偏振测量仪

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偏振测量仪相关的厂商

  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业,行业经验30年,市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年,同中国三坐标测量行业一起成长,经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验,依托科学严谨的管理体系,配备完善的生产手段和检测条件,测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发,根据国际市场发展趋势研发的各类新产品,始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作,为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
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偏振测量仪相关的仪器

  • 偏振片 400-628-5299
    1.偏振片:通常是指将二向色性物质涂在透明薄片上制成的偏振片,此种偏振片损伤阈值较小,而且无法分离出p偏振光和s偏振光;A. OPSP系列偏振片偏振片(Plastic Sheet Polarizers)选型表:偏振片(Plastic Sheet Polarizers)型号名称尺寸(mm)通光孔径Ф0(mm)波长范围(nm)OPSP12.7偏振片Ф12.7*4mm8.9400-700OPSP25.4偏振片Ф25.4*4mm20.3400-700B. 偏振片(进口)1)偏光板示意图及尺寸图:相关说明: 1.把含有卤化银的玻璃融解,再经过热处理,延伸,研磨和还原工序而制成的偏光器件。其制作过程大致如 下:在热处理工序中沉淀出卤化银粒子,然后把玻璃加热到软化点附近并延伸,这样卤化银粒子就会变成 椭圆形,研磨后再进行氢还原,把卤化银粒子还原为银。 2.玻璃中的银椭圆粒子的长轴方向平行的电场被吸收,具有和其长轴垂直方向的电场的光通过。 3.透过方向:100W/cm2(CW)、6J/cm2、脉冲宽度13ns(脉冲)吸收方向:25W/cm2(CW)、0.1J/cm2、 脉冲宽度13ns(脉冲)有效尺寸(mm)8.5× 8.5PLC系列铬膜分束镜(SIGMA)选型表:型号保护框尺寸(mm)波长范围(nm)最小透过率(%)PLC-10-660ø 30× 6630~70083PLC-10-800ø 30× 6740~86091PLC-10-900ø 30× 6840~96094PLC-10-1060ø 30× 6960~116095PLC-10-1310ø 30× 61275~134598PLC-10-1550ø 30× 61510~1590982)薄膜偏光板示意图及曲线图:相关说明: 1.薄膜偏光板是一种薄膜滤光镜,此膜夹在两块玻璃中间,并安装在一个铝框内; 2.它不仅可以从一个非偏光中提取线偏光,而且,还可以象ND 滤光片一样用作光衰减器; 3.三种波长可选:紫外用(320~400nm);可见光用(400~700nm);近红外用(760~2000nm); 4.使两块偏光板处于通光状态(开),通过一束直线偏光{两块透过率(平行放置)} 使两块偏光板处于 不通光状态(关),没有光通过{两块透过率(正交放置)}。我们称此时的透过率为消光比。薄膜偏光板(SIGMA)选型表:型号使用波长(nm)保护框尺寸(mm)厚度(mm)通光孔径(mm)防反射膜NSPFU-30C320~400Ф30× 62.4ø 24SLAR (双面)SPF-30C-32400~700Ф30× 63ø 24BMAR(双面)SPF-50C-32400~700Ф30× 63ø 44BMAR(双面)SPFN-30C-26760~2000Ф30× 63ø 24SLAR (双面) 3)塑料薄膜偏光板(进口)示意图及曲线图:塑料薄膜偏光板(SIGMA)选型表:型号设计波长(nm)D(mm)T(mm)USP-25.4C-38400~700ø 25.40.8USP-30C-38400~700ø 30.00.8USP-50C-38400~700ø 50.00.8USP-100C-38400~700ø 1000.8C. 超快激光用偏振片(进口)曲线图、示意图及相关参数: 选型表:
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  • 偏振测量仪 400-860-5168转3067
    偏振测量仪 PAX5710-T系列由USB接口TXP5004机箱、 PAX5710系列模块和外置偏振探头组成。该系统配置了笔记本电脑,并包括所有连接探头和电脑的接线。测量波长范围可以通过添加模块和探头方便地进行扩展。 另外,Thorlabs还提供光纤耦合形式的偏振测量仪PAX5720系列,该系列的探头内置。 应用: 自由空间或光纤光偏振测量 消光比测量 偏振度测量 作为PMD5000系统中偏振测量单元 琼斯(Jones)和米勒(Mueller)矩阵测量 指标: 输入功率范围:-60dBm~10dBm 方位角精度:0.25o 椭率角精度:0.25o 归一化Stokes参数精度:S1,S2,S30.005 偏振度精度:± 0.5% 波长范围: VIS系列: 400-700nm IR1系列: 700-1000nm IR2系列: 1000-1350nm IR3系列: 1300-1700nm 最大测量速率:333次/秒 光纤输入接口:FC/PC(或根据客户要求) 自由空间输入:&Phi 3mm,发散角3mrad 模拟界面: 输出:S1,S2,S3,功率/dBm,DOP(Stokes矢量) 输入:触发 数字界面: 输出:S1,S2,S3,功率,方位角,椭率,功率比,相位差 热机时间:15min 工作温度范围:5-40oC 消光比测试仪 基于旋转偏振器技术的消光比测量仪。该台式设备提供了快速而简便的测量保偏光纤消光比的方法,可用于保偏光纤的调节等。 应用: 保偏光纤消光比测量 保偏光纤到连接器的调节 保偏光纤到光源的调节 指标: 波长范围 800-1700 nm 最大消光比 40 dB ER精度* 0.5 dB ER分辨率 0.1 dB 角度精度* 0.5° 角度分辨率 0.1° 动态范围&dagger 50 dB (-40 ~ +10 dBm) 工作温度 5 to 40 ° C 输入电压 100V, 115V, 230V +15%/-10% 所有参数在23 ± 5° C 、相对湿度 45 ± 15%有效 * 输入功率 -30 dBm &dagger 动态范围依赖特定波长 OZ optics公司消光比测试仪 特点: 测量达40dB消光比 内置RS232接口 宽波长范围:400-1000nmVIS,850-1650nmIR ER分辨率 0.01dB,角度分辨率0.3o ER测量准确读1dB,角度准确度0.5o 测量达2W连续光功率 便携式设计 记录模式,可连续测量 连接头可换 低成本,CE认证 应用: 光通讯器件制造 自动调节 质量控制和测量 产品开发 器件或系统故障排除 标准产品指标1: 型号 ER-100-IR ER-100-1290/1650-ER=40 ER-100-VIS 波长范围 850-1650nm 1290-1650nm 400-700nm 600-1000nm 2 消光比范围 30dB 850-1290nm 35dB 1290-1650nm 40dB 1290-1650nm 30dB 动态范围 47dB 40dB 消光比准确度 ± 1dB 消光比分辨率 0.01dB 角度准确度3 ± 0.5o 角度分辨率 0.3o 刷新频率(ER) 2.7Hz 刷新频率 (相对功率) 650Hz 输入功率4 50uW~1.0mW 通讯接口 RS232 电源5 通用50/60 Hz 110/220V AC/DC适配器 尺寸 65 x 90 x 184 mm 重量 0.48 kg 工作温度 -10° ~ 50° C 存放温度 -30° ~ 60° C 存放湿度 90% 1.测试条件,1550nm线形偏振光源,热机30min,温度23± 2° C 2.根据所选择的400-700nm或600-1000nm接头 3.高精度的FC连接头 4.无衰减器,带衰减器可进行高功率测量,其波长需要指定。 5.标准设备为北美供电标准,其他需单独购买
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  • SK010PA-IR偏振测量仪 ----高精度全自动保偏光纤偏振态测量系统SK010PA是一款通用型偏振分析仪,该偏振分析仪通常用于对自由空间光路和保偏光纤光路进行偏振分析与测试。可实时对四个斯托克斯参数进行测量以获取光路偏振状态(SOP),并显示在庞加莱球面上。在保偏光纤的评估和偏振对准中具有巨大优势。设备结构紧凑,即插即用,可轻松集成到现有客制系统中进行快速校准和测量,软件操作简单、功能强大。在激光束耦合到保偏光纤的偏振对准应用中,SK010PA偏振分析仪提供优化光源入射偏振方向与光纤偏振轴对齐程序,并测量该过程产生的消光比(PER)。上述过程通过连续测量出射偏振状态期间,并使光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转,保证出射偏振态尽可能接近庞加莱球面圆心。此外,SK010PA还可用于对准和量化延迟光学器件,如带有1/4波片的光纤准直器等。光纤偏振态测量仪产品特性:确定偏振状态 (SOP),包括所有四个斯托克斯参数、PER(偏振消光比)、偏振度 (DOP)、椭圆度等。USB 2.0 供电设备(控制、数据传输和电源)在庞加莱球面上显示SOP或偏振椭圆用于保偏光纤评估和偏振对准的特殊程序与用于自由光束应用的微型工作台系统、导轨或笼式系统兼容,包括兼容光纤应用的 FC APC 适配器光纤偏振态测量仪应用领域:耦合保偏光纤偏振对准 理想情况下,保偏光纤能保持耦合到光纤中的光的线性偏振态,然而在实际中,保偏光纤会在很小程度上影响偏振态,如温度、机械应力导致的弯曲和扭转等,这会使光纤出口处出现轻微的椭圆偏振。如下图所示。 SK010PA偏振测量仪提供将光源的入射偏振方向与光纤的偏振轴对齐以及测量由此产生的偏振消光比(PER) 的程序。保偏单模光纤在两种垂直的原理状态下引导耦合辐射,即光纤偏振轴(也称为慢轴和快轴)如下左图所示。 光纤耦合辐射的偏振消光比PER是耦合到光纤两个偏振轴的光功率电平之间的比值。偏振分析仪用于通过旋转光源的输入偏振轴来优化光源偏振轴与光纤偏振轴的偏振对准,见下右图。对于两个偏振轴,传播速度不同。当线偏振辐射没有精确耦合到这些状态之一时,辐射会分成两个垂直分量,分别耦合到光纤的偏振轴上。在光纤出口处,传播速度的差异会导致相移,这也取决于光纤的长度。如果该相移小于激光源的相干长度,则辐射会重新组合为椭圆偏振态。如果激光源的相干长度小于相移,则新出现的辐射部分去偏振。偏振分析仪支持两种情况的调整。SK010PA所测的SOP可在庞加莱球上可视化展示,如下图所示。在该图中,线性 SOP 位于球体的赤道上,圆极化状态位于球体的两极。偏振维持光缆输出端的预期偏振态可能会略微偏离赤道。该表示法中的倾斜角即为椭圆度 η,偏振维持光缆的偏振维持性由椭圆度 η 来表征。圆的半径表示对准的质量,对齐良好的保偏光纤状态为数据圆会收敛到一个点,即圆的中心,通常也位于庞加莱球的赤道上。测量过程分为如下两步:1、初始对准的测量 该过程首先在温度改变或小心弯曲光纤时记录出口极化状态,以引起出口极化波动。然后,一个圆圈自动拟合到数据点上,并显示平均值和PER(min)。在所示示例中,庞加莱球面上的圆具有较大的半径。2、通过反馈进行实时调整,并对优化后的对准进行测量在连续测量出射偏振态期间,光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转。当出射偏振态尽可能接近庞加莱球面的圆心时,达到接近对准。颜色编码的对数条形图有助于找到min距离。然后进行第二次测量,揭示光纤优化偏振对准的参数。自由光路测量 偏振分析仪也可以用来在自由光束的应用中设置并定义一个的明确的偏振状态。对于这类测量,激光光轴与偏振分析仪的对准是必不可少的。偏振测量仪与微工作台、使用四连杆连接的40mm笼系统或轨道系统等兼容。1/4波片调整SK0101PA偏振分析仪可用于校准和量化延迟光学器件,例如集成四分之一波片的光纤准直器。对于这些准直器,通过旋转四分之一波片来调整输出偏振。到达极值时设置圆偏振光,右旋圆偏振光位于北极,左旋偏振光位于南极。光纤偏振态测量仪技术参数:光纤偏振态测量仪配置选项:光纤偏振态测量仪交付标准:SK010PA红外线USB连接线用于 FC-APC FC-PC 光纤连接器的适配器后装式适配器 PA-AP-M4操作软件: SKPolarizationAnalyzer for WINDOWS7, WINDOWS 10, WINDOWS Vista/XP (32/64 bit)DLL更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。
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偏振测量仪相关的资讯

  • Photonic Lattice发布应力双折射测量仪新品
    在PA系类设备的基础上,加装晶圆专用的装置,可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数: 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度40x48mm到240x320mm(标准)7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制创新点:测量速度可以快到3秒。 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。 具有多种分析功能和测量结果的比较。 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。 高达2056x2464像素的偏振相机。 应力双折射测量仪
  • Photonic Lattice发布PA系列双折射测量仪新品
    PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 PA-300 主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域:光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅,蓝宝石等 技术参数:项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度6视野尺寸27x36mm到99x132mm(标准)7选配镜头视野低至7x8.4(扩束镜头)8选配功能实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制 测量案例:创新点:操作简单,测量速度可以快到3秒。 视野范围内可一次测量,测量范围广。 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。 具有多种分析功能和测量结果的比较。 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。 高达2056x2464像素的偏振相机。 PA系列双折射测量仪
  • Photonic Lattice发布Photonic Lattice双折射测量仪超大幅新品
    主要简介: 汽车车窗玻璃幅面很大,一般桌面式测量双折射/残余应力测量仪无法测量,扫描测量由非常慢,无法满足实际使用,因此Photonic Lattece研制出超大幅面的WPA双折射测量仪,会根据客户样品定制大型圆偏振光光源系统,实现大幅面样品的高速测量。设备在日本的汽车厂商得到广泛应用。主要特点: 解决汽车车窗玻璃等大幅面产品的双折射/残余应力测量。测量速度快,可满足玻璃工厂研发或质量控制测量。采用523nm,543nm,575nm三种波长,相位差测量范围高达3000nm。采用广角偏振面阵传感器,一次得到测量结果。专用操作软件,功能强大,操作简单,便于做分析比较和品质判断。 主要参数:测量案例:创新点:解决汽车车窗玻璃等大幅面产品的双折射/残余应力测量。 测量速度快,可满足玻璃工厂研发或质量控制测量。 Photonic Lattice双折射测量仪超大幅

偏振测量仪相关的方案

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  • 【资料】测量仪器的计量特性

    测量仪器的计量特性 测量仪器的计量特性是指其影响测量结果的一些明显特征,其中包括测量范围、偏移、重复性、稳定性、分辨力、鉴别力和示值误差等。为了达到测量的预定要求,测量仪器必须具有符合规范要求的计量学特性。 确定测量仪器的特性,并签发关于其法定地位的官方文件,称为测量仪器控制。这种控制可包括对测量仪器的下列运作中的一项、两项或三项: ——型式批准; ——检定; ——检验。 这些工作的目的是要确定测量仪器的特性是否符合相关技术法规中规定的要求。型式批准是由政府计量行政部门做出的承认测量仪器的型式符合法定要求的决定。所谓型式,是指某一种测量仪器的样机及(或)它的技术文件(例如:图纸、设计资料等),实质上就是该种测量仪器的结构、技术条件和所表现出来的性能。 检定是查明和确认测量仪器是否符合法定要求的程序,它包括检查、加标记和(或)出具检定证书。检验是对使用中测量仪器进行监督的重要手段,其内容包括检查测量仪器的检定标记或检定证书是否有效、保护标记是否损坏、检定后测量仪器是否遭到明显改动,以及其误差是否超过使用中最大允许误差等。

  • 叶面积测量仪测量范围是多少

    叶面积测量仪测量范围是多少

    [size=16px]  叶面积测量仪测量范围是多少  叶面积测量仪的测量范围取决于具体的仪器型号和制造商,不同型号的叶面积测量仪可能有不同的测量能力和规格。一般来说,叶面积测量仪的测量范围通常包括以下方面:  叶片面积:叶面积测量仪主要用于测量植物叶片的表面积,其范围可以从小型植物的小叶片到大型树木的大叶片。测量范围通常以平方厘米(cm2)或平方米(m2)为单位。  叶片数量:一些叶面积测量仪具有多个测量通道,可以同时测量多片叶子的面积。这对于效率和大规模叶面积测量非常有用。  叶片形状和尺寸:测量仪通常能够适应不同形状和尺寸的叶片,包括圆形、椭圆形、线性和复杂的形状。  叶片厚度:有些叶面积测量仪还可以估算叶片的厚度,从而提供更详细的叶片特征信息。  具体的测量范围将根据仪器的设计和规格而异,所以在选择叶面积测量仪时,您应该查看仪器的技术规格和制造商提供的信息,以确保它满足您的测量需求。如果需要测量较大范围的叶面积,可能需要考虑使用专业的大型叶面积测量仪或使用多次测量的方法来覆盖整个叶片。[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/09/202309151025162609_7338_6098850_3.png!w690x690.jpg[/img][/size]

偏振测量仪相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 测量仪性能指标
    产品特点:测量仪性能指标主要行业/应用测量详细信息* 制药行业 * 食品安全 * 生物农业 * 环境 * 水质* 酸碱水平 * 相关离子的电极电位值(mV) * G4383A 是只包括 3200P 测量仪的套装 * G4391A 的基本套装包括电极、电极支 架和缓冲剂 * G4392A 的组件包括三复合电极、电极 支架和缓冲剂* 环境 * 石油化工 * 食品安全 * 生物学 * 电导率 * 电阻率 * 总溶解固体(TDS) * 盐度 * 当前溶液温度值* G4384A 是只包括 3200C 测量仪的套装 * G4393A 的套装包括 3200C 测量仪、电 极和电极支架 * 环境 * 污水处理 * 自来水水源监测 * 食品安全 * 水产养殖 * 饮料生产 * 生物农业 * 科学研究* 溶解氧浓度 * 水溶液氧的饱和度 * G4385A 是只包括 3200D 测量仪的套装 * G4395A 的套装包括 3200D 测量仪、电 极和电极支架 * 食品安全 * 生物农业 * 石油化工 * 环境保护 * 科学研究 * 疾病控制*电极电位值(mV) * pX 值和离子浓度 * G4396A 是只包括 3200I测量仪的套装 * 为 G4396A 的套装包括 3200I 测量仪、 pH 电极、电极支架和缓冲剂 * 为 G4397A 的 氟 离 子 测 定 套 装 包 括 3200I 测量仪、氟离子电极、电极支架 和缓冲剂* 水质 * 疾病控制 * 环境保护 * 生物农业 * 科学研究* 可同时测量 pH/pX、离子浓度、离子 电极电位(mV)、电导率、总溶解固 体量、盐度、溶解氧量和温度 * G4378A 是只包括 3200M 测量仪的套装 * G4398A 的套装包括 3200M 测量仪、电 极、电极支架和缓冲剂 测量仪性能指标安捷伦提供了不同测量仪以满足您最具挑战性的应用。测量仪性能指标优势3200P3200C3200D3200I3200M 温度:-5.0-110.0 °C 可在很宽的温度范围内使用 测量模式:连续/定时读取/自动锁定采用一台测量仪即可进行多种方式测量点阵式液晶显示屏 快速获得实验结果 易于初学者使用数字操作键简便的操作适合于各种熟练程度的实验操作人员3200P3200I3200M 缓冲液可自动识别 可选用 NIST 和 GB 标准缓冲液 高阻抗:3 x 1012?可从众多类型电极中选择适合测定您样品的电极溶解氧 测定的准确度:±0.10 mg/L 精确测量和优异的温度补偿功能实现了卓越的溶解氧测定准 确度3200I3200M 为 H+、Ag+、Na+ 和 K+ 提供离子测量模式 NH 、 2 4+ Cl-、F-、NO 、 3- BF 、 4- CN-、Cu +、Pb2+ 和 Ca2+易于更换电极(或离子选择电极),实现多种离子灵活地分析 不同单位之间可以自由转换自动优化测量并保证结果准确离子浓度测量模式:直接读取模式、“标准”添加模式、样品 添加模式和 GRAN 作图添加模式操作方便
  • 多功能翘曲度测量仪配件
    多功能翘曲度测量仪配件是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器,一套翘曲度测试仪器可以测量:热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。多功能翘曲度测量仪配件是特别为半导体晶圆(wafer)和太阳能电池(solar cell)的翘曲度(warp) 和弯曲度(bow)以及表面形貌(topography)的测量而设计,可以测量晶圆翘曲度(wafer warpage) 和晶圆表面形貌, 晶圆应力,硅片张力,太阳能电池量子效率,既适合科研单位使用,也适合工业客户大产品、高效率的晶圆翘曲度和表面形貌的检测的需要。 我们还根据不同晶圆类型提供如下两种硅片翘曲度测量仪: 1. 非反射型:适合晶圆表面覆盖晶圆保护膜/胶带(wafer tape),图案化晶圆 /图样化晶圆(patterned wafer),粗糙的晶圆的应用; 2. 高反射型: 适合晶圆表面光滑 / 镜反射的应用。 多功能翘曲度测量仪配件特点: × 适合不同尺寸的晶圆检测,从0.5’‘到12' ' 的直径; * 标准检测能力为: 每小时可检测2000个晶圆或更多太阳能电池; × 同时测量多个晶圆或太阳能电池; × 测量镀膜后的晶圆或solar cell * 分析太阳能电池或晶圆应力和张力; * 对晶圆表面进行图像分析; * 测量图案化晶圆或非图案化的晶圆; * 具有太阳能电池的量子效率测量选项供选择 多功能翘曲度测量仪配件参数: × 翘曲度测量范围:1-20微米; * 重复精度: 百分之0.5 (1 sigma) * 给出结果:曲率半径,晶圆弯曲高度,翘曲度,测量日期和时间; * RMS粗糙度mapping: 0.5-20A (可选项); * 光源:根据用户的应用而配备不同光源; * 探测器:高分辨率探测器阵列并配备亚像素软件;
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