四探针测试仪

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四探针测试仪相关的厂商

  • 金坛品杰测试仪器有限公司
    金坛市品杰测试仪器有限公司，主要从事气候环境与可靠性试验设备的科研、生产、销售和服务。公司产品是江苏省星火科技扶持项目，公司地址为位于国家科技产业区-著名数学家华罗庚的故乡：江苏省金坛市金城镇工业园区。距常州火车站以及南京禄口机场约一个小时车程，地理位置极其优越便捷。公司本着以“品质为企业的使命”、“服务是友谊的延续”的目标，为客户提供全方位，高品质的测试用试验设备。 公司主导产品有：高低温(交变)试验箱、高低温湿热(交变)试验箱（也称可程式恒温恒湿试验箱）、盐雾腐蚀试验箱（盐水喷雾试验机）、二氧化硫腐蚀试验箱，霉菌试验箱，温度冲击试验箱，防尘、防水（IP外壳防护等级测试设备），光老化（紫外光耐气候，氙灯耐气候），温度老化试验箱等模拟气候类环境试验设备以及各类步入式试验室，产品广泛应用在军工、航空航天、电工电子、仪器仪表、家用电器、汽摩配件、科研质检等各类领域。 公司拥有先进的生产设备及工艺，如数控冲床、折弯机、剪板机、二氧化碳气体保护焊等设备，令生产出的产品工艺更加精湛，公司外购件均采用国内、外知名品牌，如美国Honeywell，韩国三元，法国TE等，制冷压缩机采用法国泰康，德国谷轮等品牌。公司也自行开发专用试验箱控制器，在设计中融入了计算机技术，采用大面积彩色触摸屏的人机交谈方式，发挥了设备更好的性能以及方便了用户对设备的操作。 “客户满意”是公司永远的追求，公司承袭“以诚为本”的经营宗旨，奉行“质量是企业的生命”为用户提供有效可靠的最佳产品解决方案和售后跟踪“保姆式”服务，公司在2008年已经通过ISO9001:2000质量体系认证，真正做到售前指导、售中培训、售后跟踪的完善体系。
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  • 潍坊瑞格测试仪器
    山东省潍坊瑞格测试仪器有限公司是一家专业从事分析检测仪器的研发、生产、销售及服务于一体的高科技企业。公司产品主要应用于农业科研、土壤分析、地质勘探、公路建设、食品、医药、化工、卫生防疫、环保检测等领域。 目前公司主要有四大系列产品，分别为粉碎系列、药残检测系列、田间信息管理系列、样前处理系列。产品获得国家17项专利，其中自主研发的“改进型土壤粉碎机”入围2011年度国家星火计划。产品在中科院、社科院、环科院、中国农业大学、山东大学等多个科研院校中得到广泛应用，并在全国多个省土肥站测土配方施肥项目仪器采购中中标。公司还积极拓展海外业务，且远销印度及东南亚等地区。 公司自创立以来，本着“质量第一，用户至上”的原则，秉承“科技服务社会”的理念，积极引进吸收国内外的先进技术，不断研制开发出优质、高效、实用的新型产品。
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  • 深圳市易捷测试技术有限公司 金牌5年
    400-860-5168转4547
    深圳市易捷测试技术有限公司，（品牌GBITEST），是一家致力于提供半导体测试系统集成的高科技服务公司。主要业务包括提供各式探针台系统、自主研发半导体测试软件、探针台升级改造服务，半导体可靠性测试系统、异构芯片测试系统、单模块高低温FT测试系统等，可满足实验室研发和晶圆厂量产的多种需求。十几年来，公司一直专注于半导体测试领域，积累了丰富的实操经验，赢得了行业口碑，专业的系统集成方案广泛应用于：WAT/CP测试、I-V／C-V测试、RF/mmW测试、高压/大电流测试、在片wlr、在片老化burning、高低温测试、光电器件测试（硅光、CMOS，SPAD传感器等）、晶圆级失效分析、芯片ESD测试、半导体工艺可靠性验证、封装测试等领域。公司现已与多家国内外知名半导体测试设备厂商长期合作，携手Keysight、Maury Microwave、日本TSK、MPI、日本HANWA、STAr芯片可靠性测试设备、Elithech光学传感器测量设备等优秀厂商，为用户提供半导体测试系统解决方案。
    主营产品： 探针台   其他半导体检测仪   矢量分析仪   半导体器件测试仪器  
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四探针测试仪相关的仪器

  • 多功能四探针测试仪,数字式四探针测试仪 400-827-5552
    多功能四探针测试仪,数字式四探针测试仪FT-341双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-5～2×105Ω/□2.电阻率范围：10-5～2×106Ω-cm3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.1%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原 FT-342双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围：10-4～2×103Ω/□2.电阻率范围：10-5～2×104Ω-cm3.测试电流范围：10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度：±0.2%读数5.电阻精度：≤0.3%6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；优秀与智慧之原
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    厂商： 宁波瑞柯微智能科技有限公司
    品牌： 瑞柯/ROOKO
    型号： FT-341
    价格： 3万 - 5万元
  • 四点探针测试仪 四点探针 400-860-5168转1545
    四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪光伏测试专用美国ResMap四点探针CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67m&Omega -cm及Implant高电阻2K&Omega /□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可以装2~4个量测头,并且可以Recipe设定更换CDE　ResMap&ndash CDE　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的。 主要特点： 测量范围广,精度高,稳定性好,功能齐全强大,软件好用,维修成本低,服务好,配件齐全...美国进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪/太阳能光伏扩散薄层电阻测试仪（Four point probe(4PP)）设备名称: 四点探针电阻仪 (CDE ResMap)主机厂牌、型号与附件: CDE ResMap规格:1. Pin material: Tungsten Carbide.2. Pin compression force Typically 100 gm to 200 gm.3. 样品尺寸: 2吋至6吋晶圆 (表面须为平整的导电薄膜，半导体材料)设备用途: 导电薄膜的电阻值分布测量，半导体，光伏特点：1）针尖压力一致2）适用于各种基底材料3）友好的用户界面4）快速测量5）数据可存储 应用：1）方块电阻2）薄片电阻3）掺杂浓度4）金属层厚度5）P/N类型6）I/V测试
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    厂商： 瞬渺科技（香港）有限公司
    品牌： Rayscience
    型号： CDE ResMap
    价格： 4.99万元
  • 四探针测试仪 400-827-5552
    四探针测试仪FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购. 规格型号FT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-3361.方块电阻范围10-5～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.电阻率范围10-6×106Ω-cm10-5×104Ω-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×104-cm3.测试电流范围0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式普通单电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：30W 9.整机不确定性误差≤4%（标准样片结果）10.选购功能选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格 探针材质选购：碳化钨针 白钢针；镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重；与智慧之原 四探针测试仪四探针测试仪
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    厂商： 宁波瑞柯微智能科技有限公司
    品牌： 瑞柯/ROOKO
    型号： FT-330系列
    价格： 1万 - 3万元
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四探针测试仪相关的资讯

  • 瑞柯发布瑞柯全自动四探针测试仪新品
    FT-3110系列全自动四探针测试仪一.功能描述：四点探针法，全自动化运行测量系统，PC软件采集和数据处理；参照A.S.T.M 标准方法测试半导体材料电阻率和方块电阻；可设定探针压力值、测试点数、多种测量模式选择；真空环境，可显示：方阻、电阻率、显示2D,3D扫描/数值图、温湿度值、提供标准校准电阻件. 报表输出数据统计分析.FT-3110系列全自动四探针测试仪二.适用范围晶圆、非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量；选择性发射极扩散片；表面钝化片；交叉指样PN结扩散片；新型电极设计，如电镀铜电阻测量等；半导体材料分析，铁电材料，纳米材料，太阳能电池，LCD，OLED，触摸屏等. FT-3110系列全自动四探针测试仪三.技术参数： 规格型号FT-3110AFT-3110B1.电阻10^-5～2×10^5Ω10^-6～2×10^5Ω2.方块电阻 10^-5～2×10^5Ω/□10^-6～2×10^5Ω/□3.电阻率 10^-6～2×10^6Ω-cm10-7～2×106Ω-cm4.测试电流 0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA， 10mA，100mA1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA5.电流精度 ±0.1% 6.电阻精度 ≤0.3%7.PC软件操作PC软件界面：电阻、电阻率、电导率、方阻、温度、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、2D、3D图谱、压力、报表生成等8.压力范围：探针压力可调范围：软件控制,100-500g可调9.探针针间绝缘电阻：≥1000MΩ；机械游移率：≤0.3%圆头铜镀金材质，探针间距1mm；2mm；3mm选配，其他规格可定制10.可测晶片尺寸选购 晶圆尺寸：2-12寸（6寸150mm，12寸300mm）；方形片：大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm11.分析模式单点、五点、九点、多点、直径扫描、面扫描等模式的自动测试12.加压方式测量重复性：重复性≤3% 13.安全防护具有限位量程和压力保护 误操作和急停防护 异常警报14.测试环境真空15.电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：100W 16.选购项目电脑和打印机创新点：仪器采用全自动操作，抽真空处理瑞柯全自动四探针测试仪
    时间： 2020-11-20
    作者： 新品发布
  • 我司在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。
    我司于2017年1月在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。该探针台配置四个三同轴探针臂和两个光纤探针臂，漏电流优于50fA。该探针台变温范围大（8K-675K）。我司提供Keithley 4200半导体特性仪，并提供集成变温IV、CV和输运和转移特性等测试软件 变温测量IV和VI曲线 变温场效应管（横坐标Vgs，纵坐标Ids， 不同曲线代表不同的Vds和温度） 变温场效应管（横坐标Vds，纵坐标Ids， 变温CV测试（横坐标偏压，纵坐 不同曲线代表不同的Vgs和温度） 标电容，不同曲线代表不同温度）
    时间： 2017-01-18
    作者： 未知
  • 恒品推出下压悬空法探头式初粘力测试仪
    探头式初粘力测试仪国际上生产的企业很少，而且他们采用的是上顶自重法，该法实验过程摩擦阻力大，下降时有冲击，因此不可避免造成测试结果重复性差。济南恒品研制的HP-TCN-A探头式初粘力测试仪创新的采用下压悬空法，利用高精度传感器和软件来精确控制向下初始加压力，测试面放置在特制的悬空不锈钢平面上，测试结果准确、重复性高；而且该种测试方法更加贴近于人手向下触摸胶粘面的感性认知。HP-TCN-A探头式初粘力测试仪又叫探针式初粘力试验机（Probe Tack Tester）依据ASTM D2979 的规范等国际标准生产，是胶带初粘力测试的方式之一，主要用于各种胶带、粘合剂类等各种不同产品的初始粘着力测试，产品适合各类研究机构、胶粘剂企业、不干胶等检验检疫机构等。HP-TCN-A探头式初粘力测试仪测试原理是使用规定直径精密研磨的平面探头压在黏胶面，完全接触之后，再反方向恒速完全分离所产生的最大力，这个最大力值即为所测试样的初粘力，机器会记录离开时最大拉力数值。HP-TCN-A探头式初粘力测试仪主要产品特点：超大触摸屏显示，数据收集系统具有即精确又易用的特点，是当前先进的测量仪器；采用微电脑控制技术，，精度高，操作简便；采用高精度传感器，精确度可以达到重量感应器标准的+0.1%；先进的静音电机和精密滚珠丝杠，传动运行平稳，位移测量更加准确；高清晰LCD显示，操作一目了然；连接微型打印机：可实现实验日期、试验结果，直接及时打印.；具有试验力值保持功能，查看实验结果更加方便；无级调速可在1—800范围内任意设定精度。
    时间： 2023-05-06
    作者： 济南恒品机电
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四探针测试仪相关的方案

  • 贵金属合金的电子探针测试方法
    贵金属除了在国际金融活动、首饰和奢侈品中广为人知，在科研领域及工业应用也具有非常重要的价值，是一种重要的基础材料。贵金属合金的电子探针微区表征和测试中，由于其特征X射线之间可能存在的相互重叠和干扰，常常给测试带来一定的困难。本文选择了两类金系合金和一种铂系合金试样进行了电子探针测试，对测试方法进行了总结和说明，排除干扰因素后可获得较为理想的测试结果，为贵金属行业中相关的测试提供经验参考。岛津电子探针通过配置52.5°高取出角，以及统一4英寸罗兰圆的全聚焦分光晶体兼顾了高灵敏度和高分辨率，保证了获得理想的分析结果。
  • 岛津电子探针测试界面高温超导材料的方法研究
    利用薄膜生长法获得的界面高温超导材料是超导领域的一个重要研究方向。由于电子探针定量测试基体修正模型中首先假设电子束与试样交互作用区域的均质性，这种界面高温超导材料的层状膜结构给电子探针的定量测试带来一定的问题。本文以多层复合膜Sb-BaTiO3界面高温超导材料为例，梳理了测试流程。对于干扰谱线的确认和扣减问题进行了方法说明，探讨了基体修正ZAF方法的选择，以期获得更为理想的测试结果。
  • 碳酸盐矿物定量测试的新思路—应用岛津电子探针直接测试碳氧法及与传统方法的对比
    应用岛津EPMA测试超轻元素灵敏度高的特点，直接对包括碳和氧在内的全元素分析，测试碳酸盐矿物试样。电子探针对氧化物矿物的定量测试过程中，对于超轻元素元素氧一般不直接测试，而是按照价态配比补足，同时由于超轻元素元素碳的特殊性，以往测试碳酸岩矿物试样时也通常不测试碳，而是通过余量法给出。这种处理方式是基于测试仪器对于超轻元素测试的灵敏度和精度不够所不得已采取的折中方法。本文结合岛津电子探针对于超轻元素测试的高灵敏度特征，尝试了一种新的测试方案。通过对包括碳和氧在内的全元素分析，在典型的碳酸盐矿物白云石和方解石上获得了满意的测试结果。
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四探针测试仪相关的论坛

  • 四探针电阻率测试仪

    四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造，并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点：1、 配有双数字表： 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时，另一块数字表（以万分之几的精度）适时监测全过程中的电流变化，使操作更简便，测量更精确。数字电压表量程：0—199.99mV 灵敏度：10μV输入阻抗：1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围：10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围：10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能，当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时，电压表指零，只有1、4 探针接触到硅片，测量电流渡过单晶时，电压表才指示2、3 探针间的电压（即电阻率）值，避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定（万分之五精度）的特制恒流源提供，不受气候条件的影响，整机测量精度10 万次），在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数，提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用，实现自动换向测量、求平均值，计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构，使探针的游移率减小，测量重复性提高（国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权，专利号：ZL03274755.1）。

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四探针测试仪相关的耗材

  • Jandel通用型四探针测试仪
    Jandel这种组合方式是目前jandel公司最受欢迎的产品.该系统可用于测量各种薄层的小尺寸样本以及直径300mm高250mm的晶圆锭 (检测厚样品之前要咨询)。可测晶片直径D≤250mm（可选配D≤300mm，无需付费）可测晶片厚度H≤250mm（可更厚，请咨询）微动开关防止探针不与样品接触时的电流流动手动控制探针接触和移动的简单杠杆操作装配简单RM300和四探针探头通过单线连接系统配置组成部件测试台----1个可调节高度主机----1台可调节高度轴杆----1根四探针探头----1个连接电缆----1根设备尺寸可调节高度测试台：W*L*H（mm）250*290*8（320*370*8，可选）可调节高度探头组件：W*L*H（mm）60*280*80（60*330*80，可选）可调节高度的轴杆：D（mm）19；L（mm）200（可定制最高高度到1000mm）
    供应商： 上海瞬渺光电技术有限公司
    品牌： jandel
    价格： 面议
  • 多位晶圆四探针测试仪
    结合jandel公司生产的四探针探头对晶片的电阻率进行测量。主要特点：可简单预设待测晶片上1到25个测量位置；8英寸/6英寸晶片真空吸盘；带有电流开关的杠杆操作探头，可避免产生火花；定位精度小于±1mm；幻灯片准确度不高于测量区域；遮盖待测区域，消除光电干扰；技术指标：8〞型号表具有真空卡槽、定心凹槽，镊子切口的硬铝合金晶片尺寸Φ=5〞/6〞/8〞预设测量位置中心点：垂直直径四个点，32，38，50，57，68，94mm晶片 1/2R 距边缘6mm5〞 32mm 57mm6〞 38mm 68mm8〞 50mm 94mm6〞号晶片尺寸Φ=3〞/4〞/5〞/6〞预设测量位置中心点；垂直直径四个点，15，20，25，35，50，60mm可配真空线路、真空泵外形尺寸355mm * 215mm * 195mm（H）净重6〞：3.5kg8〞：4.0kg
    供应商： 上海瞬渺光电技术有限公司
    品牌： jandel
    价格： 面议
  • 四探针测试探头
    340-TT四探针测试探头探针间距选择1mm；2mm；3mm探针材质选择：铜/钨钢针探针尖形态选择：尖针，半球型
    供应商： 宁波瑞柯微智能科技有限公司
    品牌： 瑞柯
    价格： 面议
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