波前测试仪

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波前测试仪相关的厂商

  • 广州爱启提测试仪器有限公司
    HT ITALIA来自于美丽的欧洲小镇——意大利法恩莎，公司自1983年成立以来，产品年销售额超过4000万欧元。并在2009年在中国广州建立办事处，负责中国地区的产品销售和售后服务。 HT ITALIA公司设立专业的研发团队，在1992年研制生产出HT2038，1999年研制生产了世界上第一台带电能质量分析仪功能的便携式多功能电气安全测试仪——GENUIS 5080，在2001推出具有三相电能质量分析仪功能的多功能电气安全测试——GSC系列，刷新了便携式仪器的多功能之最。2007年HT公司开始涉及太阳能光伏系统测试,以提供太阳能光伏电站的现场测试仪表，HT可提供全面的太阳能光伏电站测试仪表：并网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR300N，太阳能电池I-V特性曲线分析测试仪I-V400，离网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR I-V等。近年来，HT公司又基于自身的设计现场测试理念，推出自主品牌的全新系列红外热像仪产品，以充分满足客户的个性化需求，HT品牌的红外热像仪家族包括：THT41/42/44的经济型系列，THT49的专业级红外热像仪和THT50专家型红外热像仪。现在HT公司拥有：红外热成像仪，电气安全测试仪（含：绝缘电阻测试仪，接地电阻测试仪，漏电保护开关-RCD测试仪，耐压测试仪和多功能电气安全测试仪）、电能质量分析仪、通用测试仪表（含：数字万用表，数字电流钳表，红外测温仪，数字测温仪，数字噪声计，激光测距仪等）、GEF专业绝缘工具（含：绝缘镙丝批，各种绝缘剪钳，各种型号的工具套包，工具箱等）等系列产品。
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  • 潍坊瑞格测试仪器
    山东省潍坊瑞格测试仪器有限公司是一家专业从事分析检测仪器的研发、生产、销售及服务于一体的高科技企业。公司产品主要应用于农业科研、土壤分析、地质勘探、公路建设、食品、医药、化工、卫生防疫、环保检测等领域。 目前公司主要有四大系列产品，分别为粉碎系列、药残检测系列、田间信息管理系列、样前处理系列。产品获得国家17项专利，其中自主研发的“改进型土壤粉碎机”入围2011年度国家星火计划。产品在中科院、社科院、环科院、中国农业大学、山东大学等多个科研院校中得到广泛应用，并在全国多个省土肥站测土配方施肥项目仪器采购中中标。公司还积极拓展海外业务，且远销印度及东南亚等地区。 公司自创立以来，本着“质量第一，用户至上”的原则，秉承“科技服务社会”的理念，积极引进吸收国内外的先进技术，不断研制开发出优质、高效、实用的新型产品。
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  • 潍坊瑞格测试仪器有限公司
    山东省潍坊瑞格测试仪器有限公司成立于2008年3月，是一家专业生产和销售分析检测仪器设备的高科技公司，总注册资金100万元，现有员工35人，其中工程技术人员14人，高级职称技术人员3人。公司积极引进国内外的先进技术，目前，我们开发的PRT系列农药残毒速测仪，采用国内先进技术，具有新颖的操作界面、精准的测量装置及池位自动识别功能等优点，已领先于国内同行业； FT系列土壤粉碎机是我公司具有多项技术专利的产品，其中FT-2000\FT-3000型粉碎机上运用的特殊除尘装置解决了普通粉碎机在粉碎土样时粉尘飞扬的情况，可有效地保护实验室环境和操作人员的身体健康，产品在全国23个省土肥站测土配方施肥项目仪器采购中中标，得到广大用户的好评，与国内同类产品相比优势明显；行星式球磨机系列产品主要应用于环境监测和土壤污染治理实验室以及土肥检测中的微量元素检测，具有效率高、无样品污染、噪音低等优点；针对测土配方施肥项目我们成功开发出土壤养分速测仪、土壤水分测试仪等一系列产品，解决了农民在农业生产中的实际问题；另外我公司成功开发出氮吹仪系列产品和实验室器皿消毒清洗机等产品，为实验室的玻璃器皿清洗问题提供更加优化的清洗方案。我公司有较强的开发与技术合作能力，主要致力于各类化验、检测设备的研究与开发，并且与国家重点科研院校建有长期合作关系，并聘请多位行业内著名学者、专家担任公司的技术顾问。公司与山东大学控制科学与工程学院签署产学研合作协议，依托高校的技术优势，结合我公司的社会资源共同开发相关产品，服务社会。
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  • 波前测试仪 400-860-5168转3067
    哈特曼波前测试仪　　WFS150系列Shack-Hartmann波前测试仪，提供了精确、快速的波前测量和光束的强度分布。该仪器是通过分析经微透镜阵列成像于CCD的光斑场的位置和强度进行测量的。使用Thorlabs提供的Shack-Hartmann波前测试仪，可以动态的优化激光波前、测量光学元件波前差，为自适应光学控制提供实时的反馈。　　Shack-Hartmann波前测试仪由前端带微透镜阵列的高精度的USB2.0（1.3M 像素）CCD相机和软件包组成。全功能的控制和分析软件具有良好的用户界面，菜单包括相机设置、标定、分析和显示项等。CCD相机SM1螺口可方便固定ND滤光片以防CCD像素饱和，及透镜套管以减少散射光，并可用于其他元件的固定。WFS150系列特点：实时照射和相位测量CW或脉冲光源CCD相机指标：型号：DCU224M分辨率：1280× 1024快门速度：83-1460ms最大帧率：15帧/秒尺寸：34× 32× 48.3mm接口：USB2.0软件特点：计算参量照射和相位分布模式或区域的重建波前波前RMS斜度、聚焦、像散，慧差、球差及高阶像差等Zernike和傅立叶表示显示/输出：初始点场成像强度分布重建3D波前表列高度输出微透镜阵列特征 型号 微透镜阵列 有效焦距 特点 WPS150MLA150-7AR.7mm AR膜（400-900nm） WPS150CMLA150-5C5.2mm 铬掩模（200-1100nm）　　Thorlabs提供两种型号的Shack-Hartmann波前分析仪。WPS150，带400-900nm增透膜微透镜阵列，适合对反射敏感的应用领域。WPS150C，由铬掩模微透镜阵列组成，阻止透镜间光传输，具有很宽的光谱范围（200-1100nm），但表现出较强的光反射。
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    厂商： 上海羽宸光电科技有限公司
    品牌： Thorlabs
    型号： WFS150
    价格： 3.5万元
  • 波前传感器 波前测试仪 400-860-5168转3181
    Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统
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    厂商： 上海瞬渺光电技术有限公司
    品牌： 未知
    型号： SID4-HR
    价格： 面议
  • Phasics SID4波前测试仪 SID4 HR 400-860-5168转3067
    SID4 HR 为要求最为苛刻的波前测量应用带来超高相位分辨率（416 x 360）和高动态范围（500 µm PV）。 它的大相机靶面和极高的波前灵敏度使其非常适合直接测量大发散角的光束，而无需添加任何中继镜或准直光学系统。主要特点416 x 360超高相位取样分辨率9.98 x 8.64 mm² 大分析靶面可接收最高至NA=0.8高数值孔径发散光束产品应用• 激光，自适应光学及等离子体检测• 光学元件及光学系统计量• 微观材料检测SID4 SWIR HR光谱 短波红外 (900 - 1700 nm)SID4 SWIR HR波前传感器将Phasics的专利技术与InGaAs探测器结合在一起。 凭借其超高取样分辨率（160 x 128相位取样点）和高灵敏度，它提供了从900 nm到1.7 μm波段的高精度波前测量。 SID4 SWIR HR是一种创新的解决方案，可用于检测空间光通信、测试仪表、军用夜视系统或监控设备中使用的短波红外光学系统。主要特点覆盖 0.9 to 1.7 µm 短波红外波段160 x 128 高相位分辨率高感光灵敏度 - 可适用于低功率红外光源测试应用• 激光，自适应光学及等离子体检测 • 光学元件及光学系统计量SID4 DWIR光谱 中红外 (3 - 5 µm) 远红外 (8 - 14 µm)SID4 DWIR是市面唯一一款同时覆盖3 - 5 µm中红外和8 - 14 µm远红外的双波段红外高分辨率波前传感器。 它非常适合表征红外光学器件，黑体光源，3.39 µm或10.6 µm激光和光学系统。主要特点160 x 120 高相位分辨率中远红外双波段2合1高数值孔径测量无需过渡镜产品应用• 激光，自适应光学及等离子体检测 • 光学元件及光学系统计量KALEO套件光谱 紫外(190 - 400 nm) 可见光 - 近红外 (400 - 1100 nm) 短波红外 (900 - 1700 nm) 中红外 (3 - 5 µm)Kaleo套件是用于光学计量的模块化系统。 它由多种相互兼容的模块组合而成，可让用户搭建一个经济有效，体积紧凑且易于使用的完整光学测试系统。该系统可适应各种测量场景，确保从研发至生产等不同阶段样品的光学品质鉴定。该系统单次采集即可获得待测样品的所有光学特征，包括：波前像差，MTF，PSF等。主要特点多功能性：覆盖从紫外到红外多个波段的独立解决方案及兼容模块强大独特的波前技术：兼顾高分辨率、高动态范围及纳米级相位灵敏度操作简易：系统紧凑且便于快速对准产品应用• 光学元件及光学系统计量
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    厂商： 上海羽宸光电科技有限公司
    品牌： Phasics
    型号： SID4 UV,SID4 HR，SID4 SWIR HR，SID4 DWIR；
    价格： 5万 - 10万元
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波前测试仪相关的资讯

  • 波前检测技术和晶体加工技术取得重要进展
    日前，中科院高能所多学科中心光学团队基于北京同步辐射装置BSRF和晶体实验室实现了衍射极限水平的波前检测和晶体加工技术。高能同步辐射光源HEPS光束线建设的又一项关键技术取得了突破性进展。大块硅单晶体是硬X射线单色器及谱仪的核心光学元件，而晶体的表面形貌起伏、加工破坏层和晶格应力等诸多因素都会对X射线波前产生严重影响，从而破坏相干性和衍射极限聚焦。对于前几代同步光源，由于光束相干尺寸小，即使是高相干要求的纳米探针或者相干散射束线，也只要求晶体能够挑选出较小的局部范围保持波前即可。而作为衍射极限水平的第四代同步辐射光源，HEPS的相干尺寸较三代光源高出约2个量级，要求全光束范围里获得完美波前，这对晶体的加工能力提出了严峻的挑战，是国际上第四代光源共同面临的技术挑战之一。该团队在X射线晶体实验室已开发的晶体加工工序基础上，通过引入一种新的柔性化学机械抛光方法，实现了全光束口径近厘米范围内超高精度波前保持的晶体加工。同时，该团队还创新性地提出了双刃波前检测的方法，解决了相干性不足、稳定性不足以及入射波前畸变几项关键问题，在第一代同步辐射光源上实现了衍射极限水平的波前检测，为波前保持的晶体加工工艺探索提供了高精度检测手段。2022年7月BSRF专用光期间，该团队在1B3B测试束线上，验证了自研双刃波前检测装置的性能，并利用该装置以日本进口国际前沿水平的“晶格无扰乱”晶体作为参照样品，开展了自研晶体和参照晶体的波前检测对比实验。结果显示，在晶体上50μm横向空间分辨率下，该装置的单次扫描斜率检测精度达到25～50 nrad RMS，波前高度检测精度高达1.5pm RMS；自研晶体波前精度达到60～100 nrad RMS，与参照样品（70～100 nrad RMS）基本处于同一水平，满足HEPS光束线指标要求。团队成员承担PAPS光学系统、HEPS测试束线和光学设计系统等多个项目任务。接下来，团队还将进一步优化实验条件，提升波前检测能力，完善晶体加工工艺。图1 晶体双刃波前检测实验图2双刃法单次扫描波前检测误差25.8nrad 1.5 pm RMS图3 自研柔性化学机械抛光晶体，波前精度61.7nrad 6.0pm RMS图4 日本进口“晶格无扰乱”晶体，波前精度73.2nrad 7.8pm RMS图5 团队现场合影
    时间： 2022-08-23
    作者： 葱头
  • 波前检测技术和晶体加工技术取得重要进展
    日前，中科院高能所多学科中心光学团队基于北京同步辐射装置BSRF和晶体实验室实现了衍射极限水平的波前检测和晶体加工技术。高能同步辐射光源HEPS光束线建设的又一项关键技术取得了突破性进展。大块硅单晶体是硬X射线单色器及谱仪的核心光学元件，而晶体的表面形貌起伏、加工破坏层和晶格应力等诸多因素都会对X射线波前产生严重影响，从而破坏相干性和衍射极限聚焦。对于前几代同步光源，由于光束相干尺寸小，即使是高相干要求的纳米探针或者相干散射束线，也只要求晶体能够挑选出较小的局部范围保持波前即可。而作为衍射极限水平的第四代同步辐射光源，HEPS的相干尺寸较三代光源高出约2个量级，要求全光束范围里获得完美波前，这对晶体的加工能力提出了严峻的挑战，是国际上第四代光源共同面临的技术挑战之一。该团队在X射线晶体实验室已开发的晶体加工工序基础上，通过引入一种新的柔性化学机械抛光方法，实现了全光束口径近厘米范围内超高精度波前保持的晶体加工。同时，该团队还创新性地提出了双刃波前检测的方法，解决了相干性不足、稳定性不足以及入射波前畸变几项关键问题，在第一代同步辐射光源上实现了衍射极限水平的波前检测，为波前保持的晶体加工工艺探索提供了高精度检测手段。2022年7月BSRF专用光期间，该团队在1B3B测试束线上，验证了自研双刃波前检测装置的性能，并利用该装置以日本进口国际前沿水平的“晶格无扰乱”晶体作为参照样品，开展了自研晶体和参照晶体的波前检测对比实验。结果显示，在晶体上50μm横向空间分辨率下，该装置的单次扫描斜率检测精度达到25～50 nrad RMS，波前高度检测精度高达1.5pm RMS；自研晶体波前精度达到60～100 nrad RMS，与参照样品（70～100 nrad RMS）基本处于同一水平，满足HEPS光束线指标要求。团队成员承担PAPS光学系统、HEPS测试束线和光学设计系统等多个项目任务。接下来，团队还将进一步优化实验条件，提升波前检测能力，完善晶体加工工艺。图1 晶体双刃波前检测实验图2双刃法单次扫描波前检测误差25.8nrad 1.5 pm RMS图3 自研柔性化学机械抛光晶体，波前精度61.7nrad 6.0pm RMS图4 日本进口“晶格无扰乱”晶体，波前精度73.2nrad 7.8pm RMS图5 团队现场合影
    时间： 2022-08-22
    作者： 情绪波动
  • 谁来挑战我，一款您不可错过的波前传感器
    〖导读〗目前，国际通用的波前传感器主要是四波横向剪切干涉类型的波前传感器，这款波前传感器采用的是国际名企--法国Phasics的专利技术，并在实际应用中得到广大科研工作者的一致认可！ 四波横向剪切干涉类型的波前传感器采用的是法国Phasics对传统的夏克-哈特曼波前传感器的改进的专利技术： 四波横向剪切干涉和夏克-哈特曼技术的区别：PHASICS：SID4SH区别技术四波横向剪切干涉夏克-哈特曼是对夏克-哈特曼技术的改进，PHASICS全球售出超过300个探测器。强度采用傅里叶变换方法，测量对强度变化不敏感由于需要测量焦点位置，测量对强度变化灵敏关于测量精度，波前测量不依赖于强度水平。使用方便界面直观，利用针孔进行对准安装困难，需要精密的调节台SID4 产品使用方便。取样SID4-HR达300x400测量点64x6测量点（微透镜数量）SID4-HR具有很高的分辨率。这使得测量更可靠，也更稳定。数值孔径 NA：0.5NA：0.1SID4-HR动态范围更高。空间分辨率29.6μm115μmSID4-HR具有更好的空间分辨率。重复性2nm RMSλ/200( 5nm @1053 nm)更好的重复率，更稳定。获取频率10fps7.5fps分析速度快照明SID4的技术可以消色差。系统对不同波长和带宽响应一致。无需对每个波长进行校准。夏克-哈特曼技术基于微透镜，其特性依赖于波长（由于玻璃色散）。仪器需要对每个波长校正。PHASICS更灵活：可以测试宽波段，而不需要额外校准。Phasics波前传感器与传统哈特曼波前传感器测量结果对比： Phasics公司波前传感器具有高分辨率、消色差测量 、高动态范围 、高灵敏度、设计简洁紧凑、高性价比、测量可重复性高等优良特性 ，可广泛应用于光传输变换中波前特性分析中。谁来挑战我，法国Phasics公司的波前传感器，一款您不可错过的波前传感器：为了能让广大科研工作者更加直观的了解法国Phasics公司的波前传感器，我们瞬渺团队将出席4月14-16日在南京展览中心举办的---2017年中国（南京）国际教育装备暨科教技术展览会。届时，将展出该款波前传感器，瞬渺团队的技术工程师和销售精英亲临现场，为广大科研工作者全面解析法国Phasics公司的波前传感器！瞬渺团队对于瞬渺人来说，客户的支持是对我们团队最大的认可，面对日益激烈的国内市场，瞬渺将一直秉持客户为先的团队理念，为广大科研工作者带来专业的技术和售后支持！2017年4月14-16日，瞬渺团队将亲临南京-展览中心381展位（靠近交流会一区），届时，欢迎您前来咨询！
    时间： 2017-04-11
    作者： 瞬渺科技
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  • 【原创】微波前处理技术应对消费品安全改进法案（H.R.4040）

    近期中国玩具业大规模召回事件屡次发生，据悉，2007年美国CPSC共召回88起，数量约1800 万件的我国产含铅超标产品，2008年8月14日签署了《2008消费品安全改进法案》（H.R. 4040），其中明确规定了儿童产品中铅和邻苯二甲酸酯的含量要求，这一方案的实施成为玩具出口新壁垒，中国玩具业应如何面对？答案毫无疑问关键是加强自身产品的检测力度，建立良好的内部监控系统，实现简便、快速、精确的定量分析铅与邻苯二甲酸酯具有非常重要的实际意义。 基于此，公司协同合作实验室和部分客户对玩具类产品中铅和邻苯二甲酸酯进行了微波前处理和后续分析检测的研究。用微波消解处理玩具类样品用于铅的测定，根据样品的性质我们实验了HCl、 HNO[sub]3[/sub]、 HF、H[sub]2[/sub]O[sub]2[/sub] 等多种酸消解体系考察对玩具类样品的消解情况，并摸索出了一套优化的实验方案，该方法的平均回收率为93.6%-108.3%，RSD为1.9%-4.5%。用微波萃取处理玩具类样品用于邻苯二甲酸酯的测定，对萃取溶剂、微波萃取时间和微波萃取温度选做了考察，摸索出了优化的实验方案，该方法平均回收率为91.6%-103.3%，RSD为2.5%-4.8%。以上实验皆取得了满意的结果，满足企业及检测机构的要求。

  • 【原创】微波前处理技术应对消费品安全改进法案（H.R.4040）

    近期中国玩具业大规模召回事件屡次发生，据悉，2007年美国CPSC共召回88起，数量约1800 万件的我国产含铅超标产品，2008年8月14日签署了《2008消费品安全改进法案》（H.R. 4040），其中明确规定了儿童产品中铅和邻苯二甲酸酯的含量要求，这一方案的实施成为玩具出口新壁垒，中国玩具业应如何面对？答案毫无疑问关键是加强自身产品的检测力度，建立良好的内部监控系统，实现简便、快速、精确的定量分析铅与邻苯二甲酸酯具有非常重要的实际意义。基于此，我们公司协同合作实验室和部分客户对玩具类产品中铅和邻苯二甲酸酯进行了微波前处理和后续分析检测的研究。用微波消解处理玩具类样品用于铅的测定，根据样品的性质我们实验了HCl、 HNO3、 HF、H2O2 等多种酸消解体系考察对玩具类样品的消解情况，并摸索出了一套优化的实验方案，该方法的平均回收率为93.6%-108.3%，RSD为1.9%-4.5%。用微波萃取处理玩具类样品用于邻苯二甲酸酯的测定，对萃取溶剂、微波萃取时间和微波萃取温度选做了考察，摸索出了优化的实验方案，该方法平均回收率为91.6%-103.3%，RSD为2.5%-4.8%。以上实验皆取得了满意的结果，满足企业及检测机构的要求。如果需要具体的应用方法，请拨打电话：021-54427057 / 54427605 / 54426558转市场部马小姐咨询，或发Email至marketing@eu-chem.com索取。

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  • Shack-Hartmann 波前分析仪 波前测试仪 波前传感器
    Imagine Optic公司致力于Shack Hartmann波前测试仪的设计，制造和销售，其应用于光学计量以及激光束计量领域： 在光学计量领域提供服务 提供用于激光应用、特殊显微镜方面相适应的光学解决方案 提供车辆铁路动能测量、雷达速度测量、惯性导航仪测量等一系列测量设备 Shack-Hartmann (SH) 波前传感器在自适应光学中广泛使用。它的基本原理是把波前划分为若干个子孔径,在各个子孔径上分别测量两个正交方向上的波前偏导值,即波前斜率,然后根据子孔径上的波前斜率进行波前复原计算,得到整孔径上的波前位相. http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_testimony_wavefront-sensor-and-adaptive-optics-for-femtosecond-lasers.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_sl-sys-neo_miniature-optics-and-objectives-characterization-system.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_sl-sys-liquid_liquid_lens_characterization-system.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_sh-ltp_shack-hartmann-long-trace-profiler.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_selection-guide_wavefront-sensors_adaptive-optics_components_solutions.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_press-release_US-2010.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_press-release_HASO-R-Flex_en.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_mirao52e_electromagnetic-deformable-mirror.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_hasov3_shack-hartmann_wavefront-analysis-software-for-haso-wavefront-sensors.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_HASO_R-Flex_auto-illuminated-wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_HASO3_precision_shack-hartmann_wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_haso-xeuv_x-ray_extreme-ultraviolet_shack-hartmann_wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_haso-wsr_wide-spectral-range_shack-hartmann_wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_haso-nir_near-infra-red_shack-hartmann_wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_haso-hp_high-performance_shack-hartmann_wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_haso-first_shack-hartmann_wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_haso-fast_shack-hartmann_wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_casao_adaptive-optics-command-and-control-software.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_application-note_HASO-shack-hartmann-wavefront-sensor-and-beam-profiler.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_application-note_adaptive-optics-high-power-lasers.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_application-note_absolute-measurement-with-haso-shack-hartmann-wavefront-sensor.pdf http://www.rayscience.com/imagine/imagine-optic_aokit-bio_adaptive-optics-kit-for-bioimaging.pdf
    供应商： 瞬渺科技（香港）有限公司
    品牌： TTI
    价格： 面议
  • 波前分析仪系统配件
    波前分析仪系统配件受机械噪声和振动的影响小，可以分析宽范围内的波长，也可以测量连续波，飞秒级的脉冲辐射，是实时测量的。可以用来测量波长、光束强度同时估算光束质量。该传感器（分析仪）可以轻易地置入自适应光学系统中使用！波前分析仪测量结果显示：桌面：PV, RMS.以泽尼克表示的波前像差系数最高是36和赛德尔像差（倾斜、离焦、像散、彗差、球面）。激光束表征参数。图形窗口：Hartmannogram图像。各种相位和光束强度（灰度或调色板）的3D,2D图形分布图，合成的条纹和梯度映射图根据获得的数据改变。光束的点扩展函数表示聚焦中的光强分布。不同类型的光束孔径（圆形，椭圆，矩形，多边形）。对齐选项。报告以多种格式储存，可以打印图像。 软件具有用户友好型图形界面，界面上有菜单，热键和帮助项。波前分析仪应用: 科学研究中心，教育和研究实验室。生产激光系统和激光机床的工业企业或商务公司。制造业，使用激光辐射为工具用在不同技术领域，特别是必须要精确控制光束的应用研究光学测试设备的制造业。医疗和诊断中心。范例，该照片显示了11WFS是如何置入自适应光学系统（AOS）。AOS是为了校正波前像差。入射光束从第一平面反射，然后从可变形反射镜发射，穿过分离器。一部分光束到达11WFS和另一部分穿过输出孔。波前分析仪配件:光学接口：调整系统，让光束准直可达100 mm。固定支架上是中性密度滤光器（30%，1%，0.1%，直径25mm，光学质量是λ/ 10）。平面参考波前源（准直器，一个波长的光纤耦合激光器，固定支架）。STANDA公司的线路板和机械工具。波前分析仪规格波长范围, mm 400...1100传感器的孔径（布局）, mm 1/3"(1/2") - 4.5x2.8 (6.4x4.8)相机分辨率 744х480 pixels（1 / 3“相机的基础版本）微透镜阵列参数， （间距，mm-焦距，mm）0.15 - 6（基础版本）微透镜数 30x18 (42x32)帧速率 60 Hz波前精度 波长/ 10波前动态倾斜范围 波长*50尺寸 55 x 55 x 70 mm
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
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  • 阴极保护防腐剥离强度测试仪、剥离强度测试仪
    阴极保护防腐剥离强度测试仪、剥离强度测试仪介绍： QJ212微机控制万能材料试验机实现微机全程控制，可对整个材料500KN以内力值的拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、低调疲劳等多项力学试验,可根据国际标准ISO.JIS.ASTM.DIN等国际标准和国外标准进行试验和提供数据.以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控.阴极保护防腐剥离强度测试仪、剥离强度测试仪主要技术：1、最大负荷：10、20、30、50、10、20、30、50、100、200、300、500KN；2、力试验力分辩率为± 1/250000,内外不分文件，且全程分辨率不变；3、有效试验宽度：500mm；4、有效拉伸空间：600或800mm；5、试验速度:：0.001~1000mm/min任意调；6、速度精度：示值的± 1%以内；7、位移测量精度：示值的± 0.5%以内；8、变形测量精度：示值的± 0.5%以内；9、试台升降装置：快/慢两种速度控制，可点动；10、试台安全装置：电子限位保护；11、试台返回：手动可以最高速度返回试验初始位置，自动可在试验结束后自动返回；12、超载保护：超过最大负荷10%时自动保护；13、功率： 1.5KW；14、主机尺寸：960＊650＊2000mm；15、主机重量：1200kg；
    供应商： 上海倾技仪器仪表科技有限公司
    品牌： 倾技
    价格： ￥2500
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