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四探针测试仪

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四探针测试仪相关的论坛

  • 四探针电阻率测试仪

    四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造,并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点:1、 配有双数字表: 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全过程中的电流变化,使操作更简便,测量更精确。数字电压表量程:0—199.99mV 灵敏度:10μV输入阻抗:1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围:10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围:10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能,当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时,电压表指零,只有1、4 探针接触到硅片,测量电流渡过单晶时,电压表才指示2、3 探针间的电压(即电阻率)值,避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定(万分之五精度)的特制恒流源提供,不受气候条件的影响,整机测量精度10 万次),在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数,提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用,实现自动换向测量、求平均值,计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构,使探针的游移率减小,测量重复性提高(国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权,专利号:ZL03274755.1)。

  • ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么

    ICT测试治具在使用的过程中通常需要用到探针来进行测试,探针是电测试的接触媒介,是一种高端精密型电子五金元器件。探针的选用主要是根据ict测试治具线路板的中心距和被测点的形状而定,PCB板上所要测试的点与点之间越近,选用探针的外径也就越细。http://www.guoluzaiju.com/uploadfile/2012/0522/25741337657617.JPG通常ICT测试治具所用的探针有很多的规格,针主要是由三个部份组成:一是针管,主要是以铜合金为材料外面镀金;二是弹簧,主要琴钢线和弹簧钢外面镀金;三是针头,主要是工具钢(SK)镀镍或者镀金,以上三个部分组装成一种探针。 在选择探针的过程中应该要考虑以下几个因素: 1、探针质量需要符合要求 在ICT测试中对于探针的质量也是有很大的要求的,也就是说若是探针的质量是存在问题的,那么不仅会造成测试结果存在问题,还会造成其他的问题出现,因此人们在选择测试治具探针的时候一定要做好全面的检查工作,要保证质量2、探针型号需要符合要求 针对于ICT测试中不同的情况,不同的测试距离对于探针的型号的要求就会有很大的不同,我们应该根据不同的线路板的中心距和被测点的形状来选择探针型号。以上就是为大家总结的有关ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么的介绍,希望可以帮到大家,本文出自:http://www.guoluzaiju.com/show-267-3378.html【捷甫电子,陈勇兵,0755-89494572 http://www.guoluzaiju.com/】公司专业生产、销售ICT在线测试仪(TR-518FE、TR-518FR、TR518FV)、ICT测试治具,功能(FCT)测试治具、DIP/SMT过炉治具(载具)、自动测试系统、成型设备、BGA测试治具,提供各种ICT测试仪的维修保养。公司专注于ICT测试仪和测试治具8年。

  • 四探针测试金属银膜不稳定的情况

    四探针测试自制的金属银纳米线薄膜时,出现一个现象,随着探头压力的增加,电阻率发生相应的变化,应该是压力越大,电阻率越大。我测试硅片的时候就很稳定,不知道是什么原因造成的。大家有没有其他材料有这种情况呢

  • 电子探针测试碳纤维的氧元素分布问题

    各位专家各位朋友大家好!请教一下用电子探针测试碳纤维径向元素分布的问题(纤维直径20um左右,由于不是成品导电性不好)我的测试方法,是将纤维(直径20um左右)埋在树脂里制成金相,打磨抛光后,露出纤维截面,喷碳后,用导电胶粘在电子探针样品台上,在显微镜里观察纤维,但纤维总是飘动,且看不清,原因应该是导电不好或者是我的金相没有制备好。由于电子束难以聚集在纤维上,没能测出纤维截面上径向的氧元素分布。想请教一下你们是怎么做的呢?这个问题也困扰了我很久,期待大家的回复。

  • 新旧探针测试结果对比 P-Si

    新旧探针测试结果对比 P-Si

    新旧探针的对比。请查阅~http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09503.gif新针轮廓和形貌都很好。但是貌似还是有点点失真。估计是激光不稳定啊~下次扫出更好的再与大家分享~http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09501.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/07/201207101217_376794_2435835_3.jpg

  • 寻电子探针测试常用标准

    我是一个电子探针的新手,想找一些定量分析相关的资料,网上看到有一些电子探针分析的标准,可不知道哪里有卖的?各位,谢了!

  • 【分享】关于布鲁克台阶仪探针、原子力显微镜AFM/SPM探针

    提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作常见的探针类型:(1)、导电探针(电学):金刚石镀层针尖,性能比较稳定(2)、压痕探针:金刚石探针针尖(分为套装和非套装的)(3)、氮化硅探针:接触式 (分为普通的和锐化的)(4)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

  • 【资料】使用接地电阻测试仪的一些注意事项

    接地电阻测试仪广泛的使用于电力、邮电、铁路、石油、化工、通信、矿山等部门测量各种装置的接地电阻以及测量低电阻的导体阻值。在使用过程中偶尔会出现一些小问题。  接地电阻测试仪注意事项如下几点:  1、使用接地电阻测试仪的时候注意电流极插入土壤的位置,应使接地棒处于零电位的状态。  2、测试宜选择土壤电阻率大的时候进行,如初冬或夏季干燥季节时进行。下雨之后和土壤吸收水分太多的时候,以及气候、温度、压力等急剧变化时不能测量。  3.接地电阻测试仪的一些开关元件不能单独跨接在有源电路中作差模保护,为避免电源短路,必须串接限压元件。  4.用作差模保护的直流高压发生器件,其限制电压必须小于被保护设备所能承受的最高安全电压。  5、被测地极附近不能有杂散电流和已极化的土壤。  6、接地线路要与被保护设备断开,以保证测量结果的准确性。  7、探测针应该远离地下水管、电缆、铁路等较大金属体,其中电流极应远离10m以上,电压极应远离50m以上,如上述金属体与接地网没有连接时,可缩短距离1/2~1/3。  8.流过直流高压发生器件的浪涌电流必须小于其脉冲峰值电流。压敏电阻应按其降额特性选择。  9、当接地电阻测试仪的检流计灵敏度过高时,可将电位探针电压极插入土壤中浅一些,当检流计灵敏度不够时,可沿探针注水使其湿润。  10、连接线应使用绝缘良好的导线,以免接地电阻测试仪有漏电现象。相关资料来源于:http://www.chem17.com/st176094/Article_140284.htmlhttp://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09506.gif

  • 【分享】AFM探针分类及各探针优缺点

    AFM探针分类及各探针优缺点   AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。   利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜,如AFM(范德法力),静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等, 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。   原子力显微镜的探针主要有以下几种:   (1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:最常用的产品,分辨率高,使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损,分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。   (2)、 导电探针:通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属,如Cr,Ti,Pt和Ir等)得到。导电探针应用于EFM,KFM,SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差,使用时导电镀层容易脱落,导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖,金刚石镀层针尖,全金刚石针尖,全金属丝针尖,这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。   (3)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备,分辨率比普通探针差,使用时导电镀层容易脱落。   (4)、大长径比探针:大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品,分辨率很高,使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm;长径比5:1;针尖半径 10 nm。   (5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性,减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。   还有生物探针(分子功能化),力调制探针,压痕仪探针

  • 【分享】氟硼二吡咯类阳离子荧光探针的研究进展

    [b][size=4]荧光探针提供了方便、快捷、廉价的分析测试手段,并具有很高的灵敏度和选择性,因而在分析化学、临床生物化学、医学以及环境科学等领域有广泛的应用前景。氟硼二吡咯(BOD IPY)是一种光物理和光化学性能优异的荧光染料,本文综述了近年来BOD IPY类阳离子荧光探针的最新研究进展和发展趋势。[/size][/b]

  • 【求助】关于电子探针的一些小问题!

    [size=4]本人是学地化的,因为要送样分析,所以提前询问电子探针的一些信息,希望各位大虾给予帮助:国内有哪些大学和研究所有电子探针阿,哪种型号较好呢?每种探针其样品的尺寸具体应该多大呢,最大尺寸是多少呢?尺寸符号Φ什么意思呢?希望大家提供信息谢谢![/size][em0810]

  • 关于电子探针和EDS检测对制样的要求.

    本人不是专门搞测试的,现在需对样品进行电子探针和EDS检测,想请问专家:这两种检测对样品有什么要求.对于厚度0.1mm左右脆性物质能否检测?要在厚度方向上进行检测,固定是否存在问题?另外问个弱弱的问题,电子探针和EDS是不是同一种检测?谢谢.[quote]原文由 SeanWen 发表:引用:--------------------------------------------------------------------------------原文由 myhuar 发表:本人不是专门搞测试的,现在需对样品进行电子探针和EDS检测,想请问专家:这两种检测对样品有什么要求.对于厚度0.1mm左右脆性物质能否检测?要在厚度方向上进行检测,固定是否存在问题?另外问个弱弱的问题,电子探针和EDS是不是同一种检测?谢谢.--------------------------------------------------------------------------------觉得首先需要确定您要求的结果,是要测试成分呢,还是看分布等等,然后需要采用不用的方法来测试了。还有您说的脆性物质具体是什么呢?有机,无机,导电性等等……[/quote]主要的目的是看分布,就是样品中某种元素的分布情况,所谓的脆性是说如果用手稍微折样品的话,样品就会裂开,不知会不会影响测试.

  • 【分享】【资料】DNA分子荧光探针

    [size=4][b]摘要:[/b]本文综述了各种荧光探针的结构特征荧光性质和与的作用方式, 主要涉及了6类化合物吖啶和菲啶类、菁类染料、荧光素和罗丹明类、噻嗪和恶嗪类染料、BOLIPY类染料以及其它类别的探针, 概述了DNA探针在生物分子分析方面的应用, 并展望了DNA荧光探针的发展趋势和应用前。[/size]

  • 【分享】了解荧光探针

    在紫外-可见-近红外区有特征荧光,并且其荧光性质(激发和发射波长、强度、寿命、偏振等)可随所处环境的性质,如极性、折射率、黏度等改变而灵敏地改变的一类荧光性分子,包括有机试剂或金属螯合物。   最常用于荧光免疫法中标记抗原或抗体,亦可用于微环境,如表面活性剂胶束、双分子膜、蛋白质活性点位等处微观特性的探测。通常要求探针的摩尔吸光系数大,荧光量子产率高;荧光发射波长处于长波且有较大的斯托克斯位移;用于免疫分析时,与抗原或抗体的结合不应影响它们的活性。  也可用于标记待定的核苷酸片断,用与特异性地、定量地检测核酸的量。如Ca2+荧光探针:钙黄绿素(Calcein),Fluo-3,Fura-2/AM Mg2+荧光探针:Mag-Fura-2,[Dy-Mn]聚合物

  • 【原创】半导体探针台

    半导体测试手动探针台是专门为教学及科研机构量身定制的,具有良好的性能价格比,可测量pA级微小电流,配合测量仪器可完成标准MOS准静态C-V和高频(1MHz)C-V等测量要求。操作简便,性能稳定可靠,屏蔽效果好。客户名录:复旦大学、北京大学、清华大学、北京师范大学、北京化工大学、中科院化学所、大连理工大学、 济南大学、哈尔滨工业大学、南京大学、浙江大学、中科院长春光机所、天津理工大学、北京宇极芯片、四川大学、中科院苏州纳米所等。电话:62146659 13801327034刘熠

  • 【原创大赛】实验室不容忽视的湿度变化对扫描探针显微镜测试结果的影响

    【原创大赛】实验室不容忽视的湿度变化对扫描探针显微镜测试结果的影响

    前言:扫描探针显微镜它包括扫描隧道显微镜、原子力显微镜、扫描近场光学显微镜、静电力显微镜、磁力显微镜等20多个品种的庞大显微镜家族。这类显微镜的问世不仅仅是显微技术的长足发展,而且标志着一个科技新纪元——纳米科技时代的开始。这类显微镜自问世以来,在物理学、化学、医学、生物学、微电子学与材料科学等领域获得了极为广泛的应用,并一直是国内外科技人员研究的热点。作为仪器使用技术人员,虽不能开发出更出色的仪器,但是如何充分利用它,如何让它发挥到极至得到理想的结果,是我们仪器使用者应该探索的。实验室不容忽视的温湿度变化,对扫描探针显微镜测试结果影响有多大呢?本文研究了扫描探针显微镜,在四种不同湿度环境下(实验室温度调节受限这里不做研究)测试三种不同材料表面形貌,并对测试结果进行对比,得出仪器最佳使用湿度环境。 一、仪器介绍http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191701_669577_2224533_3.jpg 图A图A为布鲁克公司型号为Nano man VS 扫描探针显微镜http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509141228_01_2224533_3.jpg 图B图B为海瑞弗公司的精密空调机(有快速除湿功能) 二、测试过程及分析选择一个阴雨天气,首先关闭精密空调机除湿功能,等待室内湿度加大,湿度显示90%时,对实验材料表面扫描成像(不需要抬起探针保持扫描状态)开启除湿机,湿度显示80%时保存一张形貌图,等湿度降到70%、60%分别保存一张形貌图。如此,重复以上操作步骤,分别对普通载玻片、普通硅片、非晶材料三种不同材料表面测试,得到如下图结果。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509174389_01_2224533_3.jpg http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509175648_01_2224533_3.jpg 上图随机选取普通载玻片某个区域,在湿度90%时,图1.1a、b区域,出现非常明显的干扰条纹,这种条纹的出现,一般是由于测试表面比较湿或者样品在微动引起的。这里很明显是因为空气湿度过大,在载玻片表面已经形成了水珠,对扫描过程干扰过强导致扫描失败。再看图1.2,这时候湿度降到80%,强烈的干扰条纹基本消失,但是图片上颗粒状不明显,棱角模糊,这是因为样品表面还残留着一层水膜,有的区域探针无法穿透水膜扫描到真实的样品表面,所以扫描出来的图像在感官上有一种朦胧的感觉。再看图1.3湿度降到70%,图像上的颗粒明显,棱角清晰,这说明残留水膜基本消失。图1.4湿度降至60%的时候已经达到理想效果。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509192148_01_0_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2016082509193007_01_2224533_3.jpg上图非晶材料做完纳米压痕实验后残留的一个压痕印迹,图2.1湿度90%时虽然没有出现强烈干扰条纹,但是a、b区域有着很厚的水膜,显然扫不出清晰的图片。图2.2湿度80%,可见上半部小部分处于模糊状态,水膜未彻底消失,当湿度降至70%[color=windowtex

  • 如何清洗探针?

    探针压过细胞等生物样品以后,针尖总是会沾上一些脏东西,导致用于别处时会影响成像。在测定力曲线的时候也明显发现被污染的针尖带有粘性。在网上看到一篇讨论How can we wash functionalized AFM tip after coated it with chemical substance?,里面也给出了一些方法。比如Piranha solution。有几个问题想请教:请问关于Piranha solution,有使用过这种方法的朋友吗?效果如何?如何判断探针已经被洗干净了呢?如果是表面被修饰了某些化学物质的探针,该如何清洗使得能把污染物洗干净并且不破坏那些化学物质呢?各位通常都是用什么方法清洗探针的呢?非常感谢!

  • TMA的探针平台是石英的吗?

    TMA的探针平台是石英的吗?刚在论坛里看到这个帖子 http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20111008/3573189/index.shtml,想到这个问题。TMA平台探针污染后会用酒精灯灼烧清洁,被加热部分很容易就被烧发红了

  • 电子探针分析仪

    本公司需做黄金检测的无损检测 需要 电子探针分析仪 请问那个牌子的比较好 ?? 大概是什么价位??

  • 【求助】刚来。有问题求助,关于电子探针数据计算化学式的!!

    新来的,实在是最近搞不清楚电子探针的数据要如何处理,是关于辉石和角闪石的数据,而且2种矿物在进行测试时没有进行区分,现在只有测试数据做为依据。求助一下如何对辉石和角闪石的化学式进行计算有相关软件也可以。。。。。。求助啊!!!!!!!!!!!

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