铝箔测厚仪

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铝箔测厚仪相关的厂商

  • 东莞市衡益电气科技有限公司位于东莞市厚街镇益泓荣高新工业区,是专业为国内外客户提供动力电池铜箔、铝箔软连接产品一整套完整解决方案的生产设备制造商、产品配套检验设备提供商;公司主营:铝箔焊接机,高分子扩散焊机,铝箔软连接焊机,铜箔软连接生产设备,铜软连接生产设备,新能源汽车软连接,铜箔软连接焊机,铜箔焊接机,铝软连接焊机,软连接焊机。有完善检测设备和成套下料设备。我们是目前国内专门为动力电池软连接客户提供一站式服务,解决客户对动力电池软连接生产设备、生产技术人才输出的企业。多年来通过对软连接产品技术的研究、学习、交流与实践验证,结合对目前动力电池软连接市场需求的挖掘、整理和传播,整合相关行业之间的技术力量共同研究市场需求设备的开发。另外,公司已开始研究如何使目前的产品自动化、智能化,以提高产品的效率及性能。
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  • 济南日高分析仪器有限公司,是一家中日合作企业,公司致力于药品包装材料检测仪器的研发、生产、销售以及提供药包材质量控制的整体解决方案。产品涵盖:初粘性测试仪、持粘性测试仪、剥离试验机、摩擦系数仪、热封试验仪、拉力试验机、密封测试仪、顶空分析仪、瓶盖扭矩仪、撕裂度仪、测厚仪、摩擦试验机、塑料瓶(塑料袋)耐压测试仪、落标冲击仪、落球冲击仪、加热收缩率测试仪、摆锤冲击仪、泄漏与密封强度测试仪、瓶盖开启力测试仪、药包材溶剂残留检测仪、垂直轴偏差测定法、耐内压力测试、水蒸气透过量测定仪、药用铝箔取样器.济南日高分析仪器有限公司,力求更加全面、及时、周到、专业的为用户提供优质的服务!为客户创造更多价值,实现长久共赢!
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  • 赛成药包材检测中心致力于药包材检测十余年,产品涵盖药包材常见检测项目,如:安瓿瓶折断力测试仪、医药包撕拉力测试仪、圆跳动测试仪、轴偏差测试仪、偏光应力仪、壁厚测厚仪、铝箔耐破度测试仪、落球冲击试验仪等等
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铝箔测厚仪相关的仪器

  • 薄膜测厚仪_纸张铝箔测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理,严格按照标准方法进行测量,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统,大液晶显示、PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择。◎ 系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪_纸张铝箔测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理,截取一定尺寸的式样;通过控制面板按钮,调节测量头降落于式样之上;依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修,一年质保,终身提供。快速处理,1小时内响应问题,1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001:2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心,两条独立生产线,一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今,全球用户累计成交产品破万台,完善四大产品体系,50多种产品。
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  • 薄膜测厚仪_纸张测厚仪_铝箔测厚仪 CHY-C2A型号CHY-C2A测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。CHY-C2A测厚仪技术特征:严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告CHY-C2A测厚仪执行标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817CHY-C2A测厚仪技术指标:负荷量程:0 ~ 2 mm(常规)     0 ~ 6 mm;12 mm (可选)分辨率:0.1 μm测量速度:10 次/min (可调)测量压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)     注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制电源:AC 220V 50Hz外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重:32kgCHY-C2A测厚仪仪器配置:标准配置:主机、标准量块一件选购件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机
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  • 台式铜箔测厚仪 电子铝箔厚度仪CHY-C2A采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。台式铜箔测厚仪 电子铝箔厚度仪CHY-C2A技术特征:严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告执行标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817台式铜箔测厚仪 电子铝箔厚度仪CHY-C2A技术指标:负荷量程:0~2 mm(常规)     0~6 mm;12 mm (可选)分辨率:0.1 μm测量速度:10 次/min (可调)测量压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)     注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制电源:220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重:32kg台式铜箔测厚仪 电子铝箔厚度仪CHY-C2A仪器配置:标准配置:主机、标准量块一件选购件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机
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铝箔测厚仪相关的资讯

  • 天津港东SGC-10型薄膜测厚仪新品发布
    SGC-10薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪,由我公司与美国new-span公司合作研制,填补了国内多项空白。该产品采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数(折射率n,消光系数k)。它通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱,用相应的软件来拟合运算,得到单层或多层膜系各层的厚度d,折射率n,消光系数k。该设备关键部件均为国外进口,也可根据客户需要整机进口。详细信息可直接登录我公司网站www.tjgd.com 。或者来电咨询 022-83711190 。
  • 兰光发布铝箔针孔检测仪 药用铝箔针孔度检查台新品
    铝箔针孔检测仪 药用铝箔针孔度检查台SBG-80T针孔检测台,由D6500高显色性超级光管与精密制造的投光机构组成。各项技术指标充分满足CIE国际照明委员会及CY3-91标准有关色评价与配色比色照明条件的规定。可全天候应用于铝箔针孔度的测试。SBG-80T针孔检测台专业技术:进口CIE D65 光源配置光谱稳定、显色准确符合标准的钢化玻璃,照度规范、光照均匀、可靠安全配置光源寿命自动计时器,方便用户及时了解仪器的运行情况测试原理:在规定的环境及灯箱光源下,利用铝箔针孔的透光性,观察铝箔针孔数量,并测量针孔的尺寸。测试标准:该仪器参照多项国家和国际标准:GB/T 3198、GB/T 22638.2、YBB 00152002-2015测试应用:基础应用:药用铝箔——适用于药品包装用铝箔针孔度测试工业铝箔——适用于工业用铝箔针孔度测试SBG-80T针孔检测台技术指标:观察尺寸:400×250mm色温:6500 K玻璃透射光照度:1000Lux左右使用环境光照度:20Lux-50Lux放大倍数:100倍最小刻度值:0.01mm电源:220VAC 50Hz/ 120VAC 60Hz外形尺寸:800mm(L) × 600mm(W) × 230mm(H)净重:10 kg产品配置:标准配置:主机、显微镜创新点:1、推出的新产品,用于铝箔材料针孔检测2、实验效率高,坚固耐用,外形美观铝箔针孔检测仪 药用铝箔针孔度检查台
  • 喜爱72DL PLUS超声波测厚仪的8个理由
    72DL PLUS™ 超声波测厚仪,一款能够测量超薄和多层材料的高频高速仪器。这款便携式、易于操作的仪器可以解决各行业的广泛性的棘手的厚度测量应用,比如汽车、航空航天、制造和发电等行业。为了帮助您熟悉,本文将探讨我们在您的检测工作流程中采用72DL PLUS测厚仪的主要原因。精密测厚:如何开始与如何进行更高的频率使您能够测量更薄的测试材料。过去,大多数精密超声波测厚仪的最大频率限于为20 MHz左右,最小测量厚度仅为0.005英寸(0.127 mm)左右。现在,72DL PLUS测厚仪驱动频率高达125 MHz,您可以进行超过传统超声波测厚仪最小厚度能力的测量,最小测量厚度为0.001英寸(0.025 mm)或更薄。72DL PLUS测厚仪的高速(高达2 kHz测量速率和60 Hz屏幕刷新)足以优化您的测量工作流程,无论您使用的是高频或低频的探头。这个能力结合用户友好的界面,使72DL PLUS测厚仪成为支持不同频率的大厚度范围测量的利器。以下是推荐采用72DL PLUS测厚仪的八个原因:测量比以往更薄的材料使用72DL PLUS测厚仪,基于应用,可以测量单层材料低至约0.0005英寸(0.0127 mm)。例如,您可以测量低至0.008英寸(0.20 mm)单层钢片和约0.0005英寸(0.0127 mm)单层塑料膜。要注意的是,最小厚度测量能力取决于探头频率、探头类型和待测试材料。一次显示多达6层的厚度激活多层测量软件选项,72DL PLUS测厚仪可以测量一系列多层材料,包括油漆、塑料、金属和涂层。它甚至具有同时显示多达六层厚度的能力,比38DL PLUS ™ 多出两层测量能力。高速厚度测量高速厚度测量对于时间敏感应用(如涡轮叶片测量)非常重要。作为一款测量速度高达2 kHz的高速仪器,极大地提高了生产车间的周转率。通过5种多功能测量视图监测厚度变化虽然我们的手持式测厚仪的屏幕较小,但72DL PLUS测厚仪采用全彩7英寸的触摸屏,具有高可视性。仪器支持五种不同测量视图—A扫描、B扫描、A/B扫描、趋势线和缩放,以帮助发现和跟踪厚度变化。简易设置简化厚度测量该测厚仪简化了日常厚度测量的仪器设置过程,无需在每次测量之前手动选择和调整设置。只需进入启动屏幕上的“我的应用”菜单,菜单将引导您完成创建应用程序的每个步骤。或者,您可以使用PC接口应用程序从电脑创建应用程序。易于收集、回顾和管理厚度数据内置数据记录和机载文件管理实现了高效的厚度数据采集和处理,而电脑端的PC界面应用程序支持交互工具,便于查看和管理多个设备和部件的数据。通过无线进行连接,仪器可以支持连接到‘云’端,实现工业4.0实践。它能够连接到奥林巴斯科学事业云™ (OSC),助您访问基于云的免费的的功能。工业环境中的更耐用与我们所有的测厚仪一样,该仪器的设计目标是在恶劣的工业环境中延长运行时间。它具有较好的坚固性(MIL-STD-810G),做好意外跌落或冲击的防护,并可抵抗灰尘和湿气(设计符合IP65)。该仪器可在高温和寒冷气候下进行可靠测量,工作温度范围广(–10°C至50°C或14°F至122°F)。兼容各种探头于不同厚度应用72DL PLUS测厚仪与标准频率(0.2–30 MHz)和高频(20–125 MHz)探头兼容。为了支持超薄材料测量的应用,我们扩大了高频探头的产品线。M2102(75 MHz)和M2104(125 MHz)是耐用的接触式探头,可实现非常小的频率衰减和理想的检测范围。其它探头解决方案,包括改进的给水耦合装置,均在开发中,以支持客户的特定需求。OLYMPUS现有的用于超薄材料测量的高频探头的一部分。从左到右:B126给水耦合装置和M2104探头

铝箔测厚仪相关的方案

铝箔测厚仪相关的资料

铝箔测厚仪相关的试剂

铝箔测厚仪相关的论坛

  • 涂层测厚仪和超声波测厚仪的不同之处

    涂层测厚仪和超声波测厚仪的不同之处涂层测厚仪:磁性和电涡流两种测量方法,可无损地检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢铁合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)以及非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等。 超声波测厚仪是利用超声波的原理对金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他任何超声波的良导体进行测量。一般是用在工业生产领域中对材料或零件做精确测量,其另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。  超声波测厚仪http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=374是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。按此原理设计的测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量,也可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。  超声波测厚仪分为普通型与涂层型,普通型一般需要将测量点打磨出金属光泽后测量,涂层型分为只测量涂层厚度和透过涂层测母材两种;因为波的反射原理,只测量涂层厚度的超声波测厚仪品牌较多,而透过涂层测母材的超声波测厚仪较少。  测厚仪应用领域  由于超声波处理方便,并有良好的指向性,超声技术测量金属,非金属材料的厚度,既快又准确,无污染,尤其是在只许可一个侧面可按触的场合,更能显示其优越性,广泛用于各种板材、管材壁厚、锅炉容器壁厚及其局部腐蚀、锈蚀的情况,因此对冶金、造船、机械、化工、电力、原子能等各工业部门的产品检验,对设备安全运行及现代化管理起着主要的作用。  超声清洗与超声波测厚仪仅是超声技术应用的一部分,还有很多领域都可以应用到超声技术。比如超声波雾化、超声波焊接、超声波钻孔、超声波研磨、超声波液位计、超声波物位计、超声波抛光、超声波清洗机、超声马达等等。超声波技术将在各行各业得到越来越广泛的应用。

  • 超声波测厚仪的应用领域介绍

    超声波测厚仪由于处理方便,非金属材料的厚度,并有良好的指向性,超声技术测量金属,既快又准确,无污染,尤其是在只许可一个侧面可按触的场合,更能显示其优越性,超声波测厚仪广泛用于各种板材、管材壁厚、锅炉容器壁厚及其局部腐蚀、锈蚀的情况,因此对冶金、造船、机械、化工、电力、  方法  使用超声波测试误差减少方法,超声波测厚仪被测物表面的光洁度关系很大,一般表面生锈的物体要用砂纸打磨下这样测出厚度更精确,超声波测厚仪对表面有电镀层的、有油漆测量厚度是要选用单晶探头,单晶探头的超声波测厚仪可以回波-回波模式,无需去除油漆涂层而测量厚度。  国家标准  GB11344-1989接触式超声波脉冲回波法测厚  检定规程:  JJF1126-2004超声波测厚仪校准规范  预防及注意  1、正确选用测厚探头  (1)测曲面工件,采用曲面探头护套或选用小管径专用探头(φ6mm),可较精确的测量管道等曲面材料。  (2)对于晶粒粗大的铸件和奥氏体不锈钢等,应选用频率较低的粗晶专用探头(2.5MHz).  (3)测高温工件,应选用高温专用探头(300-600°C),切勿使用普通探头。  (4)探头表面有划伤,可选用500#砂纸打磨,使其平滑并保证平行度。如仍不稳定,则考虑更换探头。  2、对被检物表面进行处理。  通过砂、磨、挫等方法对表面进行处理,降低粗糙度,同也可以将氧化物及油漆层去掉,露出金属光泽,使探头与被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果。  3、正确识别材料,选择合适声速。  在测量前一定要查清被测物是哪种材料,正确预置声速。对于高温工件,根据实际温度,按修正后的声速预置或按常温测量后,将厚度值予以修正。此步很关键,现场检测中经常因忽视这方面的影响而出错。  4、正确使用耦合剂。  首先根据使用情况选择合适的种类,当使用在光滑材料表面,可以使用低粘度的耦合剂 当使用在粗糙表面、垂直表面及顶表面,应使用粘度高的耦合剂。高温工件应选用高温耦合剂。其次,耦合剂应适量使用,涂抹均匀,一般应将耦合剂涂在被测材料的表面,但当测量温度较高,耦合剂应涂在探头上超声波测厚仪用超声波在介质中的脉冲反射对物体进行厚度测试称超声测厚超声波测厚仪主要有主机和探头两部分组成。主机电路包括发超声测厚仪射电路、接收电路、计数显示电路三部分,由发射电路产生的高压冲击波激励探头,产生超声发射脉冲波,脉冲波经介质介面反射后被接收电路接收,通过单片机计数处理后,经液晶显示厚度数值,它主要根据声波在试样中的传播速度乘以通过试样的间的一半而得到试样的厚度  自然界的声波以频率可以划分为三大类:次声、声、超声。频率低于20Hz的波动称为次声 频率在20-20kHz之间的波动称为声 频率在20KHz以上的波动称为超声。我们人耳可以听见声但是听不见次声和超声。我们超声医学应用的是超声,频率在MHz数量级。超声和可闻声本质上是一致的,它们的共同点都是一种机械振动,通常以纵波的方式在弹性介质内传播,是一种能量的传播形式,其不同点是超声频率高,波长短,在一定距离内沿直线传播,具有良好的束射性和方向性。  应用

铝箔测厚仪相关的耗材

  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • TT30超声波测厚仪
    TT30超声波测厚仪TT30超声波测厚仪超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300(智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理,TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理  超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标  测量范围: 0.75mm~300.0mm   显示分辨率:0.1/0.01mm(可选)  测量精度:± (1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度   管材测量下限(钢):&Phi 15mm× 2.0mm   最小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或最小厚度值  数据输出:RS232接口,可与TA220S微型打印机或PC连接  数据存储:可存储500个测量值和五个声速值  报警功能:可设置限界,对限界外的测量值能自动蜂鸣报警  使用环境温度:不超过60℃   电源:二节AA型1.5V碱性电池  工作时间:可达100小时  外形尺寸:152mm× 74 mm× 35 mm   重量:370g
  • 聚合物薄膜测厚仪配件
    聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法,使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标:例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg),热分解温度,薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据,能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据,并且能够控制薄膜加热和制冷的速度,是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究,例如:薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究,薄膜光学性质随温度的变化,薄膜预烘烤Post Apply Bake,光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量,这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的,背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks,给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能,光刻薄膜的热处理影响分析,Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5%分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:13.5kg 电力要求:110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度
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