高精度四探针仪

仪器信息网高精度四探针仪专题为您提供2024年最新高精度四探针仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括高精度四探针仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的高精度四探针仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合高精度四探针仪相关的耗材配件、试剂标物,还有高精度四探针仪相关的最新资讯、资料,以及高精度四探针仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

高精度四探针仪相关的厂商

  • 400-860-5168转6169
    致真精密仪器(青岛)有限公司是以集成电路产线测试设备、高端科学仪器研发和生产为主要业务的国家高新技术企业。在中国集成电路制造行业迅速发展、芯片研发和制造环节各类设备亟需自主可控的背景下,致真精密仪器通过自主创新、产学研合作及成果转化、行业资源整合等手段对国内尚未实现自主研发能力的相关高端仪器设备展开工程攻关。自 2019 年成立以来,公司已经汇聚各类人才百余人,打造了光、电、精密机械、测控及自动化、软件和算法等工种齐全的工程团队,通过建设青岛市集成电路测试设备专家工作站等方式,引进专家级人才若干。公司在北京和杭州设有子公司。目前,公司面向广大科研工作者和芯片产业对高性能高质量自主可控设备的需求,已经研发了一系列的高端设备,包括“原子力显微镜、高精度VSM、MOKE等磁学测量设备、各类磁场探针台、磁性芯片测试机等产线级设备、物理气相沉积设备、芯片制造与应用教学训练成套系统等”等,产品已经应用于清华大学、中国科学院等国内顶尖科研机构和知名集成电路制造公司。
    留言咨询
  • 南京宇微系统集成有限公司,是一家专业的半导体晶圆测试技术服务公司,总部设在江苏南京,公司专注于射频微波及半导体器件领域,为半导体测试提供最佳的系统集成解决方案和技术支持服务。宇微系统集成是MPI在中国大陆的授权经销商,提供各种高精度的手动、半自动、全自动探针台及附件等测试设备,同时提供基于芯片晶圆测试的集成解决方案,并为客户量身开发自动测试软件。
    留言咨询
  • MCF公司自成立以来一直致力于半导体及及晶体材料高精度磨抛设备及工艺的研发和制造。MCF生产制造中心设立在德国慕尼黑,研发技术中心设立在苏格兰的格拉斯哥大学城,工艺技术中心设立在比利时布鲁塞尔。我们的产品包括精密研磨抛光设备,等离子清洗机,激光干涉仪,3D轮廓仪,红外显微镜,探针台等设备;我们也根据客户技术要求提供专属定制传感器,更关注开发前沿传感器技术,如基于SiC,Sapphire的高温动态压力传感器。传承欧洲50多年半导体的专业技术和成功经验,MCF产品进入中国市场20年获得业内用户一致好评。为保证中国用户提供高效,专业的技术服务,我们在中国北京,香港分别设立办公室和常规备品备件仓库。了解更多信息,请联络MCF中国!www.mcfsens.com
    留言咨询

高精度四探针仪相关的仪器

  • 多功能四探针测试仪,数字式四探针测试仪FT-341双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-5~2×106Ω-cm3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.1%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原 FT-342双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围:10-4~2×103Ω/□2.电阻率范围:10-5~2×104Ω-cm3.测试电流范围:10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.2%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原
    留言咨询
  • 主要参数: 适用于I-V/C-V/RF/亚微米级测试测试的探针座线性无后座力移动,磁性吸附,带磁力开关/真空吸附 X-Y-Z 行程为 13mm*13mm*13mm,精度0.7um 进口制造***牙具,100 牙/英寸 高刚性结构,弹簧消隙 X-Y-Z,稳定无间隙 可搭配同轴/三轴探针夹具/射频调节机构使用多点探头调水平旋钮,可以+-10°调节,精度0.1度适用于市面主流射频探针台和射频探针
    留言咨询
  • 四探针测试仪FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购. 规格型号FT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-3361.方块电阻范围10-5~2×105Ω/□10-4~2×103Ω/□10-3~2×105Ω/□10-3~2×103Ω/□10-2~2×105Ω/□10-2~2×103Ω/□2.电阻率范围10-6×106Ω-cm10-5×104Ω-cm10-4~2×106Ω-cm10-4~2×104-cm10-3~2×106Ω-cm10-3~2×104-cm3.测试电流范围0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式普通单电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W 9.整机不确定性误差≤4%(标准样片结果)10.选购功能选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;与智慧之原 四探针测试仪四探针测试仪
    留言咨询

高精度四探针仪相关的资讯

  • 世界上首个高精度离子探针设备在澳建成
    一个能够检测武器级的铀(signs of weapons-grade uranium)、新的矿石储量和验证地球上早期生命的科研实验设备最近在西澳大利亚大学建设成功。  这个建于该大学显微研究中心,带有超灵敏微型离子探针(ultra sensitive microprobe)的高灵敏度显微镜,具有独特的描述和分析功能。该中心是目前世界上唯一能够安放两台此类实验装置的实验室。在启动仪式上,创新、工业与科研部长Kim Carr说,这种超灵敏的微型离子探针将会极大地提高该设备开展世界领先科研的能力。  新的微型探针通过打在检测样本上的高能量离子束,有能力检测出各种不同物质之间的化学特性的差异。它能用来追踪远古已灭绝动物的迁移轨迹,从而搜寻它们灭亡的原因。  其它应用还包括研究珊瑚的生长规律,以便更好地了解澳大利亚大堡礁珊瑚白化病的成因和气候变化问题,以及区分造成危害的污染来源。  微型探针也能够被用于研究远古的陨石, 帮助我们了解太阳系是如何形成的。  这种新型微型探针在南半球目前只有一个,而全世界也只有15个。  Kim Carr部长,这个设备的潜力是广阔和巨大的, 来自全国各地的研究人员将会非常渴望使用这一新设备。对于600万澳元的微型探针的高投入,澳大利亚政府已经投入了150万澳元经费支持。政府还将继续投资新的大型科研设备。
  • 瑞柯发布瑞柯全自动四探针测试仪新品
    FT-3110系列全自动四探针测试仪一.功能描述:四点探针法,全自动化运行测量系统,PC软件采集和数据处理;参照A.S.T.M 标准方法测试半导体材料电阻率和方块电阻;可设定探针压力值、测试点数、多种测量模式选择;真空环境,可显示:方阻、电阻率、显示2D,3D扫描/数值图、温湿度值、提供标准校准电阻件. 报表输出数据统计分析.FT-3110系列全自动四探针测试仪二.适用范围晶圆、非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等;半导体材料分析,铁电材料,纳米材料,太阳能电池,LCD,OLED,触摸屏等. FT-3110系列全自动四探针测试仪三.技术参数: 规格型号FT-3110AFT-3110B1.电阻10^-5~2×10^5Ω10^-6~2×10^5Ω2.方块电阻 10^-5~2×10^5Ω/□10^-6~2×10^5Ω/□3.电阻率 10^-6~2×10^6Ω-cm10-7~2×106Ω-cm4.测试电流 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA, 10mA,100mA1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA5.电流精度 ±0.1% 6.电阻精度 ≤0.3%7.PC软件操作PC软件界面:电阻、电阻率、电导率、方阻、温度、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、2D、3D图谱、压力、报表生成等8.压力范围:探针压力可调范围:软件控制,100-500g可调9.探针针间绝缘电阻:≥1000MΩ;机械游移率:≤0.3%圆头铜镀金材质,探针间距1mm;2mm;3mm选配,其他规格可定制10.可测晶片尺寸选购 晶圆尺寸:2-12寸(6寸150mm,12寸300mm);方形片:大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm11.分析模式单点、五点、九点、多点、直径扫描、面扫描等模式的自动测试12.加压方式测量重复性:重复性≤3% 13.安全防护具有限位量程和压力保护 误操作和急停防护 异常警报14.测试环境真空15.电源输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:100W 16.选购项目电脑和打印机创新点:仪器采用全自动操作,抽真空处理瑞柯全自动四探针测试仪
  • 我国引进首台纳米离子探针通过验收
    我国引进的第一台NanoSIMS 50L型纳米离子探针验收会于近日在中国科学院地质于地球物理研究所召开。中国科学院地质于地球物理研究所副所长吴福元研究员为组长的专家组认真听取了法国CAMECA公司纳米离子探针设计师、Franç ois Hillion博士所作的验收报告。专家组对仪器的验收指标有关问题进行了提问,一致认为该仪器的技术参数不仅全部达到合同要求,大部分还优于合同要求的验收指标。纳米离子探针  纳米离子探针具有极高的空间分辨率(Cs+源束斑小于 50nm,O-源束斑小于200nm),与我所已有的CAMECA ims 1280高精度离子探针互补,构成国际上非常先进的的离子探针分析平台。新引进的NanoSIMS 50L型纳米离子探针配置了7个信号检测器(每个配置法拉第杯和电子倍增器),可以同时测量7个同位素(或元素),分析精度好于千分之一。该仪器可以分析除稀有气体以外,元素周期表中从H至U的全部同位素(元素),并能获取同位素分布的高分辨图像。纳米离子探针的引进,为我国比较行星学、地球科学、材料科学、以及生命科学等领域提供了新的大型实验分析平台。

高精度四探针仪相关的方案

高精度四探针仪相关的资料

高精度四探针仪相关的论坛

  • 四探针电阻率测试仪

    四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造,并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点:1、 配有双数字表: 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全过程中的电流变化,使操作更简便,测量更精确。数字电压表量程:0—199.99mV 灵敏度:10μV输入阻抗:1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围:10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围:10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能,当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时,电压表指零,只有1、4 探针接触到硅片,测量电流渡过单晶时,电压表才指示2、3 探针间的电压(即电阻率)值,避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定(万分之五精度)的特制恒流源提供,不受气候条件的影响,整机测量精度10 万次),在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数,提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用,实现自动换向测量、求平均值,计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构,使探针的游移率减小,测量重复性提高(国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权,专利号:ZL03274755.1)。

  • 【分享】敏感高分辨离子探针

    敏感高分辨离子探针II(shrimpII)是一个高精度的二级离子质谱(SIMS)粒子探针通过用几微米的离子束轰击固体样品的方法探测同位素和进行化学表面分析(也称科勒聚焦)。SHRIMPII通过双聚焦的方法(能量和质量的双聚焦)的质谱达到高质量分辨率。这种方法将使用有很大旋转半径的磁场和电场分析仪。

高精度四探针仪相关的耗材

  • 探针定位器
    探针定位器专业为探针台操作使用而设计的高精度探针台定位器或探针微操作器,它采用高精度铝合金材料制造,具有超高精度和超小公差。探针定位器特点采用表面采用黑色氧化铝工艺处理,具有全寿命润滑能力,免于维护。采用高级不锈钢螺钉,提供超调整分辨率和良好的重复精度。探针定位器参数高度:2英寸底部:2英寸 x 2英寸行程范围XYZ: 0.5英寸分辨率:0.02英寸/轮回
  • 射频探针|MPI T67A 探针
    MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造,具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性(最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗),它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同,由于独特的突起式针尖设计,MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次,即使对于没有经验的操作人员,也无需使用探头对准标记,就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33%,减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合,大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件,它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置,探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损:经过数十万次探针循环后,探针尖端的长度自然会缩小。然而,由于独特的探头设计,其电气特性保持不变。因此,TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。最后但并非最不重要的一点是,TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。
  • 射频探针|MPI T40A 探针
    MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造,具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性(最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗),它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同,由于独特的突起式针尖设计,MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次,即使对于没有经验的操作人员,也无需使用探头对准标记,就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33%,减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合,大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件,它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置,探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损:经过数十万次探针循环后,探针尖端的长度自然会缩小。然而,由于独特的探头设计,其电气特性保持不变。因此,TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。最后但并非最不重要的一点是,TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制