薄膜热封仪

仪器信息网薄膜热封仪专题为您提供2024年最新薄膜热封仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括薄膜热封仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的薄膜热封仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合薄膜热封仪相关的耗材配件、试剂标物,还有薄膜热封仪相关的最新资讯、资料,以及薄膜热封仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

薄膜热封仪相关的厂商

  • 公司实验室一批二手仪器,保养得当。
    留言咨询
  • 留言咨询
  • 吉林省峰远精密电子设备有限公司吉林省峰远精密电子设备有限公司是与长春工业大学联合组建的高新技术企业。是长春工业大学的电子及自动化培训基地。是一家通过ISO9001国际质量体系认证,及研发,生产,销售于一体的高新科技企业。是行业内生产材料测试设备的名牌企业。公司专门从事试验仪器产品、工控自动化产品、非标设备仪器类等研发与生产。同时对新产品研发有丰富的经验和雄厚的设计开发能力。公司现有职工86人,其中据有中级以上的技术人员37人,其中软件开发,硬件开发,生产调度,总装测试等部门负责人都由本专业高级工程师职称的人员担任,公司专业从事各种材料检测分析设备,工控类测试设备,应用软件等产品的研发与生产。同时对定作各种非标准材料检测设备的研发有丰富的经验和雄厚的设计能力。公司的产品已经远销到台湾,马来西亚,越南,俄罗斯等多个国家,受到用户的广泛好评,我们相信没有精湛的技术,就没有精良的产品,我们永远秉承“高标准,精密化,零缺陷”的质量理念,不断的完善内部管理体系,从产品研发到生产,检验,等诸多环节,都形成了一整套严格质量保障体系。每一台设备在出厂之前都要经过11道检测工序,对设备要求达到的各项指标进行严格的测试,保证设备在其设计寿命的使用期间内,做到零故障,零维修,近年来,我公司先后为多家大型企业和重点科研部门以及全国重点院校提供试验设备。与国家重点院校和科研部门合作开发多个项目。与长春工业大学共同建立了产学研联合基地,与国内很多国家质量检测机构建立联合实验室。 我们的经营理念以严格的质量,可靠的信誉,完善快速的售后服务为原则,以崇尚高科技,追求高品质为宗旨,把“峰远精密”打造成为国产优秀品牌做出不懈的努力。我们公司的主要产品有:安全帽冲击试验机、薄膜摆锤冲击试验机、泡沫压陷硬度测试仪、塑料滑动摩擦试验机、熔体流动速率测定仪、塑料球压痕硬度计、热变形维卡温度测定仪、马丁耐热试验仪、万能试验机、拉力试验机、冲击试验机、疲劳冲击试验机、电压击穿试验机、落镖冲击试验机、落锤冲击试验机、落球回弹试验机、纸箱耐压试验机、薄膜摆锤冲击试验机、薄膜摩擦系数仪、万能制样机、哑铃型制样机、缺口制样机、撕裂度测定仪、高低温冲击试验机、老化试验箱、盐雾试验箱、海绵泡沫密度测定仪、耐电压测定仪、恒温试验箱、高阻测定仪、反压高温蒸煮锅等等 峰远精密电子设备有限公司的各种产品严格遵守国家的有关标准,企业管理经营秉承“峰远人”的经营理念以严格的质量、可靠的信誉、完美的服务为宗旨,以崇尚高科技,追求高品质为原则,热切期望与您真诚的合作,建立“双赢”合作关系,携手共创美好的明天。
    留言咨询

薄膜热封仪相关的仪器

  • 薄膜热封试验仪 400-860-5168转3730
    薄膜热封试验仪HST-H3热封试验仪适用于测试塑料薄膜,软包装复合膜等材料的热封温度、热封时间及热封压力等参数测定。赛成科技研发的该款仪器是食品企业、日化产品企业、包装及原材料生产企业实验室必备仪器。产品特点◎ 微电脑控制、大屏幕液晶显示、PVC操作面板、菜单式界面、方便用户快速操作。◎ 铝灌封式的热封头保证了热封面加热的均匀性,试样不同位置的热封温度保持一致。◎ 数据补偿控温系统,使上下封头温度快速升温、控制更准确。◎ 下置式双气缸同步回路,进一步保证了热封面受压均匀。◎ 气缸采用压力循环系统,自动补压,保证测试压力准确。◎ 上下热封头独立控温,超长热封面设计,满足不同客户需求。◎ 手动与脚踏开关双重启动模式以及防烫伤安全设计,方便用户操作。 测试原理HST-H3热封试验仪采用热压封口法,将待封试样置于上下热封头之间,在预先设定的温度、压力、和时间下,完成对试样的封口。经过反复试验为用户找到热封参数提供指导。薄膜热封试验仪测试标准该仪器符合多项国家和国标标准:QB/T2358、ASTM F2029、YBB00122003。 售后服务承诺三月内只换不修,一年质保,终身提供。快速处理,1小时内响应问题,1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001:2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心,两条独立生产线,一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今,全球用户累计成交产品破万台,完善四大产品体系,50多种产品。
    留言咨询
  • 应用范围 适用于各种塑料薄膜、复合膜、铝箔、PVC 硬片等材料热封性能参数的测定。 主要特点 1. 触摸屏操作,工业 TFT 屏 2. 零导航深度的扁平化界面 UI,操作更加方便快捷 3. 封刀温度、热封时间触摸屏设定 4. 双刀温度独立控制 5. 微型打印机打印试验报告 6. 安全急停设计,防烫设计 7. 无风扇,零工作噪音 8. 支持全天候 300℃高温 9. 配置标准通信接口 10. 支持 DSM 实验室数据管理系统,可实现数据统一管理 (另购) 技术指标 热封温度:室温+6℃~300℃ 控温精度:±0.2℃ 热封时间:0.1~999.9s 热封压力:0.05MPa ~ 1.1MPa热 封 面:265mm ×12 mm(可定制) 热封形式:双刀独立控制 气源压力:0.05MPa ~ 1.1MPa(气源用户自备) 气源接口:Ф6mm 外形尺寸:410 mm (L)×396 mm (B)×416 mm (H) 电 源:AC 220V 50Hz 净 重:33kg 执行标准 QB/T 2358(ZBY 28004)、ASTM F2029、YBB00212005-2015 产品配置 标准配置:主机、脚踏开关、微型打印机、试样杆 选 购 件:通信电缆、DSM 实验室数据管理系统。
    留言咨询
  • 广州标际所生产的薄膜热封仪,塑料包装热封仪适用于包装材料的热封温度,热封时间,热封压力,热封速度的检测,为了您更好了解广州标际以及同行此类仪器性能与真实价格,广州标际人建议您来电咨询020-29136979 薄膜热封仪,塑料包装热封仪技术参数:热封温度:室温~300℃温控精度:± 0.1℃&zwnj 热封时间:0.01s~99.99h热封压力: 0.05~0.8Mpa热封面:300× 5.5mm光滑(下封棒带硅垫)可根据客户要求定制各种规格热封加热形式:双加热自动手动两种模式,气缸外置、外形尺寸:700(L)mm× 400(B)mm× 540(H)mm电 &zwnj 源:AC 220V,&zwnj 50Hz薄膜热封仪,塑料包装热封仪功能:准确测定塑料薄膜基材、软包装复合膜、涂布纸、铝箔及其它热封复合的热封温度范围、热封强度、适宜的热封装速度、热封压力等。符合QB/T 2358-1998、ASTM F 2029-2000、 YBB 00122003 。薄膜热封仪,塑料包装热封仪产品特点:1、 根据不同材质材料找到最合适热封温度,有助于生产提高效率。2、 数显表上时时显示时间、压力、温度。3、 自动手动两种操作模式,性能稳定,高精度。4、 专业外观设计,气缸外置、操作简单。配置:主机一台;上下温控表各一支;压力表一支;时间继电器一支;5.5mm热封刀一副。(其他规格可选购)
    留言咨询

薄膜热封仪相关的资讯

  • 兰光发布C630H薄膜热封仪 实验室热封仪新品
    热封材料的熔点、热稳定性、流动性及厚度不同,会表现出不同的热封性能,其封口工艺参数可能差别很大。C630H薄膜热封仪 实验室热封仪,可准确高效的测定塑料薄膜基材、软包装复合膜、涂布纸及其它热封复合膜的热封时间、热封压力,热封温度合适的性能参数。产品特点:1、创新的机构改良,精度全面升级:上下十个封头均为金属表面,可获取更真实的热封参数数字P.I.D控温技术可快速达到设定温度,有效避免温度波动自动恒压技术,无需手动调节,热封压力更稳定封头自动调平技术,保证各封头热封效果一致宽范围温度、压力和时间控制,满足用户的各种试验条件2、卓越的细节设计,高效安全:设备可一次完成五组热封试验,准确、高效的获得试样热封性能参数上下热封头均可独立控温,为用户提供了更多的试验条件组合分体式热封头,方便快速更换热封面手动和脚踏两种试验启动模式以及防烫伤安全设计,保证使用方便和安全3、高端嵌入式计算机系统平台,安全易用:大尺寸触控平板,视图清晰、 触控灵敏、易于操作全新软件系统,流程精练,操控流畅,简单易学支持成组试验数据比对分析,具有多单位转换功能内嵌USB接口和网口,方便系统的外部接入和数据传输符合中国GMP对数据可追溯性的要求,满足医药行业需要(可选)兰光独有的数据安全性设计,测试数据与电脑分离,避免由计算机病毒等引起的系统故障造成数据丢失兰光独有的DataShieldTM数据盾系统,方便数据集中管理和对接信息系统(可选)参照标准:ASTM F2029、QB/T 2358、YBB 00122003测试应用:基础应用:薄膜材料光滑平面——适用于各种塑料薄膜、塑料复合薄膜、纸塑复合膜、共挤膜、镀铝膜、铝箔、铝箔复合膜等膜状材料的热封试验,热封面为光滑平面,可以同时进行五种温度的热封,热封宽度可以根据用户的需求进行设计。薄膜材料花纹平面——适用于各种塑料薄膜、塑料复合薄膜、纸塑复合膜、共挤膜、镀铝膜、铝箔、铝箔复合膜等膜状材料的热封试验,可以同时进行五种温度的热封,热封面可以根据用户的需求进行设计。扩展应用:塑料软管——把塑料软管的管尾放在上下封头之间,对管尾进行热封,使塑料软管成为一个包装容器。C630H薄膜热封仪 实验室热封仪技术参数:热封温度:室温~300℃热封压力:0.05MPa~0.7 MPa 压力分辨率:0.001 MPa 热封时间:0.1~999.99s时间分辨率:0.01s温度分辨率:0.1℃温度波动:±0.2℃温度准确度:±0.5℃(单点校准)温度梯度:≤20℃气源:空气(气源用户自备)气源压力:0.7 MPa 气源接口:Ф8 mm聚氨酯管热封面:40 mm × 10 mm封头数量:5组(上下共10个均可独立控温)外形尺寸:375mm(L) × 360mm(W) × 518mm(H)电源:220VAC±10% 50Hz / 120VAC±10% 60Hz二选一净重:55kg 产品配置:标准配置:主机、平板电脑、脚踏开关、高温焊布、取样刀、Ф8mm聚氨酯管(2m)选购:高温焊布、空压机、GMP计算机系统要求、DataShieldTM数据盾备注:本机气源接口系Ф8mm聚氨酯管;气源用户自备创新点:1、创新的机构改良,精度全面升级;2、卓越的细节设计,高效安全;3、高端嵌入式计算机系统平台,安全易用;C630H薄膜热封仪 实验室热封仪
  • 校企合作“薄膜材料热特性测试技术及仪器”通过鉴定
    p  2018年4月25日,由中国真空学会组织,华中科技大学“长江学者”缪向水教授团队和武汉嘉仪通科技有限公司共同完成的“薄膜材料热特性测试技术及仪器”科技成果鉴定会在武汉举行。/pp  会议由中国真空学会常务副秘书长刘锋主持,鉴定委员会主任由武汉理工大学张联盟院士担任,清华大学潘峰教授、浙江大学韩高荣教授、中国计量科学研究院任玲玲研究员、哈尔滨工业大学朱嘉琦教授、华南理工大学曾德长教授、湖北省质量技术监督局特种设备检验检测研究院吴遵红研究员等作为专家共同参加此次成果鉴定会。/pp  新材料是国家重点部署的五大颠覆性技术领域,颠覆性的新材料迫切需要颠覆性的测试技术,我国2万亿新材料产业的蓬勃发展催生了巨大的材料检测仪器需求。而薄膜化是当前新材料产业的发展趋势,随着薄膜厚度逐渐减小到纳米尺度,传统的热特性测试仪器对纳米尺度薄膜材料的热特性测试束手无策。/pp  华中科技大学和武汉嘉仪通科技有限公司经过七年的努力,以“薄膜材料热特性测试技术及仪器”为主攻方向,突破了传统热分析仪器的对低维材料热特性检测的限制,成功研制出薄膜材料的相变温度、热膨胀系数、热导率及塞贝克系数等一系列热特性测试技术和仪器,并已销售百余台,在三十多家单位实现了示范应用,且出口至美国、英国等海外市场,带来了较好的经济效益。项目共获授权专利25项,仪器荣获“湖北省十大科技事件”、“武汉市最具影响力十大科技事件”等奖励。美国陶瓷学会官方网站首页刊登了采用该项目技术开发的薄膜热分析仪器宣传片,并报道“获得了一个看似不可能的实验数据”。其测试方法被材料领域国际权威杂志及学者多次引用。/pcenterimg alt="点击查看高清原图" src="http://news.cjn.cn/sywh/201805/W020180502367289833941.jpg" height="363" width="550"//centerp  25日一大早,任玲玲研究员和吴遵红研究员便来到现场,对本次鉴定成果的4款仪器的各项指标进行现场测试,并出具测试报告。下午15:00会议正式开始。会议首先由中国真空学会常务副秘书长刘锋宣读了此次鉴定会的批复文件和鉴定委员会专家名单。随后,项目负责人缪向水教授从薄膜材料热特性测试的背景、现状、发明的技术原理、核心专利、与现有仪器的性能对比以及项目产业化后产生的经济社会效益等方面,向各位专家进行了详细汇报,得到专家组成员的一致认可。随后项目组成员童浩老师宣读了查新结论,测试小组组长任玲玲研究员介绍了鉴定项目的测试结果,用户代表介绍了鉴定项目在公司的应用情况。/pcenter style="text-align: center "img alt="点击查看高清原图" src="http://news.cjn.cn/sywh/201805/W020180502367289840563.jpg" height="383" width="550"//centerp  项目汇报结束后,专家委员会成员现场考察项目成果,听取了项目组成员对项目技术原理、研发过程以及应用情况的讲解。张联盟院士和专家们对本项目在低维材料热特性检测方面的创新工作表示高度赞赏,认为非常巧妙,并给出了非常好的建议。此后,项目负责人缪向水教授及项目组成员就各位专家提出的疑问给予了详细解答。/pcenterimg alt="点击查看高清原图" src="http://news.cjn.cn/sywh/201805/W020180502367289841396.jpg" height="363" width="550"//centerp  最后鉴定委员会一致认为“该成果创新突出,整体处于国际先进水平,在纳米级薄膜的相变温度测试以及薄膜面内热导率测试等方面达到国际领先水平。”并一致同意通过鉴定。/p
  • ETT-01电子拉力试验机除了可以测试薄膜的拉伸强度还能测试薄膜的哪些性能
    在当今这个科技日新月异的时代,薄膜材料因其优良的物理和化学特性,在包装、医疗、电子等众多领域得到了广泛应用。然而,如何准确评估薄膜的各项性能,确保其在各种应用场景下的可靠性,成为了摆在科研人员和生产企业面前的重要课题。幸运的是,ETT-01电子拉力试验机的出现,为薄膜性能的全面检测提供了强大的支持。ETT-01电子拉力试验机,作为一款专业的力学性能测试设备,不仅可以测试薄膜的拉伸强度,更能深入探索薄膜的剥离强度、断裂伸长率、热封强度、穿刺力等多项关键性能。这些性能参数对于评估薄膜的耐用性、密封性以及在实际应用中的表现至关重要。首先,剥离强度是衡量薄膜材料间粘附力的重要指标。通过ETT-01的精确测试,我们可以了解到薄膜与不同材料之间的粘附性能,为产品设计和生产工艺提供有力依据。其次,断裂伸长率是反映薄膜材料在受到外力作用时变形能力的关键参数。ETT-01能够准确测量薄膜在拉伸过程中的伸长率,帮助我们判断薄膜的柔韧性和抗拉伸能力。此外,热封强度也是薄膜性能中不可忽视的一环。ETT-01电子拉力试验机能够模拟薄膜在实际应用中的热封过程,测量热封后的强度,确保薄膜在包装、密封等应用场景下具有良好的密封性能。值得一提的是,ETT-01电子拉力试验机还具备测试薄膜穿刺力的功能。通过模拟实际使用中可能出现的穿刺情况,我们可以评估薄膜的抗穿刺能力,为产品设计和质量控制提供重要参考。除了以上提到的性能参数外,ETT-01电子拉力试验机还能测试薄膜的压缩、折断力等多项性能,实现对薄膜性能的全面解析。这一功能的实现,得益于ETT-01的高精度测试系统和先进的位移控制技术。通过这些技术手段,ETT-01能够确保测试结果的准确性和重复性,为用户提供可靠的数据支持。在实际应用中,ETT-01电子拉力试验机已经成为了众多薄膜材料生产企业、科研机构以及质检部门的得力助手。它不仅能够帮助用户全面了解薄膜的各项性能参数,还能为产品设计和生产工艺提供改进方向,推动薄膜材料行业的持续发展和创新。总之,ETT-01电子拉力试验机以其全面的测试功能和精准的测试结果,成为了薄膜性能全面解析的利器。它不仅能够满足科研人员和生产企业对薄膜性能评估的需求,还能为产品的质量控制和工艺改进提供有力支持。在未来的发展中,我们有理由相信,ETT-01电子拉力试验机将继续在薄膜材料性能测试领域发挥重要作用,为行业的进步和发展贡献力量。

薄膜热封仪相关的方案

薄膜热封仪相关的资料

薄膜热封仪相关的试剂

薄膜热封仪相关的论坛

  • 【求助】薄膜xrd掠入射能看薄膜的择优取向吗?谢谢!

    各位大侠帮忙解答:1. 我看文献上有的说xrd掠入射看薄膜物象鉴定,常规的θ/2θ扫瞄看薄膜的择优取向。薄膜xrd掠入射能看薄膜的择优取向吗?2. 我做常规的θ/2θ扫瞄时只有衬底峰没有薄膜信息,所以只能做掠入射,我是在单晶SiC片子上磁控溅射AlN薄膜(约500nm厚),但是我要对比不同参数下薄膜的择优取向,我该怎么测呢?3. 我用的设备是日本理学D/MAX 2500PC X射线粉末衍射仪,做掠入射时加了薄膜附件,采用2θ扫瞄模式,θ角固定(2.5、3、5、8、15、30度),不管θ角多大都没出现衬底峰只有薄膜峰,但是随着θ角的增大,AlN (0002)峰强也增大,而.(10-13)峰强则减小直到消失,这是为什么?另外,掠入射时θ角越小x线在薄膜中的光程应该越大,反应的薄膜信息应该越丰富对吗?为什么我做θ角0.5度和1度时什么峰都没有呢?

  • 【求助】请教ZnO薄膜002峰向小角偏移0.6度的原因

    [color=red]石英衬底上的ZnO薄膜,择优取向很明显,只有002一个峰,但和pdf卡片比起来向小角偏移了0.6度,听老师说是取向的原因,但自己没搞明白,仪器只收集和样品表面平行的晶面衍射啊,和取向有什么关系呢,请大仙赐教。[/color]

  • 【求助】薄膜仪器宽化和半峰宽确定

    刚开始做薄膜,关于XRD有几个疑问,请各位高手指点。第一:想去除仪器宽化,用多晶硅标定仪器发现,从28-87度之间半峰宽分别为,0.05,0.06,0.1224,0.08,0.08,0.08.请问高手,怎么取仪器宽化?0.1224附近怎么取?第二:做实验的老实说,打印的报告半峰宽和d值都是近似,不准,没有去除Kr2,那我用JADE软件去除后峰位和半峰宽自己怎么确定。尤其是半峰宽怎么取?做实验的老师说,放大了打印后用尺子量,我觉得很难这么处理吧?请高手解答

薄膜热封仪相关的耗材

  • 聚合物薄膜测厚仪配件
    聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法,使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标:例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg),热分解温度,薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据,能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据,并且能够控制薄膜加热和制冷的速度,是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究,例如:薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究,薄膜光学性质随温度的变化,薄膜预烘烤Post Apply Bake,光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量,这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的,背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks,给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能,光刻薄膜的热处理影响分析,Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5%分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:13.5kg 电力要求:110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度
  • 薄膜、样品膜、光谱仪膜、麦拉膜416#
    X-RAY样品膜、XRF測試用的Prolene膜、XRF样品膜、ROHS测试膜、迈拉膜--美国Chemplex 416# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。 品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:416产品信息:Prolene膜,卷轴,厚度4.0 μm,宽7.6cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 产品详细信息:Pre-Perforated Thin-Film Sampel SupportsPROLENE® FILMCAT. NO:416Gauge:0.00016”,4.0 μm;0.16mil,40,640ATypical Impurities,PPM:Ca, P, Fe, Zn, Cu, Zr, Ti, AlChemplex® INDUSTRIES,INC.ROLL:3” x 300’ (7.6cm x 91.4m); Lot No:082176。 现货供应:XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。
  • 高精度膜厚仪|薄膜测厚仪A3-SR光学薄膜厚度测量(卤素灯)
    目标应用: 半导体薄膜(光刻胶) 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜(光刻胶) ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*(H90+H140)测试支架(配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘)测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm(标配,可以根据用户要求配置)样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标(THICKNESS SPECIFICATION):产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1(厚度要求)N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量,实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅(500纳米)测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制