迁移测试池

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迁移测试池相关的厂商

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    济南赛成电子科技有限公司成立于2007年,是一家致力于实验室检测仪器研发、生产和销售的高新技术企业。公司成立以来,坚持贯彻“包装检测仪器和检测服务专家”的企业定位,专注包装前沿技术和包装材料检测仪器研发;秉承“持续改进、追求卓越”的经营理念,持续为食品行业、药品行业、胶粘制品行业、日化行业、质检机构、科研院校提供优质高端的检测仪器和全面质量控制方案。公司提供完善的材料测试服务。2014年公司成立了包装测试科研中心,占地面积1000多平米,中心涵盖了公司自主研发的100余套检测仪器,产品覆盖包括透湿、透氧、透气等软包装阻隔性能类;质构、拉力、剥离、摩擦、折断、穿刺等材料力学性能类;偏光应力、轴偏差、垂直载压等玻璃制品物理性能类;初粘、持粘、阻水、黏着力等胶粘制品粘性测试类;密封泄漏、正负压密封、真空衰减等气密性能类;残氧、提袋疲劳、迁移等其他物性分析类产品,为客户提供准确的检测数据和可靠的服务,方便客户购买之前进行选型比对,真正做到让客户买得放心。公司以“赛出品质、成就你我”的产品价值理念,配置高素质的产品研发、生产、售后团队,以追求极致的创新力和精益化生产管理,为客户提供包装检测全系列、高品质产品;搭建完善、高效的服务体系,以客户需求为导向,承诺售后问题30分钟快速响应,设备三个月内只换不修,终身提供技术支持。通过十余年的发展和积累,公司已通过知识产权管理体系认证,ISO9001质量管理体系认证,通过 “高新技术企业”评定,拥有多项自主知识产权,参与起草了多项国家标准和团体标准。公司产品介绍:压差法气体渗透仪、水蒸气透过率测试仪、氧气透过率测试仪、王研式透气度仪、真空衰减法无损密封仪、无损密封性仪、正压法泄漏与密封强度测试仪、密封性测试仪、拉力试验机、医药包装性能测试仪、质构仪、剥离试验机、黏着力测试仪、摩擦系数仪、摩擦系数/剥离试验仪、热封试验仪、测厚仪、瓶盖扭矩仪、顶空气体分析仪、残氧仪、落球冲击试验仪、落镖冲击试验仪、初粘性测试仪、环形初粘测试仪、持粘性测试仪、提袋疲劳试验机、纸张柔软度测试仪、迁移池、偏光应力仪、折断力测试仪、垂直度轴偏差测试仪、壁厚底厚测试仪、铝箔针孔检查台、121°颗粒耐水性装置、耐内压力测试仪、耐冷热冲击测试仪、抗冲击测试仪、垂直载压测试仪
  • HT ITALIA来自于美丽的欧洲小镇——意大利法恩莎,公司自1983年成立以来,产品年销售额超过4000万欧元。并在2009年在中国广州建立办事处,负责中国地区的产品销售和售后服务。 HT ITALIA公司设立专业的研发团队,在1992年研制生产出HT2038,1999年研制生产了世界上第一台带电能质量分析仪功能的便携式多功能电气安全测试仪——GENUIS 5080,在2001推出具有三相电能质量分析仪功能的多功能电气安全测试——GSC系列,刷新了便携式仪器的多功能之最。2007年HT公司开始涉及太阳能光伏系统测试,以提供太阳能光伏电站的现场测试仪表,HT可提供全面的太阳能光伏电站测试仪表:并网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR300N,太阳能电池I-V特性曲线分析测试仪I-V400,离网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR I-V等。近年来,HT公司又基于自身的设计现场测试理念,推出自主品牌的全新系列红外热像仪产品,以充分满足客户的个性化需求,HT品牌的红外热像仪家族包括:THT41/42/44的经济型系列,THT49的专业级红外热像仪和THT50专家型红外热像仪。现在HT公司拥有:红外热成像仪,电气安全测试仪(含:绝缘电阻测试仪,接地电阻测试仪,漏电保护开关-RCD测试仪,耐压测试仪和多功能电气安全测试仪)、电能质量分析仪、通用测试仪表(含:数字万用表,数字电流钳表,红外测温仪,数字测温仪,数字噪声计,激光测距仪等)、GEF专业绝缘工具(含:绝缘镙丝批,各种绝缘剪钳,各种型号的工具套包,工具箱等)等系列产品。
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  • 晶圆电阻率测试仪硅片方阻测试仪涡流法低电阻率分析仪晶锭电阻率分析仪迁移率测试仪少子寿命测试仪半导体、晶圆、硅片、光伏等电阻率一站式解决方案。
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迁移测试池相关的仪器

  • 迁移池_食品迁移池_迁移测试池 QYC-A迁移测试池适用于食品接触材料及制品的迁移试验预处理。符合国家zui新标准GB 5009.156-2016要求,适用于GB 31604.1-2015《食品接触材料及制品迁移试验通则》中的所有不挥发性食品模拟物。产品特征:按照GB 5009.156-2016附录B中的图B.4 迁移测试池B设计制造,确保迁移试验的一致性 采用高品质不锈钢,材料本身无微量物质析出 采用加粗丝杆中心压紧式密封结构,保证单面密封无渗透 超大的单面接触面积和容积,提高了预处理效率 迁移测试池的密封结构,确保了试样测试面积之外的部分不与食品模拟物接触,保证了测试面积的有效性 适用于有弹性的食品接触材料及制品迁移池_食品迁移池_迁移测试池依据标准:GB 5009.156-2016、GB 31604.1-2015测试应用基础应用 适用于食品接触材料及制品接触水、植物油等不挥发性食品模拟物的迁移试验预处理。 技术参数 接触形式:单面接触或双面接触单面接触面积(直径):196cm2(Ф158mm)\可选:100cm2(Ф112.8mm)双面接触面积:200cm2容积:390Ml\可选:200mL使用温度;5℃~180℃外形尺寸:235mm(L) × 225mm(W) × 135mm(H)净 重;8.2kg
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  • 【化学迁移测试池-不锈钢材质】 适配标准:GB 5009.156-2016、EN 1186产品介绍:该设备是用于模拟不同温度、时间、酸碱度等条件下,包装材料中的微量有害物质迁移到食品模拟物的液体中的过程,进一步可用质谱、色谱等其他手段检测液体中的有害物质的含量。我们的迁移池采用多种专用材质加工,适配多样化的测试环境;O型圈密封设计,具有更好的密封性;支持对材料单双面检测,减少选型烦恼。此款迁移测试池耐-15°C低温至180°C高温,更有多种尺寸可供选择 几种中心环:体积减半&常用体积不锈钢中心环专用材质中心环透明材质中心环规格尺寸: 中心环编号公称尺寸/宽度单侧接触面/约双侧接触面/约容量(ml)715319DN1201.00 dcm22.0 dcm2ca. 200715328DN1100.95 dcm21.9 dcm2ca. 170715320DN1000.75 dcm21.5 dcm2ca. 150715329DN900.60 dcm21.2 dcm2ca. 120715321DN800.50 dcm21.0 dcm2ca. 100715322DN700.35 dcm20.7 dcm2ca. 70715323DN600.25 dcm20.5 dcm2ca. 50715324DN300.05 dcm20.1 dcm2ca. 10
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  • 食品包材迁移测试池 包装迁移槽 迁移试验预处理QYC-B迁移测试池适用于食品接触材料及制品的迁移试验预处理。符合国家最新标准GB 5009.156-2016要求,适用于GB 31604.1-2015《食品接触材料及制品迁移试验通则》中的所有不挥发性食品模拟物。QYC-B迁移测试池产品特点:产品符合相关标准,完全按照GB 5009.156-2016附录B中的图B.4 迁移测试池B设计制造,确保迁移试验的一致性采用符合美国牌号要求的高品质不锈钢,材料本身无微量物质析出采用加粗丝杆中心压紧式密封结构,保证单面密封无渗透超大的单面接触面积和容积,提高了预处理效率迁移测试池的密封结构,确保了试样测试面积之外的部分不与食品模拟物接触,保证了测试面积的有效性适用于有弹性的食品接触材料及制品参照标准:GB 5009.156-2016、GB 31604.1-2015QYC-B迁移测试池测试应用:基础应用——适用于食品接触材料及制品接触水、植物油等不挥发性食品模拟物的迁移试验预处理。QYC-B迁移测试池技术参数:接触形式:单面接触单面接触面积(直径):196cm2(Ф158mm)容积:390mL使用温度:5℃~180℃外形尺寸:235mm(L) × 225mm(W) × 135mm(H)净重:8.2kg
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迁移测试池相关的资讯

  • 新品速递 | 新款化学迁移测试池,速看!!
    各位朋友好久不见,十佳今天给大家带来了两款迁移测试方面的新产品——专用材料迁移测试池&体积减半的不锈钢中心环,这两个新产品相较于先前型号有哪些升级呢?让我们来快速了解一下。专用材料迁移测试池// 耐腐蚀性优越 //// 避免干扰重金属迁移测试 //新款专用材料迁移测试池,历时一年半研发,意在解决不锈钢和玻璃对重金属迁移检测造成的干扰,主要由专用材料固定板和中心环组成,使用专用材料中心环+不锈钢支架测试时,可以将上下都夹上样品,最后得到的结果除以2。体积减半不锈钢中心环 新款原款 // 降本增效——检测效率更高、成本更低//// 升级新工艺,细节出色、强度更高 //// 不锈钢材质强度高、检测位置平坦 //新款体积减半不锈钢中心环,采用了DN80和DN120两种常用规格,在原有中心环接触面积不变的基础上,所需测试液体体积仅是原来的一半。并且这样还可以更快的检出迁移析出,提升检测效率,减少溶剂使用,降低使用成本。同时,新款半体积中心环升级了焊接加工工艺,相较于原款内圈更光滑平整,强度更高;值得注意的是其他的框架、密封盖等均为通用,现在购买半体积中心环会一并赠送配套的固定螺丝。LABC迁移测试池BeiJing ShiJia WanLian Scientific Co.Ltd北京仕家万联科技有限责任公司迁移测试池 Migration CellLABC迁移测试池,全球用户多年使用认可:01优越的试验精度与数据的可靠、一致性02 符合欧盟EN 1186-1等多项标准03多样化的材质、尺寸可供选择 04耐-15°C低温至180°C高温05O型圈密封,更好的密封性 感兴趣的朋友欢迎与我们交流~Migration Cell●●●//性能 质量 服务//编辑:十佳同学声明:本图文内容来源于公开资料或者互联网,转载的目的在于传递更多信息及用于网络分享,若您发现图文内容(包含文字、图片、表格等)等对您的知识产权或者其他合法权益造成侵犯,请及时与我们取得联系。
  • 钙钛矿太阳能电池离子迁移行为与器件稳定性关系研究获进展
    钙钛矿太阳能电池(PSCs)作为新兴的薄膜光伏器件,通过最近10年的发展,光电转换效率从3.8%提升到了25.7%,展现出巨大的商业化应用前景。然而高效的n-i-p结构电池批次重复性和稳定性较差,成为钙钛矿电池产业化应用的关键限制。而目前研究人员对导致器件重复性和稳定性较差的原因理解还不够充分。   中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所马昌期团队系统地研究了n-i-p结构PSCs在空气氧化过程中的离子迁移行为。结果表明,Spiro-OMeTAD薄膜的氧化是通过非接触电化学方式进行的,其中,空气中的氧气和水分子作为氧化剂将Spiro-OMeTAD氧化,进而提高了Spiro-OMeTAD薄膜的导电性能。更为重要的是,这一氧化过程促使Spiro-OMeTAD层内的Li+向电池内部迁移并在SnO2/Perovskite界面富集。Li+离子的迁移与富集促进了Spiro-OMeTAD氧化并降低SnO2的LUMO能级,提高了器件内部的内建电场,并同时改善了钙钛矿/Spiro-OMeTAD以及钙钛矿/SnO2界面处的空穴和电子提取效率,进而提升了器件的效率(图1)。该工作为n-i-p型钙钛矿太阳能电池中Spiro-OMeTAD的氧化提供了完整的机理解释。相关成果以Synergetic Effects of Electrochemical Oxidation of Spiro-OMeTAD and Li+ Ions Migration in Improving the Performance of n-i-p Type Perovskite Solar Cells为题发表于Journal of Materials Chemistry A。 图1 n-i-p结构钙钛矿太阳能电池中Spiro-OMeTAD的电化学氧化过程中的Li+离子迁移机制   研究团队在后续研究n-i-p型钙钛矿太阳能电池工作稳定性过程中发现,钙钛矿电池在运行过程中会出现器件的突然失效(Catastrophic Failure)。通过光致发光(PL)成像分析确定短路位置发生在金属Ag电极的边缘。进一步通过SEM和TOF-SIMS分析证明了Ag+离子在器件边缘发生迁移扩散,而器件内部的电极以及钙钛矿薄膜却没有发生明显的变化。研究人员利用SEM表征了沉积在Spiro-OMeTAD上的Ag薄膜的形貌,结果表明由于Ag与Spiro-OMeTAD的不浸润性,边缘的Ag颗粒团簇尺寸比中心部分的尺寸更小、更疏松。基于此,研究团队推断器件突然短路失效的机制为:光照下钙钛矿薄膜分解并形成多碘化合物发生扩散并与电极边缘松散的Ag簇并发生反应而导致Ag电极被腐蚀,腐蚀产生的Ag+离子穿过Spiro-OMeTAD而向钙钛矿中迁移,最终在Ag电极和钙钛矿之间形成丝状电导,导致器件短路。基于此,研究团队在Spiro-OMeTAD上沉积一层MoO3薄膜,改善沉积Ag电极过程中Ag的生长,获得了边缘更加致密的Ag电极。此外,由于MoO3薄膜的引入使得Spiro-OMeTAD和Ag电极之间的空穴提取效率更高,避免了空穴在该界面的积累,进而有利于稳定性的提升,实现器件运行600h以上而不发生前述的突变失效(图2),有效提升器件的稳定性能。相关成果以Revealing the Mechanism behind the Catastrophic Failure of n‐i‐p Type Perovskite Solar Cells under Operating Conditions and How to Suppress It为题发表于Advanced Functional Materials。 图2 钙钛矿电池运行过程中Ag+离子迁移引起的“突变失效”及MoO3的引入提高运行稳定性机制   虽然该结构电池的运行稳定性得到提升,但是该类光伏电池运行过程中初始几十个小时内往往存在效率的快速衰减过程(burn-in衰减),严重降低了器件的稳定输出效率。针对该问题,研究团队通过器件结构设计及稳定性测试过程中器件内部离子分布、界面复合变化,证实该结构电池中的“burn-in”衰减与SnO2中Li+迁移至钙钛矿/空穴传输层界面有关。通过在SnO2/Perovskite界面引入一个薄层交联PC61BM(CL-PCBM)后可以抑制“burn-in”衰减。TOF-SIMS的结果证明了CL-PBM薄层可以将Li+离子固定在Perovskite/SnO2界面中,而且CL-PCBM的引入可以增加器件的内建电场并提高电子提取效率;最终在Cs0.05(FA0.85MA0.15)0.95Pb(I0.85Br0.15)3体系钙钛矿电池中获得了22.06%的效率,在光照下持续运行1000h后仍保留初始效率的95%,而参比电池仅保留75%;在FAPbI3体系钙钛矿电池中时,获得了24.14%的光电转换效率,同时也消除了“burn-in”衰减过程。这表明利用CL-PCBM界面修饰来消除“burn-in”衰减具有普适性。综上,通过降低器件工作过程中的Li+迁移可以大幅降低钙钛矿太阳能电池稳定性测试初期存在的“burn-in”衰减,提高器件的稳定输出功率(图3)。相关成果以Boosting Perovskite Solar Cells Efficiency and Stability: Interfacial Passivation of Crosslinked Fullerene Eliminates the "burn-in" Decay为题发表于Advanced Materials。图3 CL-PCBM界面修饰抑制Li+离子迁移提高器件效率并消除器件的“burn-in”衰减
  • 北大电镜室:原位电子显微学法研究锂电池离子迁移
    对于锂离子电池,锂离子在电极材料中迁移的动力学过程决定了电池的宏观性能。比如,离子迁移的快慢决定了充电放电的速率,离子迁移的数量对应了电池的容量,离子迁移引起的结构恶化是电池寿命变短的根本原因。因此研究锂离子在电极材料中的迁移过程是我们了解电池工作原理、失效原理等的关键。透射电子显微镜是研究材料结构的利器,结合原位局域场探测的手段,则能在原子尺度下实时监控外场下的结构演化。这种表征手段很适合于研究锂电池中电化学势驱动的离子迁移。北大电镜室俞大鹏院士团队的高鹏研究员在过去几年在一直从事原位电镜局域场探测固态离子迁移的研究。他们与合作者曾成功地观察到离子导体中氧空位的迁移(JACS 132, 4197,2010),阻变存取器件中的Ag、Ni、Cu、Pt等金属离子的迁移行为(Nat.Commun. 3, 732 ,2012) Nat.Commun. 5, 4232,2014))等。  最近,高鹏研究员课题组研究了Li和Na离子在二维材料中的迁移行为,取得了系列进展, 包括Li离子在SnS2中的迁移(Nano Lett 16, 5582,2016,作者:Peng Gao*, Liping Wang, Yu-Yang Zhang*, Yuan Huang, Lei Liao, Peter Sutter, Kaihui Liu, Dapeng Yu, En-Ge Wang),Na离子在SnS2中的迁移(Nano Energy 32, 302,2017),Na离子在MoS2中的迁移(ACS Nano 9, 11296,2015)。这些具有van der Waals相互作用的二维材料,不仅仅展现出了优异电学、力学、光学性能,也是重要的能源存储材料。作为电池电极材料,van der Waals相互作用系统的最主要特征就是层间相互作用很弱,碱金属离子能够比较容易地在其中发生迁移。他们的研究发现,在二维材料中离子插入和拔出的反应路径是不对称的,这种不对称的反应路径对应着充放电过程中不对称电压平台。该研究揭示了这些层状锂电池电极材料中低能量效率的一个根源。高鹏研究员为这些论文第一作者和通讯作者。  另外,他们与东南大学合作研究了Na离子在尖晶石NiCo2O4纳米结构的迁移行为(Adv. Fun. Mater., DOI: 10.1002/adfm.201606163,2017),也发现了类似的非对称反应路径。高鹏研究员为论文共同通讯作者。  原子尺度上实时跟踪锂电池电极材料SnS2中的离子迁移过程电子束诱导的spinel -rocksalt的核壳结构。Rocksalt 核的直径约3 nm,相界宽度约1~2nm。  此外,他们和日本东京大学的合作者用电子束激发的方法,发现LiMn2O4中的Li和Mn离子都会发生迁移,发生从尖晶石到岩盐的结构相变(Chem. Mater. 29,1006,2017)。一般认为,这种结构相变会导致LiMn2O4电池的容量损失和电压降低。他们利用球差矫正透射电子显微镜,跟踪了Li和Mn 在氧四面体和氧八面体之间的迁移过程,揭示了离子迁移过程中的中间相、迁移路径、相界的原子结构、以及阳离子迁移伴随着的氧原子位置的自我调整,据此提出了一些可能的提高电极材料稳定性和电池寿命的方法。高鹏研究员为论文第一作者和共同通讯作者。  由俞大鹏院士领导的北京大学“电子光学与电子显微镜实验室”-校级大型公共仪器平台在2015年底増置了两台国际上迄今最先进的球差矫正透射电镜: Nion公司的配置单色仪的U-HERMES200(能量分辨率8 meV)和FEI公司的双球差矫正的Titan Cubed Themis G2 300 (空间分辨率60 pm)。与此同时,俞大鹏院士也积极在国际上积极招募青年才俊,重点发展电子显微学新技术在材料科学方面的应用,进一步提高大型高端仪器的管理水平、提升电镜平台服务效率和质量。目前,FEI双球差矫正电镜正在调试当中。  该研究工作得到了国家自然科学基金委、科技部、量子物质科学协同创新中心、千人计划和电子显微镜实验室等的大力支持。  论文链接:  http://pubs.acs.org/doi/abs/10.1021/acs.nanolett.6b02136  http://pubs.acs.org/doi/full/10.1021/acsnano.5b04950  http://pubs.acs.org/doi/abs/10.1021/acs.chemmater.6b03659  http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2211285516306176

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  • 单面迁移测试池----寻找多年,现在国内有了分享一下

    单面迁移测试池----寻找多年,现在国内有了分享一下

    以前做国外的食品接触材料的圈子很小,很小. 现在国标采用欧标,一下子人就多了起来了.单面测试的迁移池,以前都是进口的,又贵又不好买.现在国内有市场了,终于有厂家愿意做了.今天有个供应商拿了个玻璃材质的迁移测试池过来试用,还不错. 适用于所有模拟液,操作相当方便.寻找迁移测试池多年 ,终于可以买一批了. 忍不住给大家分享下.价格一两千吧也还算可以.截图给大家看看:产品名称: D型迁移测试池 (莱普瑞迁移测试池)定制标准: EN 1186-1(SN/T 3389)、EN 13130-1(GB/T 23296.1) D 型迁移测试池主体材质: 玻璃(适用于所有模拟物测试,易清洗,可看得到模拟液浸泡情况,耐温差200-300度,最高温度500度)密封圈 : 包氟密封圈(耐高温、耐腐蚀优于氟橡胶以及硅胶密封圈)接触口径: 约114mm(标准接触口径)接触面积: 约1平方分米(标准接触面积)最大容积: 约350ml锁紧方式: 卡扣式 (操作上最为方便)适用范围: 国内外食品接触材料测试,适用于121度高压测试.联系方式: 罗先生 18682282876看到大家挺感兴趣的,我补充了些规格参数,添加了个联系方式.每款迁移测试池,都有优有劣,分享给大家,大家多个选择,选择最适合自己的!--2017-05-16http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/03/201703242254_01_3197852_3.png

  • 新国标中迁移池的购买

    各位大侠,实际测试中大家用到迁移池多不多,有哪位童鞋帮忙介绍一下哪家的迁移池比较好用,求联系方式。谢谢

  • 全迁移测试的建立

    请教大家一下: 我们公司是生产硅胶的,想要自己测试全迁移(硅胶制品在异辛烷和95%乙醇的迁移),需要购买什么样的装置?费用大概多少?有谁可以提供这方面的指导服务吗?谢谢~~~~PS:我们公司地址在深圳

迁移测试池相关的耗材

  • 电介质毛细管清洁粉,用于离子迁移毛细管清洁
    污染通常由质谱图上过高的背景而确认,污染可能来自于 GC 或者 MSD。有时污染源能通过鉴定污染物来确定。一些污染物更可能来自于 GC,另一些污染物则更可能来自于 MSD。
  • 三菱牌硬度计用铅笔 其他物性测试仪配件
    适用领域适用于测试产品硬度,手机,汽车,塑胶,化工,电镀,玻璃,电镀厂都会用到,铅笔式硬度计利用标准铅笔之硬度,对于所测试产品表面进行刮伤测试。依据标准铅笔硬度标示,来判别产品表面之硬度。铅笔标号UNI系列22支:10B-10H(10B,9B,8B,7B 6B、5B、4B、3B、2B、B、HB、F、H、2H、3H、4H、5H、6H、7H、8H、9H,10H) 详细介绍通过犁破漆膜的铅笔硬度等级测定漆膜硬度,试验技术特征,硬度以在规定试验条件下通过犁破漆膜的铅笔硬度等级表示据Wolff Wilborn规范,测量涂料表面硬度的抗刮性,可用于试验分析或控制产品品质,无论是油漆、涂料、家具、汽车,单层或多层烤漆均适用,测试极为快速及简便。使用方法1.须在良好的实验室环境下进行,并从较硬的铅笔开始试验;2.将安装好的铅笔硬度计,轻轻放在待测物表面;3.用手指抓住滑轮两侧,以5… 10cm/秒的速度,向前推10mm,一次即可,不可来回拖拉;4.以肉眼观察样本表面是否被刮伤;5.依铅笔硬度的顺序,由硬到软逐步测试,直到笔尖完全不会刮伤涂布表面为止;6.注意:笔尖造成的任何刮痕、破坏,都视为刮伤。
  • 安捷伦 CP-Chirasil-DexCB 手性气相色谱柱
    Agilent J&W CP-Chirasil-Dex CB 由直接键合于二甲基聚硅氧烷的环糊精构成。这种键合可防止环糊精迁移到表面膜的不同位置,在整个固定相提供均匀的对映选择性,从而为异构体提供极高的分离度。它还可确保稳定的对映选择性,因此显著延长了 β-环糊精毛细管柱的使用寿命。CP-Chirasil-Dex CB 对极性化合物具有较低的洗脱温度,适用于所有进样方法。环糊精键合于二甲基聚硅氧烷,使整个色谱柱具有均匀的对映选择性在广泛的应用中,异构体都具有高分离度化学键合相可实现更长的使用寿命无需衍生化,提高了分析效率 对极性化合物有较低的洗脱温度适用于所有进样方法与 LIPODEX C、Rt-β DEXm、β-DEX 110 和 β-DEX 120 相似在柱流失、灵敏度和柱效方面都经过最严格的行业 QC 指标测试每根色谱柱随附性能汇总报告
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