33981化 学31.66荧 光32.10误 差0.4478化 学47.00荧 光47.01误 差0.01126化 学55.40荧 光55.71误 差0.3162化 学43.42荧 光43.90误 差0.48211化 学12.56荧 光12.82误 差0.2623化 学14.46荧 光14.57误 差0.1115化 学12.72荧 光12.80误 差0.08149化 学15.30荧 光15.53误 差0.23959化 学9.38荧 光9.41误 差0.03210化 学22.18荧 光21.97误 差-0.21739化 学23.38荧 光23.20误 差-0.18

DM2100 X荧光多元素分析仪在同档次中真正得到广大水泥企业认可的获全国首张辐射豁免函是真正的绿色环保产品采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术本公司专有的分谱技术、次级滤光片、薄铍窗正比计数管、特殊的光路系统等符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM2100 X荧光多元素分析仪是由本公司研制生产的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术，薄铍窗充气正比计数管、次级滤光片、特殊的光路系统、硬质样品比例法和本公司专有的分谱技术，从而使小型仪器也能准确测量相邻的轻元素(如水泥生料中的Al、Si)，其测量准确度达到进口同类仪器的水平。其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。只要压个片就能在310秒内测出物料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度。图1 EDXRF分析技术原理图DM2100型X荧光多元素分析仪现已销售近千台，是国内销量最多的。目前国内生产多元素分析仪的企业不少，但真正能在水泥企业用上的只有DM2100型X荧光多元素分析仪。并且购买该仪器的用户没有一家不在使用、不产生效益的。DM2100型X荧光多元素分析仪已获得实用新型专利（专利号：ZL200620040917.5）和发明专利（专利号：200610025556.1）各一项，被认定为上海市高新技术成果转化项目（编号：200607406），并已获上海市科技创新基金，获全国首张辐射豁免函。图2 2021款面板图DM2100X荧光多元素分析仪的2021款除保持了原有DM系列X荧光分析仪所具有的外形美观、一体化、连续测量标准样法、分析时不接触不破坏样品、无需化学试剂、数据储存能力大等优点外，进行了以下重大改进：(1) 大屏幕彩色触摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和键盘，改善了用户的操控体验。(2) 新的大规模集成电路CPU代替原老的如80C31等CPU，没有数据总线与外部设备或外部芯片直接连接，极大地提高了系统的可靠性，基本消灭了死机现象。(3) 用贴片电路代替原立式电路，减少了电路板的面积，并能大规模机械化生产，极大地提高了硬件的可靠性，使仪器的返修率降到最底。(4) 用热敏打印机代替了原来的针打印机。(5) 用最新设计的采用CPLD，FPGA，DSP等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器代替原单道脉冲幅度分析器及固定增益放大器，极大地提高了仪器的长期稳定性。DM2100X荧光多元素分析仪的2021款的推出是本公司实现自我超越的成果，必将使本公司在X荧光分析仪领域保持长久的国内领先地位。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度测量，并通过测量生料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度来控制熟料的质量，通过测量熟料和水泥中CaO的浓度来确定混合材的参杂量，通过测量水泥中SO3的浓度来控制水泥的质量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等部门的固体、液体和粉末样品中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度分析。特点快速同时––所需测量元素同时快速分析，一般几分钟给出浓度结果。高准确度––采用国内首创的分谱技术，能真正区分相邻元素，从而准确测量相邻轻元素。使用方便––触摸屏操作。样品粉碎压片放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。长期稳定––采用可变增益数字多道，有增益调整、比率校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。高可靠性––一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。功能强大––有合格率统计、率值计算、出错提示等，还可根据用户要求增加软件功能。数据传存––可存储海量数据，支持掉电后保持数据，并可随时查看。并可将存储数据传输到PC机。高性价比––无需气体、真空、稀释，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC 为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1. 水泥生料标准样品校准结果数据成分Al2O3SiO2SO3CaOFe2O3系数D-2.89-3.460.2713.440.12系数E57.1432.415.7622.032.32系数F00000相关系数γ0.99120.99800.99270.99350.9967这些校准曲线的相关系数γ均大于0.99，表示DM2100X荧光多元素分析仪的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2. 生料标准样品重复性测量数据分析（%）成分Al2O3SiO2SO3CaOFe2O3标准值1.4610.752.5247.421.30平均示值1.1.3510.642.5047.381.36最大示值1.4710.722.5247.571.39最小示值1.2410.562.4847.281.33极差0.230.160.040.290.06示值标准偏差0.06500.04610.01270.07750.02163倍示值标准偏差0.1950.1380.0380.2330.065GB/T176的重复性限0.200.200.150.250.15DM2500与国标的符合性优优远优优远优按国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM2100X荧光多元素分析仪可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤10keV，电流：≤0.5mA，功率：≤5W探测器超薄铍窗正比计数管测量范围Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3分析范围均可调节，通过校准选定测量范围宽度Al2O3max—Al2O3min≤5%， SiO2 max—SiO2 min7≤%，SO3 max—SO3 min≤5%，CaOmax—CaOmin≤7%， Fe2O3 max—Fe2O3 min ≤5%。测量精度S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.06%，S SO3≤0.02%，SCaO≤0.08%，S Fe2O3≤0.03%。符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间1～999s，推荐值：310s使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤150W尺寸及重量560mm（W）× 470mm（D）× 150mm（H），23kg实用新型专利号：ZL200620040917.5发明专利号：200610025556.1高新技术成果转化项目编号：200607406

申贝科学仪器使用 Thermo Scientific&trade Niton&trade XL2 Plus 手持式 XRF荧光光谱分析仪，放心地进行元素分析。在耐用性，性能和生产率成为首要考虑因素时，Niton XL2 Plus 手持式 XRF 分析仪是工业企业快速获取结果和支持低检测限的可靠选择。鉴别纯金属以及合金，或检测杂质元素，Niton XL2 Plus手持式 XRF荧光光谱分析仪使操作员能够在一台多功能分析仪中对各种各样的材料进行扫描。特点与优势2W X 射线球管适用于轻元素检测（Mg、Al、Si、P、S）的硅漂移探测器 (SDD)检测器ProGuard 防护微型摄像机热交换电池触摸屏和方向键密码保护确保安全IP54 认证（防溅/防尘）鼻锥对齐指南应用在生产操作中进行金属及合金验证适用于阳性材料鉴别的质量保证测试废料回收操作时进行一键式分类金银和珠宝的贵金属检测 技术参数应用Identify pure metals and alloys, detect tramp elements, or obtain geochemical data分析范围Mg-U可用分析模式普通金属、贵金属数据存储器64 MB 系统内存/128 MB 用户内存可存储约 10,000 项光谱读数（如果保存影像则少于此数量）数据传输USB、蓝牙、RS-232 串口通信描述Niton XL2 Plus 手持式 XRF 分析仪检测器类型硅漂移探测器 (SDD)包括检测器 ProGuard 防护显示类型固定角度的电阻式彩色触摸屏显示器可选配件Thermo Scientific&trade 便携式测试架 Thermo Scientific&trade 移动式测试架Thermo Scientific&trade 野外配件测试架Thermo Scientific&trade 土壤防护功耗7.4V 锂离子电池，或 12V DC、3A、36W 电源更换电池过程中，热交换功能可保持分析仪供电安全特性通过密码保护实现用户安全标配配件可锁定的防护式携带包两 (2) 个锂离子电池组一 (1) 个 110/220 VAC 电池充电器/交流适配器检查样品皮套安全绳索电脑连接电缆（USB 和 RS-232）系统详情经系统自检内置标准化功能管电压6 to 45 kV重量（英制）3.4 lb（包括电池）重量（公制）1.53 kg（包括电池）数据录入触摸屏键盘可用户定制的数据录入可选的无线遥控条形码读取器许可依地区而定。请联系当地经销商。尺寸（长 x 宽 x 高）10 x 10.8 x 3.9 in. (25.6 x 27.5 x 10 cm)相机集成式 CCD 微型摄像机，以定位和记录测量位置语言英语、中文、西班牙语、葡萄牙语、俄语、日语、德语、韩语、法语、意大利语、捷克语X 射线源类型X 射线球管：Ag 阳极（6-45 kV、1-200 uA、最大 2 W）动态调节电流，以达到每次分析灵敏度光斑尺寸8毫米准直库基于 SAE、AISI、ASTM、AA 标准的默认合金资料库用户可创建和编辑资料库运行环境温度：-10°C 至 50°C湿度：相对湿度 0% 至 80% （无冷凝）软件支持软件：Niton 数据传输 (NDT) 电脑软件全球定位系统可选外部 GPS（通过蓝牙）Bluetooth支持打印功能、外部 GPS 连接功能以及条形码读码器操作系统专有认证/合规CE、RoHS、FCC、加拿大工业部、IEC 61010-1 安全条例、UL 61010-1、IP54（防溅、防尘）Unit Size-

主要特点： . 准确测定黄金、铂金、银饰品中的金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铱等元素含量，根据定义 给出符合国标 GB/T18043 要求的测试结果； . 自动识别样品类型，自动切换不同类型首饰样品的测试模式； . 仪器内置标准样品，具备自动校正功能，开机自动完成能量刻度、标准曲线校正、预热一系 列动作，免除人为操作带来的误差和错误； . 一键式测试操作，开启软件并放入样品后，按下一键即可完成测试获得结果，免除所有繁琐 复杂的手工设置和操作； . 具备高级自定义测试功能，开放各种参数调试调整，可建立自定义标准曲线，可保存或导入 导出自定义的数据库和测试模式。1.XRF6C能量射线荧光分析仪特点（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。先进多光束可调系统；高分辨率SDD 硅漂移探测器；快速定性分析；完善的辐射安全防护；RoHS/WEEE 指令元素快速分析； 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群； 内置各类标准样品曲线数据库。2.XRF6C能量射线荧光分析仪参数元素分析范围：AI-U 含量分析范围：1ppm~99.99%重复性：＜5%测量时间：一般60~300s 测量对象：块状物体、粉末、液体 激发功率：50W探测器分辨率：149gev输入电源：AC110V/220V 高压电源：0~50kv/0~1mAX射线辐射剂量：≤1Sv/h3.XRF6C能量射线荧光分析仪部分元素 在低数值中可检出代表性元素120s可检出限LOD(mg/kg)性能指标塑料基体CrBrCdHgPbLOD82445

主要特点： . 准确测定黄金、铂金、银饰品中的金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铱等元素含量，根据定义 给出符合国标 GB/T18043 要求的测试结果； . 自动识别样品类型，自动切换不同类型首饰样品的测试模式； . 仪器内置标准样品，具备自动校正功能，开机自动完成能量刻度、标准曲线校正、预热一系 列动作，免除人为操作带来的误差和错误； . 一键式测试操作，开启软件并放入样品后，按下一键即可完成测试获得结果，免除所有繁琐 复杂的手工设置和操作； . 具备高级自定义测试功能，开放各种参数调试调整，可建立自定义标准曲线，可保存或导入 导出自定义的数据库和测试模式。1.XRF6C能量射线荧光分析仪特点（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。先进多光束可调系统；高分辨率SDD 硅漂移探测器；快速定性分析；完善的辐射安全防护；RoHS/WEEE 指令元素快速分析； 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群； 内置各类标准样品曲线数据库。2.XRF6C能量射线荧光分析仪参数元素分析范围：AI-U 含量分析范围：1ppm~99.99%重复性：＜5%测量时间：一般60~300s 测量对象：块状物体、粉末、液体 激发功率：50W探测器分辨率：149gev输入电源：AC110V/220V 高压电源：0~50kv/0~1mAX射线辐射剂量：≤1Sv/h3.XRF6C能量射线荧光分析仪部分元素 在低数值中可检出代表性元素120s可检出限LOD(mg/kg)性能指标塑料基体CrBrCdHgPbLOD82445

ELITE-600型X荧光分析仪是我公司在其前代产品经验和成功的基础之上,推出的国际先进水平的精密高端能量色散X荧光分析仪。它采用了激发和检测技术的最新成果，分析精度高、可靠性强、使用方便，对元素周期表中的元素均具备卓越的分析性能。 能量色散X荧光分析技术，其原理是样品在受到X光照射时，其中所含元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，探测器探测这些特征X射线，根据测量到谱峰的能量信息即可以判断元素的种类；而根据谱峰的强度就可以分析出各元素的含量。 ELITE-600型X荧光分析仪测量操作简便：装入样品→ 选择所需应用程序→输入相关样品信息→单击测量→分析完成

一、产品简介水质多参数在线监测仪采用柜式整合、将所有电极探头以及水处理系统、检测监控系统组合在柜内的方式，具有数字化功能，不同模块、传感器之间采用高精度检测。变送器可同时连接叶绿素、蓝绿藻、pH/温度、余氯、电导率、浊度等不同类型的电极，并同时测量显示多个参数（可定制）。仪表可选配4～20mA，RS485/232输出，MODBUS标准接口协议输出。水体叶绿素分析仪用荧光法原理检测，根据叶绿素a的光谱吸收特征，通过高能LED光源照射水体，激发水体中的叶绿素a产生特定波长的荧光，测量水中叶绿素a浓度。传感器采用光纤式结构，具有出色的重复性和稳定性，不易受环境光的影响。带有自动清洁刷可消除气泡、减少污垢对检测的影响，使维护周期更长。二、产品特点LCD屏幕中英文界面显示，操作更简单方便；重复性好，灵敏度高，不受介质流速和压力的影响；采用进口TI芯片和抗干扰电路，精度更高，更稳定；光电隔离4~20mA电流输出，RS-485/RS2-232通讯接口； 回差值任意设定功能，避免开关继电器频繁动作；系统自带看门狗功能，掉电保护大于10年；双继电器上下限报警输出；传感器自带温度补偿，可修正温度对测量值的影响；独特的光学和电子滤光技术，采用荧光法测量，不消耗电解液；带自动清洁刷，消除颗粒物对检测的影响，无需定期维护；支持定制特殊功能需求；安装方便快捷、节省站房建设费用；集数据采集、处理和传输于一体，可靠性高，低成本；全触摸屏操作，精准快捷，在线能同时测量：水中油/PH/温度/余氯/浊度/溶解氧/ORP等多个参数可选；4-20mA变送输出、RS485通信输出等各种变量输出，系统智能控制；测量组成系统；壁挂一体主机柜（防锈）；10寸彩色一体彩色触摸屏主机；支持定制特殊功能需求；三、技术规格量程：0~1000μg/L或0~100RFU；分辨率：0.1μg/L或0.1%RFU；精度：±2% 标定精度；检测原理：荧光法；供电电压：AC220、DC24V、输入功率≥5W；输出：RS485、4~20mA、继电器（选配）、HART协议（选配）、NB.GPRS.LORA通讯（选配）；防护等级：IP65(主机)/IP68(传感器)；工作温度：0~60℃(不结冰)；存储温度：-10~60℃；安装方式：投入式安装；电极材质：316不锈钢；电极尺寸：Φ28x161mm；外形尺寸：壁挂式156mm×150mm×85mm；开孔尺寸：壁挂式156mm×94mm；线缆长度：标配10米(可定制延长）；