重量分析测厚仪

仪器信息网重量分析测厚仪专题为您提供2024年最新重量分析测厚仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括重量分析测厚仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的重量分析测厚仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合重量分析测厚仪相关的耗材配件、试剂标物,还有重量分析测厚仪相关的最新资讯、资料,以及重量分析测厚仪相关的解决方案。
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重量分析测厚仪相关的厂商

  • 我们是一家全球性的日立公司,通过互联材料分析解决方案帮助我们的客户变得更加成功和可持续,这些解决方案使生产和开发过程更加高效、自动化和绿色,以确保产品质量、安全性和合规性。我们提供实验室级和强大高性能现场检测设备如光电直读光谱仪、X射线荧光光谱(XRF)、X荧光测厚仪(镀层测厚仪)、激光诱导击穿光谱仪(LIBS)、热分析仪、锂电池异物分析仪、油品分析仪、土壤分析仪等。
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  • 赛谱分析仪器有限公司位于山东鲁南地区。是专业研发、生产、 气相色谱 分析仪的厂家之一。主要产品有:氢火焰( FID )气相色谱仪、热导型 (TCD) 气相色谱仪、液化气中 二甲醚含量分析专用分析仪 、微量硫(磷)、火焰光度型色谱仪及色谱配套产品。公司拥有一批长期从事色谱分析应用的高级工程师,在气相色谱类仪器的维护、维修和调试等方面的技术力量雄厚。
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  • 上海祎鸿分析仪器有限公司由分析化学行业资深团队凝聚而成。从2000年起就致力于智能化化学分析仪器的研究开发。经历12年的经验探索,得到分析化学行业使用用户的高度评价,智能一体化指标达到国内先进水平。上海祎鸿分析仪器有限公司,是一家专业针对食品安全、食品蛋白质含量分析测试等等的高新技术企业,公司依托化学分析行业资深研发、销售、生产团队的精湛技术,高品质服务理念,聚集了智能操作、远程控制、人性化软件及个性化定制的多方面高科技人才,自主开发、锐意进取,现拥有各类电位法凯氏定氮仪、颜色法凯氏定氮仪、碳纤维红外消化炉等多种研发项目。完美的用户需求,使我们永不止步,将心注入、创造卓越品质。上海祎鸿分析仪器有限公司积极拓展与众多国内外检测机构、食品企业、高校取得良好的业务合作,为客户提供优质的服务、急客户之所急,想客户之所想是我公司的一贯服务承诺,力求在公司自身发展的同时给客户创造更多、更完美的服务需求。"因为专注,所以专业"。我们的追求是:让用户的需求、得到完善系统的解决……
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重量分析测厚仪相关的仪器

  • X射线荧光镀层测厚仪,材料分析仪X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品,HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供最先进的产品和最完善的解决方案。X射线荧光镀层测厚仪产品用途:由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统,因而应用广泛 在电子和半导体产业里,测量触点上薄金,铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中,精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中,需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中,光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中,则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者,检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》(ROHS指令)也是十分关键的。在玩具工业中,也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用,菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。X射线荧光镀层测厚仪,材料分析仪也可测量金属元素的等。我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪,金镍厚度测量仪,孔铜测厚仪,面铜测厚仪,涂镀层测厚仪,台式涂层镀层测厚仪,铜箔测厚仪,绿油测厚仪,油墨测厚仪,各领域的测厚仪。
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  • XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪产品介绍: XAN500 X射线荧光材料分析及镀层测厚仪手持式、台式、在线: XAN500型X射线荧光仪器是到目前为止功能多样化的设备。它既可以作为手持式设备使用,也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。在配备了平板电脑后,XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析,还能测量镀层厚度,并可实现无校准(不需标准片)测量。产品特点:通用手持式X射线荧光分析仪,即使材料组合困难复杂的情况下,也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析;符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准重量1.9 kg一次电池充电可持续运行6个小时测量点:3毫米Ø 高分辨率硅漂移检测器用于户外的IP54等级用作台式设备的可选测量箱;使用完整版WinFTM软件进行数据统计产品应用:应用● 在生产过程中,实时检测镀层厚度(如:Zn、ZnNi、Ag、Au)● 可便捷且稳定地测量大尺寸部件,如管道、外壳或机械零件。● 将仪器放置到测量箱中,XAN500即成为全功能的台式仪器,可精确地测量小尺寸零件,如螺母和螺栓。● 还可整合到生产线的控制系统中,可以实现100%的质量监控产品使用:测试大型样件,装配测量箱后也可以测试小样件一次测试同时测定镀层的厚度和成分(例如,Fe上的ZnNi合金)未知合金的无标准片测量大型镀层零件(例如机器部件和外壳)的测量电镀层的测试电镀液金属含量的分析
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  • 球坑测厚仪 400-860-5168转3086
    采用优质机械加工部件和简单的操作,使得BCT1000球坑测厚仪,特别适合于要求快速测量硬质涂层(1um)的厚度。 球坑测厚仪 主要特点: 球坑法是一种简易实用的镀层厚度测试方法,主要用于硬质膜、固体润滑膜、陶瓷膜、金属膜等各种镀层的检测。不仅可对标准试样进行测量,也可对小型的工件进行测量。球磨后,在镀层样品上形成一球坑,通过数码CCD显微镜,结合智能化的测量分析软件,可快速准确的得出镀层的厚度。主要参数:
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重量分析测厚仪相关的资讯

  • 发布欧屹球坑测厚仪新品
    产品简介:球坑法是一种简易实用的镀层厚度测试方法,是镀层产品质量控制或研发检测不可或缺的小型装置,用于硬质膜、固体润滑膜、陶瓷膜、金属膜等各种镀层的检测。不仅可对标准试样进行测量,也可对小型的工件进行测量。球坑法球坑仪是实现球坑法测量技术的必要仪器。球磨后,在镀层样品上形成一球坑,通过正确的测量分析,可快速得出镀层的准确厚度。主要特点:球坑法可用于分析镀层厚度、单层厚度及复合厚度。此外,配合POD销盘磨损试验机,可快速准确地测量出镀层磨损率。采用优质机械加工部件和傻瓜化的操作,使得BCT1000球坑测厚仪 特别适合于要求快速测量硬质涂层(1 μm)的厚度。技术参数:技术规格 参数膜厚测试范围 0.5-100 μm 膜厚测试精度 0.1μm 磨球 标配直径 GCr15 钢球30mm抛光介质 W1级金刚砂研磨膏转速 10~160rpm可调定时范围 1秒~99小时电源电压 220 V AC 50/60 Hz功耗 100 Watts Maximum工作温度 0~40oC外形尺寸 ~400×250×180 mm重量 ~10K g操作电脑 选配CCD数码显微镜 选配/500万像素CCD/20-100倍放大倍数/同轴光源球坑测量软件 选配/适用于32位Windows XP/Windows 7系统质量保证 一年免费/终身维护备注 以上所列技术规格与参数更新恕不另行通知,如有疑问请联系我们创新点:采用优质机械加工部件和傻瓜化的操作,使得BCT1000球坑测厚仪 特别适合于要求快速测量硬质涂层(1 μ m)的厚度.欧屹球坑测厚仪
  • 新品 | 日立分析仪器推出FT210型X射线荧光测厚仪
    2023年12月,日立分析仪器推出FT210型X射线荧光测厚仪和用于增强FT200系列智能镀层分析功能的最新版FT Connect软件。日立分析仪器是日立高新技术公司旗下的全资子公司,主要从事分析和测量仪器的制造与销售。通过推出 FT210 新型XRF镀层测厚仪,日立分析仪器扩大了其镀层和材料分析仪器产品系列。FT210 包括用于常规测量普通电镀的正比计数探测器,并集成先进且易于使用的功能,旨在增强大批量测试需求。此外,推出的 FT210 还包括适用于所有 FT200 系列型号的 FT Connect 软件更新版本,具有用于报告、创建校准曲线和数据处理的增强可用性功能。新版本 FT Connect 扩展了 FT230 的 RoHS 筛选功能。FT Connect V1.2软件与新仪器和现有仪器兼容。新品亮点每日为客户团队节省45分钟*FT210 与 FT230 非常相似,具备通过减少设置测量和处理数据所需的时间来提高生产率的功能。为加快分析设置,FT200 系列配备新型超大的样品视图、广视角相机、自动对焦和自动接近功能,以及名为“Find My Part™ (查找我的样品)”的智能识别功能,该功能可自动识别待测的特定测点并选择正确的分析方法。FT230扩展了RoHS功能得益于新版本 FT Connect 软件的更新, FT230 现在可用于检查更多材料是否符合最新的有害物质指令。FT Connect 中的界面内置 RoHS 筛选功能,从而确保简单、无缝地进行分析。日立分析仪器镀层分析产品经理 Matt Kreiner 表示:“FT210 使我们的客户能够为自己的镀层应用领域选择理想的探测器。由于引入新的软件功能,我们不断对操作员与 XRF 镀层分析仪的交互方式进行创新,通过简化设置和减少出错的可能性来增加测试量。通过使用 FT210 或 FT230,XRF 所有者可帮助操作员每天节省长达45分钟的时间,以专注于增值任务或增加测试量。”从简单的电镀层到针对微小特定测试点的复杂应用领域,日立分析仪器所拥有的各种分析仪(包括 FT210)旨在帮助用户在整个生产过程(包括进货检验、过程控制、最终质量控制)中获得置信度高的镀层零件测量结果。*使用“Find My Part™ (查找我的样品)”的5点测试程序的设置时间从73秒减少到19秒™,这样每次测试可节省54秒,每天可节省45分钟(50次测试)。
  • Coatmaster发布 手持非接触式湿膜测厚仪新品
    这款Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪是涂层厚度无损测量技术的一次创新优化,其重量轻、测量简便的优点能协助您在工艺早期测量涂层厚度,避免出现严重的生产缺陷。国外已经有多家知名企业正在使用,并对其十分赞赏。远程非接触式测试Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪基于光热法测量原理,测温镜头外围为电脑控制的脉冲闪光灯,测量过程中闪光灯会对所测的涂层进行加温。表面温度随着时间的变化过程将提供涂层厚度的有关信息。无需与产品表面接触、也无需等待涂层完全干透即可测量涂层厚度。不限底材形状由于无需与产品进行接触测试,Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪可用于各种复杂表面工件的涂层厚度检测使用。 而且不受底材的材质限制,可用于金属,塑料,橡胶,木材,碳纤维(CFRP), 玻璃等多种基材。不限涂层颜色使用Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪进行测试不会受到涂层颜色的影响。除常规涂层之外,也可用于润滑剂和聚合物涂层、湿膜、粉末涂料、粘合剂、热喷涂涂层等的测试。手持式设计,易于携带手持式的设计使得Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪的使用和携带十分方便。 避免返工修补和客户拒收在工艺早期能发现偏差并及时进行修正。节省材料减少高达30%的涂层材料消耗量。有效节约资源和保护环境。保证产品质量生产高质量涂料并协助制定新的质量标准。技术参数固化粉末/干膜1~1000μm干燥前湿漆1~400μm未固化粉末涂料1–400μm测量时间0.25 s测量距离2–15 cm允许倾斜角度± 70°测量移动工件可以相对标准偏差 1%适用于所有颜色(包括白色)可以通过ERP和浏览器实时访问数据可以重量(不含电池)1.3 kg尺寸374 mm x 91 mm x 203 mm创新点:Coatmaster Flex手持非接触式湿膜测厚仪属于便携式的湿膜测厚仪器,解决了传统涂层喷涂厚度测试中,需要接触测试(会破坏涂层表面)以及无法测量复杂表面的工件(如拐角、边角、曲面等),无法适用特殊底材的难题。仪器采用光热法作为测量原理,测量时无需与涂层表面接触,不受基材材质的影响,且不受涂层的颜色影响,可实现即时测量,并得出读数,即可实现涂层喷涂厚度的即时检测,修正喷涂厚度不良的问题,缩短工艺流程、大幅度的提升良品率。

重量分析测厚仪相关的方案

重量分析测厚仪相关的资料

重量分析测厚仪相关的试剂

重量分析测厚仪相关的论坛

  • 重量分析法

    重量分析法本章教学目的:1、了解沉淀中沉淀式和称量式的概念。2、明确沉淀剂选择的条件。3、掌握沉淀形成的条件。教学重点与难点:沉淀的条件教学内容: 一、重量分析法原理什么是重量分析法?重量分析法(gravimetric analysis):根据反应生成物的质量来测定欲测组分含量的定量分析方法。分类如下: 沉淀重量法分类 气化法电解分析法 热重量分析本章重点讲解讨论沉淀重量法和气化法。1、沉淀重量法(precipitation method):利用沉淀反应,加过量沉淀剂于试样溶液中,使被测组分定量地形成难溶的沉淀于试样溶液中,经过滤、洗涤、烘干或灼烧、称量,根据称得的重量计算出被测组分的含量。溶解 BaCl2沉淀剂 过滤、洗涤、烘干或灼烧例如:测定试液中硫酸根离子含量:试样 试液 BaSO4 称量BaSO4恒重 计算百分含量Fe3+ → Fe(OH)3 → Fe2O3

  • 重量分析法

    实训一 重量分析基本操作一、目的要求1、学习样品溶解、沉淀、过滤、洗涤、干燥和灼烧等重量分析的基本操作。二、步骤重量分析的基本操作包括样品溶解、沉淀、过滤、洗涤、干燥和灼烧等步骤,分别介绍如下。(一)溶解样品样品称于烧杯中,沿杯壁加溶剂,盖上表皿,轻轻摇动,必要时可加热促其溶解,但温度不可太高,以防溶液溅失。如果样品需要用酸溶解且有气体放出时,应先在样品中加少量水调成糊状,盖上表皿,从烧杯嘴处注入溶剂,待作用完了以后,用洗瓶冲洗表皿凸面并使之流入烧杯内。(二)沉淀重量分析对沉淀的要求是尽可能地完全和纯净,为了达到这个要求,应该按照沉淀的不同类型选择不同的沉淀条件,如沉淀时溶液的体积、温度,加入沉淀剂的浓度、数量、加人速度、搅拌速度、放置时间等等。因此,必须按照规定的操作手续进行。一般进行沉淀操作时,左手拿滴管,滴加沉淀剂,右手持玻璃棒不断搅动溶液,搅动时玻璃棒不要碰烧杯壁或烧杯底,以免划损烧杯。溶液需要加热,一般在水浴或电热板上进行,沉淀后应检查沉淀是否完全,检查的方法是:待沉淀下沉后,在上层澄清液中,沿杯壁加1滴沉淀剂,观察滴落处是否出现浑浊,无浑浊出现表明已沉淀完全,如出现浑浊,需再补加沉淀剂,直至再次检查时上层清液中不再出现浑浊为止。然后盖上表皿。(三)过滤和洗涤1.用滤纸过滤(1)滤纸的选择滤纸分定性滤纸和定量滤纸两种,重量分析中常用定量滤纸(或称无灰滤纸)进行过滤。定量滤纸灼烧后灰分极少,其重量可忽略不计,如果灰分较重,应扣除空白。定量滤纸一般为圆形,按直径分有11cm、9cm、7cm等几种;按滤纸孔隙大小分有“快速”、:“中速”和“慢速”3种。根据沉淀的性质选择合适的滤纸,如BaSO4、CaC2O4·2H2O等细晶形沉淀,应选用“慢速”滤纸过滤;Fe2O3·nH2O为胶状沉淀.,应选用“快速”滤纸过滤;MgNH4PO4等粗晶形沉淀,应选用“中速”滤纸过滤。根据沉淀量的多少,选择滤纸的大小。表5-1是常用国产定量滤纸的灰分质量,表5-2是国产定量滤纸的类型。 表5-1 国产定量滤纸的灰分质量直径/cm791112.5灰分 / (g/张)3.5×10-55.5×10-58.5×10-5

  • 【分享】重量分析技术在吸附研究中的应用

    英国Hiden公司设计的智能重量法吸附分析仪IGA是目前重量分析仪中功能最全的商业化仪器。在全世界的吸附研究领域有着广泛的用户。他们利用IGA对自己的研究实验进行分析表征,取得了辉煌成绩。在Nature和Science上均有多偏文章发表.ps :重量分析技术是新东西吗?什么时候出来的,期待回答!!

重量分析测厚仪相关的耗材

  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • TT30超声波测厚仪
    TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300(智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理,TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理  超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标  测量范围: 0.75mm~300.0mm   显示分辨率:0.1/0.01mm(可选)  测量精度:± (1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度   管材测量下限(钢):&Phi 15mm× 2.0mm   最小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或最小厚度值  数据输出:RS232接口,可与TA220S微型打印机或PC连接  数据存储:可存储500个测量值和五个声速值  报警功能:可设置限界,对限界外的测量值能自动蜂鸣报警  使用环境温度:不超过60℃   电源:二节AA型1.5V碱性电池  工作时间:可达100小时  外形尺寸:152mm× 74 mm× 35 mm   重量:370g
  • 手持式薄膜测厚仪配件
    手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k),薄膜厚度测量范围为350-1000nm,不需要电线连接,也不需要实验室安装空间,它从USB连接中获取工作电源,这种独特设计方便客户移动测量,只需USB线缆从计算机控制测量即可,采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪,具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源,光源寿命高达20000小时,手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电,不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 15nm-90微米;波长范围: 360-1050nm 探测器:3648像素Si CCD阵列,16bit A/D精度:1nm 斑点大小:0.5mm 光源:LED混合光源( 360-1050nm )所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:300x110x500mm 重量:600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
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