偏振相关测量仪

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偏振相关测量仪相关的厂商

  • 深圳市达宏美拓密度测量仪器有限公司是一家为全行业提供密度测量解决方案的专业公司;其主营品牌Daho Meter『达宏美拓』,专业生产制造电子密度仪。Daho Meter『达宏美拓』是行业中成立时间较早,专业的密度测试仪品牌,自成立以来,始终专注于密度测试领域的研究与创新;其范围涵盖:固体、多孔性固体、粉末、液体、液体浓度等与密度相关的测试领域。达宏美拓从成立至今,一直强调以专业、技术、品质、服务的核心竞争力;要赢得市场,就要服务好客户,要服务好客户就要有专业的技术,过硬的产品品质,与及时专业周到的服务。至目前,达宏美拓在国内设立了东莞、北京、深圳、杭州等4处客户服务中心与售后服务中心;于2013年8月在东莞成立了密度检测实验室,皆在进一步提升服务客户的质量与检测水准;于2016年通过ISO9001:2015质量管理体系认证。
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  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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偏振相关测量仪相关的仪器

  • 偏振片 400-628-5299
    1.偏振片:通常是指将二向色性物质涂在透明薄片上制成的偏振片,此种偏振片损伤阈值较小,而且无法分离出p偏振光和s偏振光;A. OPSP系列偏振片偏振片(Plastic Sheet Polarizers)选型表:偏振片(Plastic Sheet Polarizers)型号名称尺寸(mm)通光孔径Ф0(mm)波长范围(nm)OPSP12.7偏振片Ф12.7*4mm8.9400-700OPSP25.4偏振片Ф25.4*4mm20.3400-700B. 偏振片(进口)1)偏光板示意图及尺寸图:相关说明: 1.把含有卤化银的玻璃融解,再经过热处理,延伸,研磨和还原工序而制成的偏光器件。其制作过程大致如 下:在热处理工序中沉淀出卤化银粒子,然后把玻璃加热到软化点附近并延伸,这样卤化银粒子就会变成 椭圆形,研磨后再进行氢还原,把卤化银粒子还原为银。 2.玻璃中的银椭圆粒子的长轴方向平行的电场被吸收,具有和其长轴垂直方向的电场的光通过。 3.透过方向:100W/cm2(CW)、6J/cm2、脉冲宽度13ns(脉冲)吸收方向:25W/cm2(CW)、0.1J/cm2、 脉冲宽度13ns(脉冲)有效尺寸(mm)8.5× 8.5PLC系列铬膜分束镜(SIGMA)选型表:型号保护框尺寸(mm)波长范围(nm)最小透过率(%)PLC-10-660ø 30× 6630~70083PLC-10-800ø 30× 6740~86091PLC-10-900ø 30× 6840~96094PLC-10-1060ø 30× 6960~116095PLC-10-1310ø 30× 61275~134598PLC-10-1550ø 30× 61510~1590982)薄膜偏光板示意图及曲线图:相关说明: 1.薄膜偏光板是一种薄膜滤光镜,此膜夹在两块玻璃中间,并安装在一个铝框内; 2.它不仅可以从一个非偏光中提取线偏光,而且,还可以象ND 滤光片一样用作光衰减器; 3.三种波长可选:紫外用(320~400nm);可见光用(400~700nm);近红外用(760~2000nm); 4.使两块偏光板处于通光状态(开),通过一束直线偏光{两块透过率(平行放置)} 使两块偏光板处于 不通光状态(关),没有光通过{两块透过率(正交放置)}。我们称此时的透过率为消光比。薄膜偏光板(SIGMA)选型表:型号使用波长(nm)保护框尺寸(mm)厚度(mm)通光孔径(mm)防反射膜NSPFU-30C320~400Ф30× 62.4ø 24SLAR (双面)SPF-30C-32400~700Ф30× 63ø 24BMAR(双面)SPF-50C-32400~700Ф30× 63ø 44BMAR(双面)SPFN-30C-26760~2000Ф30× 63ø 24SLAR (双面) 3)塑料薄膜偏光板(进口)示意图及曲线图:塑料薄膜偏光板(SIGMA)选型表:型号设计波长(nm)D(mm)T(mm)USP-25.4C-38400~700ø 25.40.8USP-30C-38400~700ø 30.00.8USP-50C-38400~700ø 50.00.8USP-100C-38400~700ø 1000.8C. 超快激光用偏振片(进口)曲线图、示意图及相关参数: 选型表:
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  • ERM100 应用测量保偏(PM)光纤的消光比(ER)保偏光纤与接头插销对准保偏光纤与激光光源对准ERM100是基于旋转偏光技术的消光比测量仪。这款台式装置可以快速简单地测量保偏光纤的消光比。它方便易用,可以用于需要对准保偏光纤的多种应用中。如何工作ERM100消光比测量仪包含一个旋转偏振片,和后面一个可以产生光电流的探测器。一般来说,光电流在时间上将是直流偏置的正弦函数。通过同时分析直流偏置和调制深度,消光比测量仪可以确定线偏振的程度,从而获得消光比。优点这款台式仪器简单易用,是任何保偏光纤的对准应用测量装置。通过前面板的一系列按钮和LCD显示屏,可以进行快速调节和测量。任何保偏对准任务均可以有效完成。ERM100是工厂校准的,可以测量消光比,偏心角和功率。它也可以通过USB连接电脑进行控制。设备包含LabVIEW™,LabWindows™/CVI™,MSVC和Borland C的驱动。ERM100配备FC/PC接头。需要其他类型的接头请联系技术支持。发货信息每个单元包括测量仪,USB电缆,包含LabVIEW™和LabWINDOWS™CVI驱动程序套装的软件CD,和操作手册。应用:保偏对准ERM100消光比测量仪可用于对准保偏光纤的光轴。保偏光纤的入射光必须是线偏振的,并且平行于光纤的主光轴的方向耦合,以保持线偏振。ERM100提供了一种便利的方式来实现这种对准。根据光源,光纤对准有以下两种不同的方法。宽带光源(SLED)由于这些光源的波长相关双折射特性,只需变化耦合角,直到找到具有最大消光比的最优角。窄带光源(激光二极管)对于窄带光源,波长相关的双折射特性可忽略不计。为了得到保偏光纤消光比的可靠值,必须分析偏振态的快轴和慢轴之间的所有相移。所以测量过程中,在调节耦合角的同时,可以对光纤施加应力(应力双折射)。对于最优角,最大消光比值应该稳定,并且与光纤上的应力无关。典型应用线偏振光进入保偏光纤的最佳耦合接头插销的最佳对准制作尾纤(激光二极管到保偏光纤的对准)窄带光源的消光比测量
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  • 偏振测量仪 400-860-5168转3067
    偏振测量仪PAX5710-T系列由USB接口TXP5004机箱、 PAX5710系列模块和外置偏振探头组成。该系统配置了笔记本电脑,并包括所有连接探头和电脑的接线。测量波长范围可以通过添加模块和探头方便地进行扩展。另外,Thorlabs还提供光纤耦合形式的偏振测量仪PAX5720系列,该系列的探头内置。 应用:自由空间或光纤光偏振测量消光比测量偏振度测量作为PMD5000系统中偏振测量单元琼斯(Jones)和米勒(Mueller)矩阵测量 指标:输入功率范围:-60dBm~10dBm方位角精度:0.25o椭率角精度:0.25o归一化Stokes参数精度:S1,S2,S30.005偏振度精度:± 0.5%波长范围:VIS系列: 400-700nmIR1系列: 700-1000nmIR2系列: 1000-1350nmIR3系列: 1300-1700nm最大测量速率:333次/秒光纤输入接口:FC/PC(或根据客户要求)自由空间输入:&Phi 3mm,发散角3mrad模拟界面:输出:S1,S2,S3,功率/dBm,DOP(Stokes矢量)输入:触发数字界面:输出:S1,S2,S3,功率,方位角,椭率,功率比,相位差热机时间:15min工作温度范围:5-40oC 消光比测试仪基于旋转偏振器技术的消光比测量仪。该台式设备提供了快速而简便的测量保偏光纤消光比的方法,可用于保偏光纤的调节等。 应用:保偏光纤消光比测量保偏光纤到连接器的调节保偏光纤到光源的调节 指标:波长范围800-1700 nm最大消光比40 dBER精度*0.5 dBER分辨率0.1 dB角度精度*0.5° 角度分辨率0.1° 动态范围&dagger 50 dB (-40 ~ +10 dBm)工作温度5 to 40 ° C输入电压100V, 115V, 230V +15%/-10%所有参数在23 ± 5° C 、相对湿度 45 ± 15%有效* 输入功率 -30 dBm&dagger 动态范围依赖特定波长 OZ optics公司消光比测试仪特点:测量达40dB消光比内置RS232接口宽波长范围:400-1000nmVIS,850-1650nmIRER分辨率 0.01dB,角度分辨率0.3oER测量准确读1dB,角度准确度0.5o测量达2W连续光功率便携式设计记录模式,可连续测量连接头可换低成本,CE认证应用:光通讯器件制造自动调节质量控制和测量产品开发器件或系统故障排除 标准产品指标1: 型号ER-100-IRER-100-1290/1650-ER=40ER-100-VIS波长范围850-1650nm1290-1650nm400-700nm600-1000nm 2消光比范围30dB 850-1290nm35dB 1290-1650nm40dB 1290-1650nm30dB动态范围47dB40dB消光比准确度± 1dB消光比分辨率0.01dB角度准确度3± 0.5o角度分辨率0.3o刷新频率(ER)2.7Hz刷新频率(相对功率)650Hz输入功率450uW~1.0mW通讯接口RS232电源5通用50/60 Hz 110/220V AC/DC适配器尺寸65 x 90 x 184 mm重量0.48 kg工作温度-10° ~ 50° C存放温度-30° ~ 60° C存放湿度90%1.测试条件,1550nm线形偏振光源,热机30min,温度23± 2° C2.根据所选择的400-700nm或600-1000nm接头3.高精度的FC连接头4.无衰减器,带衰减器可进行高功率测量,其波长需要指定。5.标准设备为北美供电标准,其他需单独购买
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偏振相关测量仪相关的资讯

  • Photonic Lattice发布应力双折射测量仪新品
    在PA系类设备的基础上,加装晶圆专用的装置,可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数: 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm(西格玛)6视野尺寸40x48mm到240x320mm(标准)7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制创新点:测量速度可以快到3秒。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪
  • Photonic Lattice发布PA系列双折射测量仪新品
    PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 PA-300 主要特点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域:光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅,蓝宝石等 技术参数:项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm(西格玛)6视野尺寸27x36mm到99x132mm(标准)7选配镜头视野低至7x8.4(扩束镜头)8选配功能实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制 测量案例:创新点:操作简单,测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量,测量范围广。更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单,不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。PA系列双折射测量仪
  • 清华大学张书练:让激光正交偏振走出深巷放光芒
    5月7日,&ldquo 激光正交偏振及激光精密测量新技术研讨会&rdquo 在清华大学主楼接待厅举行。此次研讨会由清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室组织举办,旨在系统介绍张书练课题组就正交偏振激光的产生、现象进行的科学研究及其在精密测量中的应用,以及相关仪器的产业化前景。清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室主任张书练介绍研究成果  研讨会上,清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室主任张书练做了题为&ldquo 让激光正交偏振走出深巷放光芒:激光正交偏振及激光精密测量新技术的发展历程&rdquo 的学术报告,回顾了相关研究的缘起。他说,课题组在研究中注意到,现有激光文献只讲激光束的三特性&ldquo 高亮度&rdquo &ldquo 相干性&rdquo &ldquo 方向性&rdquo ,对比爱因斯坦阐述的光的受激辐射特性少了&ldquo 偏振&rdquo 性,从而课题组埋头30年,通过观察物理效应、发明新仪器把第四性&ldquo 偏振&rdquo 补上。  课题组成员谈宜东副教授、张松博士、朱守深博士还做了&ldquo 固态激光回馈干涉仪原理和应用&rdquo 、&ldquo 激光原理的三个实验系统&rdquo 、&ldquo 双折射-塞曼双频激光干涉仪&rdquo 及&ldquo 课题组的未来&rdquo 的报告。介绍了相关科研成果及应用前景。现场展出的仪器  研讨会还展出了张书练课题组研制的包括气体激光干涉仪、固态激光回馈干涉仪、光学位相延迟(内应力)测量仪、纳米测尺、新激光原理实验系统等十几种仪器。其中&ldquo 双折射-塞曼双频激光干涉仪&rdquo 突破了国内外限制几十年的频差低的难题,实现了3-20MHz任选频差的双频激光干涉仪,批量满足国家重大专项和机床检定需求 &ldquo 固态激光回馈干涉仪&rdquo 跨越传统干涉仪原理,在国内外率先研究成功并批量使用,由于其超高的灵敏度和能够测量非配合目标,应用广泛,被誉为&ldquo 新一代的激光干涉仪&rdquo &ldquo 激光频率分裂光学位相测量仪&rdquo 已批准为国家标准 &ldquo 激光原理的三个实验系统&rdquo 已有百台在近20所大学应用,改变了激光原理课实验教学的模式。  与会者兴趣浓厚,讨论热烈,特别对常见激光器的偏振特性、频率之间的竞争等提了问题,并就现场展示仪器的性能、应用提出了建议和意见。研讨会现场  来自北京大学、南开大学、哈尔滨工业大学、中国计量科学研究院、清华大学紫荆创新研究院、德铭精密机械有限公司等三十多所高等院校、科研机构以及公司代表约100人参加了会议。

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  • 【资料】测量仪器的计量特性

    测量仪器的计量特性 测量仪器的计量特性是指其影响测量结果的一些明显特征,其中包括测量范围、偏移、重复性、稳定性、分辨力、鉴别力和示值误差等。为了达到测量的预定要求,测量仪器必须具有符合规范要求的计量学特性。 确定测量仪器的特性,并签发关于其法定地位的官方文件,称为测量仪器控制。这种控制可包括对测量仪器的下列运作中的一项、两项或三项: ——型式批准; ——检定; ——检验。 这些工作的目的是要确定测量仪器的特性是否符合相关技术法规中规定的要求。型式批准是由政府计量行政部门做出的承认测量仪器的型式符合法定要求的决定。所谓型式,是指某一种测量仪器的样机及(或)它的技术文件(例如:图纸、设计资料等),实质上就是该种测量仪器的结构、技术条件和所表现出来的性能。 检定是查明和确认测量仪器是否符合法定要求的程序,它包括检查、加标记和(或)出具检定证书。检验是对使用中测量仪器进行监督的重要手段,其内容包括检查测量仪器的检定标记或检定证书是否有效、保护标记是否损坏、检定后测量仪器是否遭到明显改动,以及其误差是否超过使用中最大允许误差等。

  • 叶面积测量仪测量范围是多少

    叶面积测量仪测量范围是多少

    [size=16px]  叶面积测量仪测量范围是多少  叶面积测量仪的测量范围取决于具体的仪器型号和制造商,不同型号的叶面积测量仪可能有不同的测量能力和规格。一般来说,叶面积测量仪的测量范围通常包括以下方面:  叶片面积:叶面积测量仪主要用于测量植物叶片的表面积,其范围可以从小型植物的小叶片到大型树木的大叶片。测量范围通常以平方厘米(cm2)或平方米(m2)为单位。  叶片数量:一些叶面积测量仪具有多个测量通道,可以同时测量多片叶子的面积。这对于效率和大规模叶面积测量非常有用。  叶片形状和尺寸:测量仪通常能够适应不同形状和尺寸的叶片,包括圆形、椭圆形、线性和复杂的形状。  叶片厚度:有些叶面积测量仪还可以估算叶片的厚度,从而提供更详细的叶片特征信息。  具体的测量范围将根据仪器的设计和规格而异,所以在选择叶面积测量仪时,您应该查看仪器的技术规格和制造商提供的信息,以确保它满足您的测量需求。如果需要测量较大范围的叶面积,可能需要考虑使用专业的大型叶面积测量仪或使用多次测量的方法来覆盖整个叶片。[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/09/202309151025162609_7338_6098850_3.png!w690x690.jpg[/img][/size]

偏振相关测量仪相关的耗材

  • 台式偏振消光比测量仪
    台式偏振消光比测量仪特征:?测量高达50 dB的偏振消光比(针对特定波长范围)?非常宽的波长范围:可见波长范围为450至900 nm 对于IR波长范围,850至1650nm或1800至2400nm?±0.15 dB ER精度,zui高30 dB?±0.5°角度精度?0.01 dB ER分辨率和0.3°角度分辨率?功率测量高达2瓦?可互换的连接器适配器?记录模式,用于连续测量?USB通信接口?触摸屏显示?内置存储器,用于存储和调用功能订购信息:(1)56052ER-1000-IRFiber Optic Polarization Extinction Ratio Benchtop Meter for wavelengths from 850 nm to 1650 nm. ER = 30dB for wavelengths from 850 nm to 1290 nm and ER=35dB for wavelengths longer than 1290 nm. Receptacle is not included. Input power is up to 1 mW.(2)56055ER-1000-VISFiber Optic Polarization Extinction Ratio Benchtop Meter for wavelengths from 450 nm to 900 nm. ER 30dB over the wavelength range. Receptacle is not included. Input power is up to 1 mW.(3)56053ER-1000-1800/2400-ER=30Fiber Optic Polarization Extinction Ratio Benchtop Meter for wavelengths from 1800 nm to 2400 nm. ER = 30dB. Receptacle is not included. Input power is up to 1 mW.
  • 测量仪性能指标
    产品特点:测量仪性能指标主要行业/应用测量详细信息* 制药行业 * 食品安全 * 生物农业 * 环境 * 水质* 酸碱水平 * 相关离子的电极电位值(mV) * G4383A 是只包括 3200P 测量仪的套装 * G4391A 的基本套装包括电极、电极支 架和缓冲剂 * G4392A 的组件包括三复合电极、电极 支架和缓冲剂* 环境 * 石油化工 * 食品安全 * 生物学 * 电导率 * 电阻率 * 总溶解固体(TDS) * 盐度 * 当前溶液温度值* G4384A 是只包括 3200C 测量仪的套装 * G4393A 的套装包括 3200C 测量仪、电 极和电极支架 * 环境 * 污水处理 * 自来水水源监测 * 食品安全 * 水产养殖 * 饮料生产 * 生物农业 * 科学研究* 溶解氧浓度 * 水溶液氧的饱和度 * G4385A 是只包括 3200D 测量仪的套装 * G4395A 的套装包括 3200D 测量仪、电 极和电极支架 * 食品安全 * 生物农业 * 石油化工 * 环境保护 * 科学研究 * 疾病控制*电极电位值(mV) * pX 值和离子浓度 * G4396A 是只包括 3200I 测量仪的套装 * 为 G4396A 的套装包括 3200I 测量仪、 pH 电极、电极支架和缓冲剂 * 为 G4397A 的 氟 离 子 测 定 套 装 包 括 3200I 测量仪、氟离子电极、电极支架 和缓冲剂* 水质 * 疾病控制 * 环境保护 * 生物农业 * 科学研究* 可同时测量 pH/pX、离子浓度、离子 电极电位(mV)、电导率、总溶解固 体量、盐度、溶解氧量和温度 * G4378A 是只包括 3200M 测量仪的套装 * G4398A 的套装包括 3200M 测量仪、电 极、电极支架和缓冲剂 测量仪性能指标安捷伦提供了不同测量仪以满足您最具挑战性的应用。测量仪性能指标优势3200P3200C3200D3200I3200M 温度:-5.0-110.0 °C 可在很宽的温度范围内使用 测量模式:连续/定时读取/自动锁定采用一台测量仪即可进行多种方式测量点阵式液晶显示屏 快速获得实验结果 易于初学者使用数字操作键简便的操作适合于各种熟练程度的实验操作人员3200P3200I3200M 缓冲液可自动识别 可选用 NIST 和 GB 标准缓冲液 高阻抗:3 x 1012?可从众多类型电极中选择适合测定您样品的电极溶解氧 测定的准确度:±0.10 mg/L 精确测量和优异的温度补偿功能实现了卓越的溶解氧测定准 确度3200I3200M 为 H+、Ag+、Na+ 和 K+ 提供离子测量模式 NH 、 2 4+ Cl-、F-、NO 、 3- BF 、 4- CN-、Cu +、Pb2+ 和 Ca2+易于更换电极(或离子选择电极),实现多种离子灵活地分析 不同单位之间可以自由转换自动优化测量并保证结果准确离子浓度测量模式:直接读取模式、“标准”添加模式、样品 添加模式和 GRAN 作图添加模式操作方便
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
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