射线荧光光谱分析

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射线荧光光谱分析相关的厂商

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    奥龙集团传承60余年中国射线仪器研制历史 丹东奥龙射线仪器集团有限公司是中国射线仪器行业技术力量与综合实力雄厚的民营高科技企业。奥龙集团传承60年中国射线仪器研制历史。奥龙集团旗下拥有上海奥龙星迪、丹东奥龙电子、奥龙检测服务、丹东奥龙中科传感技术四个子公司。奥龙是专业X射线仪器和材料试验仪器的开发商和产品制造商,也是X射线检测解决方案的服务商。 丹东奥龙射线仪器集团有限公司坐落于辽宁省“五点一线”沿海经济带上的丹东临港产业园区;占地面积3万平方米,建筑面积1.7万平方米;拥有一支技术过硬、行业领先、经验丰富的科技队伍;拥有完善的企业管理系统和行业领先水平的现代化生产环境和研发、生产、检测设备;是中国射线仪器制造与应用服务行业的领跑者;是无损检测行业的全球领导厂商美国GE的合作伙伴。 奥龙集团产品的技术含量和质量居国内领先地位;连续荣获辽宁省名牌产品称号并主导国内市场;中国发射的“神舟载人飞船”有多项系统使用奥龙集团生产的X射线探伤设备实施无损检测并取得成功,奥龙人为中国航天事业发展做出了贡献。奥龙主要荣誉:国家首批高新技术企业通过ISO9001国际质量体系认证ISO14001国际环境管理体系认证ISO45001:2018职业健康安全管理体系通过欧盟CE认证承担国家重大科学仪器设备开发专项国家x射线实时成像高技术产业化示范工程基地全国模范院士专家工作站 辽宁省企业技术中心辽宁省著名商标辽宁省名牌产品辽宁省软件企业拥有百余项国家专利和计算机软件著作权辽宁省工业CT仪器专业技术创新中心工业CT获改革开放40周年机械工业杰出产品奖获国家级专精特新“小巨人”企业奥龙主导产品:● 工业CT● X射线衍射仪● X射线探伤机● X射线晶体定向仪● X射线数字成像检测系统● X射线荧光光谱仪● 管道爬行器● 硬度计● 微焦点X射线检测系统● 活体小动物2D、3D成像系统● 开放式微焦点X射线管● 生物学X射线辐照仪● 安全检查仪● X射线检测服务产品应用领域:● 航空航天、兵器、船舶● 电力、电子、管道检测● 铸件检测● 安检、防爆检查● 轮胎、轮毂检测● 珠宝、文物古董,岩心检测● 直缝、螺旋钢管、锅炉焊管● 医疗、生物检测● 材料质量检测 ● 植物、种子检测● 焊接质量检测● 辐照检疫检测● 管道检测● 小动物辐照研究●气瓶、压力容器检测 ● 药品、食品检测● 火车各部件检测● 蓝宝石、单晶硅定向● 岩心检测分析● 材料分析、物相分析   奥龙长期专注于无损检测、材料试验机等系列产品的研发与运营,产品不仅畅销国内市场,而且还远销美国、德国、英国、印度、澳大利亚、荷兰、马来西亚、印尼、泰国、南非、沙特阿拉伯、香港、台湾等世界五大洲的50多个国家和地区。 产品广泛应用于国防、航空航天、造船、汽车、压力容器、机械、冶金、石油化工、电子信息、输变电、耐火材料、食品安全、科技教育、卫生等行业领域。 奥龙,一个立足丹东,产品辐射国内外市场的集团企业,正以技术、管理、品牌和规模的企业优势,紧紧围绕“提升核心能力,打造奥龙国际品牌”的战略,积极推动企业向着更高水平的目标迅猛发展。地 址:辽宁省丹东市振兴区爱河大街66号 (原丹东临港产业园区富民大街46号) 销售热线:400-168-8858电 话:0415-6278777 3141333 网 址:www.aolongcn.cn传 真:0415-3458588 3458688 电子邮件:al@aolongcn.cn
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  • 布鲁克(北京)科技有限公司是布鲁克在中国的全资子公司。布鲁克中国的总部位于北京海淀区,在上海和广州设有分公司。布鲁克AXS公司负责中国区X射线类产品的销售和售后服务工作,主要产品有X射线多晶衍射仪、X射线单晶衍射仪、X射线荧光光谱仪和三维X射线显微镜。关注AXS微信公众号,获取更多X射线分析技术和产品介绍。
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  • 依科视朗国际有限公司(YXLON)是一个具有创新精神的高科技公司,专业从事工业X射线检测设备的开发制造,具有超过百年的丰富而悠久的历史,是目前世界上规模最大、系列最齐全的工业X射线检测设备制造商。YXLON的前身可追溯到1895年。当伦琴于1895年11月发现了X射线后,谬勒先生(C.H.F.Muller)吹制了世界上第一只X射线管,几周后使用这只X射线管拍出了第一张人体X光片。1896年Muller在德国汉堡开始了X光管的生产。1899年Muller申请了世界上第一只水冷X光管的专利,并于同年获得伦琴学会的金奖。1927年飞利浦全面收购了C.H.F.Muller公司,同年飞利浦研制出金属X射线管和旋转阳极X射线管。1930年推出首台为无损探伤而制做的X射线设备,亦标志着飞利浦工业X射线设备走向了新时代。1973年研制出第一只金属陶瓷X射线管(160KV/19mA),此后,逐步取代工业用玻璃X射线管。1983年把高稳定/中频高压发生器引进市场,1990年首只真正450KV金属陶瓷X射线管面世(450KV/10mA),1992年飞利浦研制出ComScan层析扫描系统而荣获德国工业部颁授的最有创意奖。1993年飞利浦工业X射线汉堡工厂荣获ISO9001品质证书,1994年飞利浦工业X射线部成员荣获“伦琴奖”。1997年飞利浦工业X射线部与丹麦ANDREX合并,1998年并购了Lumenx(美国),成为一个多国的工业X射线检测设备专业公司。为塑造一个新的专业形象,于1999年启用新的公司名称“YXLON International X-ray GmbH”和商标,总部设在汉堡,从此开创了一个新的时代。依科视朗公司作为全球性的公司,在世界各地都设有销售和服务机构,可以在世界范围内为用户提供以射线为基础的无损检测解决方案。 在航空航天、汽车制造、铁路机车、造船、压力容器、铸造等行业中,依科视朗公司以其丰富的经验提供最佳的解决方案,能够与任何现有的生产过程紧密结合,生产出符合最高级别质量和安全标准的工业产品。其产品线从最基本的X射线部件,图像处理单元,包括固定式和便携式射线机,直到标准化或客户定制的X射线系统以及CT系统。 依科视朗公司设在汉堡总部的应用实验室,拥有一支高素质的工程师和科学家组成的专家队伍,配备了最新技术的X射线装置、测试设备和图像处理系统。具有丰富经验的技术人员会对客户的检验要求进行详尽的分析,以确定射线无损检测在最大程度上满足其要求,为客户确定最佳的解决方案。 由于依科视朗的产品质量、性能、公司规模、产品门类等一直处于世界领先地位,因此享有很高声誉,在世界各地均占有较大市场份额。在中国,依科视朗的X射线系统遍及工业X射线检测应用的各个领域和行业,特别是在汽车及零部件制造行业,国内主要的汽车公司及其配套厂家等都大量使用依科视朗公司的产品。 依科视朗公司提供在工业无损检测领域里最为深入的客户支持计划,由于有来自世界各地训练有素的技术人员从最近的地点为用户服务,响应时间也可以减到最短。在中国,依科视朗公司在北京、上海、青岛、西安、贵州等地设有的办事处及维修站,配备有专业的技术工程师和零备件库存,可为国内用户提供高质量、直接快速的本地化技术咨询和售后服务。YXLON,助您发现质量背后的奥秘!
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射线荧光光谱分析相关的仪器

  • S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻(1.23kg,测量范围Mg-U)、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器,以及坚固的外壳,该外壳经过密封,可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术,并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器,向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置,这些装置经过优化,适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品,以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果,包括:1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析,材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测;2、废金属回收 3、航空航天用合金;4、金及贵金属检测 5、矿山;6、矿石品位控制 7、岩芯分析;8、探矿;9、地质图 10、土壤分析;11、金属回收;12、玩具中的铅 13、ASTM-F963;14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查
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  • 能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面,元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪,针对一些珍贵的材质,可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图,实现测量点的准确定位,拥有直观的硬件和分析软件,加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美,具有1毫米的激光定位分析点,内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上,完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大,样品台可以快速移动的设计,从而检测速度fei常快,此外,控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器(SDD) 6、采用先进的探测器技术,能量分辨率140eV(MnKα),并具有高输出计数率(OCR),可实现快速分析,同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构,可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳,滤波片和准直器,为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上,使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何,三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择,满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台,完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究,艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描,使用户免于运输,避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品,拥有先进的元素分布图和光谱解析功能,可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料,可以通过移动扫描获得元素分布,从而扩展了这些材料的应用,从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置,直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野,教室或实验室中的物体和材料.
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  • S4 TStar — TXRF全反射X射线荧光光谱仪 数十年来,X 射线荧光(XRF)光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析,检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围,可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具,可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一:30 毫米石英片:对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二:2 英寸晶片:污染分析、深度剖析和材料科学研究图三:显微镜载玻片:临床和生物学样品,直接分析细胞培养物、涂片和切片图四:矩形载体:尺寸小于54 毫米,用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用: 药品检测活性药物成分中的催化元素:液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品标准:大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测:地表水,废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。
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射线荧光光谱分析相关的资讯

  • 东西分析首次推出X射线荧光光谱仪——BCEIA 2011视频采访系列
    仪器信息网讯 2011年10月12-15日,第十四届北京分析测试学术报告会及展览会(BCEIA 2011)在北京展览馆隆重举行。为让广大网友及仪器用户深入了解BCEIA 2011仪器新品动态,仪器信息网特别开展了以“盘点行业新品 聚焦最新技术”为主题大型视频采访活动,力争将科学仪器行业最新创新产品、最新技术进展及最具有代表性应用解决方案直观地呈现给业内人士。以下是仪器信息网编辑采访北京东西分析仪器有限公司资深工程师杨东华先生的视频。   东西分析具有20多年的光谱仪器研制经验,在此次展会上,东西分析首次推出了两款新型的X射线光谱仪,XD-8000能量色散X射线荧光光谱仪和XF-8100波长色散X射线荧光光谱仪。杨东华先生在采访中向广大网友详细介绍了这两款仪器的主要特点、应用情况,以及研发历程。   杨东华先生介绍说:“东西分析研制这两款X射线荧光光谱仪,前后花了5年多的时间。在研发的过程中东西分析不断吸收目前市场上X射线荧光光谱仪的优点,改正其缺点,因而在产品的精确度、可靠性和稳定性方面都有提高。”   具体产品展示、技术特点介绍、应用领域分析,请点击查看采访视频。    关于北京东西分析   北京东西分析仪器有限公司,成立于1988年,主要业务包括分析仪器及相关产品的研发、应用服务与生产销售。经十余年艰苦奋斗,已成功自行开发生产了一系列具有高技术含量的分析仪器产品。 荣获中国“十大知名分析仪器品牌”、“分析测试协会BCEIA金奖”、“产品信得过单位”、“煤炭部定点安全仪器生产厂”等荣誉称号。
  • “X射线荧光光谱分析技术与应用新进展”网络研讨会通知
    p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1948年,世界第一台波长色散X射线荧光光谱仪研制成功,经历了70多年的发展,X射线荧光光谱仪已成为大多数实验室及工业部门不可或缺的分析仪器设备,X射线荧光光谱分析技术已在各种科研和工业领域得到广泛的应用,而且正在向更深的领域发展,为经济建设和改善人类生活发挥越来越大的作用。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 为积极推动X射线荧光光谱的快速发展,展示X射线荧光光谱最新技术及应用, strong 由仪器信息网与国家地质实验测试中心联合举办的 a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target=" _blank" span style=" color: rgb(227, 108, 9) " & quot X射线荧光分析技术与应用新进展” /span /a 网络研讨会将于8月7日举行。 /strong 此次网络会议为参会者提供一个突破时间地域限制的免费学习、交流平台,让大家足不出户便能聆听到精彩报告。 /p p style=" text-align: center" a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target=" _blank" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/62470df2-4ee7-45bb-9913-8b302d9b4aee.jpg" title=" 192042020200705.jpg" alt=" 192042020200705.jpg" / /a /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target=" _blank" span style=" color: rgb(84, 141, 212) " strong 点击图片报名参会 /strong /span /a /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-size: 18px " strong 一、会议信息 /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 主办单位: /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 仪器信息网 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 国家地质实验测试中心 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-size: 18px " strong 二、会议详情 /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1. 会议时间:2020年8月7日 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2. 会议形式:网络在线交流 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 3. 报告专家及报告题目: /strong /p table border=" 1" cellspacing=" 0" cellpadding=" 0" style=" border-collapse:collapse border:none" width=" NaN" tbody tr style=" height:39px" class=" firstRow" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 39" width=" 79" p style=" text-align:center" strong 时间 /strong /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 39" width=" 326" p style=" text-align:center" strong 报告题目 /strong /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 39" width=" 258" p style=" text-align:center" strong 专家 /strong /p /td /tr tr style=" height:37px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 37" width=" 79" p style=" text-align:center" span 09:30--10:00 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 37" width=" 326" p style=" text-align:center" span X /span 射线荧光光谱分析新技术、新进展 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 37" width=" 258" p style=" text-align:center" 邓赛文 /p p style=" text-align:center" 国家地质实验测试中心 研究员 /p /td /tr tr style=" height:37px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 37" width=" 79" p style=" text-align:center" span 10:00--10:30 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 37" width=" 326" p style=" text-align:center" 需求催生的先进检测手段 span ----XGT-9000 /span 微区 span X /span 射线荧光分析仪 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 37" width=" 258" p style=" text-align:center" 周延民 /p p style=" text-align:center" span HORIBA /span 科学仪器事业部 & nbsp 技术主管 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 10:30--11:00 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span XRF /span 在环境监测领域的应用、问题及展望 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 李玉武 /p p style=" text-align:center" 国家环境分析测试中心 研究员 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 11:00--11:30 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span MWDXRF /span 技术在油品分析领域的应用 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 张程 /p p style=" text-align:center" 上海仪真分析仪器有限公司 产品经理 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 11:30--12:00 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span X /span 射线荧光光谱在冶金分析中的应用进展 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 孙晓飞 /p p style=" text-align:center" 国家钢铁材料测试中心 高级工程师 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 14:00--14:30 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span X /span 射线荧光光谱在建材样品分析中的新应用 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 刘玉兵 /p p style=" text-align:center" 中国建材检验认证集团股份有限公司 教授级高工 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 14:30--15:00 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span X /span 射线荧光光谱在传统工业中的新技术 span / /span 新应用 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 方瑛 /p p style=" text-align:center" 岛津 产品专家 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 15:00--15:30 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span X /span 射线荧光光谱在固体废物分析中的应用 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 朱瑞瑞 /p p style=" text-align:center" 湖南省生态环境监测中心 工程师 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 15:30--16:00 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span X /span 射线荧光光谱在现场分析中的应用 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 樊兴涛 /p p style=" text-align:center" 国家地质实验测试中心 副研究员 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 16:00--16:30 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" 手持式 span X /span 射线荧分析仪在合金及矿石行业中的应用 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 钟逸 /p p style=" text-align:center" 朗铎科技 span ( /span 北京 span ) /span 有限公司 技术支持工程师 /p /td /tr tr style=" height:38px" td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 79" p style=" text-align:center" span 16:30--17:00 /span /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 326" p style=" text-align:center" span XRF /span 在商品检测方面的应用 /p /td td style=" border: 1px solid rgb(0, 0, 0) padding: 5px " height=" 38" width=" 258" p style=" text-align:center" 邱越 /p p style=" text-align:center" 原天津海关化验中心 工程师 /p /td /tr /tbody /table p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 报告嘉宾: /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong /strong /p p style=" text-align: center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/396c5c0b-3626-45fa-9112-b2541102124d.jpg" title=" 捕获.JPG" alt=" 捕获.JPG" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-size: 18px " strong 三、参会指南 /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong (一)报名方式: /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1、点击 a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target=" _blank" strong span style=" color: rgb(84, 141, 212) " “X射线荧光光谱分析技术与应用新进展”网络研讨会 /span /strong (https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/) /a 官方页面进行报名。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2、报名开放时间为即日起至2020年8月7日。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 3、为使更多用户能够通过网络平台进行学习与交流,报名参加“X射线荧光光谱分析技术与应用新进展”网络研讨会不收取注册及参会费用。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong (二)参会条件: /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1、“X射线荧光光谱分析技术与应用新进展”网络研讨会将在仪器信息网网络会议平台上举办,报告人PPT视频和讲解将实时传送给所有参会者,参会者也可通过文字向报告人提问,报告人在报告结束后统一进行解答。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2、参与网络会议听众需要自备一台能上网的电脑或智能手机,网络带宽超过128K。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong (三)参会方式: /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1、报名参会并通过审核后,将会收到邮件通知,并在会前一天收到提醒参会的短信通知。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2、会议当天进入 a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target=" _blank" span style=" color: rgb(84, 141, 212) " strong “X射线荧光光谱分析技术与应用新进展”网络研讨会 /strong /span (https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/) /a 官方页面,点击“进入会场”,填写报名时手机号,即可登录会场参会。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong /strong /p p style=" white-space: normal text-align: center " a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target=" _blank" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/62470df2-4ee7-45bb-9913-8b302d9b4aee.jpg" title=" 192042020200705.jpg" alt=" 192042020200705.jpg" style=" max-width: 100% max-height: 100% " / /a /p p style=" text-indent: 0em white-space: normal text-align: center " a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/XRF2020/" target=" _blank" span style=" color: rgb(84, 141, 212) " strong 点击图片报名参会 /strong /span /a /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-size: 18px " strong style=" text-indent: 2em " 四、联系方式 /strong /span strong br/ /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 会议联系人:吴编辑 18640355925 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 联系邮箱:wuyou@instrument.com.cn /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-size: 18px " strong 五、会议赞助商 /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 岛津企业管理(中国)有限公司、 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 堀场(中国)贸易有限公司(HORIBA) /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 朗铎科技(北京)有限公司 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 上海仪真分析仪器有限公司 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp /p p style=" text-align: right text-indent: 2em " dir=" rtl" 仪器信息网 /p p style=" text-align: right text-indent: 2em " dir=" ltr" 国家地质实验测试中心 /p p style=" text-align: right text-indent: 2em " dir=" rtl" 2020年7月& nbsp & nbsp & nbsp /p
  • 手持式X射线荧光光谱仪在高压隔离开关触头镀银层腐蚀故障分析中的应用
    摘要:针对一起110kV隔离开关触头的腐蚀故障,采用手持式X射线荧光光谱仪分析故障隔离开关触头镀层的化学成分,发现厂家使用银氧化锡(Ag-SnO2)镀层代替镀银层。分析认为在工业含硫大气环境中,Ag-SnO2镀层中的银被SO2、H2S等硫化物腐蚀,铜基体在潮湿环境下腐蚀生成Cu2(OH)2CO3,从而导致隔离开关触头导电回路的接触电阻升高,引发过热故障。针对此次故障,提出了解决措施和建议。关键词:手持式X射线荧光光谱仪;隔离开关触头;电刷镀银;银氧化锡;腐蚀中图分类号:TQ153.16 文献标志码:A 文章编号:1004 – 227X (2019)23 – 1 – 04高压隔离开关是电力系统中使用最多、应用最广的一次设备。由于高压隔离开关多在户外运行,长期受风吹、雨淋、雷电、潮气、盐雾、凝露、冰雪、沙尘、污秽,以及SO2、H2S、NO2、氯化物等大气污染物的影响,因此各部件会发生不同程度的腐蚀[1-2]。高压隔离开关触头是关键部件,承担着转接、隔离、接通、分断等任务,其工作状态的好坏直接影响整个电力系统的运行[3]。高压隔离开关触头的基体为纯铜,但纯铜易被腐蚀,会造成表面接触电阻升高,引发过热故障,影响开关设备和电网的安全稳定运行[4-6]。为了减小接触电阻,DL/T 486–2010《高压交流隔离开关和接地开关》、DL/T 1424–2015《电网金属技术监督规程》和《国家电网有限公司十八项电网重大反事故措施(2018年修订版)及编制说明》[7]中明确规定:隔离开关触头表面必须镀银,且镀银层厚度不小于20 μm,以获得较低的接触电阻,从而保证良好的导电性。然而,在实际运行中,很多厂家生产的高压隔离开关产品会出现触头腐蚀、变色发黑、发热等故障,一般是由触头镀锡代替银或镀银层厚度不足造成,这些缺陷都可以通过国家电网公司开展的金属专项技术监督检测隔离开关触头镀银层厚度而发现[8]。近期,四川电网在金属技术监督中发现一起高压隔离开关触头腐蚀案例,镀银层厚度检测结果合格,但在采用手持式X射线荧光光谱仪分析镀层化学成分时发现,厂家竟然使用银氧化锡(Ag-SnO2)镀层代替镀银层,该造假手段通过颜色判断和镀层测厚无法发现,非常隐蔽,很容易因未进行镀层成分分析而误判合格,严重威胁电网的安全运行,希望引起各运维单位注意。 1 高压隔离开关触头的腐蚀故障某110 kV变电站于1991年投运,当地大气污秽等级为E级,大气类型为工业污染。周边潮湿多雨,化工、煤炭、玻璃等重工业污染企业密集,空气中SO2、H2S等硫化物浓度较高,大气的腐蚀性较强。2013年更换隔离开关触头,防腐措施为铜镀银。2017年站内巡检发现某110 kV隔离开关触头腐蚀严重,动、静触头接触面大部分呈绿色,少部分呈黑色(见图1)。红外测温发现该隔离开关触头存在过热故障,若继续运行,可能会造成隔离开关烧毁,甚至大面积停电等恶性事故,运维单位国网泸州供电公司紧急安排停运该隔离开关,并与国网四川电科院联合开展故障分析。图1 某110 kV隔离开关触头的腐蚀情况2 手持式X射线荧光光谱仪的检测原理X射线荧光光谱分析是用于高压隔离开关触头表面金属成分检测的一种非常有效的分析方法,具有快速、分析元素多、分析浓度范围宽、精度高、可同时进行多元素分析、无损检测等优点,被广泛应用于元素分析和化学分析领域[9]。其原理[9-12]为:由激发源产生高能量X射线照射被测样品,样品表面元素内层电子被击出后,轨道形成空穴,外层高能电子自发向内层空穴跃迁,同时辐射出特征二次X射线。每种元素都有各自固定的能量或波长特征谱线,具体与元素的原子序数有关。检测器测量这些二次X射线的能量及数量或波长,仪器软件将收集到的信号转换成样品中各种元素的种类和含量。X射线荧光光谱仪通常可分为波长色散型和能量色散型两大类,各自原理如图2 [11]所示。波长色散型光谱仪一般采用X射线管作为激发源,由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ,从而确定元素成分,属于台式仪器。能量色散型光谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点,将其分开并进行检测,从而确定元素成分和含量,可以同时测定样品中几乎所有的元素,激发源使用的X射线管功率较低,且使用半导体探测器,避开了复杂的分光晶体结构,因此仪器工作稳定,体积小,便携性高,价格也较低,能够在数秒内准确、无损地获得检测结果,被广泛应用于金属材料中元素的精确定量分析[12-13]。 图2 波长色散型(a)和能量色散型(b)X射线荧光光谱仪的检测原理目前市售手持式X射线荧光光谱分析仪基本都是能量色散型X射线光谱仪。图3是目前四川电网基层供电公司使用的美国Thermo Fisher Scientific Niton XL2 800手持式X射线荧光光谱仪,它不受分析样品的大小、形状、位置限制,无需拆卸隔离开关,可以携带至变电站现场,能够分析Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb,Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Hf, Ta, W, Re, Au, Pb, Bi等25种元素。图3 手持式X射线荧光光谱仪3 现场检测结果3. 1 镀层化学成分分析表1 110 kV隔离开关触头镀层上不同颜色区域及铜基体的元素成分分析结果[4] 梁方建, 张道乾. GW5-110型隔离开关触头发热缺陷分析及检修处理[J]. 高压电器, 2008, 44 (1): 88-90.

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  • X射线荧光光谱分析

    X射线荧光光谱分析

    X射线荧光光谱分析用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。下图是这两类仪器的原理图。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112280433_341844_1601823_3.jpg现将两种类型X射线光谱仪的主要部件及工作原理叙述如下: http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/12/201112280434_341845_1601823_3.jpg两种类型的X射线荧光光谱仪都需要用X射线管作为激发光源。上图是X射线管的结构示意图。灯丝和靶极密封在抽成真空的金属罩内,灯丝和靶极之间加高压(一般为40KV),灯丝发射的电子经高压电场加速撞击在靶极上,产生X射线。X射线管产生的一次X射线,作为激发X射线荧光的辐射源。只有当一次X射线的波长稍短于受激元素吸收限lmin时,才能有效的激发出X射线荧光。大于lmin的一次X射线其能量不足以使受激元素激发。          X射线管的靶材和管工作电压决定了能有效激发受激元素的那部分一次X射线的强度。管工作电压升高,短波长一次X射线比例增加,故产生的荧光X射线的强度也增强。但并不是说管工作电压越高越好,因为入射X射线的荧光激发效率与其波长有关,越靠近被测元素吸收限波长,激发效率越高。   X射线管产生的X射线透过铍窗入射到样品上,激发出样品元素的特征X射线,正常工作时,X射线管所消耗功率的0.2%左右转变为X射线辐射,其余均变为热能使X射线管升温,因此必须不断的通冷却水冷却靶电极。

  • 【转帖】X射线荧光光谱分析

    X射线是一种电磁辐射,其波长介于紫外线和γ射线之间。它的波长没有一个严格的界限,一般来说是指波长为0.001-50nm的电磁辐射。对分析化学家来说,最感兴趣的波段是0.01-24nm,0.01nm左右是超铀元素的K系谱线,24nm则是最轻元素Li的K系谱线。1923年赫维西(Hevesy, G. Von)提出了应用X射线荧光光谱进行定量分析,但由于受到当时探测技术水平的限制,该法并未得到实际应用,直到20世纪40年代后期,随着X射线管和分光技术的改进,X荧光分析才开始进入蓬勃发展的时期,成为一种极为重要的分析手段。

  • 【资料】X射线荧光光谱仪的分析基本原理及详解

    X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。后者功率较大,用水和油同时冷却。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1∶2速度转动分析晶体和探测器,可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将X射线光子能量转化为电能,常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机,进行联机处理而得到被测元素的含量。X射线荧光能谱仪没有复杂的分光系统,结构简单。X射线激发源可用X射线发生器,也可用放射性同位素。能量色散用脉冲幅度分析器 。探测器和记录等与X射线荧光光谱仪相同。X射线荧光光谱仪和X射线荧光能谱仪各有优缺点。前者分辨率高,对轻、重元素测定的适应性广。对高低含量的元素测定灵敏度均能满足要求。后者的X射线探测的几何效率可提高2~3数量级,灵敏度高。可以对能量范围很宽的X射线同时进行能量分辨(定性分析)和定量测定。对于能量小于2万电子伏特左右的能谱的分辨率差。X射线荧光分析法用于物质成分分析,检出限一般可达10-5~10-6克/克(g/g),对许多元素可测到10-7~10-9g/g,用质子激发时 ,检出可达10-12g/g;强度测量的再现性好;便于进行无损分析;分析速度快;应用范围广,分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外,还可用于原子的基本性质如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究。 [~104490~]

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    XRF样品测试杯规格、适用于牛津仪器、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯美国Premier XRF样品杯: 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO),或X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO SC-7332 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 规格:双开端口 特点:进动铝 配套套筒可兼容O型环地位标签Catalog NoOD (mm)ID (mm)H (mm)V (ml)SC-7332323038.518
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  • X射线荧光屏
    这款X射线荧光屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度,非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线荧光屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底,具有超薄和超高分辨率的优点(最薄可达5微米以下)。这两种闪烁体材料(YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体)具有具有良好的化学、力学和温度性能,非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。中国领先的进口X射线成像系统旗舰型服务商--孚光精仪!这X射线荧光屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计,并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。 确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言,如果使用高灵敏度的CCD探测器照相,就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线荧光屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG:Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图) 使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏)我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏,也可与CCD耦合一起。 FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图)和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图) 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏: 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物,不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,但是厚度需要增加到0.050mm左右。
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