铝箔测厚仪

薄膜测厚仪_纸张铝箔测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪_纸张铝箔测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

薄膜测厚仪_纸张测厚仪_铝箔测厚仪 CHY-C2A型号CHY-C2A测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。CHY-C2A测厚仪技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告CHY-C2A测厚仪执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817CHY-C2A测厚仪技术指标：负荷量程：0 ～ 2 mm（常规）　　　　　0 ～ 6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：AC 220V 50Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kgCHY-C2A测厚仪仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机

台式铜箔测厚仪 电子铝箔厚度仪CHY-C2A采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。台式铜箔测厚仪 电子铝箔厚度仪CHY-C2A技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817台式铜箔测厚仪 电子铝箔厚度仪CHY-C2A技术指标：负荷量程：0～2 mm（常规）　　　　　0～6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg台式铜箔测厚仪 电子铝箔厚度仪CHY-C2A仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机

高精度薄膜测厚仪TY-CH50高精度纸张测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。测试原理：测厚仪采用接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。适用范围：测厚仪适用于5mm范围内各种薄膜、薄片、隔膜、复合膜、纸张、纸板、玻璃、箔片、硅片、金属箔片、硬片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料等硬质和软质材料厚度准确测量。分辨率达0.1um，广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。薄膜：用于薄膜、薄片、电池隔膜、电容薄膜材料等软质材料厚度测量。铝箔：对金属箔片、硬片等硬质材料厚度测量。纸张：用于各种纸张、纸板材料厚度测试。硅片：接触式测试原理有效的检测出硅片上每个点的厚度值。技术特征：●彩色大液晶显示测试结果，及每次测量值、统计值；●测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差 ●配备微型打印机，快速打印每次测量结果及统计大小值、平均值；●支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能 ●严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制 ●配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小；●测试软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户；●配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输；●系统程序具备ISP在线升级功能，可提供个性化服务。设备指标:规 格参 数测量范围0-5mm(可根据需要定做合适夹具)测量压力17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）测量精度±0.5um分辨率0.1um精度0.5级接触面积50mm2（薄膜），200mm2（纸张） 注：纸张需定制测量速度10c/min (可调)外形尺寸450mm×340mm×390mm电源AC220V 50Hz净重30kg执行标准：GB/T 6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法GB/T 451.3-2002纸和纸板厚度的测定GB/T 6547-1998瓦楞纸板厚度的测定法ISO 4593-1993塑料薄膜和薄板机械扫描测定厚度ISO 534-2011纸和纸板--厚度、密度和比容积的测定ISO 3034-2011瓦楞纸板--单张厚度的测定ASTM D374-1999固体电工绝缘材料厚度的试验方法ASTM D1777-1996（2007） 纺织材料厚度试验方法JIS K6250-1997硫化橡胶及热可塑性橡胶的物理试验方法通则JIS K6783-1994农业用乙烯乙酸乙烯共聚物薄膜JIS Z1702-1994包装用聚乙烯薄膜BS 3983-1989纸、纸板的厚度和层积紧度或单页紧度的测定方法BS 4817瓦楞纤维纸板厚度的测定方法TAPPI T411 纸、纸板、复合纸板厚度测定配置：标准配置：测厚仪主机、标准量块、微型打印机选用配置：测试软件、通信电缆、配重砝码、自动进样器

塑料薄膜测厚仪薄膜、包装铝箔、乳胶手套、片材、铝膜、耳挂式面罩和药用PVC硬片都是常见的包装和材料，它们都有各自的厚度，因此需要进行测量以确保其符合要求。机械接触式厚度测量仪器是一种可靠的测量工具，可以用于测量这些材料的厚度。 机械接触式厚度测量仪器是一种常见的厚度测量仪器，它具有高精度和高可靠性，可以用于测量各种材料的厚度。该仪器采用机械接触式测量原理，即通过测量被测材料表面和测量头之间的距离来计算材料的厚度。 在薄膜和包装铝箔的厚度测量中，机械接触式厚度测量仪器可以准确地测量它们的厚度。由于薄膜和包装铝箔的材质比较柔软，因此需要选择合适的测量头和测量压力，以确保测量结果的准确性。在乳胶手套的厚度测量中，该仪器可以准确地测量其厚度，但由于乳胶手套的弹性较大，因此需要采用特殊的测量方法来减小误差。 片材、铝膜、耳挂式面罩和药用PVC硬片的厚度也可以使用机械接触式厚度测量仪器进行测量。对于这些材料，需要选择合适的测量头和测量压力，以避免对材料表面造成损伤。同时，在测量过程中需要注意保持仪器的稳定性和清洁度，以避免误差的产生。 机械接触式厚度测量仪器是一种可靠的测量工具，可以用于测量各种材料的厚度。在使用该仪器时需要注意选择合适的测量头和测量压力，并保持仪器的稳定性和清洁度。同时，需要根据不同的材料选择不同的测量方法和参数设置，以确保测量结果的准确性。此外，需要定期对仪器进行校准和维护，以保证其精度和使用寿命。 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制） 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 塑料薄膜测厚仪此为广告

高精度薄膜片材测厚仪 厚度测量仪 仪器简介：行业标准中关于薄膜、片材、铝箔铜箔片等厚度的测量采用的接触式测量方式，济南赛成科技根据GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645等标准研发的CHY-CA薄膜测厚仪即为该测量方式。CHY-CA仪器采用进口优质传感器，测厚分辨率高达0.1微米选用优质传动元件，确保了试验结果的稳定性与准确性。赛成 CHY-CA高精度薄膜、片材测厚仪 性能特点： （1）严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制?（2）测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差?支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。（3）实时显示测量结果的大小极限值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断?（4）系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果赛成 CHY-CA01高精度薄膜、片材测厚仪测试标准ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817赛成 CHY-CA01高精度薄膜、片材测厚仪 应用领域基础应用：薄膜、薄片、隔膜 、纸张、纸板 、箔片、硅片 、金属片 、纺织材料 、固体电绝缘体 、无纺布材料，如尿不湿、卫生巾片材等赛成 CHY-CA01高精度薄膜、片材测厚仪 技术指标测试范围： 0～2 mm（常规）0～6 mm；10 mm（可选）分辨率 ：0.1 μm测量速度 ：10 次/min （可调）测试压力 ：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积 ：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制进样步距 ：0～1000 mm进样速度 ：0.1～99.9 mm/s电 源 ：AC 220V 50Hz外形尺寸 ：461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)净重 ：32 kg

台式薄膜测厚仪应用领域对有些材料而言，厚度测量是衡量材料质量的基础手段。测量的对象往往是对厚度有较高要求的材料，例如薄膜、塑料、橡胶、纸张、纺织品、金属箔片（铝箔、铜箔、锡箔等）、板材等等。测量厚度的目的也逐渐由控制外观质量发展成为保证材料进一步完善加工的主要方法。因此，以节约成本、提高工业化生产效率为目的，材料厚度的测量受到了各行各业的广泛关注。 薄膜等包装材料厚度是否均匀一致，是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。厚度测量仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。 技术特征 配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果 打印大，小值、平均值及每次测量结果，方便用户分析数据 仪器自动保存至多100组测试结果，随时查看并打印 标准量块标定,方便用户快速标定设备 配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小 软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户 配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 高80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T6672（塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法）、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547（瓦楞纸板的厚度测量准则）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》 产品配置 标准配置：主机、标准量块、微型打印机 选用配置：软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器台式薄膜测厚仪此为广告

高精度薄膜测厚仪应用领域对有些材料而言，厚度测量是衡量材料质量的基础手段。测量的对象往往是对厚度有较高要求的材料，例如薄膜、塑料、橡胶、纸张、纺织品、金属箔片（铝箔、铜箔、锡箔等）、板材等等。测量厚度的目的也逐渐由控制外观质量发展成为保证材料进一步完善加工的主要方法。因此，以节约成本、提高工业化生产效率为目的，材料厚度的测量受到了各行各业的广泛关注。 薄膜等包装材料厚度是否均匀一致，是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀，不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。厚度测量仪适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度精确测量。 技术特征 配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果 打印大，小值、平均值及每次测量结果，方便用户分析数据 仪器自动保存至多100组测试结果，随时查看并打印 标准量块标定,方便用户快速标定设备 配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小 软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户 配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 高80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T6672（塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法）、GB/T451.3(GB/T451.3纸张和纸板厚度测定方法)、GB/T6547（瓦楞纸板的厚度测量准则）、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 GB/T 6618-2009《硅片厚度和总厚度变化测试方法》 产品配置 标准配置：主机、标准量块、微型打印机 选用配置：软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器高精度薄膜测厚仪此为广告

仪器介绍：广州标际所生产的高端测厚仪，测厚仪，薄膜测厚仪适用于包装薄膜，片材等的氧气透过率的检测。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪功能用途GH-D型数字测厚仪是一种集光、机、电、算为一体的高精度数字测厚仪，操作方便。测量结果为数字显示。并且可以连接计算机进行自动控制。主要用于对塑料薄膜，纸张等直接测量或比较测量。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪产品特点测量精确，运行可靠，测量分辨率高达0.1微米；支持手动、自动双重测量模式；可单点测试也可多点测试自动进样间距、测量点数可调；液晶显示，可微机打印测试结果；测量过程即时显示最大值、最小值、平均值及当前值 可连接计算机,专业软件支持（可选）。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪技术参数测量范围：0~5mm分 辨 率：0.1&mu m进样间距：0~1000mm测量点数：0~10点

电子测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。 测试原理：测厚仪采用接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。适用范围：测厚仪CHY-50U适用于5mm范围内各种薄膜、薄片、隔膜、复合膜、纸张、纸板、玻璃、箔片、硅片、金属箔片、硬片、纺织材料、固体电绝缘体、无纺布材料等硬质和软质材料厚度准确测量。分辨率达0.1um，广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。技术特征：●彩色大液晶显示测试结果，及每次测量值、统计值；●测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差 ●配备微型打印机，快速打印每次测量结果及统计大小值、平均值；●支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能 ●严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制 ●配备专用自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小；●测试软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户；●配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输；●系统程序具备ISP在线升级功能，可提供个性化服务。 设备指标:规 格参 数测量范围0-5mm(可根据需要定做合适夹具)测量压力17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）分辨率0.1um接触面积50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：纸张需定制测量速度10c/min (可调)外形尺寸454mmx352mmX500mm电源AC220V 50Hz净重30kg执行标准：GB/T 6672-2001 塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法GB/T 451.3-2002 纸和纸板厚度的测定GB/T 6547-1998 瓦楞纸板厚度的测定法ISO 4593-1993 塑料薄膜和薄板机械扫描测定厚度ISO 534-2011 纸和纸板--厚度、密度和比容积的测定ISO 3034-2011 瓦楞纸板--单张厚度的测定ASTM D374-1999 固体电工绝缘材料厚度的试验方法ASTM D1777-1996(2007) 纺织材料厚度试验方法JIS K6250-1997 硫化橡胶及热可塑性橡胶的物理试验方法通则JIS K6783-1994 农业用乙烯乙酸乙烯共聚物薄膜JIS Z1702-1994 包装用聚乙烯薄膜BS 3983-1989 纸、纸板的厚度和层积紧度或单页紧度的测定方法BS 4817 瓦楞纤维纸板厚度的测定方法TAPPI T411 纸、纸板、复合纸板厚度测定

济南恒品HP-CHY-G高精度薄膜测厚仪薄膜测厚仪厚度仪 济南恒品HP-CHY-G高精度薄膜测厚仪薄膜测厚仪厚度仪适用包装塑料薄膜、纸张、电容BOPP薄膜、金属铝箔、太阳能电池硅片等硬质和软质材料厚度测量。采用全自动测试模式，可连续测量也可单点测量模式，测试分辨率高达0.0001mm。测试原理采用接触式测试，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。济南恒品HP-CHY-G高精度薄膜测厚仪薄膜测厚仪厚度仪★测量头自动升降，避免了人为因素造成的系统误差★微电脑控制、大液晶显示★手动、自动双重测量模式，更方便客户选择★配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果★测厚仪自动保存 多100组测试结果，查看并打印★标准量块标定,方便用户快速标定设备GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817测量范围：0～2mm（常规）分 辨 率：0.1μm测量速度：10次/min（可调）测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)净 重：30kg标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器

产品简介：SGC-10薄膜测厚仪，适用于介质，半导体，薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪，是与美国new-span公司合作研制的，采用new-span公司先进的薄膜测厚技术，基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数（折射率n，消光系数k）。它通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱，用相应的软件来拟合运算，得到单层或多层膜系各层的厚度d，折射率n，消光系数k。产品型号SGC-10薄膜测厚仪主要特点1、非接触式测量，用光纤探头来接收反射光，不会破坏和污染薄膜；2、测量速度快，测量时间为秒的量级；3、可用来测薄膜厚度，也可用来测量薄膜的折射率n和消光吸收k；4、可测单层薄膜，还可测多层膜系；5、可广泛应用于各种介质，半导体，液晶等透明半透明薄膜材料；6、软件的材料库中整合了大量材料的折射率和消光系数，可供用户参考；7、内嵌微型光纤光谱仪，结构紧凑, 光纤光谱仪也可单独使用。8、强大的软件功能：界面友好，操作简便，用户点击几下鼠标就可以完成测量。便捷快速的保存、读取测量得到的反射谱数据数据处理功能强大，可同时测量多达四层的薄膜的反射率数据。一次测量即可得到四层薄膜分别的厚度和光学常数等数据。材料库中包含了大量常规的材料的光学常数数据。用户可以非常方便地自行扩充材料数据库。9、仪器具有开放性设计，仪器的光纤探头可很方便地取出，通过仪器附带的光纤适配器（如图所示）连接到带C-mount适用于微区（10μm，与显微镜放大率有关）薄膜厚度的显微镜（显微镜需另配），就可以使本测量仪测量。技术参数1、厚度范围： 20nm-50um（只测膜厚），100nm-25um（同时测量膜厚和光学常数n，k），根据薄膜材料的种类，其范围有所不同。2、准确度： 1nm或0.5%3、重复性： 0.1nm4、波长范围： 380nm-1000nm5、可测层数： 1-4层6、样品尺寸： 样品镀膜区直径1.2mm7、测量速度： 5s-60s8、光斑直径： 1.2mm-10mm可调9、样品台： 290mm*160mm10、光源： 长寿命溴钨灯（2000h）11、光纤： 纯石英宽光谱光纤12、探测器： 进口光纤光谱仪13、电源：AC110V-240V，50HZ-60HZ产品规格尺寸：300mm*300mm*350mm，重量：18kg

一、 BOWMAN 分析仪器介绍美国博曼是全球涂镀层测厚和元素分析仪器的领军品牌。 博曼拥有超过 30 年的行业经验，并始终保持创新，致力于为市场提供精准、高效 和具有性价比的涂镀层检测设备。目前，博曼已在全球四大洲 20 多个国家建立销 售和服务网络，为客户提供灵活高效的镀层厚度测量和元素分析解决方案。博曼中国在上海设有演示应用中心，备品备件库，并在深圳，杭州，西安设有办事处。可以为中国地区的客户提供极佳的镀层厚度检测方案及快速优质的售后服务。二 、 BOWMAN 产品介绍美国博曼（Bowman）是高精度台式镀层测厚仪供应商，博曼 XRF 系统搭载拥有自 主知识产权的镀层检测技术和先进的软件系统，可精准高效地分析金属镀件中元素 厚度和成分。博曼 XRF 系统可同时测量包含基材在内的五层元素，其中任何两层元 素可以是合金。 博曼 XRF 系统使用高端定制的微聚焦 X 射线管作为能量源，恒温的 Si-PIN 的二极管 作为探测器，然后通过多通道放大器对辐射光子进行分类和统计。最终，博曼 Xralizer 软件经过独特的算法来计算辐射光子的厚度，从而获得测量结果。 通过微焦点相机对准 X 射线光学轴线选择样品的测试区域。由聚焦激光控制的平台 能容纳不同高度的样品。 博曼 XRF 镀层测量系统满足业界对精度，可靠性和易用性的最严格要求。紧凑且符 合人体工程学的设计让应用分析变得更简便，更高效。博曼致力于通过提供合理的 价格和优质的产品满足用户的快速的投资回报。三、 Bowman 的产品优势1、卓越领先的 XRF 系统高分辨率的固态探测器具有良好的元素分辨能力，无需二次滤波器，提高测量效率。 峰 位长时间保持稳定，无需频繁地进行再校准。 紧凑式的几何结构，激发源到样品的距离只有其他同类机型的三分之一，有效提高测量 精度和工作效率。32、直观的用户界面先进的软件将为仪器的性能提供有力的支持 。 博曼镀层测厚仪的分析数据拥有强大的 软件作为支持，该软件将拥有直观的用户界面，操作简单友好。测量数据可通过批次号 进行检索，报告可一键生成。用户可以无限制地创建新的应用程序和报告格式，所有结果自动保存到电脑数据库，所 有用户级别都可以设置密码保护。3、广泛的镀层厚度测量范围博曼 XRF 镀层测厚仪 可对 13 号铝元素到 92 号铀元素进行高精度测量分析可分析单层镀层： Au， Ag， Ni， Cu， Sn， Zn 等合金镀层： ZnNi 合金， SnPb 合金等镀层厚度和成分比例同时分析双层镀层： Au/Ni/Cu， Sn/Ni/Cu， Cr/Ni/Fe 等4三层镀层： Au/Pd/Ni/Cu 等最多可分析 5 层镀层可同时分析 25 种元素成分可分析电镀溶液中的金属离子浓度可分析 ROHS 有害元素4、同类最佳的服务支持博曼为用户提供的 XRF 技术支持和服务享誉业界。目前，除美国芝加哥总部外，博曼已 在全球四大洲二十余个国家建立了办事处或机构。博曼始终致力于通过提供高质量的现 场技术支持服务，从而成就用户。因此，博曼拥有较高的用户回头率。在中国上海设有演示应用中心，培训中心及备品配件库，在深圳，杭州，西安设有办事 处。有能力为客户提供极佳的镀层厚度检测方案和快速优质的售后服务。

一、超声波测厚仪产品概述:本仪器是智能型超声波测厚仪，采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等多个领域。二、超声波测厚仪技术参数:项目单位性能指标和功能显示方法高对比度的128*64液晶显示，高亮度EL背光；测量范围mm0.75 ~ 600.0（钢）材料声速m/s1000 ~ 9999分辨力mm0.01示值精度误差mm测量范围 0.28 ~ 3.3时，分辨力0.01，允许误差±0.05测量范围3.3 ~ 99.99时，分辨力0.01，允许误差±（1‰H+0.04）测量范围100.0 ~ 300.0时，分辨力0.01，允许误差±3‰H测量范围300.0 ~ 600.0时，分辨力0.01，允许误差±5‰H注：H为测量的厚度测量周期单点测量时每秒钟6次；校正模式配机试块4mm自动校正 /用户自定义校正（单点校正 /双点校正）测量功能最小读数俘获、平均测量、设限测量、差值测量 等软件功能可选测量模式R-B1（发射脉冲至一次回波）动态测声速功能可利用输入已知厚度，动态扫查测读被测工件的声速智能电源功能开机闲置一段时间后，仪器会自动关机电池低压指示蜂鸣器校准提示、超限提示存储40组测厚数据（仅测量值，声速值）40组参数数据集（包括测量值、仪器设置等参数）语言中文/英文 可选单位制式公制（mm）/英制（inch）可选工作时间h≥30供电模式二节5号电池工作温度℃-10 ~ 40重量g约245g（含电池）尺寸mm145mm×74mm×32 mm（高×宽×厚）三、超声波测厚仪主要功能:l适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度；l可配备多种不同频率、不同晶片尺寸的探头使用；l已知厚度可以反测声速，以提高测量精度；l具有耦合状态提示功能；l有EL背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；l有剩余电量指示功能，可实时显示电池剩余电量；l具有自动休眠、自动关机等节电功能；l小巧、便携、可靠性高，适用于恶劣的操作环境，抗振动、冲击和电磁干扰；四、超声波测厚仪工作原理:本超声波测厚仪对厚度的测量，是由探头产生超声波脉冲透过耦合剂到达被测体，一部分超声信号被物体底面反射，探头接收由被测体底面反射的回波，精确地计算超声波的往返时间，并按下式计算厚度值，再将计算结果显示出来。式中： H－测量厚度； v－材料声速；t－超声波在试件中往返一次的传播时间。

DM6100型X射线测厚仪 用于钢带、铜带、铝带、铝箔等的非接触式在线厚度测量填补了国内以X光管作射源的小型X射线测厚仪的空白性价比大大优于以同位素放射源作射源的测厚仪价格仅为国外同类产品的五分之一 CMC 沪制02280027 概述 DM6100型X射线测厚仪可用于各行各业中各种塑料薄膜、橡胶、木材、纸板、金属薄板等厚度的测量，主要用于金属轧制行业各个领域对生产线上的产品，如带钢、铜带、铝带、铝箔等进行动态状态下的厚度测量，可输出厚度信号到AGC系统，以实现厚度的闭环调节。具有不接触被测物体、连续、快速、准确测量等优点。DM6100型X射线测厚仪采用X光管作X射线源，相比于国内目前绝大部分以同位素放射源作X射线源的X射线测厚仪，具有很大的优越性。首先，可以免除使用同位素放射源带来的复杂审批程序、高额管理成本、尤其是仪器报废其放射源的回购成本。其次，本测厚仪采用本公司开发的特有的射源控制技术，其X射线源的能量和强度连续可调，可保证在最大测量厚度范围内的每个厚度都达到最佳测量精度，而同位素放射源一般只有一个能量，只能保证某一厚度的最佳测量精度。目前国内生产的X射线测厚仪绝大部分以同位素放射源作X射线源，而以X光管作X射线源的X射线测厚仪主要以进口的大型设备为主，价格很高，虽说近几年国内也有少数企业开始生产，但市场占有率有限，且价格也较高。DM6100型X射线测厚仪是采用小型X光管作X射线源的小型测厚仪，其性能虽略逊于进口产品，但价格远低于进口产品，也低于国内同行，只与以同位素放射源作X射线源的测厚仪相近，而性能却大大高于以同位素放射源作X射线源的测厚仪。DM6100型X射线测厚仪填补了国内以X光管作射源的小型X射线测厚仪的空白，它的推出使国内需用测厚仪的中小型企业也能用上以X光管作射源的X射线测厚仪，为用户提供了一种新的更优化的选择。用户以价格相近的DM6100型X射线测厚仪来取代以同位素放射源作射源的X射线测厚仪，不仅将因为性能的提高而极大地提高产品的质量，从而给用户带来极大的经济效益，同时将因为不用同位素放射源而提高国内的环境保护水平，从而给国家带来极大的社会效益。我们相信DM6100型X射线测厚仪定将在不远的将来取代以同位素放射源作射源的X射线测厚仪，成为X射线测厚仪市场的主导者。 特点 1. 不含同位素放射源，无三废公害，免除用户的麻烦和费用。2. 连续的非接触式测量，与AGC系统相连可以实现厚度的闭环控制。3. 大屏幕中文显示、冷阴极背光液晶、字迹清晰、明亮。4. 集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强、可靠性高。5. 测量精度高，反应速度快，稳定性好。6. 操作使用方便、快捷，维护、调试工作量小。7. 具有自诊断、误操作提示、自动校准、补偿功能。8. 屏蔽防护极好，确保辐射安全防护要求。9. 价格功能比低，适应我国国情。 主要技术指标 1. 测量范围：0.1mm～4.0mm（对钢），0.01mm～10.0mm（对铝）。 2. 钢带运行速度：0～27m/s。 3. 分辨精度：0.001mm。 4. 测量精度：±0.2%。 5. 响应时间： 100ms（对厚度变化5%响应63%）。 6. 采样周期：200ms、400ms、600ms、800ms可选择。 7. 测量噪声：0.12%。 8. 重复性： 0.2%。 9. 漂移： 长期漂移±0.24%每8小时，短期漂移±0.2%每小时。 10. 预热时间： X射源接通后1小时 11. 自动标定时间：≤20分钟。 12. 材质补偿范围：0～15%（或采用多条合金标定曲线的办法）。 13. 使用条件：环境温度：0~+40℃，相对湿度：≤95%(30℃)，电源：220V±20V，50Hz。 14. 整机功耗： ≤250W。 15. 尺寸及重量：仪表操作台：470mm×365mm×160mm，15kg。 C型架：673mm×579mm×189mm，35kg。 订货需知 DM6100型X射线测厚仪标准型主要技术指标如上所述，标准型的C型架外形规格尺寸如图1所示。如用户认为标准型的能满足测量要求请尽可能选择标准型的，因为标准型的是大批量标准化生产，价格是最便宜的。除标准型外，本公司可提供非标准型的X射线测厚仪，以满足绝大部分需用X射线测厚仪的用户的要求，其X射线光管高压最高电压可为：90kV、150kV、250kV， 最大电流可为：0.5mA、1.0mA、2.0mA，从而使测量范围提高到25.0mm（对钢），测量精度提高到：±0.05%，响应时间： 1ms。如有特殊要求，请在 订货时请提供以下信息： 测量对象量程范围轧制速度带材宽度C型架与操作台的距离测量精度响应时间轧制温度其它要求1其它要求2

DM6100型X射线测厚仪 用于钢带、铜带、铝带、铝箔等的非接触式在线厚度测量填补了国内以X光管作射源的小型X射线测厚仪的空白性价比大大优于以同位素放射源作射源的测厚仪价格仅为国外同类产品的五分之一 CMC 沪制02280027 概述 DM6100型X射线测厚仪可用于各行各业中各种塑料薄膜、橡胶、木材、纸板、金属薄板等厚度的测量，主要用于金属轧制行业各个领域对生产线上的产品，如带钢、铜带、铝带、铝箔等进行动态状态下的厚度测量，可输出厚度信号到AGC系统，以实现厚度的闭环调节。具有不接触被测物体、连续、快速、准确测量等优点。DM6100型X射线测厚仪采用X光管作X射线源，相比于国内目前绝大部分以同位素放射源作X射线源的X射线测厚仪，具有很大的优越性。首先，可以免除使用同位素放射源带来的复杂审批程序、高额管理成本、尤其是仪器报废其放射源的回购成本。其次，本测厚仪采用本公司开发的特有的射源控制技术，其X射线源的能量和强度连续可调，可保证在最大测量厚度范围内的每个厚度都达到最佳测量精度，而同位素放射源一般只有一个能量，只能保证某一厚度的最佳测量精度。目前国内生产的X射线测厚仪绝大部分以同位素放射源作X射线源，而以X光管作X射线源的X射线测厚仪主要以进口的大型设备为主，价格很高，虽说近几年国内也有少数企业开始生产，但市场占有率有限，且价格也较高。DM6100型X射线测厚仪是采用小型X光管作X射线源的小型测厚仪，其性能虽略逊于进口产品，但价格远低于进口产品，也低于国内同行，只与以同位素放射源作X射线源的测厚仪相近，而性能却大大高于以同位素放射源作X射线源的测厚仪。DM6100型X射线测厚仪填补了国内以X光管作射源的小型X射线测厚仪的空白，它的推出使国内需用测厚仪的中小型企业也能用上以X光管作射源的X射线测厚仪，为用户提供了一种新的更优化的选择。用户以价格相近的DM6100型X射线测厚仪来取代以同位素放射源作射源的X射线测厚仪，不仅将因为性能的提高而极大地提高产品的质量，从而给用户带来极大的经济效益，同时将因为不用同位素放射源而提高国内的环境保护水平，从而给国家带来极大的社会效益。我们相信DM6100型X射线测厚仪定将在不远的将来取代以同位素放射源作射源的X射线测厚仪，成为X射线测厚仪市场的主导者。 特点 1. 不含同位素放射源，无三废公害，免除用户的麻烦和费用。2. 连续的非接触式测量，与AGC系统相连可以实现厚度的闭环控制。3. 大屏幕中文显示、冷阴极背光液晶、字迹清晰、明亮。4. 集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强、可靠性高。5. 测量精度高，反应速度快，稳定性好。6. 操作使用方便、快捷，维护、调试工作量小。7. 具有自诊断、误操作提示、自动校准、补偿功能。8. 屏蔽防护极好，确保辐射安全防护要求。9. 价格功能比低，适应我国国情。 主要技术指标 1. 测量范围：0.1mm～4.0mm（对钢），0.01mm～10.0mm（对铝）。 2. 钢带运行速度：0～27m/s。 3. 分辨精度：0.001mm。 4. 测量精度：±0.2%。 5. 响应时间： 100ms（对厚度变化5%响应63%）。 6. 采样周期：200ms、400ms、600ms、800ms可选择。 7. 测量噪声：0.12%。 8. 重复性： 0.2%。 9. 漂移： 长期漂移±0.24%每8小时，短期漂移±0.2%每小时。 10. 预热时间： X射源接通后1小时 11. 自动标定时间：≤20分钟。 12. 材质补偿范围：0～15%（或采用多条合金标定曲线的办法）。 13. 使用条件：环境温度：0~+40℃，相对湿度：≤95%(30℃)，电源：220V±20V，50Hz。 14. 整机功耗： ≤250W。 15. 尺寸及重量：仪表操作台：470mm×365mm×160mm，15kg。 C型架：673mm×579mm×189mm，35kg。 订货需知 DM6100型X射线测厚仪标准型主要技术指标如上所述，标准型的C型架外形规格尺寸如图1所示。如用户认为标准型的能满足测量要求请尽可能选择标准型的，因为标准型的是大批量标准化生产，价格是最便宜的。除标准型外，本公司可提供非标准型的X射线测厚仪，以满足绝大部分需用X射线测厚仪的用户的要求，其X射线光管高压最高电压可为：90kV、150kV、250kV， 最大电流可为：0.5mA、1.0mA、2.0mA，从而使测量范围提高到25.0mm（对钢），测量精度提高到：±0.05%，响应时间： 1ms。如有特殊要求，请在 订货时请提供以下信息： 测量对象量程范围轧制速度带材宽度C型架与操作台的距离 测量精度响应时间轧制温度其它要求1其它要求2

一、超声波测厚仪HCH-2000C+概述:HCH-2000C+型测厚仪内部电路采用最新数字电子技术与微电脑技术，外部采用金属机壳制造而成，仪器 体积小、功耗低、功能强、抗摔打、抗振动、触摸按键操作更直观，是您在实际应用中的仪器。使用本仪器可以方便无损地检测锅炉、压力容器、管道、金属工 件、玻璃、塑料、有机玻璃等的厚度。　　二、产品性能　　超声波测厚仪HCH-2000C+技术指标:　　1、测量范围：0.7-350mm(45#钢)　　2、显示精度：0.1mm　　3、测量误差：1%×厚度值±0.1mm　　4、测量方式：手动存储测量　　5、存储容量：600个测量点　　6、探头频率：5MHz　　7、声速范围：1000--9990M/S　　8、电源范围：1.2-1.5V碱性电池或充电电池　　9、外型尺寸：122*50*24mm3　　10、藕合指示：被测件与探头藕合良好时，　　显示屏左上侧显示如右图:　　11、使用环境：温度-10°C~60°C 相对湿度小于90%　　12、自动断电：本仪器待机五分钟将自动关机　　三、HCH-2000C+型测厚仪配置单　　1、HCH-2000C+型主机 1台　　2、探头 ( φ8 ) 1支　　3、耦合剂 1瓶　　4、七号电池 2节　　5、使用说明书 1份　　6、保修卡、合格证 1份　　7、手提箱 1只　　测厚仪HCH-2000C+选配件：高温、铸铁、小管径探头　　选配件： 高温、铸铁、小管径探头

概述　　穿透超声波测厚仪采用超声波测量原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的材料厚度的测量。此仪器可对板材和加工零件做准确测量，另一重要方面是可以对生产设备中管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。穿透超声波测厚仪主要功能● 采用“杂波飞渡技术”，一方面可以实现超薄件的测量，最小厚度（钢）可达0.15mm；另一方面可以实现高精度测厚，分辩率可达0.001mm；● 增加双晶5M、7M探头，实现0.15-300mm的大量程高精度测量。● 两种测量模式底波-回波模式满足常规厚工件测量回波-回波模式满足薄工件测量精度高）● 可穿越表面涂层进行测量；● 探头放在测厚仪试块上按键自动调零；● 有LED背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；● 具有声速校准（反测声速）或单点校准功能；● 可以进行报警设置和差值模式设置；● 公英制转换；毫米和英寸可切换单位● 可存储5种不同材料的声速● 可选配4mm单晶探头、双晶（4mm探头、2M高穿透探头、7M小管径探头）适用材料适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。基本原理超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达背测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。技术参数项目UC750探头类型单晶、双晶测量范围0.15mm～300mm(钢)测量频率自动识别显示分辨率0.001mm（0.15-100mm）0.01mm（100-300mm）声速范围1000-9999m/s显示128*64 LCD显示，LED背光示指误差±0.005mm(5mm以下) ±0.01mm (5-20mm)，±0.1mm(20-300mm)自动关机5分钟无操作后自动关机工作温度-10℃～＋50℃，有特殊要求可达-20℃工作电压两节5#1.5V AA电池，当电量不足时，有低电压提示操作时间碱性电池最长可使用200小时（不使用背光）数据存储500个数值存储功能默认储存声速可存储5种不同材料的声速，并且连续特调。外形尺寸153mm*67mm*26 mm整机重量220g标准配置主机1台、15M单晶探头1支、5M双晶探头1支、延迟块1个、耦合剂1瓶、5号电池2节、文件1套可选配置4mm单晶探头、双晶（4mm探头、2M高穿透探头、7M小管径探头）数据传输线材料

一、云唐超声波测厚仪内部电路采用最新数字电子技术与微电脑技术，外部采用金属机壳制造而成，仪器 体积小、功耗低、功能强、抗摔打、抗振动、触摸按键操作更直观，是您在实际应用中可选的仪器。使用本仪器可以方便无损地检测锅炉、压力容器、管道、金属工 件、玻璃、塑料、有机玻璃等的厚度。　　二、产品性能　　超声波测厚仪技术指标:　　1、测量范围：0.7-350mm(45#钢)　　2、显示精度：0.1mm　　3、测量误差：1%×厚度值±0.1mm　　4、测量方式：手动存储测量　　5、存储容量：600个测量点　　6、探头频率：5MHz　　7、声速范围：1000--9990M/S　　8、电源范围：1.2-1.5V碱性电池或充电电池　　9、外型尺寸：122*50*24mm3　　10、藕合指示：被测件与探头藕合良好时，　　11、使用环境：温度-10°C~60°C 相对湿度小于90%　　12、自动断电：本仪器待机五分钟将自动关机超声波测厚仪320.jpg" alt="主图模板新超声波测厚仪320.jpg"　　三、配置单　　1、主机 1台　　2、探头 ( φ8 ) 1支　　3、耦合剂 1瓶　　4、七号电池 2节　　5、使用说明书 1份　　6、保修卡、合格证 1份　　7、手提箱 1只　　选配件：高温、铸铁、小管径探头

摘要 RX-400在线式红外线油膜测厚仪是一款可以检测无机涂层、超薄涂层和复合薄膜的仪器，主要用于钢板上氧化表膜的厚度检测如SiO2、磷化物；薄膜上聚硅酮涂层厚度检测及复合薄膜的各层厚度检测等。产品级别 高端在线适合行业 硅钢、耐指纹板、冷轧板、汽车涂油板等在线钢铁涂油量的检测样品状态 硅板表面氧化膜产品用途 （1） 钢板上氧化膜厚度检测（2） 薄膜上聚硅酮涂层厚度检测（3） 高功能薄膜的涂层厚度检测（4） 复合薄膜的各层厚度检测主要特征 （1）与X射线比较设备价格低；（2）适于在线测量，可以距离钢板等40mm检测；（3）精度高 可以检测原来的红外线膜厚度计无法测量的无机涂膜厚度及超薄涂层的厚度。技术参数 测量说明测光方式 红外反射吸收方式分光方式 旋转滤波方式(6个滤波片)测量距离 40mm(从本体部下面)测量面积 20*30mm（椭圆）装置说明检测器 尺寸：410（W）*207（D）*160（H) （不含突起部分）重量：8.5Kg中继连接器 尺寸：322（W）*113（D）*140（H) （不含突起部分）重量：4Kg电源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA数据处理部 尺寸：300（W）*275（D）*165（H） （不含突起部分）重量：6Kg电源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA外部输出 0-10V，4-20mA模拟输出（出厂时设定）使用温度 5-40°C（无结露）

超声波测厚仪是一款利用超声波测量原理，采用高速处理器、高集成芯片设计，实现便携式、无损、快速、精准地测量多种材料厚度及声速的高精度便携式测厚仪。能以恒定速度穿透物体且产生反射波的材料都可以使用。　　适用于各种材料的高精度厚度测量需求，可应用于各种金属(钢铁、不锈钢、铝、铜、等)石英、玻璃、塑料等材质的被测物体厚度测量。 只需要将探头放置于被测物体一侧的接触面上，既可以迅速准确测量出被测物体厚度。　　超声波测厚仪功能特征：　　&bull 几乎适合于所有材质的厚度测量,如：金属,玻璃,塑料等材料 　　&bull 仪器精美，小巧，直观，采用2.3寸大彩屏显示，手持式携带方便,适合现场检测　　&bull 两种测量模式：标准模式/穿透模式(穿透型专用)　　&bull 测量精度高，测量范围大，一个标准探头完成全量程　　&bull 中英文双语言版本　　&bull 蓝牙互联数据传输功能(适用于蓝牙版测厚仪)　　&bull 校准：探头标准块校准,声速校准，可通过已知厚度求声速, 通过方向键自由调整数值　　&bull 手动关机和自动关机两种，用户可随意选择 　　&bull 内置7种常用材料的声速，并可编辑，方便用户使用 　　&bull 人性化数据保存模式：大容量存储，并且可分组保存数据，可存储10组数据，每组可保存200个数据，可存储2000个数据，手动保存更有自主性，利于结果分析 　　&bull 大容量存储，查看，删除操作，方便简单　　&bull 多探头配合使用，高温环境测量可选配高温探头耐高温(300℃)

超声波测厚仪是一款利用超声波测量原理，采用高速处理器、高集成芯片设计，实现便携式、无损、快速、精准地测量多种材料厚度及声速的高精度便携式测厚仪。能以恒定速度穿透物体且产生反射波的材料都可以使用。　　适用于各种材料的高精度厚度测量需求，可应用于各种金属(钢铁、不锈钢、铝、铜、等)石英、玻璃、塑料等材质的被测物体厚度测量。 只需要将探头放置于被测物体一侧的接触面上，既可以迅速准确测量出被测物体厚度。　　超声波测厚仪功能特征：　　&bull 几乎适合于所有材质的厚度测量,如：金属,玻璃,塑料等材料 　　&bull 仪器精美，小巧，直观，采用2.3寸大彩屏显示，手持式携带方便,适合现场检测　　&bull 两种测量模式：标准模式/穿透模式(穿透型专用)　　&bull 测量精度高，测量范围大，一个标准探头完成全量程　　&bull 中英文双语言版本　　&bull 蓝牙互联数据传输功能(适用于蓝牙版测厚仪)　　&bull 校准：探头标准块校准,声速校准，可通过已知厚度求声速, 通过方向键自由调整数值　　&bull 手动关机和自动关机两种，用户可随意选择 　　&bull 内置7种常用材料的声速，并可编辑，方便用户使用 　　&bull 人性化数据保存模式：大容量存储，并且可分组保存数据，可存储10组数据，每组可保存200个数据，可存储2000个数据，手动保存更有自主性，利于结果分析 　　&bull 大容量存储，查看，删除操作，方便简单　　&bull 多探头配合使用，高温环境测量可选配高温探头耐高温(300℃)

薄膜测厚仪_高精度保鲜膜测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪_高精度保鲜膜测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

电池硅片测厚仪_薄膜测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。电池硅片测厚仪_薄膜测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

穿透超声波测厚仪+-_01.jpg" style="margin:0px padding:0px border:0px vertical-align:middle max-width:800px max-height:300% "穿透超声波测厚仪+-_02.jpg" style="margin:0px padding:0px border:0px vertical-align:middle max-width:800px max-height:300% "穿透超声波测厚仪+-_03.jpg" style="margin:0px padding:0px border:0px vertical-align:middle max-width:800px max-height:300% "穿透超声波测厚仪+-_04.jpg" style="margin:0px padding:0px border:0px vertical-align:middle max-width:800px max-height:300% "穿透超声波测厚仪+-_05.jpg" style="margin:0px padding:0px border:0px vertical-align:middle max-width:800px max-height:300% "穿透超声波测厚仪+-_06.jpg" style="margin:0px padding:0px border:0px vertical-align:middle max-width:800px max-height:300% "穿透超声波测厚仪+-_07.jpg" style="margin:0px padding:0px border:0px vertical-align:middle max-width:800px max-height:300% "穿透超声波测厚仪+-_08.jpg" style="margin:0px padding:0px border:0px vertical-align:middle max-width:800px max-height:300% "穿透超声波测厚仪+-_09.jpg" style="margin:0px padding:0px border:0px vertical-align:middle max-width:800px max-height:300% "穿透超声波测厚仪+-_10.jpg" style="margin:0px padding:0px border:0px vertical-align:middle max-width:800px max-height:300% "穿透超声波测厚仪+-_11.jpg" style="margin:0px padding:0px border:0px vertical-align:middle max-width:800px max-height:300% "穿透超声波测厚仪+-_12.jpg" style="margin:0px padding:0px border:0px vertical-align:middle max-width:800px max-height:300% "穿透超声波测厚仪+-_13.jpg" style="margin:0px padding:0px border:0px vertical-align:middle max-width:800px max-height:300% "穿透超声波测厚仪+-_14.jpg" style="margin:0px padding:0px border:0px vertical-align:middle max-width:800px max-height:300% "云唐穿透超声波测厚仪概述采用超声波测量原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的材料厚度的测量。此仪器可对板材和加工零件做准确测量，另一重要方面是可以对生产设备中管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。主要功能● 采用“杂波飞渡技术"，一方面可以实现超薄件的测量，最小厚度（钢）可达0.15mm；另一方面可以实现高精度测厚，分辩率可达0.001mm；● 增加双晶5M、7M探头，实现0.15-300mm的大量程高精度测量。● 两种测量模式底波-回波模式满足常规厚工件测量回波-回波模式满足薄工件测量精度高）● 可穿越表面涂层进行测量；● 探头放在测厚仪试块上按键自动调零；● 有LED背光显示，方便在光线昏暗环境中使用；● 具有声速校准（反测声速）或单点校准功能；● 可以进行报警设置和差值模式设置；● 公英制转换；毫米和英寸可切换单位● 可存储5种不同材料的声速● 可选配4mm单晶探头、双晶（4mm探头、2M高穿透探头、7M小管径探头）云唐穿透超声波测厚仪适用材料适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。基本原理超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达背测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。技术参数项目UC750探头类型单晶、双晶测量范围0.15mm～300mm(钢)测量频率自动识别显示分辨率0.001mm（0.15-100mm）0.01mm（100-300mm）声速范围1000-9999m/s显示128*64 LCD显示，LED背光示指误差±0.005mm(5mm以下) ±0.01mm (5-20mm)，±0.1mm(20-300mm)自动关机5分钟无操作后自动关机工作温度-10℃～＋50℃，有特殊要求可达-20℃工作电压两节5#1.5V AA电池，当电量不足时，有低电压提示操作时间碱性电池最长可使用200小时（不使用背光）数据存储500个数值存储功能默认储存声速可存储5种不同材料的声速，并且连续特调。外形尺寸153mm*67mm*26 mm整机重量220g标准配置主机1台、15M单晶探头1支、5M双晶探头1支、延迟块1个、耦合剂1瓶、5号电池2节、文件1套可选配置4mm单晶探头、双晶（4mm探头、2M高穿透探头、7M小管径探头）数据传输线材料声速表材料声速（m/s）铝6340--6400钢5920不锈钢5740黄铜4399铜4720铁5930铸铁4400--5820铅2400尼龙2680银3607金3251锌4170钛5990锡2960丙烯酸（类）树脂2760环氧树脂2540冰3988镍5639树脂玻璃2692聚苯乙烯2337陶瓷5842聚氯乙烯2388石英5639硫化橡胶2311聚四氟乙烯1422水1473

仪器简介：DC-1000B超声波测厚仪 主要技术指标 测量范围：0.8-200MM 示植精度：0.1MM 声速范围：1000-9999M/S 中文菜单.背光.自动关机。 外型尺寸：108*61*25MM 电源：220V/50HZ .技术参数：DC-2000B超声波测厚仪 主要技术指标 测量范围：0.7-250MM 示植精度：0.01MM 声速范围：1000-9999M/S 中文菜单.背光.自动关机。 外型尺寸：108*61*25MM 电源：220V/50HZ .技术参数：DC-2020B超声波测厚仪 主要技术指标 测量范围：0.7-250MM 示植精度：0.01MM 声速范围：1000-9999M/S 中文菜单.背光.自动关机。 外型尺寸：108*61*25MM 电源：220V/50HZ .技术参数：DC-2030B超声波测厚仪 主要技术指标 测量范围：0.7-350MM 示植精度：0.01MM 声速范围：1000-9999M/S 中文菜单.背光.自动关机。 外型尺寸：108*61*25MM 电源：220V/50HZ

概述　　穿透超声波测厚仪采用超声波测量原理，适用于能使超声波以一恒定速度在其里面传播，并能从其背面得到反射的材料厚度的测量。　　此仪器可对板材和加工零件做准确测量，另一重要方面是可以对生产设备中管道和压力容器进行监测，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。　　穿透超声波测厚仪主要功能　　● 采用“回波-回波”技术，可以实现超薄件的测量，最小厚度(钢)可达0.15mm 另一方面可以实现高精度测厚，分辩率可达0.001mm 还可以穿透表面镀层厚度测量基材厚度 　　● 增加穿透涂层测量基体厚度功能 　　● 两种测量：模式底波-回波模式满足常规厚工件测量 回波-回波模式满足薄工件测量精度高) 　　● 探头放在测厚仪试块上按键自动调零 　　● 有LED背光显示，方便在光线昏暗环境中使用 　　● 具有声速校准(反测声速)或单点校准功能 　　● 可以进行报警设置和差值模式设置 　　● 公英制转换 毫米和英寸可切换单位 　　● 可存储5种不同材料的声速。　　适用材料　　适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃、玻璃纤维及其他超声波的良导体的厚度。　　基本原理　　超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达背测物体并在物体中传播，到达材料分界面时被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

科电检测仪器公司成立于2002年，属于国家认证批准的高新技术企业，是中国铃先的检测仪器生产制造商。公司集研发、生产、销售和服务为一体，专业提供上等的检测仪器与全面的技术解决方案。总部坐落于山东省济宁市，公司厂区占地面积18800多平方米。公司技术力量雄厚，拥有完善的生产工艺、精湛的技术开发及生产实力。科电公司多年来始终坚持“用心制造、成就精品”的产品开发目标，秉承“科学管理、精心制造、优质服务、追求卓越”的质量方针，全面建立质量管理体系，经过10年的不懈努力，目前已发展壮大成为资产过亿、员工上百，并拥有3家控股公司及多家办事处的企业，产品涉及超声检测、涂装检测、埋地管线检测、红外检测、气体检测等多个领域的高科技产业型经济实体。公司目前生产产品有：HCH系列超声波测厚仪、MC系列涂镀层测厚仪、MCW涡流测厚仪、FJ系列埋地管线检测仪、DJ系列电火花检漏仪、TM系列红外线测温仪、YD系列里氏硬度计等。“科技成就未来、用心制造精品”，科电公司将与时俱进，为民族工业品牌走向世界而不懈奋斗！

口服液瓶壁厚测厚仪_玻璃瓶测厚仪CHY-G 电子壁厚底厚测试仪适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度检测。仪器在传统的厚度测量仪基础上，增加了稳固瓶子的托盘，避免因瓶子摇摆不定带来的测量误差。产品特点◎ 7寸触控彩色液晶屏，微电脑控制，自动分组统计Z大值、Z小值、平均值。◎ 旋转角度位移实时显示，保证测量准确回位。◎ 满足玻璃瓶底厚和壁厚两种测试方式。◎ 测量平台新增托瓶装置支持上下调节，让测试轻松便捷。◎ 系统自带微型打印，上位机数据无限保存。◎ 专业电脑测试软件，曲线图显示，数据保存，EXCEL统计，打印A4试验报告。◎ 软件用户分级权限管理，数据统计及审计功能满足行业要求。口服液瓶壁厚测厚仪_玻璃瓶测厚仪测试原理CHY-G 电子壁厚底厚测试仪采用容栅传感技术，通过测量表头接触瓶子与镖头对应。两个系统中容栅传感器采集响应的数据，进而通过系统计算出对应的瓶壁或瓶底的厚度值。应用领域适用于制药、食品、药品等行业测量玻璃瓶瓶底及瓶壁的厚度。可满足测试输液瓶、啤酒瓶、口服液瓶、安瓿瓶、 西林瓶等产品壁厚底厚的测试。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准： YBB00332002 - 2015 、 YBB00332003 - 2015 、YBB00032004-2015、GB 1241590、GB 2641-90、GB 2639-90。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

38DL PLUS超声测厚仪： 性能高级、操作简便、坚固耐用、结果可靠38DL PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可有效地适用于几乎各种超声测厚应用，而且与几乎各种双晶探头和单晶探头完全兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的非常精确的壁厚测量。38DL PLUS测厚仪的标准配置带有很多性能强大又易于使用的测量功能，以及许多专用于某些特定应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以在非常潮湿或暴土扬沙的严酷环境中正常操作。其彩色透反VGA显示屏无论在明亮的阳光下还是在无光的黑暗中都具有非常好的可视性。测厚仪的键区非常简洁，且符合人体工程学的要求，操作人员使用单手（左手或右手）操控键区，就可以轻松访问仪器的所有功能。主要特性可与双晶探头和单晶探头兼容宽泛的厚度测量范围：0.08毫米到635毫米，具体可测厚度根据材料和所选探头而定使用双晶探头进行腐蚀测厚操作穿透涂层（THRU-COAT）和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料内部氧化层/沉积物软件选项对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米在使用频率范围为2.25 MHz ～ 30 MHz的单晶探头时，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量多层软件选项可同时对多层材料的各层进行厚度测量，最多可同时测量4层高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料厚度、声速和渡越时间的测量差分模式和缩减率模式时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可回顾的读数带有数字式滤波器的奥林巴斯高动态增益技术用于自定义V声程补偿的V声程创建功能设计符合EN15317标准这款测厚仪为何与众不同？38DL PLUS测厚仪的设计宗旨是满足苛刻的应用要求，而且其机身坚固耐用，可在野外和生产现场的恶劣条件下正常工作。无论检测现场潮湿还是多尘，寒冷还是炎热，明亮或是黑暗，38DL PLUS都可以正常完成检测工作。如果您需要一款在正常情况下，不怕撞击，不怕坠落且坚固耐用的测厚仪器，那么，符合IP67评级标准、带有橡胶保护套的38DL PLUS正是您要寻找的仪器。在恶劣环境中操作的性能袖珍型，仅重0.814公斤坚固耐用，设计符合IP67标准爆炸性气氛：可在国家防火协会规范（NFPA70）500节I级2分段D组规定的爆炸性气氛环境中安全操作，并且通过了美军标准MIL-STD-810F方法511.4程序I中规定的测试。防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810F方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波。振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810F方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。宽泛的操作温度范围带有支架的橡胶保护套彩色透反VGA显示，带有室内和室外颜色设置，具有非常好的清晰度简便操作的设计理念简洁的键区，只用单手（左手或右手）即可操控仪器操作简便的用户界面，可直接访问所有功能内置和外置microSD存储卡的存储方式USB和RS-232通讯端口可存储475000个厚度读数或20000个波形的字母数字式数据记录器可连接计算机或显示器的VGA输出默认/自定义的双晶探头设置默认或自定义的单晶探头设置密码保护功能可以锁住仪器的功能户外显示设置，A扫描模式室内显示设置，B扫描模式38-Link无线通信适配器可选配的38-Link适配器，通过蓝牙（Bluetooth）技术或无线局域网连接方式，可以使操作人员在任何现有的38DL PLUS仪器和其它设备之间传送和接收数据。38-Link适配器具有3种强大的无线通讯能力：与奥林巴斯科学云系统（OSC，Olympus Scientific Cloud）和检测项目管理器（IPM，Inspection ProjectManager）应用程序进行无线通信的能力，可使用户更有效地对检测进行管理并完成其他工作。通过蓝牙技术与奥林巴斯链接移动应用程序或其他相兼容的第三方应用程序进行通信通过蓝牙技术与可选配的Link-Wedge软件进行通信，以直接将厚度读数发送到运行Windows 10的PC机中的激活的Windows应用程序中。*针对不同的地区，无线局域网和蓝牙适配器的提供情况会有所不同。要了解更详细的信息，请与您所在地的奥林巴斯销售代表联系。数据记录器和PC机接口38DL PLUS测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器，可方便地收集和传输厚度读数和波形数据。内置存储容量为475000个厚度读数，或20000个带有厚度读数的波形32位字符的文件名称20位字符的ID#（TML#）编码9种文件格式：增量型、序列型、带自定义点的序列型、2维栅格型、带自定义点的2维栅格型、3维栅格型、3维自定义型、锅炉型及手动型每个ID#（TML）编码可最多存储4个注释注释可存储到一个ID#编码上或存储到一系列ID#编码上内置和外置microSD存储卡可以在内置和外置microSD存储卡之间拷贝文件标准USB和RS-232通信单晶和双晶探头设置的双向传输机载统计报告机载DB栅格视图，使用3种可编辑的颜色GageView接口程序通过USB或RS-232端口与38DL PLUS测厚仪通信，可以读取microSD存储卡上的数据，还可以在存储卡上写入信息可将内部文件以与Excel兼容的CSV（以逗号分隔值）格式直接导出到microSD存储卡中GageView基于Windows的GageView接口应用程序用于收集、创建、打印及管理来自38DL PLUS测厚仪的数据创建数据集和测量总结编辑所存数据显示数据集和测量总结文件，文件包含厚度读数、测厚仪设置值及探头设置值从测厚仪上下载厚度测量总结，或将厚度测量总结上传至测厚仪将测量总结导出到电子表格程序及其它程序中收集屏幕截图打印有关厚度、设置表格、统计及彩色栅格的报告升级操作软件下载和上传单晶和双晶探头的设置文件B扫描回顾机载DB栅格视图，使用3种可编辑的颜色标准配置38DL PLUS数字式超声测厚仪，交流电源或电池供电，50 Hz ～ 60 Hz。标准双晶探头的套装充电器/AC适配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）内置数据记录器GageView接口程序试块和耦合剂USB线缆橡胶保护套，带有仪器支架和颈挂带《用户手册》测量功能：穿透涂层、穿透漆层回波到回波、EMAT兼容、最小值/最大值模式、两个报警模式、差分模式、B扫描、自动调用应用、温度补偿、平均值/最小值模式